CN202693269U - 光学测量装置 - Google Patents
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Abstract
一种光学测量装置,用以测量一光源的一光学性质,其包含有一光学检测部与一滤光件,该光学检测部包含有一与该光源光学连接且供该光源进入该光学检测部的进光口;该滤光件活动装设于该进光口与该光源之间,且包含有一本体以及贯穿该本体的一第一孔洞与一孔径相异于该第一孔洞的第二孔洞。本实用新型利用该滤光件调整进入该进光口的光线强度,以利于该光学检测部进行光学性质测量,且该滤光件的活动式设计使操作者易于调整滤光范围。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光学测量设备,尤指一种具有滤光功能的光学测量设备。
背景技术
现代社会中,人们对于照明光源发展出许多不同的需求与应用,为了能更有效率的使用照明光源以及提升光源质量,对于照明光源的各种光学性质的要求与定义也更加地重视。尤其是针对发光二极管(Light EmittedDiode,LED)而言,因各领域对光源的需求不一,所以在工艺后段,必需针对发光二极管的发光亮度、波长及操作电压等光电特性进行测量并予以分级分类,以将等级互异的晶粒应用于适合的领域并对其良率作有效的控管。
已知用于测量发光二极管的光学性质的技术如美国发明专利公告第US 7,508,503号所示,披露一种具有温度控制功能的积分球,其中包含有一主体、一位于该主体内的球状空间、一设有一光源的支架、一位于该支架上且设有一电线的第一穿孔、一供控温气体流通的第二穿孔、一与该第二穿孔连通并供给该控温气体的气流管、一辅助光源以及一检测器。该支架设于该球状空间内,该辅助光源、该检测器与该第二穿孔的前方各设有一挡板,该检测器穿设于该主体且与该球状空间连通,该气流管为供给热气流进入该球状空间,通过调整其流量,操作者可于接近该光源实际使用状态的环境测量其光学性质。
除前述现有技术外,另有一种近似前述的积分球装置,可用于测量一发光二极管的光学性质,其主要包含一呈球形的本体、一光学连接于该本体用以测量该光源的检测器以及一供该光源射入的入口。在测量时,操作者将一待测量的发光二极管放置于该入口处,以使该发光二极管发出的光线经由该入口进入该本体的一空间内,该光线在该空间内通过该本体的内壁面进行漫射后,由该检测器取得该光线并测量其各种光学性质。
然而,于上述现有技术中,该检测器的有效测量值有一定的范围,换言之,若光线进入该检测器的强度过高,而超出该检测器的有效测量值时,则易导致测量误差。
实用新型内容
本实用新型的主要目的,为解决已知光学测量装置因检测器所取得的光源强度超出有效测量值而易导致测量误差的问题。
为达上述目的,本实用新型提供一种光学测量装置,用以测量一光源的一光学性质,所述光学测量装置包含有一光学检测部以及一滤光件;该光学检测部包含有一与该光源光学连接且供该光源进入该光学检测部的进光口;该滤光件活动装设于该进光口与该光源之间,且该滤光件包含有一本体以及贯穿该本体的一第一孔洞和一与该第一孔洞的孔径相异的第二孔洞,其中,该滤光件相对该光学检测部具有一使该第一孔洞对准该进光口的第一位置以及一使该第二孔洞对准该进光口的第二位置。
进一步地,光学测量装置还包含有一设于进光口与光源之间的连接部,连接部具有一供滤光件在第一位置与第二位置之间移动的穿槽、一与穿槽相接并与进光口连通的开口以及一设于穿槽内的挡止块。
进一步地,连接部还包含一与光学检测部相接的第一固定座及一设于滤光件的靠近光源的一侧的第二固定座,第一固定座盖合于第二固定座并在第一固定座与第二固定座之间形成穿槽。
进一步地,光学检测部包含有一与进光口光学连接并固定于第一固定座上的光纤以及一与光纤相接的测量模块。
进一步地,滤光件还具有一设于本体的周围的定位壁。
进一步地,定位壁包括分别与本体的两端相连接的一第一主定位壁及一第二主定位壁。
进一步地,滤光件还包括一连接本体的两侧并设于第一主定位壁与第二主定位壁之间的辅助定位壁。
