CN1838260B - 产生光学信息记录介质的方法 - Google Patents

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Abstract

一种产生光学信息记录介质的方法，该介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层，其中：第一信息记录层包括一个只再现区域和第一记录和再现区域中的至少一个，第二信息记录层包括第二记录和再现区域，该方法包括如下步骤：形成只再现区域和第一记录和再现区域中的至少一个以及第二记录和再现区域，以便只再现区域和第一记录和再现区域中的一个包括第一信息记录层的一个被用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域。

Description

产生光学信息记录介质的方法
本申请是2001年9月12日提交的、申请号为“01814327.X”的名称为“光学信息记录介质、光学信息记录方法和光学信息记录装置”的分案申请。
技术领域
本发明涉及一种用于在光学上记录信息的光学信息记录介质、光学信息记录方法和光学信息记录装置。更具体地，本发明涉及一种包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层和要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层的光学信息记录介质、以及用于该光学信息记录介质的方法和装置。
背景技术
近来，已经开发出光盘、光卡、光带等作为允许在光学上记录信息的光学信息记录介质。其中，光盘作为允许以高密度记录大容量的信息的光学信息记录介质已经引起了注意。
一种类型的可重写盘是相变光盘。用于相变光盘的记录层根据激光的加热条件和冷却条件被可逆地改变到一种非晶状态或一种结晶状态。记录层在处于非晶状态时和处于结晶状态时具有不同的光学常数。因此，在相变盘的情况下，根据要记录的信息在记录层上有选择地形成两种状态中的一个，并利用所得的光学改变(即，在透射比或反射比中的改变)。因此，可以执行信息记录和/或再现。为了获得这两种状态，将信息记录如下。
用脉冲类型的激光(称为“记录脉冲”)以使记录层的温度升到等于或高于熔化点的功率照射光盘的记录层。在激光通过后，记录层的熔化部分迅速冷却成非晶状态中的一个记录标记(mark)。或者，用聚焦的激光以使记录层的温度升到等于或高于结晶点但等于或低于熔化点的一点的功率照射记录层。然后，记录层被激光照射的部分变成一个晶体状态。
光盘是一种可与其他光盘互换地安装在光盘记录和再现装置上的记录介质。因此，光盘记录和再现装置需要稳定地执行在多个光盘上的记录或从其再现。由于由生产时的分散和/或时间上的改变而引起的其不同的热特性，即使在相同条件下生产的光盘也可能具有不同的记录标记状态或可能被记录标记之间的热干扰不同地影响。这可能产生不同的记录条件，包括用于光盘的记录功率和记录脉冲的最优边缘位置。
为了在不受这种记录条件中的变化的影响的情况下稳定地记录信息，光盘记录和再现装置在在光盘上记录信息之前获得记录条件。具体地，在在光盘上记录信息之前，光盘记录和再现装置采用一个特定数据模式(称为“测试”信息)执行测试记录，再现该测试信息，并测量再现信号，以便获得记录条件。这个过程被称为“测试记录”。光盘具有一个由测试记录使用的区域，被称为“测试记录区域”。
一个可重写盘具有一个在一个特定部分预先形成的只再现区域。只再现区域包括凸起和凹下相坑(phase pit)。在只再现区域中，记录不需要被重写的信息，例如，关于光盘本身的信息或地址信息。这个区域也被称为“凸凹(emboss)区域”。
通过形成一个记录标记而记录信息的区域被称为“记录和再现区域”。在记录和再现区域，记录有可能被重写的信息。
普通的可重写光盘在其径向的中心部分具有一个数据区域，在相对于数据区域向内的部分具有一个引入区域，在相对于数据区域向外的部分具有一个引出区域。通常，在引入区域和引出区域中提供一个用于记录光盘的管理信息的区域和/或一个测试记录区域。
近来，对于具有更高记录密度的光盘具有强烈的需求。响应于这个需求，提出了一种在盘的厚度方向上具有两个或更多信息记录层的多层记录介质。信息可以记录在每一个信息记录层上。
在这样一个多层记录介质中，每一个信息记录层常常具有不同的记录特性。这需要为每一个信息记录层执行测试记录。这种测试记录的一个例示方法在日本公开文本No.11-3550中进行了公开。
然而，常规方法不考虑下面的现象。当在多层记录介质的远离激光入射表面的信息记录层(远离激光入射表面的信息记录层将被称为“第二信息记录层”)上执行测试记录时，第二信息记录层受到接近激光入射表面的信息记录层的状态的影响(接近激光入射表面的信息记录层将被称为“第一信息记录层”)。
当激光已经穿过第一信息记录层的一特定区域时，用于在第二信息记录层上记录信息的激光可能变得不均匀。在这种情况下，测试记录将不能提供精确的记录条件。
信息记录层的光透射比根据信息是否记录在信息记录层的记录和再现区域中而变化。因此，到达第二信息记录层的激光量根据第一信息记录层上激光的光点中的未记录区域和已记录区域的比而变化，光点是在为第二信息记录层上的测试记录使用激光之前形成的。其结果是，不能获得精确的记录条件。
记录和再现区域中的未记录区域的光透射比可以被认为等于只再现区域的光透射比。然而，记录和再现区域中已记录区域的光透射比与只再现区域的光透射比不同。因此，当在第二信息记录层上执行测试记录时，到达第二信息记录层的激光量也根据第一信息记录层上的光点中的只再现区域和记录和再现区域的比(以及记录和再现区域中的已记录区域和未记录区域的比)而变化。
与在测试记录时一样，当信息(例如，用户数据信息)被记录在第二信息记录层的记录和再现区域中时，第二信息记录层受第一信息记录层的状态的影响。在这种情况下，信息也不能被精确地记录，这降低了用于再现所记录信息的信号质量。
为了解决现有技术的这些问题，本发明的目的是为一个具有两个或更多信息记录层的光学信息记录介质精确地获得最优记录条件，另一个目的是在一个光学信息记录介质的两个或更多信息记录层的每一层上精确地记录信息。
发明内容
依据本发明的光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个只再现区域和一个记录和再现区域中的至少一个。第二信息记录层包括一个测试记录区域。只再现区域和记录和再现区域中的至少一个以及测试记录区域的位置为使得只再现区域和记录和再现区域中的一个包括第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域。
光学信息记录介质可以进一步包括一个用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第二信息记录层可以具有一个从测试记录区域的末端延伸至少长度δ的数据记录区域。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
第二信息记录层可以包括一个从测试记录区域的末端延伸至少长度δ’的数据记录区域。
依据本发明的光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个规定区域。第二信息记录层包括一个测试记录区域。规定区域和测试记录区域的位置为使得规定区域包括第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域。规定区域完全处于一个已记录状态或一个未记录状态。
规定区域在处于一个未记录状态时可以是一个记录禁止区域。
规定区域在处于一个未记录状态时可以是一个镜像区域。
规定区域在处于一个未记录状态时可以是一个引入区域。
光学信息记录介质可以进一步包括一个用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第二信息记录层可以具有一个从测试记录区域的末端延伸至少长度δ的数据记录区域。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
第二信息记录层可以包括一个从测试记录区域的末端延伸至少长度δ’的数据记录区域。
