CN204731277U - 多层膜合金探针 - Google Patents
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Abstract
一种多层膜合金探针，其包括一探针本体，其一端弯折延伸设有一接触部，该探针本体与该接触部为导电材质，该探针本体与该接触部的外表面镀设有一金属补强层，该金属补强层外表面镀设有一金属导电层，进而使本实用新型可达到延长探针本体及其接触部的使用寿命，且能增强导电性，进而增加测试精确度的功效。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种探针结构，尤指一种能延长探针本体及其接触部的使用寿命，且能增强导电性，进而增加测试精确度的多层膜合金探针。
背景技术
常见的探针结构，为电子零组件与测试机台之间的接口，借助该探针结构测试该电子零组件，其探针作为传递信号的媒介以达到测试目的。故请参阅图1所示，其包括一探针本体10，该探针本体10一端延伸设有一接触部11，该接触部11具有一接触端12，该探针本体10及其该接触部11是由导电材料制成。在使用时，操作者操作测试机台而连动该探针本体10及该接触部11，使得该接触端12抵触于一电子组件13延伸的一信号接点14，当接触端12与该信号接点14接触时，利用其导电的特性以达到测试该电子组件13电特性的目的。
此一技术方案虽可利用该探针本体10及该接触部11以该接触端12直接接触的方式对该电子组件13进行电性测试，但是若大量测试该电子组件13，该接触端12与该信号接点14接触时，如长期接触使用将使得该接触端12因摩擦损耗而降低寿命，又因无法掌握磨损程度及其因磨损而沾染灰尘，使得该接触端12与该信号接点14接触时将容易产生导电性不佳的情形，导致测试性能及效率不高，故寿命不佳及产生导电性下降的问题，即为本实用新型申请人所欲解决的技术困难点所在。
实用新型内容
有鉴于此不足，因此本实用新型的目的在于发展一种能延长探针本体及其接触部的使用寿命，且能增强导电性，进而增加测试精确度的多层膜合金探针。
为了达成以上目的，本实用新型提供一种多层膜合金探针，其包括：一探针本体，其一端弯折延伸设有一接触部，该探针本体与该接触部为导电材质，该探针本体与该接触部的外表面镀设有一金属补强层，该金属补强层的外表面镀设有一金属导电层。
其中该金属补强层较佳为镍、铜或银金属补强层，且该金属导电层较佳为银、金、铜银迭层或银金迭层金属导电层。
本实用新型较佳实施例中该探针本体一端弯折延伸设有一固定部，且该探针本体与该接触部之间设有一夹角，该夹角介于90~180度之间。
借助本实用新型采用该探针本体与该接触部的外表面可依序镀设该金属补强层及该金属导电层，进而使本实用新型进行电子零组件的测试时可达到延长探针本体及其接触部的使用寿命，同时增强导电性，进而增加测试精确度的功效。
附图说明
图1是现有的探针结构进行测试的结构示意图。
图2是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的主结构示意图。
图2-A是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、金金属镀膜结构示意图。
图2-B是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银金属镀膜结构示意图。
图2-C是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的镍、银金属镀膜结构示意图。
图2-D是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的银、金金属镀膜结构示意图。
图3是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的银、金金属镀膜应用示意图。
图3-A是本实用新型较佳实施例的银、金金属镀膜短时间磨损的局部放大应用示意图。
图3-B是本实用新型较佳实施例的银、金金属镀膜长时间磨损的局部放大应用示意图。
图4是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银、金金属镀膜结构示意图。
图4-A是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的镍、铜、银金属镀膜结构示意图。
图5是本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银、金金属镀膜应用示意图。
图5-A是本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜短时间磨损的局部放大应用示意图。
图5-B是本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜中时间磨损的局部放大应用示意图。
图5-C是本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜长时间磨损的局部放大应用示意图。
图6是本实用新型较佳实施例的探针角度水平设置的结构示意图。
图6-A是本实用新型较佳实施例的探针角度垂直设置的结构示意图。
附图标记说明
〔现有技术〕
10 探针本体 11 接触部
12 接触端 13 电子组件
14 信号接点
〔本实用新型〕
2 金属补强层 20 探针本体
21 接触部 22 接触端
23 固定部 2A 铜金属补强层
2B 镍金属补强层 2C 银金属补强层
250 第一缺口 240 第二缺口
260 第三缺口 270 第四缺口
280 第五缺口 27 夹角
3 探针治具 4 电子组件
41 信号接点 5 金属导电层
5A 金金属导电层 5B 银金属导电层
5C 铜金属导电层。
具体实施方式
为了使贵审查员能清楚了解本实用新型的内容，以下列说明搭配附图，敬请参阅。
请参阅图2所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的主结构示意图。本实用新型提供一种多层膜合金探针，其包括：
