CN203758419U - 用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具，采用设置有测量杆的高度计作为测量器具，利用设置于基座上的基准面及设置于标准校正块上的校正面实现高度计的精准归零，并利用设置于基座上的工件放置槽及基准面实现待检测工件的精确定位，进而通过高度计获得的待检测工件的内凹台阶高度值，测量结果精准，测量方式简单，可实现机械化快速操作，满足现代化工业生产的需求，且该检具结构简单，制作方法简便，制造成本低。

Description

用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具

技术领域

本申请涉及工件检测技术领域，尤其涉及一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具。

背景技术

现有技术中，通常采用卡尺等手持测量工具对工件的内凹台阶高度进行检测，这种检测方式不仅常因人为操作误差而导致检测结果不准确，且无法满足工件工业化批量生产的检测需求。

发明内容

本申请提供一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具，检测结果精准，检测效率高，且制造成本低。

本申请提供一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具，包括：基座、固定于所述基座上的高度计，以及与所述基座分体式设置的标准校正块；所述基座对应于所述高度计设置有与待检测工件外表面相吻合以放置待检测工件的工件放置槽，该工件放置槽的延伸方向与所述待检测工件的内凹台阶凹陷方向一致，所述高度计设置有可沿所述工件放置槽延伸方向往返直线移动以与所述内凹台阶的台阶面或所述标准校正块的校正面相抵接或分离的测量杆，所述基座于所述工件放置槽的靠所述高度计一端设置有与所述待检测工件的靠近所述内凹台阶一侧的外端面或所述校正面相抵接的基准面。

进一步地，所述高度计设置有与所述测量杆同轴设置且一端与所述测量杆相连而另一端伸出所述高度计主体的拉杆。

进一步地，所述测量杆的端部设置有端面垂直于所述测量杆的检测头。

进一步地，所述高度计通过设置于所述基座一侧的安装座固定于所述基座上。

进一步地，所述高度计设置有固定杆，所述安装座上开设有供所述固定杆穿设的固定孔，并通过螺钉固定所述固定杆。

进一步地，所述固定杆与所述测量杆同轴设置并套设于所述测量杆外。

进一步地，所述高度计为数字显示高度计。

本申请的有益效果是：

通过提供一种检具，采用设置有测量杆的高度计作为测量器具，利用设于基座上的基准面及设于标准校正块上的校正面实现高度计的归零设置，并利用设于基座上的工件放置槽及基准面实现待检测工件的精确定位，进而通过高度计测得待检测工件内凹台阶的高度，测量结果精准，测量方式简单，可实现机械化快速操作，满足现代化工业生产需求，且该检具结构简单，制作方法简便，制造成本低。

附图说明

图1为本申请检具未放置标准校正块的结构示意图。

图2为本申请检具放置标准校正块状态的结构示意图。

图3为本申请检具放置好标准校正块的俯视面结构示意图。

图4为本申请检具检测状态的俯视面结构示意图。

图5为图4中的A部放大图。

图6为本申请检具检测状态的剖面结构示意图。

图7为图6中的B部放大图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。

请参考图1~图7，本申请提供一种检具，用于检测圆柱形工件内凹台阶的高度，包括基座10、固定于所述基座10上的高度计20，以及与所述基座10分体式设置的标准校正块30，所述标准校正块30用以与所述基座10配合完成所述高度计20的归零设置。

如图1所示，所述高度计20采用现有通用结构，包括设置有检测结果显示装置及操作键的高度计主体21、可伸缩的设置于所述高度计主体21上以完成检测作业的测量杆22，以及与所述测量杆22同轴设置的拉杆23，所述拉杆23一端与所述测量杆22相连而另一端伸出所述高度计主体21。

所述基座10对应于所述高度计20设置有与待检测工件40外表面相吻合以放置所述待检测工件40的工件放置槽11，所述工件放置槽11的延伸方向与所述待检测工件40的内凹台阶41凹陷方向一致。请参考图2、图3，本申请中，所述基座10于所述工件放置槽11的靠所述高度计20一端设置有基准面12，该基准面12在放置所述标准校正块30以进行所述高度计20的归零操作时与所述标准校正块30的校正面31相抵接，并在所述待检测工件40置入所述工件放置槽11内以进行检测时与所述待检测工件40的靠近所述内凹台阶41一侧的外端面相抵接，以对所述待检测工件40进行标准限位。所述测量杆22可沿所述工件放置槽11延伸方向往返直线移动，以在进行所述高度计20的归零操作时与所述标准校正块30的校正面31相抵接或分离，或在对所述待检测工件40的内凹台阶41的高度进行检测时与所述内凹台阶41的台阶面相抵接或分离。为保证所述高度计20检测结果的精准度，所述测量杆22的端部设置有检测头24，所述检测头24的端面垂直于所述测量杆22，其正投影小于所述内凹台阶41的正投影，以在检测时可伸入所述内凹台阶41内并紧密的与所述内凹台阶41的台阶面相抵接并贴合。