依据本发明的光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个测试记录区域和一个记录和再现区域。第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域的光透射比与第一信息记录层的一个被用于在记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域的光透射比不同。将用于计算测试记录区域和记录和再现区域中的至少一个的最优记录条件的信息记录在第一信息记录层或第二信息记录层的一特定区域。
依据本发明的光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个只再现区域和第一记录和再现区域中的至少一个。第二信息记录层包括第二记录和再现区域。只再现区域和第一记录和再现区域中的至少一个以及第二记录和再现区域的位置为使得只再现区域和第一记录和再现区域中的一个包括第一信息记录层的一个被用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域。
光学信息记录介质可以进一步包括一个用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层的被用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于第二记录和再现区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到第二记录和再现区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于第二记录和再现区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
第一信息记录层的只再现区域的大小可以是0。
依据本发明的光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层；以及，用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层包括一个第一测试记录区域和一个不均匀防光区域。第二信息记录层包括第二测试记录区域。不均匀防光区域、第一测试记录区域和第二测试记录区域的位置为使得第一测试记录区域和第二测试记录区域之间的距离大于一个长度δ，以及使得不均匀防光区域包括第一信息记录层的一个被用于在第二测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到第二测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层可以包括第一引入区域和第一引出区域中的至少一个。第二信息记录层可以包括第二引入区域和第二引出区域中的至少一个。第一引入区域和第二引入区域分别可以包括第一测试记录区域和第二测试记录区域，或第一引出区域和第二引出区域分别包括第一测试记录区域和第二测试记录区域。
第一信息记录层的不均匀防光区域可以是一个只再现区域。
不均匀防光区域可以是一个由包括一个只再现区域、一个记录禁止区域和一个镜像区域的组中的至少一个形成的区域。
第一信息记录层的被用于在第二测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于第二测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
第一信息记录层的被用于在第二测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于第二测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
依据本发明的光学信息记录方法是用于一种光学信息记录介质的，所述光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个只再现区域和一个记录和再现区域中的至少一个。第二信息记录层包括一个测试记录区域。所述光学信息记录方法包括如下步骤：事先在第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域中记录信息；以及，在事先记录信息的步骤之后在测试记录区域中记录信息。
光学信息记录方法可以进一步包括一个用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
事先记录的信息可以是通过调制假信息而获得的信息。
事先记录信息的步骤可以包括采用一个认证步骤记录的步骤。
依据本发明的光学信息记录方法是用于一种光学信息记录介质的，所述光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第一信息记录层包括一个只再现区域和一个记录和再现区域中的至少一个。第二信息记录层包括一个测试记录区域。所述光学信息记录方法包括如下步骤：确定第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域是一个在只再现区域和记录和再现区域中的一个的处于未记录状态的区域还是一个在记录和再现区域中的处于已记录状态的区域；执行在测试记录区域中的测试记录，以便获得一个记录条件；以及，根据确定的结果和获得的记录条件，为第二信息记录层计算一个最优记录条件。
光学信息记录介质可进一步包括一个用于将第一信息记录层和第二信息记录层相互分隔开的分隔层。第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到第二记录和再现区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
用于计算最优记录条件的信息可以记录在第一信息记录层和第二信息记录层的一特定区域中。
依据本发明的光学信息记录装置是用于一种光学信息记录介质的，所述光学信息记录介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及，要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层。第二信息记录层包括一个测试记录区域。所述光学信息记录装置包括：一个干扰区域确定部分，用于确定第一信息记录层的一个被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域；一个已记录/未记录状态确定部分，用于确定第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域是处于已记录状态还是处于未记录状态；以及，一个记录部分，用于根据干扰区域确定部分和已记录/未记录状态确定部分的确定结果在第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域中记录一个信号。
附图说明
图1显示了依据本发明的光学信息记录介质的外部视图。
图2显示了依据本发明的光学信息记录介质的截面视图。
图3显示了依据本发明的例子1的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图4显示了一个比较例子的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图5显示了依据本发明的第一信息记录层的光点(即，第一信息记录层的被激光穿过的区域)的长度。
图6显示了依据例子1的一个修改例子的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图7显示了依据本发明的例子2的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图8显示了依据本发明的例子3的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图9是用于生成一个依据本发明的例子3的光学信息记录介质的光学信息记录装置的方框图。
图10显示了依据本发明的例子4的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图11显示了依据本发明的例子5的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图12显示了依据本发明的例子6的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
