CN201417291Y - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测试装置，其至少包括固定板、承载台、连接线以及压板。当待测元件容置于承载台的一容置槽内时，待测元件上的第一信号接头接触位于容置槽内的一信号接点。卡扣组件设置在承载台的一侧。连接线连接信号接点用来传输信号。压板枢接于卡扣组件对侧的承载台上，当压板相对于承载台位于闭合位置时，卡扣组件卡扣压板。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及到一种可提升测试质量的测试装置。

背景技术

一般而言，电子产品在出货之前均需要经过检验测试的步骤，以确保产品的质量。举例来说，现在市面上常见的应用通用序列汇排流(Universal SerialBus，USB)接面与计算机系统连接的外接式射频装置，在进行测试时，操作人员必须将射频装置插入测试的装置。再者，进行测试时，需要徒手按压射频装置，使得射频装置上的信号接点可以与测试装置上的信号接点接触，以便进行测试。

然而，此种徒手插入的测试方式容易让射频装置的接头损坏，同时具有操作不方便以及费时等缺点。尤其是测试两面都设置有射频元件的产品时，必须先测试第一面的射频元件，接着再将射频装置翻面，以测试第二面的测频元件，大大增加了测试所耗费的时间。另外，由于手指与产品上的接触面积有限，当手指按压射频装置以进行测试时，会让产品受力不均匀，容易导致产品损坏。再者，此种徒手按压产品来进行测试的方式，也很容易发生射频装置上的信号接点与测试装置上的信号接点接触不良的现象，容易导致信号不稳定，造成产品测试数据失真。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种测试装置，以解决徒手插入的测试方式容易让射频装置的接头损坏，同时具有操作不方便、费时以及容易导致产品损坏等缺点的问题。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术的方案：

一种测试装置，至少包括固定板、滑轨、连接件、承载台、信号接点、连接线以及压板。滑轨位于固定板上。连接件位于滑轨的一端的固定板上，用以耦接于待测元件的对接件。承载台滑设于滑轨上，并且具有容置槽，用以容置待测元件。信号接点位于容置槽内，当待测元件容置于容置槽内时，信号接点接触于待测元件的第一信号接头以进行量测。连接线连接信号接点以传输信号。压板枢接于该承载台上。

所述测试装置还包括卡扣组件，设置在承载台的一侧，且当压板相对于承载台位于一闭合位置时，卡扣组件卡扣压板。

依据本新型另一实施例，测试装置还包括顶出件，通过一转轴嵌设于容置槽底部的一狭缝中。顶出件包括按压部及推顶部。按压部透出承载台的侧壁之外，推顶部位于顶出件的另一端。当按压该按压部时，推顶端自狭缝凸出容置槽底部以使待测元件脱出容置槽。

依据本新型又一实施例，承载台还包括多个定位梢，设置于容置槽内底面上。此些定位梢分别对应待测元件的多个定位孔而设置。

依据本新型再一实施例，待测元件的第一信号接头为射频接头，连接线另一端连接于射频检测单元，以传输信号至射频检测单元。

依照本新型的测试装置，利用压板及承载台夹置待测元件，可以提升待测元件上的对接件与固定板上的连接件耦接时的稳定性，并且使待测元件的第一信号接头可以稳固地接触于固定板的信号接点，提升测试质量。再者，仅需更换对应于待测元件的承载台，即可对于不同的待测元件进行测试，提高测试装置的应用弹性。

附图说明

图1A是本实用新型测试装置一个实施例的一视角的立体图；

图1B是本实用新型测试装置一个实施例的另一视角的立体图；

图2是图1A的压板位于闭合位置时的立体图；

图3是图1的承载台的俯视图；

图4是图2的压板、待测元件及承载台的剖面图；

图5A是按压顶出件前承载台的部分剖面图；

图5B是按压顶出件后承载台的部分剖面图。

具体实施方式

依照本新型一个实施例的测试装置，用以测试待测元件，其利用压板及承载台稳固夹置待测元件来进行测试。请同时参照图1A及图1B，其分别表示依照本新型一各实施例的一种测试装置的不同视角的立体图。测试装置100主要包括固定板130、承载台150及压板170。承载台150通过位于固定板130上的滑轨131滑设于固定板130上。承载台150的一侧设置有卡扣组件159，且承载台150具有容置槽155，用来容置待测元件200。滑轨131一端的固定板130上设置有连接件133，用以耦接于待测元件200的对接件230。压板170枢接于卡扣组件159对侧的承载台150上。

