CN205209435U - 一种晶片长度测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种晶片长度测量装置，包括底座，底座上设有支撑杆，支撑杆的端部之间设有导向杆，导向杆套装有滑块，滑块设有滑板，导向杆的下方设有载物台，底座上设有长度测试仪，滑板的对内朝向面设有红外测距头，红外测距头与长度测试仪通过对接线连接。本实用新型方便对滑板进行调节，滑板方便对晶片进行装夹，通过红外测距头可以方便对晶片的长度进行检测，检测效率大大提高。

Description

一种晶片长度测量装置

技术领域

本实用新型涉及一种长度测量装置，具体涉及一种晶片长度测量装置。

背景技术

将被测长度与已知长度比较，从而得出测量结果的工具，简称测量工具。长度测量工具包括量规、量具和量仪。测量工具还可按工作原理分为机械、光学、气动、电动和光电等类型。这种分类方法是由测量工具的发展历史形成的。但一些现代测量工具已经发展成为同时采用精密机械、光、电等原理并与电子计算机技术相结合的测量工具，因此，这种分类方法仅适用于工作原理单一的测量工具。现有的测量工具不方便对晶片的长度进行检测，且检测效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种可以将待检测的晶片放置在载物台上，通过支撑柱可以起到支撑的作用；滑块可以沿着导向杆实现滑动，从而方便对滑板进行调节，滑板方便对晶片进行装夹，通过红外测距头可以方便对晶片的长度进行检测，检测效率大大提高的晶片长度测量装置。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种晶片长度测量装置，包括第一底座与第二底座，第一底座上设有第一支撑杆，第一支撑杆为杆状结构，第一支撑杆呈竖直布置，第二底座上设有第二支撑杆，第二支撑杆为杆状结构，第二支撑杆呈竖直布置，第二支撑杆与第一支撑杆的端部之间设有导向杆，导向杆呈水平布置；导向杆套装有第一滑块，第一滑块设有第一滑板，第一滑板的上端与第一滑块连接，第一滑板的下端为自由端；导向杆套装有第二滑块，第二滑块设有第二滑板，第二滑板的上端与第二滑块连接，第二滑板的下端为自由端；导向杆的下方设有载物台，载物台呈水平布置，载物台的一端设置在第一支撑柱的端部，第一支撑柱呈竖直布置，载物台的另一端设置在第二支撑柱的端部，第二支撑柱呈竖直布置；第二底座上设有长度测试仪，第二滑板的对内朝向面设有红外测距头，红外测距头与长度测试仪通过对接线连接。

进一步的，所述第一滑板与第一滑块之间设有第一加强杆。

进一步的，所述第一加强杆为弧形形状。

进一步的，所述第二滑块与第二滑板之间设有第二加强杆。

进一步的，所述第二加强杆为弧形形状。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：可以将待检测的晶片放置在载物台上，通过第一支撑柱与第二支撑柱可以起到支撑的作用；第一滑块可以沿着导向杆实现滑动，从而方便对第一滑板进行调节，第二滑块可以沿着导向杆实现滑动，从而方便对第二滑板进行调节，通过第一滑板与第二滑板方便对晶片进行装夹，通过红外测距头可以方便对晶片的长度进行检测，检测效率大大提高。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

附图标记说明：

第一底座11、第二底座12、第一支撑杆13、第二支撑杆14、导向杆15、第一滑块16、第一滑板17、第一加强杆18、第二滑块19、第二滑板20、第二加强杆21、载物台22、第一支撑柱23、第二支撑柱24、红外测距头25、长度测试仪26、对接线27。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

如图1所示，本实用新型所述的一种晶片长度测量装置，包括第一底座11与第二底座12，第一底座11上设有第一支撑杆13，第一支撑杆13为杆状结构，第一支撑杆13呈竖直布置，第二底座12上设有第二支撑杆14，第二支撑杆14为杆状结构，第二支撑杆14呈竖直布置，第二支撑杆14与第一支撑杆13的端部之间设有导向杆15，导向杆15呈水平布置；导向杆15套装有第一滑块16，第一滑块16设有第一滑板17，第一滑板17的上端与第一滑块16连接，第一滑板17的下端为自由端；导向杆15套装有第二滑块19，第二滑块19设有第二滑板20，第二滑板20的上端与第二滑块19连接，第二滑板20的下端为自由端；导向杆15的下方设有载物台22，载物台22呈水平布置，载物台22的一端设置在第一支撑柱23的端部，第一支撑柱23呈竖直布置，载物台22的另一端设置在第二支撑柱24的端部，第二支撑柱24呈竖直布置；第二底座12上设有长度测试仪26，第二滑板20的对内朝向面设有红外测距头25，红外测距头25与长度测试仪26通过对接线27连接；第一滑板17与第一滑块16之间设有第一加强杆18，第一加强杆18为弧形形状，第二滑块19与第二滑板20之间设有第二加强杆21，第二加强杆21为弧形形状。

本实用新型晶片长度测量装置，可以将待检测的晶片放置在载物台22上，通过第一支撑柱23与第二支撑柱24可以起到支撑的作用；第一滑块16可以沿着导向杆15实现滑动，从而方便对第一滑板17进行调节，第二滑块19可以沿着导向杆15实现滑动，从而方便对第二滑板20进行调节，通过第一滑板17与第二滑板20方便对晶片进行装夹，通过红外测距头25可以方便对晶片的长度进行检测，检测效率大大提高。

其中，第一滑板17与第一滑块16之间设有第一加强杆18，第一加强杆18为弧形形状，所以方便对第一滑板17进行牢固安装。

其中，第二滑块19与第二滑板20之间设有第二加强杆21，第二加强杆21为弧形形状，所以方便对第二滑板20进行牢固安装。

以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。

Claims (5)

1.一种晶片长度测量装置，包括第一底座（11）与第二底座（12），其特征在于：第一底座（11）上设有第一支撑杆（13），第一支撑杆（13）为杆状结构，第一支撑杆（13）呈竖直布置，第二底座（12）上设有第二支撑杆（14），第二支撑杆（14）为杆状结构，第二支撑杆（14）呈竖直布置，第二支撑杆（14）与第一支撑杆（13）的端部之间设有导向杆（15），导向杆（15）呈水平布置；导向杆（15）套装有第一滑块（16），第一滑块（16）设有第一滑板（17），第一滑板（17）的上端与第一滑块（16）连接，第一滑板（17）的下端为自由端；导向杆（15）套装有第二滑块（19），第二滑块（19）设有第二滑板（20），第二滑板（20）的上端与第二滑块（19）连接，第二滑板（20）的下端为自由端；导向杆（15）的下方设有载物台（22），载物台（22）呈水平布置，载物台（22）的一端设置在第一支撑柱（23）的端部，第一支撑柱（23）呈竖直布置，载物台（22）的另一端设置在第二支撑柱（24）的端部，第二支撑柱（24）呈竖直布置；第二底座（12）上设有长度测试仪（26），第二滑板（20）的对内朝向面设有红外测距头（25），红外测距头（25）与长度测试仪（26）通过对接线（27）连接。

2.根据权利要求1所述的晶片长度测量装置，其特征在于：第一滑板（17）与第一滑块（16）之间设有第一加强杆（18）。

3.根据权利要求2所述的晶片长度测量装置，其特征在于：第一加强杆（18）为弧形形状。

4.根据权利要求1所述的晶片长度测量装置，其特征在于：第二滑块（19）与第二滑板（20）之间设有第二加强杆（21）。

5.根据权利要求4所述的晶片长度测量装置，其特征在于：第二加强杆（21）为弧形形状。