图13显示了依据本发明的例子7的多个信息记录层的格式。
图14显示了依据本发明的例子8的第一信息记录层和第二信息记录层的格式。
具体实施方式
此后将参考附图以例示方式描述本发明。
(例子1)
这个例子涉及一个光学信息记录介质，采用该光学信息记录介质，可以通过测试记录获得精确的记录条件。
图1是依据本发明的光学信息记录介质100的外部视图。此后，将光盘100用作光学信息记录介质100的一个具体例子。
图2是显示光学信息记录介质或光盘100的结构的截面视图。光盘100具有一个多层结构。如图2所示，光盘100包括入射表面110、第一信息记录层120、第二信息记录层130以及用于将第一信息记录层120和第二信息记录层130相互分隔开的分隔层150。
第一信息记录层120和第二信息记录层130通过分别在第一基底140和第二基底145中预先形成凹槽或相坑、然后在其上形成保护层、记录层、反射层等来形成。将所得的第一基底140和所得的第二基底145用一种可防紫外线的树脂等粘在一起，以便形成分隔层150。分隔层150将第一信息记录层120和第二信息记录层130相互分隔开。
激光170由一个物镜160聚焦，然后入射在入射表面110上。激光170在信息记录层上记录信息。图2显示了信息由已经穿过第一信息记录层120的激光170记录在第二信息记录层130上的状态。
接着，将描述在这个例子中使用的光盘100的格式。
图3显示了第一信息记录层120和第二信息记录层130的格式。图3显示了从光盘100的中心开始的盘的径向上的格式。光盘100的中心由径向上的“0”表示。沿标注为“径向”的箭头的距离表明距光盘100的中心的距离。图的左边代表光盘100的内侧，图的右边代表光盘100的外侧。在图3中，假设激光从图的底部指向光盘100。
第一信息记录层120包括第一只再现区域(ROM)122和第一记录和再现区域(RAM)124。第一记录和再现区域124包括第一测试记录区域(TEST)126和第一数据记录区域(DATA)128。在图3中，第一信息记录层120从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域122、第一测试记录区域126和第一数据记录区域128。
第二信息记录层130包括第二只再现区域(ROM)132和第二记录和再现区域(RAM)134。第二记录和再现区域134包括第二测试记录区域(TEST)136和第二数据记录区域(DATA)138。第二只再现区域132与第二测试记录区域136之间的区域133例如是一个还未被使用的未用区域。在图3中，第二信息记录层130从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域132、未用区域133、第二测试记录区域136和第二数据记录区域138。
在第一只再现区域122和第二只再现区域132中，形成一个代表信息的相坑阵列。在第一记录和再现区域124和第二记录和再现区域134中，形成代表信息的凹槽。
在这个说明书中，假设在只再现区域中记录不需要被重写的信息、例如光盘本身的信息或地址信息。相反，也可以假设在记录和再现区域中记录具有被重写的高可能性的信息。由于不同类型的信息被记录在只再现区域和记录和再现区域中，所以如上所述信息被以不同形式记录在只再现区域和记录和再现区域中。在只再现区域中，记录不需要被重写的信息。因此，这样的信息在形成基底的同时以一个相坑阵列记录。在记录和再现区域中，记录具有被重写的高可能性的信息。因此，信息以记录层上的在凹槽上形成的记录标记的形式记录。
在这个说明书中，将一个测试记录区域用于执行在包括测试记录区域的信息记录层上的测试记录。将一个数据记录区域用于记录用户数据信息。
在这个例子中，从盘的中心开始基本上相互平行地提供第一信息记录层120和第二信息记录层130，并具有彼此相同的长度。
在这个说明书中，为了更容易地理解本发明，当光学信息记录介质包括两个信息记录层时，将与光学信息记录介质的入射面较近的信息记录层称为“第一信息记录层”，将距离光学信息记录介质的入射面较远的信息记录层称为“第二信息记录层”。如下面详细描述的，光学信息记录介质的信息记录层的数目并不限于两层。本发明可运用于具有多个信息记录层的光学信息记录介质。
返回图3，将描述光盘100的格式。
第一信息记录层120的第一记录和再现区域124从位置r1延伸到光盘100的外圆周。
第二信息记录层130的第二测试记录区域136从位置r2延伸距离a。
第一记录和再现区域124的开始点距盘的中心比第二测试记录区域136的开始点近长度δ。在这个说明书中，一个区域的“开始点”指的是在一个区域中距离盘的中心具有最短距离的点，一个区域的“结束点”指的是在一个区域中距离盘的中心具有最长距离的点。
这里，假设将信息记录在第二测试记录区域136中，以便执行第二信息记录层130的测试记录。
用于在第二测试记录区域136中记录信息的激光170穿过第一信息记录层120。由于激光170在入射之后被聚焦，第一信息记录层的被激光170穿过的区域(光点)175比第二测试记录区域136大。在这个例子中，光盘100的构造为使得第一记录和再现区域124包括第一信息记录层120的被用于在第二测试记录区域136中记录信息的激光170穿过的区域175。由于这个原因，第一记录和再现区域124的开始点距盘的中心比第二测试记录区域136的开始点近长度δ。在图3中，只考虑了入射在第二测试记录区域136内部的部分中的激光170。其原因是，因为在这个结构中第一记录和再现区域124从第一测试记录区域126的开始点向盘的外圆周延伸，所以不需要考虑入射在第二测试记录区域136外部的部分中的激光170。
第一信息记录层120的被要聚焦在第二测试记录区域136中的激光170穿过的区域175的长度等于δ+a+δ。即，区域175包括一个对应于第二测试记录区域136的具有长度a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和盘的外圆周延伸的区域，每个延伸的区域具有长度δ。如上所述，区域175的这样一个尺寸是从激光170在第一信息记录层120的光点的直径大于在第二信息记录层130的直径这样一个事实而产生的。在第一记录和再现区域124和第二测试记录区域136的位置为使得第一记录和再现区域124至少包括区域175的情况下，当激光在采用第二测试记录区域136执行的测试记录中穿过第一信息记录层120时，激光170只穿过第一记录和再现区域124。
如上所述，第一记录和再现区域124和第二测试记录区域136的位置为使得当激光在在第二测试记录区域136上执行的测试记录中穿过第一信息记录层120时，激光170只穿过第一记录和再现区域124。其原因如下。
记录和再现区域和只再现区域是以不同形式形成的。因此，记录和再现区域的光透射比有时可能与只再现区域的光透射比不同。当激光在这种情况下既穿过只再现区域又穿过记录和再现区域时，穿过只再现区域并到达第二信息记录层的光的分量与穿过记录和再现区域并到达第二信息记录层的光的分量将具有不同的量。
记录和再现区域中的未记录区域的光透射比可以被认为是与只再现区域的光透射比相同。然而，当记录和再现区域在其中记录有信息时，记录和再现区域中的已记录区域的光透射比与只再现区域的光透射比不同。因此，当信息记录在第一信息记录层的记录和再现区域中时，光透射比在第一信息记录层120的只再现区域122和记录和再现区域124之间是不同的。
在一个记录和再现区域，形成一个记录标记(在非晶状态)。当形成记录标记时，记录和再现区域的光透射比在某些情况下增大，在另一些情况下减小。此后，将描述光透射比增大的情况。在这种情况下，穿过记录和再现区域发射的光量大于穿过只再现区域发射的光量。
为了比较，图4显示了一个光盘400的格式，其中，第一信息记录层和第二信息记录层具有相同的格式。
光盘400包括第一信息记录层420、第二信息记录层430以及用于将第一信息记录层420和第二信息记录层430相互分隔开的分隔层450。
第一信息记录层420包括第一只再现区域(ROM)422和第一记录和再现区域(RAM)424。第一记录和再现区域424包括第一测试记录区域(TEST)426和第一数据记录区域(DATA)428。
