CN206074710U - 针模结构测试架 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种针模结构测试架，包括测试板，所述测试板上表面的一端安装有针模，所述针模上设置有连接卡槽，所述测试板上表面的另一端固定安装产品，所述产品通过卡件卡住，所述产品的一端连接有转接线，所述转接线的头部连接至针模的卡槽中。本实用新型结构紧凑、合理，操作方便，采用针模探针式治具作业，对位简单，检测方便可靠，工作效率高。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试装置技术领域，尤其是一种针模结构测试架。
背景技术
LCM属于液晶显示器件，广泛使用于手机、数码等终端产品。产品制作出来每PCS都要检测其功能的完整性。需要连接产品的通信接口，传导信号进行点亮测试。
现有技术中，测试使用连接器测试，对位存在盲区，容易造成产品通信接口损坏，短路烧坏产品。
实用新型内容
本申请人针对上述现有生产技术中的缺点，提供一种结构合理的针模结构测试架，从而对位方便，检测方便，工作效率高。
本实用新型所采用的技术方案如下：
一种针模结构测试架，包括测试板，所述测试板上表面的一端安装有针模，所述针模上设置有连接卡槽，所述测试板上表面的另一端固定安装产品，所述产品通过卡件卡住，所述产品的一端连接有转接线，所述转接线的头部连接至针模的卡槽中。
作为上述技术方案的进一步改进：
所述测试板成长方形结构；
所述定位孔内开有内螺纹。
本实用新型的有益效果如下：
本实用新型结构紧凑、合理，操作方便，采用针模探针式治具作业，对位简单，检测方便可靠，工作效率高。
本实用新型采用针模的作用，操作方便，快捷，不易出错。
本实用新型在实际操作过程中，不易损伤产品连接器卡扣，折弯柔性电路板。
本实用型做到标准化，一体化，治具整个接插件使用专用转接线，降低干扰，提高测试效率。
本实用新型减少维修频率，降低因对错位损坏产品、测试板因素，省去连接器损耗，节约成本。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
其中：1、测试板；2、针模；3、转接线；4、产品；5、定位孔。
具体实施方式
下面结合附图，说明本实用新型的具体实施方式。
如图1所示，本实施例的针模结构测试架，包括测试板1，测试板1上表面的一端安装有针模2，针模2上设置有连接卡槽，测试板1上表面的另一端固定安装产品4，产品4通过卡件卡住，产品4的一端连接有转接线3，转接线3的头部连接至针模2的卡槽中。
测试板1成长方形结构。
定位孔5内开有内螺纹。
实际操作过程中，将产品4固定在测试板1上，然后测试板1上接上转接线3，转接线3与针模2接通，从而提供信号，对产品进行检测。
本实用新型制定LCM通信接口，采用1：1定位接触模型。
本实用新型根据通信接口的尺寸，制定1:1的针模针座。
本实用新型使用探针针模接触产品提供通信信号，测试产品功能。
以上描述是对本实用新型的解释，不是对实用新型的限定，本实用新型所限定的范围参见权利要求，在本实用新型的保护范围之内，可以作任何形式的修改。
Claims (2)
1.一种针模结构测试架，其特征在于：包括测试板(1)，所述测试板(1)上表面的一端安装有针模(2)，所述针模(2)上设置有连接卡槽，所述测试板(1)上表面的另一端固定安装产品(4)，所述产品(4)通过卡件卡住，所述产品(4)的一端连接有转接线(3)，所述转接线(3)的头部连接至针模(2)的卡槽中。
2.如权利要求1所述的针模结构测试架，其特征在于：所述测试板(1)成长方形结构。
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Cited By (1)
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| CN113284108A (zh) * | 2021-05-25 | 2021-08-20 | 义乌清越光电科技有限公司 | 检验电子纸点亮性能的检验方法、检验装置及检验设备 |
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2016
- 2016-08-31 CN CN201621020763.3U patent/CN206074710U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
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| CN113284108A (zh) * | 2021-05-25 | 2021-08-20 | 义乌清越光电科技有限公司 | 检验电子纸点亮性能的检验方法、检验装置及检验设备 |
| CN113284108B (zh) * | 2021-05-25 | 2022-05-24 | 义乌清越光电科技有限公司 | 检验电子纸点亮性能的检验方法、检验装置及检验设备 |
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