CN204128466U - 一种厚度测量装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。本实用新型在使用的时候,只需要将立柱调节到指定高度,然后将顶板与所被测物体的顶面相切,然后再将底板通过伸缩杆推送到与被测物体的底面相切,这样便可以很轻松的测得所测物体的高度,这是一种新的技术方案,便于推广使用。

Description

一种厚度测量装置
技术领域
本实用新型涉及测量工具领域,特别是涉及一种厚度测量装置。
背景技术
目前人们在测量物体厚度的时候,一般都是人工采用皮尺进行测量的,对于一些较高物品,在测量的过程中需要用梯子,这样测量比较麻烦,而且误差大。
综上所述,针对现有技术的缺陷,特别需要一种厚度测量装置,从而解决以上提到的问题。
实用新型内容
本实用新型为了解决现有技术的问题是提供一种厚度测量装置。
为解决上述技术问题,本实用新型采用的一个技术方案是:提供一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述活套上设有一用于观察刻度的放大镜。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述底座的下方设有一耐磨垫,耐磨垫的下方设有一用于移动的导轮。
在本实用新型一个较佳实施例中,所述立柱是一种可调立柱。
本实用新型的有益效果是:本实用新型所述的一种厚度测量装置,包括底座,底座上设有一立柱,所述立柱上设有刻度,立柱的顶端设有一横板,横板的下方设有一移动的底板,底板的末端设有一用于在立柱上滑动的活套,底板的下方设有一与底板固定连接的伸缩杆。本实用新型在使用的时候,只需要将立柱调节到指定高度,然后将顶板与所被测物体的顶面相切,然后再将底板通过伸缩杆推送到与被测物体的底面相切,这样便可以很轻松的测得所测物体的高度,这是一种新的技术方案,便于推广使用。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
附图标记为
1、底座;
2、立柱;
3、刻度;
4、横板;
5、底板;
6、活套;
7、伸缩杆;
8、放大镜;
9、耐磨垫;
10、导轮。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体图示,进一步阐述本实用新型。
如图1所示,本实用新型所述的一种厚度测量装置,包括底座1,底座1上设有一立柱2,所述立柱2上设有刻度3,立柱2的顶端设有一横板4,横板4的下方设有一移动的底板5,底板5的末端设有一用于在立柱上2滑动的活套6,底板5的下方设有一与底板5固定连接的伸缩杆7。
由本实用新型的一种优选方案,所述活套6上设有一用于观察刻度3的放大镜8。
由本实用新型的一种优选方案,所述底座1的下方设有一耐磨垫9,耐磨垫9的下方设有一用于移动的导轮10。
由本实用新型的一种优选方案,所述立柱2是一种可调立柱。
以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种厚度测量装置,其特征在于,包括底座(1),底座(1)上设有一立柱(2),所述立柱(2)上设有刻度(3),立柱(2)的顶端设有一横板(4),横板(4)的下方设有一移动的底板(5),底板(5)的末端设有一用于在立柱上(2)滑动的活套(6),底板(5)的下方设有一与底板(5)固定连接的伸缩杆(7)。
2.根据权利要求1所述的一种厚度测量装置,其特征在于,所述活套(6)上设有一用于观察刻度(3)的放大镜(8)。
3.根据权利要求1所述的一种厚度测量装置,其特征在于,所述底座(1)的下方设有一耐磨垫(9),耐磨垫(9)的下方设有一用于移动的导轮(10)。
4.根据权利要求1所述的一种厚度测量装置,其特征在于,所述立柱(2)是一种可调立柱。
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