第二信息记录层430包括第二只再现区域(ROM)432和第二记录和再现区域(RAM)434。第二记录和再现区域434包括第二测试记录区域(TEST)436和第二数据记录区域(DATA)438。
在这个比较例子中，第一信息记录层420的格式与第二信息记录层430的格式相同。因此，第一记录和再现区域424的开始点r1’与第二测试记录区域436的开始点r2’相同。
在这种情况下，当激光470入射在第二测试记录区域436的最内部分(即，如图4所示的第二测试记录区域436的左端)来用于第二信息记录层430的测试记录时，入射在第一信息记录层420上的激光470的一半穿过第一只再现区域422。
其结果是，穿过第一只再现区域422并到达第二信息记录层430的激光470的量与穿过第一记录和再现区域424并到达第二信息记录层430的激光470的量不同。因此，不能执行精确的测试记录。例如，当记录和再现区域的光透射比高于只再现区域的光透射比时，比穿过只再现区域的激光的记录功率大的记录功率被确定为所希望的记录功率。
因此，当采用第二测试记录区域436的最内部分(即，图4中的第二测试记录区域436的左端)来执行测试记录以便获得所希望的记录功率时，将大于适当的记录功率的记录功率作为测试记录结果来提供。因此，实际数据被以过高的记录功率记录。
此外，到达第二信息记录层430的激光470的量根据穿过第一只再现区域422的激光470相对于用于在第二测试记录区域436中记录信息的全部激光470的比率而变化。其结果是，测试记录结果根据在第二测试记录区域436记录信息的位置而变化。
相反，采用依据如图3所示的这个例子的格式，无论在第二测试记录区域136中执行测试记录的位置如何，激光170不受第一只再现区域122的影响。因此，由测试记录获得精确的记录条件。
此后，参看图5，将详细描述在第一信息记录层120上的光点175的扩展。图5显示了当激光170聚焦于第二信息记录层130时在第一信息记录层120上的光点175的长度。这里，为了更简单地解释，将激光170聚焦在第二信息记录层130上的一个焦点172上。在这种状态下，激光170聚焦在焦点172上的角度θ是：
θ＝sin-1(NA/n)。
其中，在第一信息记录层120和第二信息记录层130之间的盘的厚度方向上的距离是d，物镜160的数值孔径是NA，分隔层150的折射率是n，在第一信息记录层120上的光点175的半径δ表示为：
δ＝d·tanθ＝d·tan(sin-1(NA/n))。
从这一点，只要图3中的第一测试记录区域126的开始点距第二测试记录区域136的开始点的距离至少为由上述表达式表示的长度δ，第一记录和再现区域124就包括在第一信息记录层120上的激光170的光点175。在这种情况下，可以由测试记录获得精确的记录条件。
如上所述，依据这个例子的光学信息记录介质100的构造为使得第一记录和再现区域124包括第一信息记录层120的被用于在第二测试记录区域136中记录信息的激光170穿过的区域175。因此，可以由测试记录获得精确的记录条件。
在图3中，第二只再现区域132和第二测试记录区域136之间的区域是未用区域133。本发明并不限于这一点。
例如，如图6所示，未用区域133可以用第三数据记录区域137替换。在这种情况下，数据记录区域137的长度至少等于长度δ。除了未用区域133被第三数据记录区域137替换以外，图6中所示的光盘600与图3所示的光盘100具有相同的格式。与图3所示的盘100相比，这样一种格式可以扩展数据记录区域。
(例子2)
在这个例子中，将描述两个信息记录层的中心相对于彼此偏移的情况。
在一个多层记录介质的实际生产中，在将信息记录层粘在一起时多个信息记录层有时可能在位置上相对于彼此偏移。当测试记录区域的开始点由于信息记录层之间的位置偏移而相对于彼此偏移时，在例子1中考虑的长度δ是不充分的。在这个例子中，即使在两个信息记录层距离盘中心的距离彼此不同时也能够提供本发明的效果。
图7显示了一个光盘700的格式，其中，第一信息记录层720和第二信息记录层730相对于彼此偏移δm。
光盘700包括第一信息记录层720、第二信息记录层730和用于将第一信息记录层720和第二信息记录层730相互分隔开的分隔层750。
第一信息记录层720包括第一只再现区域(ROM)722和第一记录和再现区域(RAM)724。第一记录和再现区域724包括第一测试记录区域(TEST)726和第一数据记录区域(DATA)728。在图7中，第一信息记录层720从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域722、第一测试记录区域726和第一数据记录区域728。
第二信息记录层730包括第二只再现区域(ROM)732和第二记录和再现区域(RAM)734。第二信息记录层730可以包括一个未用区域733。第二记录和再现区域734包括第二测试记录区域(TEST)736和第二数据记录区域(DATA)738。在图7中，第二信息记录层730从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域732、未用区域733、第二测试记录区域736和第二数据记录区域738。
在这个图中，将偏移δ’从盘中心开始定义，则第一记录和再现区域724和第二测试记录区域736的开始点之间的偏移δ’被表示为：
δ’＝r2-r1＝δ+δm＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
这代表一个通过将在例子1中所述的第一信息记录层720上的光点725的长度δ加上第一信息记录层720和第二信息记录层730只见的位置偏移的长度δm而获得的值。
因此，甚至在第一信息记录层720和第二信息记录层730在位置上相对于彼此偏移长度δm时，只要第一记录和再现区域724的开始点距第二测试记录区域736的开始点的距离至少为由上述表达式表示的长度δ’，第一记录和再现区域724就包括第一信息记录层720上的被激光770穿过的光点775。
考虑到第一信息记录层720和第二信息记录层730距盘中心的距离上的不同，需要第一记录和再现区域724包括区域775。这里，区域775是第一信息记录层720的一个被用于在第二测试记录区域736上记录信息的激光770穿过的区域。区域775的长度需要至少为δ’+a+δ’。即，区域775包括一个对应于第二测试记录区域736的长度为a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和外圆周延伸的区域，每个延伸区域的长度为δ’。在第一记录和再现区域724和第二测试记录区域736的位置为使得第一记录和再现区域724包括区域775时，可以由测试记录获得精确的记录条件。
(例子3)
在这个例子中，将描述第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域是一个已记录状态区域的情况。
图8显示了依据这个例子的光盘800的格式。
光盘800包括第一信息记录层820、第二信息记录层830和用于将第一信息记录层820和第二信息记录层830相互分隔开的分隔层850。
第一信息记录层820包括第一只再现区域822和第一记录和再现区域824。第一记录和再现区域824包括第一测试记录区域826和第一数据记录区域828。在图8中，第一信息记录层820从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域822、第一测试记录区域826和第一数据记录区域828。
第二信息记录层830包括第二只再现区域832和第二记录和再现区域834。第二记录和再现区域834包括第二测试记录区域836和第二数据记录区域838。第二只再现区域832和第二测试记录区域836之间的区域833例如是一个还未使用的未用区域。在图8中，第二信息记录层830从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域832、未用区域833、第二测试记录区域836和第二数据记录区域838。
