CN207601182U - 薄膜电阻测试结构 - Google Patents

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CN207601182U CN201721705136.8U CN201721705136U CN207601182U CN 207601182 U CN207601182 U CN 207601182U CN 201721705136 U CN201721705136 U CN 201721705136U CN 207601182 U CN207601182 U CN 207601182U
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张建文
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Abstract

本实用新型揭示了薄膜电阻测试结构,包括工作台、设于工作台上的定位组件和调节组件,所述定位组件包括定位台、设于定位台上的基座,所述调节组件包括竖直设于工作台上的驱动装置和刻度组件,所述驱动装置包括竖直的滑轨、沿滑轨上下移动的滑块、驱动滑块的摇臂,所述刻度组件包括竖直的刻度尺、沿刻度尺移动的显示计,所述显示计与所述滑块水平连接固定,所述滑块的底部设有压头,所述压头与所述基座对应对位,所述压头和所述基座分别连接至微电阻测试仪。本实用新型实现快速稳定检测薄膜电阻。

Description

薄膜电阻测试结构
技术领域
本实用新型属于薄膜检测技术领域,尤其涉及一种薄膜电阻测试结构。
背景技术
现有薄膜电阻检测大多采用金属夹子或测试笔,通常手持夹子或测试笔测试待测薄膜,由于夹持力不稳定,容易造成薄膜破损,影响检测数据的真实性。因此,需要一种适用于测试薄膜电阻的载具结构。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述技术问题,而提供一种薄膜电阻测试结构,从而实现快速稳定检测薄膜电阻。为了达到上述目的,本实用新型技术方案如下:
薄膜电阻测试结构,包括工作台、设于工作台上的定位组件和调节组件,所述定位组件包括定位台、设于定位台上的基座,所述调节组件包括竖直设于工作台上的驱动装置和刻度组件,所述驱动装置包括竖直的滑轨、沿滑轨上下移动的滑块、驱动滑块的摇臂,所述刻度组件包括竖直的刻度尺、沿刻度尺移动的显示计,所述显示计与所述滑块水平连接固定,所述滑块的底部设有压头,所述压头与所述基座对应对位,所述压头和所述基座分别连接至微电阻测试仪。
具体的,所述基座为柱形结构。
具体的,所述基座为铜质材料制成。
具体的,所述摇臂设于滑轨的外侧。
具体的,所述压头为铜质材料制成。
与现有技术相比,本实用新型薄膜电阻测试结构的有益效果主要体现在:定位组件稳定方便的固定薄膜,避免使用传统夹头,损伤薄膜;调节组件中的显示计指示具体滑块位移距离,有效控制摇臂的转动力,整体结构定位薄膜稳定,测量电阻数值准确。
附图说明
图1是本实用新型实施例的结构示意图;
图中数字表示:
1工作台、2定位台、21基座、3滑轨、31滑块、32摇臂、33压头、4刻度尺、41显示计、5线路、51微电阻测试仪。
具体实施方式
下面结合附图将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。
实施例:
参照图1所示,本实施例是薄膜电阻测试结构,包括工作台1、设于工作台1上的定位组件和调节组件。
定位组件包括定位台2、设于定位台2上的柱形基座21。基座21为铜质材料制成。
调节组件包括竖直设于工作台1上的驱动装置和刻度组件。驱动装置包括竖直的滑轨3、沿滑轨3上下移动的滑块31、驱动滑块31的摇臂32。摇臂32设于滑轨3的外侧。
刻度组件包括竖直的刻度尺4、沿刻度尺4移动的显示计41。显示计41显示其在刻度尺4位移的距离,显示计41与滑块31水平连接固定。
滑块31的底部设有压头33,压头33为铜质材料制成。压头33与基座21对应对位设置。
压头33和基座21分别通过线路5连接至微电阻测试仪51。
应用本实施例时,将薄膜放置于基座21上,通过摇臂32带动滑块31沿滑轨3移动,压头33下压至薄膜,压头33与基座21夹紧薄膜,从而微电阻测试仪51测量得出电阻数值;通过显示计41明确看出滑块31位移的距离,从而控制摇臂32的力保证压头33压实到位。
本实施例定位组件稳定方便的固定薄膜,避免使用传统夹头,损伤薄膜;调节组件中的显示计41指示具体滑块31位移距离,有效控制摇臂32的转动力,整体结构定位薄膜稳定,测量电阻数值准确。
以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.薄膜电阻测试结构,其特征在于:包括工作台、设于工作台上的定位组件和调节组件,所述定位组件包括定位台、设于定位台上的基座,所述调节组件包括竖直设于工作台上的驱动装置和刻度组件,所述驱动装置包括竖直的滑轨、沿滑轨上下移动的滑块、驱动滑块的摇臂,所述刻度组件包括竖直的刻度尺、沿刻度尺移动的显示计,所述显示计与所述滑块水平连接固定,所述滑块的底部设有压头,所述压头与所述基座对应对位,所述压头和所述基座分别连接至微电阻测试仪。
2.根据权利要求1所述的薄膜电阻测试结构,其特征在于:所述基座为柱形结构。
3.根据权利要求1所述的薄膜电阻测试结构,其特征在于:所述基座为铜质材料制成。
4.根据权利要求1所述的薄膜电阻测试结构,其特征在于:所述摇臂设于滑轨的外侧。
5.根据权利要求1所述的薄膜电阻测试结构,其特征在于:所述压头为铜质材料制成。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112630534A (zh) * 2020-12-03 2021-04-09 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司 一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置

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