CN203798842U - 一种石英晶体的测试头 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种石英晶体的测试头,解决了现有石英晶体测试头上探针易损,使用寿命不长的问题。其包括集成线路板以及与集成线路板配合的测试头本体,测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部,该延伸部与测试头本体一体成型并相互垂直,测试头本体的上端面设有螺纹孔,测试头本体在与延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔,该探针孔贯穿测试头本体和延伸部,探针孔内设有探针,探针孔在位于延伸部外端面的一端设有收腰孔,该收腰孔孔径小于探针孔孔径,可防止探针向下滑出。集成线路板上设有与探针电连接的金属触片。本实用新型将整个探针的主体置于测试头本体和延伸部的内部,只露出探针的针头,使得探针在测试时能得到很好的保护。

Description

—种石英晶体的测试头
技术领域
[0001] 本实用新型涉及石英晶体的测试设备领域,具体涉及一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。
背景技术
[0002] 石英晶体是石英晶体谐振器的核心器件,为了提高石英晶体谐振器的工作精度,在其生产过程中需要经过多次的检测,在现有技术中,石英晶体上的针脚电性良劣是通过测试板上的探针与石英晶体上的针脚相接触,使待测石英晶体上的针脚通过探针与集成线路板构成电性连接。然而,由于探针直径较小的结构特性,使其在频繁的测试时容易受到垂直于探针长度方向的力,这样一来容易造成探针发生弯曲,造成探针使用寿命的降低,另夕卜,探针细小的针头与集成线路板一般是通过焊接或插接的方式进行连接,在探针损坏后需要更换整个测试头,不仅影响测试头的使用寿命,降低生产效率,也会影响到石英晶体的最终真实测量结果,使产品的不良率增加。
实用新型内容
[0003] 为了解决上述技术存在的缺陷,本实用新型提供一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。
[0004] 本实用新型实现上述技术效果所采用的技术方案是:
[0005] 一种石英晶体的测试头,包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体,所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部,该延伸部与所述测试头本体一体成型并相互垂直,所述测试头本体在与所述延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔,该探针孔贯穿所述测试头本体和所述延伸部,所述探针孔内设有探针。
[0006] 上述的一种石英晶体的测试头,所述测试头本体的上端面设有螺纹孔,所述测试头本体的上端面左右两侧设有挡板。
[0007] 上述的一种石英晶体的测试头,所述探针由铜质针筒、上探针、弹簧和下探针构成,所述弹簧固定在所述针筒中部,所述上探针和所述下探针通过所述弹簧连接。
[0008] 上述的一种石英晶体的测试头,所述上探针和所述下探针的针头均位于所述针筒外。
[0009] 上述的一种石英晶体的测试头,所述探针孔在位于所述延伸部外端面的一端设有收腰孔。
[0010] 上述的一种石英晶体的测试头,所述集成线路板上设有与所述上探针的针头电连接的金属触片。
[0011] 本实用新型的有益效果为:本实用新型将整个探针的主体置于测试头本体和延伸部的内部,只露出上探针的针头和下探针的针头,使得整个探针在测试时只能受到垂直于探针长度方向的力,使探针能得到很好的保护。另外,与测试头本体相配合的集成线路板上设置有面片状的金属触片,上探针的针头在弹簧的作用下与该面片状的金属触片进行活动的电连接,大面积的金属触片增大了上探针的针头与集成线路板的接触面积。通过上述手段不仅延长了探针和测试头的使用寿命,同时也方便了探针的更换,提高了石英晶体的测试效率。
附图说明
[0012] 图1为本实用新型所述测试头本体的立体图;
[0013] 图2为本实用新型所述集成线路板的立体图;
[0014] 图3为本实用新型所述探针的结构图;
[0015] 图4为本实用新型所述测试头本体的横截面图。
[0016] 图中:1-测试头本体、2-延伸部、3-探针孔、4-探针、5-螺纹孔、6_挡板、7_集成线路板、8-固定孔、9-金属触片、31-收腰孔、41-针筒、42-下探针、43-上探针、44-弹簧。
具体实施方式
[0017] 为使对本实用新型作进一步的了解,下面参照说明书附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明:
[0018] 如图1至图4所示,一种石英晶体的测试头,包括集成线路板7以及与集成线路板7配合的测试头本体I,测试头本体I采用绝缘材料制成。测试头本体I的下端面设有向外延伸的延伸部2,该延伸部2与测试头本体I 一体成型并相互垂直。测试头本体I在与延伸部2相垂直的铅垂线上设有探针孔3,该探针孔3贯穿测试头本体I和延伸部2,探针孔3内设有探针4。
[0019] 具体地,在本实用新型的优选实施例中,测试头本体I的上端面设有螺纹孔5,集成线路板7上设有固定孔8,该固定孔8与螺纹孔5配合,通过螺丝将集成线路板7固定在测试头本体I的上端面上。为了更好地固定测试头本体1,该测试头本体I的上端面左右两侧设有挡板6。具体的,在本实用新型中,探针4由铜质的针筒41、上探针43、弹簧44和下探针42构成,弹簧44固定在针筒41的中部,上探针43和下探针42通过弹簧44连接,上探针43和下探针42的针头均位于针筒41外。集成线路板7上设有与上探针43的针头电连接的金属触片9,在集成线路板7安装在测试头本体I上时,上探针43在弹簧44的作用下与集成线路板7上的金属触片9电性连接,同时下探针42在弹簧44的作用下与石英晶体上的针脚电连接。为了防止探针4从探针孔3中向下滑落,该探针孔3在位于延伸部2外端面的一端设有收腰孔31,该收腰孔31的孔径小于探针孔3的孔径,下探针42可穿过该收腰孔31,而针筒41则受收腰孔31的限制只能向上从探针孔3中抽出,使得探针4无法从探针孔3中向下滑落。
[0020] 综上所述,本实用新型将整个探针的主体置于测试头本体和延伸部的内部,只露出上探针的针头和下探针的针头,使得整个探针在测试时只能受到垂直于探针长度方向的力,使探针能得到很好的保护。另外,与测试头本体相配合的集成线路板上设置有面片状的金属触片,上探针的针头在弹簧的作用下与该面片状的金属触片进行活动的电连接,大面积的金属触片增大了上探针的针头与集成线路板的接触面积。通过上述手段不仅延长了探针和测试头的使用寿命,同时也方便了探针的更换,提高了石英晶体的测试效率。
[0021] 以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型的范围内,本实用新型要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。