在光盘800中，第一记录和再现区域824包括第一信息记录层820的一个已记录状态区域875。用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光870穿过已记录状态区域875。已记录状态区域875整个处于已记录状态。已记录状态区域875的长度是δ+a+δ。即，已记录状态区域875包括一个对应于第二测试记录区域836的长度为a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和外圆周延伸的区域，每个延伸区域的长度为δ。
已记录状态区域875通过例如在使用第二测试记录区域836之前在第一记录和再现区域824的整个已记录状态区域875中记录信息而形成。
由于这样一个结构，激光870可以聚焦在第二测试记录区域836的任何一个位置上，因此第一记录和再现区域824的被激光870穿过的区域(即，区域875)的光透射比可以是均匀的。光透射比根据信息是否记录在记录和再现区域824中而变化。由于区域875整个处于已记录状态，所以光透射比是均匀的。因此，只要信息被记录在如图8所示的已记录状态区域875中，当在第二测试记录区域836上执行测试记录时，到达第二测试记录区域836的激光870的量就是均匀的。其结果是，可以获得精确的记录条件。
在这个例子中，当第一信息记录层820和第二信息记录层830在位置上相对于彼此偏离时，如在例子2中所述，已记录状态区域875的长度可以具有长度δ’+a+δ’。
要记录在已记录状态区域875中的信息可以是通过调制数据信息而获得的信息或是通过调制假信息而获得的信息。
最好在生产光盘之后在认证时在已记录状态区域875中记录信息。由于记录装置不需要执行这个步骤，所以在将一个新光盘装在记录装置上时可以缩短起动时间。
接着，将描述依据这个例子的用于在光学信息记录介质上记录信息的光学记录装置。
图9显示了依据这个例子的用于生成光学信息记录介质的光学信息记录装置900。此后，将参考图9描述光学信息记录装置900的操作。
光学信息记录装置900包括一个用于旋转光盘800的主轴马达907和一个包括光源(未显示)并将激光聚焦到光盘800的信息记录层的所希望的位置上的光学头903。光学信息记录装置900的全部操作由一个系统控制部分901控制。在这一点上不希望光盘800的已记录状态区域875处于一个完全记录的状态。
光学信息记录装置900进一步包括一个用于根据调制数据信息而获得的信息来调制光学头903中的光源的光强度的记录部分902、以及一个用于根据光盘800反射的光来执行再现信号的波形处理、以便对再现信号解调的再现部分904。光学信息记录装置900还包括一个用于确定第一信息记录层820的一给定区域是否是一个可以用作用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光870的光学路径的区域(即，给定区域是否是被用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光穿过的区域875)的干扰区域确定部分905、以及一个用于再现被用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光穿过的区域875中的信息然后根据再现结果确定区域875是处于已记录状态还是未记录状态的已记录/未记录状态确定部分906。
此后，参考图8和9，将描述依据这个例子的光学信息记录装置900的操作。首先，系统控制电路901旋转主轴马达907，光学头903将激光870聚焦在光盘800上的第一信息记录层820上，以便再现第一信息记录层820上的信息。根据来自再现部分904的地址再现信息，干扰区域确定部分905确定其中信息被再现的区域是否是区域875。根据确定结果，系统控制部分901寻找光学头903，直至区域875中的一特定区域，并再现区域875的特定区域中的信息。
根据来自再现部分904的再现信息，已记录/未记录状态确定部分906确定区域875中的其中信息被再现的特定区域中的磁道是处于已记录状态还是未记录状态。当已记录/未记录状态确定部分906确定磁道处于未记录状态时，将一些信息记录在区域875中的特定区域中的磁道中，以便将区域875中的特定区域置于已记录状态。当已记录/未记录状态确定部分906确定磁道处于已记录状态时，确认区域875中的其中信息被再现的特定区域已经处于已记录状态。为整个区域875执行这个操作。
以这种方式，将区域875全部置于已记录状态，并因而用作一个已记录状态区域。由于激光870可以被聚焦到第二测试记录区域836的任何一个位置上，第一信息记录层820的被用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光穿过的区域875可以是均匀的。因此，第二信息记录层的第二测试记录区域836的任何部分可以用于测试记录，到达第二测试记录区域836的激光的量是相同的。这样，可以获得精确的记录条件。
(例子4)
在例子3中，描述了将第一信息记录层的被用于在第二测试记录区域836中记录信息的激光穿过的区域875置于已记录状态的操作。在这个例子中，将描述将第一信息记录层的被用于在第二测试记录区域中记录信息的激光穿过的整个区域置于未记录状态的操作的一个具体例子。
图10显示了依据例子4的光盘1000的格式。
光盘1000包括第一信息记录层1020、第二信息记录层1030和用于将第一信息记录层1020和第二信息记录层1030相互分隔开的分隔层1050。
第一信息记录层1020包括第一只再现区域1022和第一记录和再现区域1024。第一记录和再现区域1024包括第一测试记录区域1026和第一数据记录区域1028。在图10中，第一信息记录层1020从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域1022、第一测试记录区域1026和第一数据记录区域1028。
第二信息记录层1030包括第二只再现区域1032和第二记录和再现区域1034。第二记录和再现区域1034包括第二测试记录区域1036和第二数据记录区域1038。第二只再现区域1032和第二测试记录区域1036之间的区域1033例如是一个还未使用的未用区域。在图10中，第二信息记录层1030从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域1032、未用区域1033、第二测试记录区域1036和第二数据记录区域1038。
在光盘1000中，第一记录和再现区域1024包括第一信息记录层1020的一个未记录状态区域1075。用于在第二测试记录区域1036中记录信息的激光1070穿过未记录状态区域1075。未记录状态区域875整个处于未记录状态。未记录状态区域1075的长度是δ+a+δ。即，已记录状态区域1075包括一个对应于第二测试记录区域1036的长度为a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和盘的外圆周延伸的区域，每个延伸区域的长度为δ。
如图10所示，第一记录和再现区域1024的包括对应于第二测试记录区域1036的长度为a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和盘的外圆周延伸的区域、每个延伸区域的长度为δ的区域(即，第一信息记录层1020的具有长度δ+a+δ的区域)在测试记录时处于未记录状态。
用于根据测试记录的结果计算最优记录条件的信息可以记录在第一信息记录层1020和第二信息记录层1030的任一区域。在这种情况下，用于计算最优记录条件的信息例如是根据未记录状态和已记录状态之间的发射光量的差将未记录状态中的记录条件乘以一特定系数的信息。在这个例子中，第一信息记录层1020的被用于在第二测试记录区域1036中记录信息的激光穿过的整个区域处于未记录状态中。因此，在这样一个环境下获得的记录条件对于采用已经穿过其上记录有信息的第一信息记录层1020的激光在第二测试记录区域1038中记录信息有可能不是最优的。
此后，将描述用于根据未记录状态和已记录状态之间的发射光量的差将未记录状态中的记录条件乘以一特定系数的操作的一个具体例子。
在已记录状态中的发射光量是未记录状态中的发射光量的s倍的光盘的情况下，其中通过在未记录状态下执行测试记录而获得的最优记录功率是Pm，在已记录状态下的最优记录功率Pk可以如下计算。
Pk＝Pm/s
这里，将“s”定义为透射比校正系数。通过这样一个计算，即使在信息未事先记录在第一信息记录层1020的特定区域时，也可以估计在第一信息记录层1020的被激光穿过的区域处于已记录状态的情况下的最优记录功率。在与例子3中一样形成第一信息记录层1020中的已记录状态区域875是耗时的情况下，可以象在这个例子中一样计算最优记录条件，而不是象在例子3中一样直接获得最优记录条件。
