CN207050624U - 一种用于测量异型薄壁类零部件的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于机械加工检验检测领域，具体涉及一种用于测量异型薄壁类零部件的装置。目前薄壁类零、部件在壁厚尺寸测量时，受通用量具的形状限制，会出现检测零件的形状轮廓与通用量具发生干涉而无法测量。本实用新型的检测装置包括外径千分尺，该装置还包括第一帽型测头和第二帽形测头，这两种测头均为带盲孔的圆柱体，分别套装在所述外径千分尺的测杆上，其中所述第一帽型测头在端面具有向外伸出的顶杆。解决了原通用量具无法检测的技术难题，实现了在线检测，也大幅提高了检测效率。
Description
技术领域
本实用新型属于机械加工检验检测领域，具体涉及一种用于测量异型薄壁类零部件的装置。
背景技术
目前薄壁类零、部件在壁厚尺寸测量时，受通用量具的形状限制，会出现检测零件的形状轮廓与通用量具发生干涉而无法测量，或者由于零件形状特殊(弧面)导致量具的测头(柱面)未能与被测要素实现点接触，无法用通用量具检测。只能使用三坐标测量仪夹持盘型测头分别对内外径进行测量，再经过计算得出壁厚尺寸，造成了累积误差大，检测效率低等后果。
实用新型内容
本实用新型主要目的是解决原来通用量具无法检测，三坐标测量仪检测时效率低，检测结果累积误差大等问题，同时提升检测的精度，并提高检测效率。
一种用于测量异型薄壁类零部件的装置，包括外径千分尺，该装置还包括第一帽型测头和第二帽形测头，这两种测头均为带盲孔的圆柱体，分别套装在所述外径千分尺的测杆上，其中所述第一帽型测头在端面具有向外伸出的顶杆。
所述第一帽型测头和第二帽形测头具有相同的外径和内径，且外径根据被测零部件的结构进行调整。
所述偏心顶杆在所述第一帽型测头端面的最外沿。
所述偏心顶杆的长度根据被测零部件的结构进行调整。
所述第一帽型测头和第二帽形测头与测杆过盈配合。
有益效果：使用本实用新型测头后，解决了原通用量具无法检测的技术难题，实现了在线检测，也大幅提高了检测效率。
附图说明
图1是第一帽型测头的斜视图；
图2是第一帽型测头的剖视图；
图3是第二帽型测头的剖视图。
具体实施方式
检测时先将第一帽型测头和第二帽形测头装在多功能外径千分尺的测杆上，再选择与被测量要素接近的块规对多功能千分尺进行标定，然后对被测要素直接检测即可。
Claims (5)
1.一种用于测量异型薄壁类零部件的装置，包括外径千分尺，其特征在于：该装置还包括第一帽型测头和第二帽形测头，这两种测头均为带盲孔的圆柱体，分别套装在所述外径千分尺的测杆上，其中所述第一帽型测头在端面具有向外伸出的顶杆。
2.根据权利要求1所述的用于测量异型薄壁类零部件的装置，其特征在于：所述第一帽型测头和第二帽形测头具有相同的外径和内径，且外径根据被测零部件的结构进行调整。
3.根据权利要求1或2所述的用于测量异型薄壁类零部件的装置，其特征在于：偏心的所述顶杆在所述第一帽型测头端面的最外沿。
4.根据权利要求1或2所述的用于测量异型薄壁类零部件的装置，其特征在于：偏心的所述顶杆的长度根据被测零部件的结构进行调整。
5.根据权利要求1或2所述的用于测量异型薄壁类零部件的装置，其特征在于：所述第一帽型测头和第二帽形测头与测杆过盈配合。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN108426504A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-08-21 | 核工业理化工程研究院 | 测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法 |
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2017
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| CN108426504A (zh) * | 2018-03-02 | 2018-08-21 | 核工业理化工程研究院 | 测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法 |
| CN108426504B (zh) * | 2018-03-02 | 2023-08-01 | 核工业理化工程研究院 | 测量薄壁异形管波峰顶点壁厚的三坐标测量装置及其测量方法 |
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