进一步地,光学测量装置还包含有一位于光源与滤光件之间的收光部,收光部包含有一连接于连接部的壳体、贯穿壳体的一收光口与一出光口以及一位于壳体内且设于收光口与出光口之间并相互连通的漫射空间,收光口供光源进入漫射空间,出光口与进光口形成一光学通道。
进一步地,光学检测部包含有一与进光口光学连接的光纤以及一与光纤相接的测量模块。
进一步地,第一孔洞的孔径大于第二孔洞的孔径。
通过上述技术方案本实用新型至少具有下列优点:
1.本实用新型通过装设于该进光口与该光源之间的该滤光件进行滤光功能,使进入该进光口的光线强度能符合该光学检测部所容许的有效测量值的范围内,以减少测量误差的产生。
2.该滤光件为活动式地设置于该进光口与该光源之间,当操作者欲针对不同性质的该光源进行测量或拟搭配不同的该光学检测部使用时,通过改变该滤光件的位置,即可调整进光量而符合测量条件,如此,增加该光学测量装置的应用性。
附图说明
图1A为本实用新型第一实施例中,滤光件位于第一位置的结构剖面示意图。
图1B为本实用新型第一实施例中,滤光件位于第二位置的结构剖面示意图。
图2为本实用新型第二实施例的立体示意图。
图3A为本实用新型第二实施例中,滤光件位于第一位置的A-A结构剖面示意图。
图3B为本实用新型第二实施例中,滤光件位于第二位置的A-A结构剖面示意图。
图4为图3B的局部放大示意图。
具体实施方式
有关本实用新型的详细说明及技术内容,现就配合图式说明如下:
请先参阅图1A及图1B,分别为本实用新型第一实施例中,滤光件位于第一位置的结构剖面示意图以及本实用新型第一实施例中,滤光件位于第二位置的结构剖面示意图。本实用新型为一种光学测量装置,用以测量一光源10的一光学性质,以下,以该光源10为一发光二极管为例。该光学测量装置包含有一光学检测部30以及一滤光件40。该光学检测部30包含有一与该光源10光学连接且供该光源10进入该光学检测部30的进光口31,该进光口31以一光纤33连接至一测量模块(图中未示);该滤光件40活动装设于该光源10与该进光口31之间,该滤光件40包含有一呈板状的本体41以及贯穿该本体41的一第一孔洞42与一孔径小于该第一孔洞42的第二孔洞43,其中,如图1A所示,该滤光件40相对该光学检测部30具有一使该第一孔洞42对准该进光口31的第一位置,以及如图1B所示,一使该第二孔洞43对准该进光口31的第二位置。
此外,在本实施例中,该光学测量装置还包括一连接部50,该连接部50设于该进光口31与该光源10之间,该连接部50包含有一第一固定座54、一第二固定座55、一穿槽51、一开口52以及一挡止块53,该第一固定座54与该光学检测部30相接,该第二固定座55设于该滤光件40靠近该光源10的一侧,且该第一固定座54盖合于该第二固定座55并于彼此间形成横向贯穿的该穿槽51以及纵向贯穿的该开口52,该穿槽51供该滤光件40插设,而该开口52对准该进光口31而相互连通。
另以本实用新型的第二实施例作详细说明,请参阅图2与图3A,分别为本实用新型第二实施例的立体示意图与本实用新型第二实施例中,滤光件位于第一位置的A-A结构剖面示意图,第二实施例还包含一收光部20,该收光部20为一积分球,该收光部20包含有一壳体21、一收光口22、一出光口23以及一漫射空间24。该壳体21由一与该连接部50相接的上壳体211以及一下壳体212组成,该收光口22与该出光口23分别贯穿该壳体21,且该出光口23位于该上壳体211,该收光口22位于该下壳体212相对应于该出光口23的位置,该漫射空间24位于该壳体21内且设于该收光口22与该出光口23之间,该收光口22、该出光口23与该漫射空间24为相互连通,该出光口23与该进光口31之间形成一光学通道32。于操作时,该光源10放置于靠近该收光口22处,如图3A所示,以使该光源10射出的光线得通过该收光口22进入该漫射空间24。于本实施例中,该壳体21还包括一附着于一位于该壳体21的内壁面的漫射涂层213,藉此符合该光源10于该漫射空间24的漫反射的积分球学理需求。