Claims (6)

1.一种石英晶体的测试头,其特征在于,包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体,所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部,该延伸部与所述测试头本体一体成型并相互垂直,所述测试头本体在与所述延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔,该探针孔贯穿所述测试头本体和所述延伸部,所述探针孔内设有探针。
2.根据权利要求1所述的一种石英晶体的测试头,其特征在于,所述测试头本体的上端面设有螺纹孔,所述测试头本体的上端面左右两侧设有挡板。
3.根据权利要求1所述的一种石英晶体的测试头,其特征在于,所述探针由铜质针筒、上探针、弹簧和下探针构成,所述弹簧固定在所述针筒中部,所述上探针和所述下探针通过所述弹簧连接。
4.根据权利要求3所述的一种石英晶体的测试头,其特征在于,所述上探针和所述下探针的针头均位于所述针筒外。
5.根据权利要求1所述的一种石英晶体的测试头,其特征在于,所述探针孔在位于所述延伸部外端面的一端设有收腰孔。
6.根据权利要求3所述的一种石英晶体的测试头,其特征在于,所述集成线路板上设有与所述上探针的针头电连接的金属触片。
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CN106199089A (zh) * 2016-10-10 2016-12-07 广东惠伦晶体科技股份有限公司 一种用于石英晶体测试头的防带料装置
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