当在这个例子中的第一信息记录层1020和第二信息记录层1030在位置上相对于彼此偏移的情况下，更可取地是如在例子2中所述使具有长度δ’+a+δ’的未记录状态区域1075在测试记录时处于未记录。
在这个例子中，更可取地是将用于确定最优记录功率的透射比校正系数s记录在光盘1000的一特定区域(例如，第一只再现区域1022或第二只再现区域1032)。在这种情况下，即使在透射比校正系数s在不同的光盘间不同时，光盘记录装置也可以在将一个光盘安装在光盘记录装置上时立即知道该系数。因此，实际起动记录信息所需的时间可以缩短。
在这个例子中，在测试记录时的未记录状态区域可以是一个从不记录信息的记录禁止区域。或者，未记录状态区域可以是一个不具有用于跟踪伺服控制的任何引导凹槽的镜像区域。
(例子5)
在例子1到4中，第一信息记录层的记录和再现区域包括激光的一个光点。本发明并不限于这样一种格式。在这个例子中，将描述第一信息记录层的只再现区域包括激光的一个光点的格式。
图11显示了依据例子5的光盘1100的格式。
光盘1100包括第一信息记录层1120、第二信息记录层1130和用于将第一信息记录层1120和第二信息记录层1130相互分隔开的分隔层1150。
第一信息记录层1120包括第一只再现区域1122和第一记录和再现区域1124。第一记录和再现区域1124包括第一测试记录区域1126和第一数据记录区域1128。在图11中，第一信息记录层1120从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域1122、第一测试记录区域1126和第一数据记录区域1128。
第二信息记录层1130包括第二只再现区域1132、第三只再现区域1133和第二记录和再现区域1134。第二记录和再现区域1134包括第二测试记录区域1136和第二数据记录区域1138。在图11中，第二信息记录层1130从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域1132、第二测试记录区域1136、第三只再现区域1133和第二数据记录区域1138。
如图11所示，第一信息记录层1120的第一只再现区域1122的结构为使得包括一个被用于在第二测试记录区域1136中记录信息的激光1170穿过的区域(光点)1175。区域1175的长度是δ+a+δ。即，区域1175包括一个对应于第二测试记录区域1136的长度为a的区域和两个分别从上述区域的内端和外端向盘的中心和盘的外圆周延伸的区域，每个延伸区域具有长度δ。因此，在第二测试记录区域1136的可以执行测试记录的任何位置，用于在第二测试记录区域1136中记录信息的激光都是已经穿过第一只再现区域1122的激光。其结果是，防止记录条件根据执行测试记录的位置而分散。
在这个例子中，如在例子4中所述，更可取地是根据测试记录的结果计算最优记录条件。因此，对于激光穿过处于已记录状态的带有所形成的记录标记的第一记录和再现区域1124的情况，可以估计最优记录条件。
在第一信息记录层1120和第二信息记录层1130有可能在位置上相对于彼此偏移的情况下，第一只再现区域1122的位置为使其具有长度δ’+a+δ’，如在例子2中所述，该长度是第一信息记录层1120的区域1175的长度。
(例子6)
在例子1到5中，将信息记录在第二信息记录层的测试记录区域中，以便执行第二信息记录层的测试记录。当数据被记录在第二信息记录层的记录和再现区域中时，以及在例子1到5中所述的测试记录时，有可能用于再现所记录信号的信号质量被降低。其原因在于，当用于记录的激光既穿过只再现区域又穿过记录和再现区域时，到达第二信息记录层的记录和再现区域的激光的量根据激光穿过上述两个区域中的哪一个而不同。其结果是，不能执行精确的记录。
在这个例子中，将描述在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的一个特定例子。
图12显示了依据例子6的光盘1200的格式。
光盘1200包括第一信息记录层1220、第二信息记录层1230以及用于将第一信息记录层1220和第二信息记录层1230彼此分隔开的分隔层1250。
第一信息记录层1220包括第一只再现区域1222和第一记录和再现区域1224。在图12中，第一信息记录层1220从其内侧部分开始按顺序包括第一只再现区域1222和第一记录和再现区域1224。
第二信息记录层1230包括第二只再现区域1232和第二记录和再现区域1234。在图12中，第二信息记录层1230从其内侧部分开始按顺序包括第二只再现区域1232和第二记录和再现区域1234。
如图12中所示，第一只再现区域1222最好小于第二信息记录层1230的第二只再现区域1232。
在图12中，第一记录和再现区域1224的开始点距离盘中心比第二记录和再现区域1234的开始点近长度δ。因为这样的结构，信息可以记录在第二记录和再现区域1234中的任意部分，第二记录和再现区域1234包括第一信息记录层1220的一个被用于在第二记录和再现区域1234中记录信息的激光穿过的区域1275。因此，第二记录和再现区域1234仅仅受到第一记录和再现区域1224的影响，不会受到第一只再现区域1222的影响。这样，信息可以被精确地记录在第二记录和再现区域1234中。
在第一信息记录层1220和第二信息记录层1230在位置上存在着相对于彼此偏移的可能性的情况中，如在例子2中描述的，第一记录和再现区域1224的开始点和第二记录和再现区域1234的开始点最好相对于彼此有δ’的偏移。
在图12中，第一只再现区域1222的大小可以为0。在这种情况中，不需要在第一信息记录层1200的生产时为第一只再现区域1222形成一个相坑。这样，可以简化盘的生产过程。
(例子7)
在例子1到6中，有两个信息记录层。本发明不限于此。依据本发明，信息记录层的数量可以是3或更多。
图13显示了依据本发明的例子7的光盘1300的格式。
光盘1300通过扩展例子1中的光盘来获得，并具有与例子1中的光盘不同的格式。光盘1300包括N个信息记录层。在图13中，在N个信息记录层中，三个信息记录层i、j和k中每一个都具有一个再现区域，以便通过测试记录来获得精确的记录条件。
在这个例子中，从盘的激光入射侧开始，第一信息记录层1310是第i层，第二信息记录层1320是第j层，第三信息记录层1330是第k层。第一信息记录层1310和第二信息记录层1320之间的距离为dij，第二信息记录层1320和第三信息记录层1330之间的距离为djk，第一信息记录层1310和第三信息记录层1330之间的距离为dik。
第一信息记录层1310包括第一只再现区域1312和第一记录和再现区域1314。第一记录和再现区域1314包括第一测试记录区域1316和第一数据记录区域1318。
第二信息记录层1320包括第二只再现区域1322和第二记录和再现区域1324。第二记录和再现区域1314包括第二测试记录区域1326和第二数据记录区域1328。
第三信息记录层1330包括第三只再现区域1332和第三记录和再现区域1334。第三记录和再现区域1334包括第三测试记录区域1336和第三数据记录区域1338。
在这种情况中，第一记录和再现区域1312的开始点距离第二测试记录区域1326的开始点至少δij，并且距离第三测试记录区域1336的开始点至少δik。第二记录和再现区域1324的开始点距离第三测试记录区域1336的开始点至少δjk。这里，
δij＝dij·tan(sin-1(NA/n))，
δik＝dik·tan(sin-1(NA/n))，和
δjk＝djk·tan(sin-1(NA/n))，
其中，NA是用于聚焦激光1370的物镜的数值孔径，n是第一信息记录层1310与第二信息记录层1320之间的分隔层和第二信息记录层1320与第三信息记录层1330之间的分隔层的折射率。
由于这样的结构，当穿过第一信息记录层1310时，用于在第二测试记录区域1326中记录信息的激光1370仅仅穿过第一记录和再现区域1314。当穿过第一信息记录层1310时，用于在第三测试记录区域1336中记录信息的激光1370仅仅穿过第一记录和再现区域1314，以及当穿过第二信息记录层1320时，仅仅穿过第二记录和再现区域1324。