使用本申请的检具进行检测时，先将所述高度计20校正归零，具体步骤为：将所述标准校正块30放置于所述基座10上，并使所述标准校正块30的校正面31紧贴于所述基座10的基准面12；操作所述拉杆23，使所述检测头24的端面与所述标准校正块30的校正面31抵紧，此时，按下所述高度计主体21上的归零操作键，即完成所述高度计20的归零操作。将所述高度计20准确归零后，即可进入后续的测量程序，具体步骤为：取下所述标准校正块30，将圆柱形待检测工件40放置于所述工件放置槽11内并使其待检测的设有内凹台阶41的一端朝向所述高度计20；朝向所述高度计20移动所述待检测工件40，直至所述待检测工件40靠所述内凹台阶41一端的外端面与所述基准面12相抵紧；操作所述高度计20，使所述测量杆22朝向所述待检测工件40的内凹台阶41内部行进，直至所述检测头24的端面与所述内凹台阶41的台阶面相抵接，此时，所述高度计20记录的数值即为该圆柱形工件被检测端的内凹台阶41的高度值。

请参考图3、图4，本申请中，所述高度计20通过设置于所述基座10一侧的安装座50固定于所述基座10上。所述高度计20设置有固定杆25，所述安装座50上开设有供所述固定杆25穿设的固定孔，并通过螺钉固定所述固定杆25。所述固定杆25与所述测量杆22同轴设置并套设于所述测量杆22外。

为获得精准的检测数值，作为一种优选的实施方式，本申请中的所述高度计20采用数字显示高度计。当然，作为另一种实施方式，所述高度计20也可设置为传统的刻度尺高度计。

本申请的用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的检具，采用设置有测量杆22的高度计20作为测量器具，借助于高度计20的精准测量及测量结果的准确获取，保障检测的精准度；利用设于基座10上的基准面12及设于标准校正块30上的校正面31实现高度计20的归零设置，校正归零的方法简单且精确；利用设于基座10上的工件放置槽11及基准面12实现待检测工件40检测时的精确定位，确保检测结果的精准度，测量方式简单易操作，满足现代化工业生产的需求，在具体实施时还可进一步结合机械手实现机械化快速检测，实用性更强，且该检具结构简单，制作方法简便，制造成本低。

以上内容是结合具体的实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换。

Claims (7)

1.一种用于检测圆柱形工件内凹台阶高度的高精度检具，其特征在于，包括：基座、固定于所述基座上的高度计，以及与所述基座分体式设置的标准校正块；所述基座对应于所述高度计设置有与待检测工件外表面相吻合以放置待检测工件的工件放置槽，该工件放置槽的延伸方向与所述待检测工件的内凹台阶凹陷方向一致，所述高度计设置有可沿所述工件放置槽延伸方向往返直线移动以与所述内凹台阶的台阶面或所述标准校正块的校正面相抵接或分离的测量杆，所述基座于所述工件放置槽的靠所述高度计一端设置有与所述待检测工件的靠近所述内凹台阶一侧的外端面或所述校正面相抵接的基准面。

2.如权利要求1所述的检具，其特征在于，所述高度计设置有与所述测量杆同轴设置且一端与所述测量杆相连而另一端伸出所述高度计主体的拉杆。

3.如权利要求1所述的检具，其特征在于，所述测量杆的端部设置有端面垂直于所述测量杆的检测头。

4.如权利要求1所述的检具，其特征在于，所述高度计通过设置于所述基座一侧的安装座固定于所述基座上。

5.如权利要求4所述的检具，其特征在于，所述高度计设置有固定杆，所述安装座上开设有供所述固定杆穿设的固定孔，并通过螺钉固定所述固定杆。

6.如权利要求5所述的检具，其特征在于，所述固定杆与所述测量杆同轴设置并套设于所述测量杆外。

7.如权利要求1至6中任一项所述的检具，其特征在于，所述高度计为数字显示高度计。