在操作本实施例的测试装置100时，首先将待测元件200设置于容置槽155内，接着下压压板170，使压板170相对于承载台150位于一闭合位置。请参照图2，其表示图1A的压板位于闭合位置时的立体图。当压板170位于闭合位置时，压板170及承载台150夹住待测元件200。

更详尽地来说，压板170包括手柄179，其位于压板170对应于卡扣组件159的一侧。当压板170位于闭合位置时，卡扣组件159卡扣手柄179，以稳固地固定压板170。于一实施例中，卡扣组件159可利用两个弹性滚珠159a来夹扣圆形断面的手柄179。本实施例中，压板170为平板状结构，当压板170相对于承载台150位于闭合位置，使手柄179扣合于卡扣组件159时，压板170及承载台150分别接触于待测元件200的两相对表面，以将待测元件200夹置于两者之间。此时压板170均匀地施力按压于待测元件200，避免徒手按压待测元件200造成施力不均，导致待测元件200受损的问题。

请同时参照图3及图4，图3表示图1的承载台的上视图，图4图表示图2的压板、待测元件及承载台的剖面图。承载台150包括信号接点153，位于容置槽155内，当待测元件200容置于容置槽155时，信号接点153接触于待测元件200的第一信号接头211。于一实施例中，容置槽155具有大致上与待测元件200相同的形状，以容置待测元件200。

另外，承载台150还可包括多个定位梢157，如图3所示。定位梢157设置于容置槽155内底面上，且对应待测元件200的多个定位孔而设置。当待测元件200容置于容置槽155内时，此些定位梢157分别对应穿接于待测元件200的定位孔，以将待测元件200定位于承载台150上。通过容置槽155的形状以及定位梢157的设计，可以快速且准确地达成待测元件200于承载台150上的定位，让待测元件200上的第一信号接头211可以确实接触于容置槽155内的信号接点153。

本实施例中，待测元件200还包括第二信号接头212。第一信号接头211及第二信号接头212分别位于待测元件200相对的两个表面上，如图4所示。当压板170位于闭合位置时，待测元件200的第二信号接头212暴露于压板170外，以便同时通过第一信号接头211及第二信号接头212进行测试。

实际应用上，待测元件200的两相对表面分别设置有一个以上的射频元件，且第一信号接头211及第二信号接头212分别可为射频接头。测试装置100还包括连接线190，其两相对端中的一端穿过承载台150连接于信号接点153，以传输信号。连接线190的另外一端连接至射频检测单元(未显示于图中)，通过第一信号接头211对待测元件200进行测试。当信号接点153磨损或氧化发生接触不良时，仅需自承载台150拉出射频连接线190进行更换即可。此外，第二信号接头212可同时连接至相同或不同的射频检测单元，以同时通过第一信号接头211及第二信号接头212测试待测元件200。

在操作本实施例的测试装置100时，当置放待测元件200至容置槽155，并且卡扣压板170于闭合位置之后，接下来沿滑轨131移动承载台150，以将承载台150移动至固定板130上的测试位置(图1A及1B中所表示的承载台150位于测试位置)。当容置有待测元件200的承载台150位于测试位置时，待测元件200的对接件230耦接于固定板130上的连接件133。

本实施例中，滑轨131为直线形滑轨，承载台150在固定板130上沿着滑轨131进行直线移动。实际应用上，承载台150沿滑轨131的移动方向平行于连接件133及对接件230的耦接方向。当容置有待测元件200的承载台150沿第一移动方向D1移动离开测试位置时，对接件230脱离连接件133。当承载台150沿第一移动方向D1的反向移动回测试位置时，连接件133复与对接件230耦接。如此一来，通过承载台150相对于固定板130沿着平行于耦接方向的移动，可以确保插拔待测元件200时不会发生弯折而损坏连接件133或对接件230的问题。

进一步来说，固定板130上还设置有主板140，其与连接件133位于滑轨131的同一端。主板140电性连接于连接件133，用以通过耦接的连接件133及对接件230传输信号至待测元件200。连接件133可例如是一通用序列总线(Universal Serial Bus，USB)的母接头或公接头，而对接件230为对应的通用序列总线的公接头或母接头。然而，本实施例中连接主板140及待测元件200的接口并不限制于通用序列总线接口，其它使用在计算机系统中用来连接周边组件的扩充接口，例如IEEE 1394接口及e-SATA接口，均可应用于此。