如图3A所示,同第一实施例,该光学检测部30包含有一测量模块(图中未示)、一连接于该测量模块与该出光口23之间的光纤33以及一设于该光纤33远离该测量模块的一端的进光口31,该进光口31与该出光口23光学连接且彼此间形成一光学通道32,使该光线经过该漫射空间24后,得通过该出光口23并经由该光学通道32而进入该进光口31,以通过该光纤33的传递而通过该测量模块进行检测。在本实施例中,该收光部20以该积分球作为举例说明,而该光学检测部30则以该光纤33搭配该测量模块示意说明,该测量模块通常为一光谱仪,用以测量一光谱分布图,然而本实用新型并不限于此,依实际应用需求,该收光部20及该光学检测部30可选用其他与前述等效的构件。
请一并参阅图4,为图3B的局部放大示意图,该连接部50设于该收光部20与该光学检测部30之间,包含有一第一固定座54、一第二固定座55、一穿槽51、一开口52以及一挡止块53。该第一固定座54与该光学检测部30相接,该第二固定座55与该收光部20相接,且该第一固定座54盖合于该第二固定座55并于彼此间形成横向贯穿的该穿槽51以及纵向贯穿的该开口52,该穿槽51供该滤光件40插设,而该开口52对准该进光口31与该出光口23而与该光学通道32相互连通。其中,该第一固定座54包含有一容置有该光纤33的管壁541,以固定该光纤33,且该挡止块53凸设于该穿槽51内,于本实施例,该挡止块53为该管壁541朝该穿槽51向下延伸的一凸出环壁。
如图3A与图4所示,该滤光件40位于该进光口31与该出光口23之间,并滑设于该穿槽51中,该滤光件40包含有一本体41以及贯穿该本体41的一第一孔洞42与一孔径相异于该第一孔洞42的第二孔洞43,该第一孔洞42的孔径大于该第二孔洞43。于本实施例中,该滤光件40在该第一孔洞42与该第二孔洞43之间还具有孔径相异的多个第三孔洞45,这些第三孔洞45贯穿该本体41并与该第一孔洞42和该第二孔洞43朝同一直线方向排列,其中,该第三孔洞45的孔径为介于该第一孔洞42与该第二孔洞43之间,并由右至左逐渐递减。在本实施例中,该本体41呈一板状,且该滤光件40还具有一直立设于该本体41周围的定位壁44,该定位壁44包括分别连接该本体41两端的一第一主定位壁441与一第二主定位壁442以及一连接该本体41两侧并设于该第一主定位壁441与该第二主定位壁442之间的辅助定位壁443。
请合并参阅图3B,为本实用新型第二实施例中,滤光件位于第二位置的A-A结构剖面示意图,该滤光件40相对该收光部20具有一第一位置及一第二位置,当该滤光件40相对该收光部20处于该第一位置时,该第一孔洞42对准该光学通道32,且该第一主定位壁441与该挡止块53相互抵接,如图3A所示;当欲使该滤光件40相对该收光部20处于该第二位置时,通过使该滤光件40于该穿槽51内滑移,让该第二孔洞43对准该光学通道32,此时该第二主定位壁442与该挡止块53相互抵接,如图3B所示。据此,使用者可依据不同需求,通过调整该滤光件40相对该收光部20的位置,而选择该第一孔洞42、该第二孔洞43或该第三孔洞45对准该光学通道32,以通过不同的孔径改变该光线的进入该光学检测部30的进光量。
本实施例以测量该发光二极管晶粒作为举例说明,该发光二极管通电发光,光线由该收光口22进入该漫射空间24,直接导向该出光口23,或间接通过该漫射涂层213的导引导向该出光口23,再经由该出光口23离开该漫射空间24并进入该光学通道32,在该光学通道32中,该光线穿过位于该滤光件40上的该第一孔洞42、该第二孔洞43或该第三孔洞45,再经由该进光口31进入该光纤33,通过该光纤33传递至该测量模块,以进行光学性质的测量。由于该第一孔洞42、该第二孔洞43与该第三孔洞45的孔径皆小于该出光口23,故该光线进入该进光口31的进光量是由该第一孔洞42、该第二孔洞43与该第三孔洞45的孔径决定,使用者可依该光源10的强度和该测量模块的有效测量值变换使用孔径较大的该第一孔洞42或孔径较小的该第二孔洞43或该第三孔洞45,当该光源10强度较弱时,可将该滤光件40滑动至该第一位置;当该光源10强度较强时,则将该滤光件40滑动至该第二位置。