即使当作为一个目标的信息记录层例如象在这个例子中一样位于第一信息记录层1310和第二信息记录层1320之间或位于任意位置时，只要第二信息记录层1320距离入射表面远于第一信息记录层1310，并且第一信息记录层1310的一个被用于在第二测试记录区域1326中记录信息的激光1370穿过的区域整个是一个记录和再现区域，也提供了与例子1中实质上相同的效果。
(例子8)
图14显示了依据本发明的例子8的光盘1400的格式。
光盘1400包括第一信息记录层1420、第二信息记录层1430和用于将第一信息记录层1420和第二信息记录层1430相互分隔开的分隔层1450。
第一信息记录层1420包括第一只再现区域1422、第一记录和再现区域1424和第二只再现区域1429。第一记录和再现区域1424包括第一测试记录区域1426和第一数据记录区域1428。在图14中，第一信息记录层1420从其内侧部分开始按顺序包括第一测试记录区域1426、第一只再现区域1422、第一数据记录区域1428和第二只再现区域1429。第一信息记录层1420包括第一引入区域1425和第一引出区域1427。第一引入区域1425包括第一测试记录区域1426和第一只再现区域1422。第一引出区域1427包括第二只再现区域1429。
第二信息记录层1430包括第三只再现区域1432、第二记录和再现区域1434、第四只再现区域1433和第五只再现区域1439。第二记录和再现区域1434包括第二测试记录区域1436和第二数据记录区域1438。在图14中，第二信息记录层1430从其内侧部分开始按顺序包括第三只再现区域1432、第二测试记录区域1436、第四只再现区域1433、第二数据记录区域1438和第五只再现区域1439。第二信息记录层1430包括第二引入区域1435和第二引出区域1437。第二引入区域1435包括第三只再现区域1432、第二测试记录区域1436和第四只再现区域1433。第二引出区域1437包括第五只再现区域1439。
在这个例子中，在将优先考虑的事放在光盘1400的容易管理上时，最好具有如图14所示的格式，其中，第一数据记录区域1428和第二数据记录区域1438具有相同的尺寸。光盘1400分别在第一数据记录区域1428和第二数据记录区域1438的内侧包括第一引入区域1425和第二引入区域1435。光盘1400还分别在第一数据记录区域1428和第二数据记录区域1438的外侧包括第一引出区域1427和第二引出区域1439。第一测试记录区域1426位于第一引入区域1425内侧，第二测试记录区域1436位于第二引入区域1435内侧。
第一测试记录区域1426和第二测试记录区域1436在位置上相对于彼此偏移长度δ或更多。第一只再现区域1422包括第一信息记录层1410的一个被用于在第二测试记录区域1436中记录信息的激光1470穿过的不均匀防光区域1475。区域1475的长度由δ+a+δ表示。不均匀防光区域1475防止入射在其上的激光1470以不均匀的形状发射出。
不均匀防光区域1475例如是一个只再现区域。
或者，不均匀防光区域1475可以是一个记录禁止区域或一个镜像区域。由于这样一个结构，可以在第二测试记录区域1436的任何位置执行测试记录，所获得的记录条件不会分散。此外，由于这样一个结构，第一信息记录层1420的第一引入区域1425和第二信息记录层1430的第二引入区域1435可以具有相同的开始点、结束点和容量。第一信息记录层1420的第一数据记录区域1428和第二信息记录层1430的第二数据记录区域1438可以具有相同的开始点、结束点和容量。第一信息记录层1420的第一引出区域1427和第二信息记录层1430的第二引出区域1437可以具有相同的开始点、结束点和容量。因此，光盘1400的缺陷管理和记录信息管理是非常容易的。当第一测试记录区域1426位于第一引出区域1427中和第二测试记录区域1436位于第二引出区域1437中时，提供了大致相同的效果。
在上述例子中使用的区域的位置和盘的形状并不限于上述的这些，可以是依据介质本身或记录和再现装置的任何合适的形式。
工业应用
如上所述，依据本发明的光学信息记录介质，第一信息记录层的被激光穿过的区域在第二信息记录层的测试记录时被整个置于已记录状态或未记录状态。因此，可以由测试记录获得精确的记录条件。
依据本发明的光学信息记录介质，第一信息记录层的被激光穿过的区域在第二信息记录层的测试记录时被整个置于只再现区域中或记录和再现区域中。因此，可以由测试记录获得精确的记录条件。
依据本发明的光学信息记录介质，使第一信息记录层的只再现区域比第二信息记录层的只再现区域小。因此，信息可以被精确地记录在第二信息记录层的记录和再现区域中的任何位置。
依据本发明的光学信息记录介质，当在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息时，第一信息记录层的被激光穿过的区域被整个置于只再现区域中或记录和再现区域中。因此，信息可以被精确地记录在记录和再现区域中。
依据本发明的光学信息记录方法，信息在第二信息记录层的测试记录之前被记录在第一信息记录层的记录和再现区域中的一个被激光穿过的区域中。因此，可以由测试记录获得精确的记录条件。
依据本发明的记录和再现方法，在第一信息记录层的记录和再现区域的一个被激光穿过的区域在第二信息记录层的测试记录时处于未记录状态的情况下，根据测试记录结果计算出最优记录条件。因此，可以获得精确的记录条件。
在依据本发明的介质中，第一信息记录层的只再现区域和记录和再现区域中的一个包括一个被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域。用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光已经穿过只再现区域或记录和再现区域。因此，用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光不受穿过第一信息记录层的只再现区域的光量与穿过第一信息记录层的记录和再现区域的光量之间的差的影响。其结果是，可以采用第二信息记录层的测试记录区域获得精确的记录条件。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
因此，即使在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率时，也可以在第二信息记录层的测试记录时获得对第二信息记录层的精确记录条件，而不受穿过第一信息记录层的激光量的差的影响。
最好形成第二信息记录层的一个从至少测试记录区域的末端向数据记录区域延伸δ(在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率的情况下是δ’)的区域。为了扩展数据记录区域，这是最可取的。
依据本发明的介质，第一信息记录层的整个处于已记录状态或未记录状态的规定区域包括一个被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域。第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域整个处于已记录状态或未记录状态。因此，用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光不受由同时存在已记录状态区域和未记录状态区域所引起的光量间的差的影响。其结果是，采用第二信息记录层的测试记录区域可以获得精确的记录条件。
整个处于未记录区域的规定区域例如是一个记录禁止区域、镜像区域或引入区域。
关于依据本发明的第二光学信息记录介质，第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
关于依据本发明的第二光学信息记录介质，第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
由于这样一个介质，即使在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率时，也可以在第二信息记录层的测试记录时获得对第二信息记录层的精确记录条件，而不受穿过第一信息记录层的激光量的差的影响。