一探针本体20，其一端弯折延伸设有一接触部21，该探针本体20与该接触部21为导电材质，该探针本体20一端弯折延伸设有一固定部23，该固定部23与该接触部21以该探针本体20为相对的位置，该固定部23以固定在测试设备的治具，如探针卡(probe card)的基座上相结合固设，该探针本体20与该接触部21的外表面镀设有一金属补强层2，该金属补强层2的外表面镀设有一金属导电层5，在本实施例中，该探针本体20与该接触部21之间设有一夹角27，该夹角27较佳介于90~180度之间，使得该接触部21的该接触端22能指向一水平面以便于测试，该探针本体20与该接触部21较佳为导电材质，如钢材或合金材，该金属补强层2能延长该探针本体与该接触部的寿命，也能导电，又该金属导电层作为导电层来增强该探针本体与该接触部的导电性。
请继续参阅图2-A所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、金金属镀膜结构示意图。其中该探针本体20与该接触部21的外表面较佳依序镀设有一铜金属补强层2A、一金金属导电层5A，并借助该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27和该固定部23固定于探针卡上，该金金属导电层5A作为提供最外层的导电而相对提升该接触部21及该接触端22的导电性，且该铜金属补强层2A除了作为该接触部21及该接触端22的磨损保护，也提供导电的性能，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图2-B所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银金属镀膜结构示意图。其中该探针本体20与该接触部21的外表面较佳依序镀设有该铜金属补强层2A、一银金属导电层5B，并借助该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27和该固定部23固定于探针卡上，该银金属导电层5B作为提供最外层的导电而相对提升该接触部21及该接触端22的导电性，且该铜金属补强层2A除了作为该接触部21及该接触端22的磨损保护，也提供导电的性能，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图2-C所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的镍、银金属镀膜结构示意图。其中该探针本体20与该接触部21的外表面较佳依序镀设有一镍金属补强层2B、该银金属导电层5B，并借助该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27和该固定部23固定于探针卡上，该银金属导电层5B作为提供最外层的导电而相对提升该接触部21及该接触端22的导电性，且该镍金属补强层2B除了作为该接触部21及该接触端22的磨损保护，也提供导电的性能，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图2-D所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的银、金金属镀膜结构示意图。其中该探针本体20与该接触部21的外表面较佳依序镀设有一银金属补强层2C、该金金属导电层5A，并借助该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27和该固定部23固定于探针卡上，该金金属导电层5A作为提供最外层的导电而相对提升该接触部21及该接触端22的导电性，且该银金属补强层2C除了作为该接触部21及该接触端22的磨损保护，也提供导电的性能，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图3所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的银、金金属镀膜应用示意图。其中该探针本体20是连接于一探针治具3上，以该银金属补强层2C、该金金属导电层5A为例，借助该接触部21的该接触端22并使得该金金属导电层5A抵触于一电子组件4所延伸的一信号接点41，以便对该电子组件4进行输入信号或侦测输出值，作为电性参数测量信号的传送，来测试该电子组件4的良率。故该金金属导电层5A若为大电流时，为最佳适用以不产生氧化作用，将使得与该信号接点41的接触面产生最佳的导电特性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图3-A所示，其为本实用新型较佳实施例的银、金金属镀膜短时间磨损的局部放大应用示意图。其中以该银金属补强层2C及该金金属导电层5A为金属镀膜，其中当该金金属导电层5A长时间作测试并与多个该电子组件4的该信号接点41产生摩擦，因而该金金属导电层5A接触于该信号接点41的接触面，将产生一第一缺口250，而使得该银金属补强层2C接触于该信号接点41，由于该银金属补强层2C除了作防止该接触部21及该接触端22磨损，延长其寿命，也提供该探针本体20、该接触部21及该接触端22较佳的整体导电特性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图3-B所示，其为本实用新型较佳实施例的银、金金属镀膜长时间磨损的局部放大应用示意图。其中当该银金属补强层2C也通过测试与该信号接点41摩擦而产生一第二缺口240，使得该接触端22接触于该电子组件4上的该信号接点41，在本实施例中，该接触端22虽碰触到该信号接点41上将产生磨耗，但该探针本体20、该接触部21受到该银金属补强层2C及该金金属导电层5A包覆，也提供该探针本体20、该接触部21及该接触端22整体良好的导电特性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图4所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银、金金属镀膜结构示意图。其中除了该探针本体20、该固定部23及该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27的设置，在本实施例中该探针本体20、该接触部21及该接触端22外表面依序镀设有该铜金属补强层2A及该银金属导电层5B、该金金属导电层5A所形成的银金镀膜迭层，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图4-A所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的镍、铜、银金属镀膜结构示意图。