CN200944040Y - 用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具 - Google Patents

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唐建群
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Abstract

本实用新型公开了一种用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具,该夹具由设有台阶孔的套筒、设有锥孔的内套、以及定位螺钉组成,所述设有锥孔的内套过渡配合在套筒的台阶孔的大端内,内套的锥孔的锥度与量规锥面的锥度一致,内套的锥孔小端与套筒的台阶孔小端相接,并保证同轴度,定位螺钉螺纹配合在套筒的台阶孔小端圆周壁上径向设置的螺孔中。本实用新型配合在带刻度指针的普通千分尺上使用,其检测效率可以比采用万能工具显微镜检测提高3~5倍,且能够保证检测质量的一致性和稳定性。

Description

用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具
技术领域
本实用新型涉及一种夹具,具体涉及一种用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具。
背景技术
目前,对加工的带锥面的量规的工作长度L、锥面角度α及直径φ的交点尺寸(见图1)是利用万能工具显微镜对每件检测。虽然采用这种仪器能检测出量规交点尺寸是否符合技术要求,但是在检测时,由于检测时人为误差、仪器误差的影响导致检测精确度不理想,同时,由于在检测时需要将显微镜进行细致调整,因此,对每件加工的量规交点尺寸的检测都需耗用较长时间,检测效率低,从而影响生产进度;而目前尚无其他的能够快捷地精确检测带锥面的量规的交点尺寸的工具。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具,它配合在带刻度指针的普通千分尺上使用,能够快捷地精确检测出带锥面的量规的交点尺寸。
本实用新型的目的是这样来实现的:该夹具由一个设有台阶孔的套筒、一个设有锥孔的内套、以及定位螺钉组成,所述设有锥孔的内套过渡配合在套筒的台阶孔的大端内,所述内套的锥孔的锥度与量规锥面的锥度一致,内套的锥孔小端与套筒的台阶孔小端相接,其同轴度不超过0.004mm,定位螺钉螺纹配合在套筒的台阶孔小端圆周壁上径向设置的螺孔中。
由于采用了上述方案,在所述夹具的套筒台阶孔的大端过渡配合一个设有锥孔的内套,套筒台阶孔的小端圆周壁上径向设置的螺孔中螺纹配合一个定位螺钉,使该夹具能够通过套筒的台阶孔小端套在带刻度指针的普通千分尺的测微螺杆上,并用定位螺钉紧固定位,内套的锥孔用以与量规的锥面配合。由于内套的锥孔的锥度与量规锥面的锥度一致,内套的锥孔小端与套筒的台阶孔小端相接,其同轴度不超过0.004mm,使该夹具配置在千分尺上的检测精确度能够得到保证。本夹具配合在带刻度指针的普通千分尺上使用,其检测效率可以比采用万能工具显微镜检测提高3~5倍,且能够保证检测质量的一致性和稳定性。
本实用新型结构简单,使用方便。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
附图说明
图1为带锥面的量规示意图;
图2为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参见图2,本夹具由一个设有台阶孔的套筒1、一个设有锥孔的内套2、以及定位螺钉3组成。所述设有锥孔的内套2过渡配合在套筒1的台阶孔5的大端内,所述内套2的锥孔的锥度与量规锥面的锥度一致,其锥度公差为±1′。所述内套2的锥孔4小端与套筒1的台阶孔5小端相接,其同轴度不超过0.004mm。一个定位螺钉3螺纹配合在套筒1的台阶孔小端圆周壁上径向设置的螺孔中。
在带刻度指针的普通千分尺使用本夹具对带锥面的量规进行检测时,首先将本夹具通过套筒的台阶孔小端套在千分尺的测微螺杆上,并用定位螺钉紧固定位,防止夹具窜动,然后取一个交点尺寸已经通过万能工具显微镜检测合格的标准的带锥面的量规,使其锥面与内套的锥孔配合,用千分尺对该标准量规进行检测后,利用千分尺的锁紧机构锁定该测量的标准状态,取下该标准量规后,就能对加工的带锥面的量规一一进行检测了。对加工的带锥面的量规检测时,将已加工的量规的锥面与内套的锥孔配合,使量规卡在千分尺中,通过与千分尺锁定的测量的标准状态进行比较,由千分尺的刻度指针测量加工的带锥面的量规的公差,若千分尺的刻度指针反映出交点尺寸偏大,可通过对量规尾端基准面进行研压,使量规的工作长度满足技术要求;若千分尺的刻度指针反映出交点尺寸偏小,则表示加工的带锥面的量规报废,不能使用。

Claims (2)

1.一种用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具,其特征在于:该夹具由一个设有台阶孔的套筒(1)、一个设有锥孔的内套(2)、以及定位螺钉(3)组成,所述设有锥孔的内套(2)过渡配合在套筒(1)的台阶孔的大端内,所述内套(2)的锥孔的锥度与量规锥面的锥度一致,内套(2)的锥孔(4)小端与套筒(1)的台阶孔(5)小端相接,其同轴度不超过0.004mm,定位螺钉(3)螺纹配合在套筒(1)的台阶孔小端圆周壁上径向设置的螺孔中。
2.根据权利要求1所述的用于在千分尺上检测带锥面的量规的夹具,其特征在于:所述内套(2)的锥孔的锥度与量规锥面的锥度公差为±1′。
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