进行待测元件200的测试时，主板140将测试信号通过通用序列总线接口的连接件133及对接件230传递至待测元件200，并由第一信号接头211及第二信号接头212分别连接至相同或不同的射频检测单元。

本实施例的固定板130枢接于一底座110，如图1A及图1B所示，固定板130、承载台150、压板170及夹置的待测元件200同时相对于底座110翻转。另外，承载台150具有一内凹口，当待测元件200容置于容置槽155内时，部分的待测元件200凸出于内凹口。通过固定板130相对于底座110翻转，使用者可在进行测试时，由不同角度观察待测元件200的上表面及下表面，以及第一信号接头211与信号接点153的接触状况。

测试完毕后，使用者可沿第一移动方向D1移动容置有待测元件200的承载台150离开测试位置，使对接件230脱离连接件133。接着利用承载台150中的顶出件160自容置槽155顶出待测元件200。请参照图4，顶出件160通过转轴嵌设于容置槽155底部的一狭缝中。顶出件160包括按压部160a及推顶部160b，按压部160a透出承载台150的侧壁之外，推顶部160b位于顶出件160的另一端。

请同时参照图5A及图5B，其分别表示按压顶出件前后承载台的部分剖面图。顶出件160的转轴位于按压部160a及推顶部160b之间，使得按压部160a及推顶部160b可以通过转轴进行摆动。当按压按压部160a时，推顶部160b自狭缝凸出容置槽155底部，以使待测元件200脱出容置槽155。通过顶出件160的作动，使用者可以简易且快速地将待测元件200自承载台150取出，除可提升测试的效率外，更可避免在取出待测元件200的过程中让待测元件200产生弯曲、甚至断裂损坏的现象。

上述依照本新型实施例的测试装置，利用压板及承载台稳固地夹住待测元件，可以提升连接件及对接件耦接的稳定性，并增加第一信号接头与信号接点的接触稳定性，提升测试质量。此外，通过压板均匀地施力于待测元件，可避免徒手按压导致待测元件受损的问题。再者，通过暴露于压板外的第二信号接头，可同时通过位于待测元件两相对表面上的第一信号接头及第二信号接头进行测试，提升测试效率。另外，通过更换承载台，可使测试装置适用于不同的待测元件，可提高测试装置的应用弹性。

虽然本实用新型已以实施例揭露如上，然其并非用以限定本新型，任何熟习此技艺者，在不脱离本新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当以权利要求的界定者为准。

Claims (11)

1.一种测试装置，其特征在于，至少包括：

固定板；

滑轨，位于该固定板上；

连接件，位于该滑轨的一端的该固定板上，用以耦接于一待测元件的对接件；

承载台，滑设于该滑轨上，该承载台具有容置槽，用以容置该待测元件；

信号接点，位于该容置槽内，当该待测元件容置于该容置槽内时，该信号接点接触于该待测元件的第一信号接头以进行量测；

连接线，连接该信号接点以传输信号；

压板，枢接于该承载台上。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

卡扣组件，设置于该承载台的一侧，且当该压板相对于该承载台位于闭合位置时，该卡扣组件卡扣该压板。

3.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，还包括：

顶出件，通过转轴嵌设于该容置槽底部的狭缝中，包括：

按压部，透出该承载台的侧壁之外；以及

推顶部，位于该顶出件另端，当按压该按压部时，该推顶部自该狭缝凸出该容置槽底部以使该待测元件脱出该容置槽。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中该承载台还包括：

复数个定位梢，设置于该容置槽内底面之上，该些定位梢分别对应该待测元件的复数个定位孔而设置。

5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该固定板还包括：

主板，位于该滑轨的该端的该固定板上，且电性连接于该连接件，该主板用以经由耦接的该连接件及该对接件传输信号至该待测元件。

6.权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该滑轨为直线形滑轨，该承载台于该滑轨上的移动方向平行于该连接件及该对接件的耦接方向。

7.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该第一信号接头为射频接头，该连接线的另端连接于射频检测单元，以传输信号至该射频检测单元。

8.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该固定板枢接于底座，该固定板、该承载台、该压板及夹置的该待测元件同步相对于该底座翻转。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该压板还包括：

手柄，位于该压板对应于该卡扣组件的一侧，当该压板位于该闭合位置时，该卡扣组件卡扣该手柄。

10.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，其中该连接件为通用序列总线的母接头或公接头。

11.如权利要求1所述的测试装置，其中该承载台具有一内凹口，当该待测元件容置于该容置槽内时，部分的该待测元件凸出于该内凹口。

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