CN204101012U - 一种瓷面粗糙度自动检测装置 - Google Patents

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梁彦霞
卢光跃
聂敏
杨武军
刘欣
张美玲
刘原华
何华
杨光
刘晓慧
刘璐
王颖
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Abstract

本实用新型公开了一种瓷面粗糙度自动检测装置,属于瓷面检测技术领域。该装置包括电源管理模块、光源装置、光学聚焦系统(1)和(2)、位置灵敏探测器PSD、放大器、信号处理装置,数据显示装置,所述光学聚焦系统(1)和(2)分别位于位置灵敏探测器PSD和光源装置的正前方,所述位置灵敏探测器PSD先与放大器相连,再与信号处理装置相连,最终连接数据显示装置。本实用新型结构简单,操作直观方便,能够对瓷面粗糙度进行实时快速自动检测,并自动生成瓷面粗糙度计算结果。

Description

一种瓷面粗糙度自动检测装置
技术领域
本实用新型涉及瓷面检测技术领域,特别涉及一种瓷面粗糙度自动检测装置。
背景技术
生活中,很多地方需要使用瓷面器材,然而瓷表面的光滑度会影响到各类瓷器的使用。
目前瓷面粗糙度的测量方式主要有人眼观测、手感触摸、探针传感器传输等。人眼观测是最原始的方法,靠人眼观测并配合简单测量工具观测瓷面粗糙情况。手感触摸法是根据人自身的经验,靠手触摸来确定瓷面粗糙情况。利用探针传感器测试粗糙度的方法,在过程中使用了内置的锐利触针感受被测表面粗糙度,同时被测表面的粗糙度引起触针产生位移,该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化,将该变化进行一定的数据处理即可测试出表面的粗糙度。
然而人眼观测统计来的数据粗糙、误差较大,人为因素较多,瓷面粗糙情况描述不直观。手感触摸法要求测试者有较高的测试经验,不适合于无测量经验及新入行的人员进行测试。利用探针传感器测试粗糙度的方法已经有相应的测试装置,相对于前两种方法准确度也提高了,但是这种锐利触针会引起瓷表面损坏,带来测试伤害。
发明内容
为了解决现有技术的问题,本实用新型提供了一种瓷面粗糙度自动检测装置。所述技术方案如下:
一种瓷面粗糙度自动检测装置,包括电源管理模块、光源装置、数据显示装置,还包括光学聚焦系统1和2、位置灵敏探测器PSD、放大器、信号处理装置,所述光学聚焦系统1和2分别位于位置灵敏探测器PSD和光源装置的正前方,所述位置灵敏探测器PSD先与放大器相连,再与信号处理装置相连,最终连接数据显示装置。
所述电源管理模块4为5V锂电池,所述光源装置采用LED灯,所述光学聚焦系统1和2为一组凸透镜构成的光学系统,所述位置灵敏探测器PSD为滨松牌二维位置灵敏探测器PSD,型号S5991-01,所述放大器为TLC2252运算放大器,所述信号处理装置为单片机。
有益效果:本实用新型结构简单,操作直观方便,能够对瓷面粗糙度进行实时快速自动检测,并自动生成瓷面粗糙度结果。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的工作原理图;
图2是本实用新型实施例提供的装置立体结构示意图;
图3是本实用新型实施例提供的位置灵敏探测器PSD将粗糙度转换为电流大小的原理图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解,下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步的说明,实施例中提及到的内容并非对本实用新型的限定。
参照附图1,一种瓷面粗糙度自动检测装置,包括电源管理模块、光源装置、数据显示装置,还包括光学聚焦系统1和2、位置灵敏探测器PSD、放大器、信号处理装置,所述光学聚焦系统1和2分别位于位置灵敏探测器PSD和光源装置的正前方,所述位置灵敏探测器PSD先与放大器相连,再与信号处理装置相连,最终连接数据显示装置。
所述电源管理模块4为5V锂电池,所述光源装置采用LED灯,所述光学聚焦系统1和2为一组凸透镜构成的光学系统,所述位置灵敏探测器PSD为滨松牌二维位置灵敏探测器PSD,型号S5991-01,所述放大器为TLC2252运算放大器,所述信号处理装置为单片机。
参照附图2,本实用新型整体可以装在一个机壳内9,该机壳9分为左右两个框格,左边的框格内设有几个方格,该方格的大小从下到上正好可以放置位置灵敏探测器PSD5、放大器6、信号处理装置7、数据显示装置8,这些装置都用导线11加以连接。电源管理模块4和光源装置3用导线连接放置于外壳9的右框格内,光学聚焦系统1和2用固定件连接分别位于位置灵敏探测器PSD5和光源装置3的正前方。
参照附图1和2,本实用新型的工作过程如下:将该实用新型装置沿被测表面移动时,光源装置3发出光线,光学聚焦系统1将光信号汇聚,并打在检测表面上,发射的光线经由光学聚焦系统2将光线汇聚,形成较小的光斑,并将光斑打在位置灵敏探测器PSD5的表面。若被测表面光滑,则光斑汇聚于位置灵敏探测器PSD5的几何中心;若出现凹凸不平,则落在位置灵敏探测器PSD5表面的光斑位置会发生偏离,位置灵敏探测器PSD5根据光斑位置的移动距离不同产生不同的输出电流。电流经过放大器6增强,进入信号处理装置7。信号处理装置7将变化的电流进行采样、量化,并计算采样数据的均方差,并通过数据显示装置8显示数据。
以上所述仅为本实用新型的具体实施例,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改性等,均应包括在本实用新型的保护范围之内。

Claims (2)

1.一种瓷面粗糙度自动检测装置,包括电源管理模块、光源装置、数据显示装置,其特征在于,还包括光学聚焦系统(1,2)、位置灵敏探测器PSD、放大器、信号处理装置,所述光学聚焦系统(1,2)分别位于位置灵敏探测器PSD和光源装置的正前方,所述位置灵敏探测器PSD先与放大器相连,再与信号处理装置相连,最终连接数据显示装置。 
2.根据权利要求1所述的瓷面粗糙度自动检测装置,其特征在于,所述电源管理模块为5V锂电池,所述光源装置采用LED灯,所述光学聚焦系统(1,2)为一组凸透镜构成的光学系统,所述位置灵敏探测器PSD为滨松牌二维位置灵敏探测器PSD,型号S5991-01,所述放大器为TLC2252运算放大器,所述信号处理装置为单片机。 
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