其中除了该探针本体20、该固定部23及该探针本体20与该接触部21之间的该夹角27的设置，在本实施例中该探针本体20、该接触部21及该接触端22外表面依序镀设有该镍金属补强层2B及一铜金属导电层5C、该银金属导电层5B所形成的铜银镀膜迭层，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图5所示，其为本实用新型较佳实施例的多层膜合金探针的铜、银、金金属镀膜应用示意图。其中该探针本体20也连接于该探针治具3上，以该铜金属补强层2A及该银金属导电层5B、该金金属导电层5A所形成迭层为例，如同借助该接触部21的该接触端22并使得该金金属导电层5A抵触于该电子组件4所延伸的该信号接点41，以便对该电子组件4进行输入信号或侦测输出值，作为电性参数测量信号的传送，来测试该电子组件4的良率。故该金金属导电层5A若为大电流时为最佳适用以不产生氧化作用，将使得与该信号接点41的接触面产生最佳的导电特性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图5-A所示，其为本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜短时间磨损的局部放大应用示意图。其中以该铜金属补强层2A及该银金属导电层5B、该金金属导电层5A为金属镀膜，其中当该金金属导电层5A长时间作测试并与多个该电子组件4的该信号接点41产生摩擦，因而该金金属导电层5A接触于该信号接点41的接触面将产生一第三缺口260，而使得该银金属导电层5B接触于该信号接点41，在本实施例中由于该银金属导电层5B除了作提升该探针本体20、该接触部21及该接触端22的导电性，也提供额外防止该接触部21及该接触端22磨损而延长其寿命，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图5-B所示，其为本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜中时间磨损的局部放大应用示意图。其中当该银金属导电层5B经一段时间作测试并与多个该电子组件4的该信号接点41产生摩擦，因而该银金属导电层5B接触于该信号接点41的接触面将产生一第四缺口270，而使得该铜金属补强层2A接触于该信号接点41，在本实施例中，由于该铜金属补强层2A除了作防止该接触部21及该接触端22的磨耗，也提供额外增强该探针本体20、该接触部21及该接触端22的导电性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图5-C所示，其为本实用新型较佳实施例的铜、银、金金属镀膜长时间磨损的局部放大应用示意图。其中当该铜金属补强层2A经一段时间作测试并与多个该电子组件4的该信号接点41产生摩擦，因而该铜金属补强层2A接触于该信号接点41的接触面将产生一第五缺口280，而使得该接触端22接触于该信号接点41，在本实施例中，由于该接触端22将持续磨耗至该接触部21整体，但该铜金属补强层2A、该银金属导电层5B及该金金属导电层5A也提供额外增强该探针本体20、该接触部21及该接触端22的导电性，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图6所示，其为本实用新型较佳实施例的探针角度水平设置的结构示意图。其中该探针本体20及该接触部21为水平设置，较佳为180度，该探针本体20一端也设有该固定部23，在本实施例中，该探针本体20及该接触部21借助外围依序镀设有该金属补强层2、该金属导电层5，该固定部23装设于探针卡使用时，使得该接触部21的该接触端22也提升其导电性与使用寿命，实为本实用新型的特点。
请继续参阅图6-A所示，其为本实用新型较佳实施例的探针角度垂直设置的结构示意图。其中该探针本体20及该接触部21为垂直设置，该夹角27较佳为90度，该探针本体20一端也设有该固定部23，在本实施例中该探针本体20及该接触部21借助外围依序镀设有该金属补强层2、该金属导电层5，该固定部23装设于探针卡使用时，使得该接触部21的该接触端22也增强其导电性与延长其使用寿命，实为本实用新型的特点。
以上所论述，仅为本实用新型较佳实施例而已，并非用以限定本实用新型的专利范围；故在不脱离本实用新型的精神与范围内所作的等效结构变换，皆应涵盖于本实用新型的保护范围内。
Claims (10)
1.一种多层膜合金探针，其特征在于：其包括：
一探针本体，其一端弯折延伸设有一接触部，该探针本体与该接触部为导电材质，该探针本体与该接触部的外表面镀设有一金属补强层，该金属补强层的外表面镀设有一金属导电层。
2.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属补强层为镍金属补强层。
3.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属补强层为铜金属补强层。
4.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属补强层为银金属补强层。
5.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属导电层为银金属导电层。
6.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属导电层为金金属导电层。
7.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属导电层为铜银迭层。
8.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该金属导电层为银金迭层。
9.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该探针本体一端弯折延伸设有一固定部。
10.如权利要求1所述的多层膜合金探针，其特征在于：该探针本体与该接触部之间设有一夹角，该夹角介于90～180度之间。
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20151028 Termination date: 20180522 |
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