另须说明,前揭实施例的该滤光件40中,该本体41皆呈一长形平板状的设计,然而本实用新型并不限于此,依据实际制造或使用需求,该本体41也可设计为一圆盘状,例如将该第一孔洞42、该第二孔洞43与该第三孔洞45分别依序沿该本体41的旋转方向排列,并通过转动方式,使该第一孔洞42、该第二孔洞43或该第三孔洞45得对准该进光口31,以供使用者切换不同的孔径。
综上所述,相较于现有技术,本实用新型具有以下例特点:
一、利用装设于该进光口与该出光口之间的该滤光件提供滤光功能,使进入该进光口的光线强度能符合该光学检测部所容许的有效测量值的范围内,以改善现有技术中,若该光源强度过高,而产生的测量误差的问题。
二、操作者通过调整该滤光件相对该收光部的位置,即可控制进入该光学检测部的进光量,不需更换整个光学测量装置,便于使用。
三、本实用新型中,该滤光件滑设于该穿槽中,且以该定位壁及该挡止块稳定该滤光件的结构,使该滤光件平稳地设置于该穿槽,减少因结构不稳的因素,导致位置偏移而影响光线传输的问题。
以上已将本实用新型做一详细说明,然而以上所述者,仅为本实用新型的一优选实施例而已,当不能限定本实用新型实施的范围。即凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与修饰等,皆应仍属本实用新型的专利涵盖范围内。
Claims (10)
1.一种光学测量装置,用以测量一光源的一光学性质,其特征在于,所述光学测量装置包含有:
一光学检测部,所述光学检测部包含有一与所述光源光学连接且供所述光源进入所述光学检测部的进光口;以及
一活动装设于所述进光口与所述光源之间的滤光件,所述滤光件包含有一本体以及贯穿所述本体的一第一孔洞和一与所述第一孔洞的孔径相异的第二孔洞,其中,所述滤光件相对所述光学检测部具有一使所述第一孔洞对准所述进光口的第一位置以及一使所述第二孔洞对准所述进光口的第二位置。
2.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,所述光学测量装置还包含有一设于所述进光口与所述光源之间的连接部,所述连接部具有一供所述滤光件在所述第一位置与所述第二位置之间移动的穿槽、一与所述穿槽相接并与所述进光口连通的开口以及一设于所述穿槽内的挡止块。
3.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,所述连接部还包含一与所述光学检测部相接的第一固定座及一设于所述滤光件的靠近所述光源的一侧的第二固定座,所述第一固定座盖合于所述第二固定座并在所述第一固定座与所述第二固定座之间形成所述穿槽。
4.根据权利要求3所述的光学测量装置,其特征在于,所述光学检测部包含有一与所述进光口光学连接并固定于所述第一固定座上的光纤以及一与所述光纤相接的测量模块。
5.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,所述滤光件还具有一设于所述本体的周围的定位壁。
6.根据权利要求5所述的光学测量装置,其特征在于,所述定位壁包括分别与所述本体的两端相连接的一第一主定位壁及一第二主定位壁。
7.根据权利要求6所述的光学测量装置,其特征在于,所述滤光件还包括一连接所述本体的两侧并设于所述第一主定位壁与所述第二主定位壁之间的辅助定位壁。
8.根据权利要求2所述的光学测量装置,其特征在于,所述光学测量装置还包含有一位于所述光源与所述滤光件之间的收光部,所述收光部包含有一连接于所述连接部的壳体、贯穿所述壳体的一收光口与一出光口以及一位于所述壳体内且设于所述收光口与所述出光口之间并相互连通的漫射空间,所述收光口供所述光源进入所述漫射空间,所述出光口与所述进光口形成一光学通道。
9.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,所述光学检测部包含有一与所述进光口光学连接的光纤以及一与所述光纤相接的测量模块。
10.根据权利要求1所述的光学测量装置,其特征在于,所述第一孔洞的孔径大于所述第二孔洞的孔径。
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