关于依据本发明的第二光学信息记录介质，最好形成第二信息记录层的一个从至少测试记录区域的末端向数据记录区域延伸δ(在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率的情况下是δ’)的区域。为了扩展数据记录区域，这是最可取的。
用于计算测试记录区域中的最优记录条件的信息被记录在多个记录信息层中的一个的一特定区域中。因此，即使在第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域的透射比不同于第一记录信息层的被用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域的透射比时，只要可以获得另一层的记录条件，也可以为这些层中的一个计算出精确的记录条件。其结果是，用于起动光学信息记录介质的记录和再现装置可以立即知道从穿过未记录状态区域的光量和穿过已记录状态区域的光量之间的差而确定的计算方法。因此，在将光学信息记录介质安装在记录和再现装置上之后可以立即获得精确的记录条件。
依据这个介质，第一信息记录层的只再现区域和记录和再现区域中的一个包括一个被用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域。用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光已经穿过只再现区域或记录和再现区域。因此，用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光不受穿过第一信息记录层的只再现区域的光量和穿过第一信息记录层的记录和再现区域的光量之间的差的影响。其结果是，可以采用第二信息记录层的记录和再现区域获得精确的记录条件。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于记录和再现区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的记录和再现区域中记录信息的激光穿过的区域可以从第一信息记录层的对应于记录和再现区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
在依据本发明的光学信息记录和再现介质中，第一信息记录层的只再现区域的尺寸可以是零，以使得在第二信息记录层的记录和再现区域中记录时受第一信息记录层的只再现区域的影响的区域最小。这样，信息可以精确地记录在第二信息记录层上。
由于这个介质，消除了在第一信息记录层的生产时在只再现区域中形成相坑的必要性。因此，可以简化盘基底的生产过程。
相应信息记录层的引入区域或引出区域包括第一测试记录区域、记录和再现区域和第二测试记录区域。因此，可以只用引入区域或引出区域获得不同信息记录层的记录条件。在这种情况下，第一信息记录层的不均匀防光区域包括第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域。
不均匀防光区域例如是一个只再现区域。
不均匀防光区域例如是一个由包括一个只再现区域、一个记录禁止区域和一个镜像区域的组中的至少一个形成的区域。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
因此，即使在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率时，也可以在第二信息记录层的测试记录时获得对第二信息记录层的精确记录条件，而不受穿过第一信息记录层的激光量的差的影响。
依据本发明的方法，在将信息记录在第二信息记录层的测试记录区域中之前，将信息存储在第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域中。因此，用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光不受由同时具有已记录状态区域和未记录状态区域的第一信息记录层所引起的光量间的差的影响。其结果是，可以由第二信息记录层的测试记录获得精确的记录条件。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
由于这样一个方法，即使在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率时，也可以在第二信息记录层的测试记录时获得精确记录条件，而不受由同时具有已记录状态区域和未记录状态区域的第一信息记录层所引起的激光量的差的影响。
事先记录的信息例如可以是通过调制假信息而获得的信息。
信息可以由一个认证步骤事先记录。
依据本发明的方法，可以根据第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域的功能和/或状态来计算第二信息记录层的最优记录条件。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ，长度δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到测试记录区域的物镜的数值孔径。
第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域从第一信息记录层的对应于测试记录区域的区域的外端向外延伸长度δ’，长度δ’被表示为：
δ’＝d·tan(sin-1(NA/n))+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
由于这个方法，即使在信息记录层的相对位置中有不可忽略的偏移或偏心率时，根据穿过第一信息记录层的未记录状态的光量与穿过第一信息记录层的已记录状态区域的光量之间的差，也可以在第二信息记录层的测试记录时获得精确记录条件。
最好将用于计算最优记录条件的信息记录在光学信息记录介质的一特定区域中。
因此，即使在计算方法根据介质不同而不同时，记录和再现装置也可以立即知道计算方法。因此，在将介质安装在该装置上之后实际记录信息所需的时间可以被缩短。
依据本发明的光学信息记录装置，即使在第一信息记录层的被用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光穿过的区域包括一个未记录状态区域，用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的激光也在将信息记录在第二信息记录层的测试记录区域中之前将信息记录在第一信息记录层的区域中。因此，不受由用于在第二信息记录层的测试记录区域中记录信息的、穿过一个同时包括已记录状态区域和未记录状态区域的区域的激光所引起的光量的差的影响。其结果是，可以获得第二信息记录层的精确的记录条件。

Claims (4)

1.一种产生光学信息记录介质的方法，该介质包括要由激光在其上记录信息的第一信息记录层；以及要由已经穿过第一信息记录层的激光在其上记录信息的第二信息记录层，
其中：
第一信息记录层包括只再现区域和第一记录和再现区域，
第二信息记录层包括一个第二记录和再现区域，
该方法包括如下步骤：
形成所述只再现区域和第一记录和再现区域以及上述第二记录和再现区域，以便仅有所述第一记录和再现区域包括第一信息记录层中的、用于在第二记录和再现区域中记录信息的所述激光穿过的一个区域，
形成分隔层，用于将该第一信息记录层和该第二信息记录层彼此隔开，其中
与所述第二记录和再现区域的开始点相比，所述第一记录和再现区域的开始点以一长度更加接近所述光学信息记录介质的中心，其中该长度的值不小于值δ，该δ被表示为：
δ＝d·tan(sin-1(NA/n))，
其中，d是第一信息记录层和第二信息记录层之间的厚度方向上的距离；n是分隔层的折射率；以及，NA是用于将激光聚焦到第二记录和再现区域的物镜的数值孔径。
2.如权利要求1所述的方法，进一步包括如下步骤：
形成第一信息记录层中的、用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的一个区域，以便该长度的值等于值δ。
3.如权利要求1所述的方法，进一步包括如下步骤：
形成第一信息记录层的、用于在第二记录和再现区域中记录信息的激光穿过的一个区域，以便该长度的值不小于值δ’，该δ’被表示为：
δ’＝δ+δm
其中，δm是第一信息记录层和第二信息记录层之间的最大位置偏移距离。
4.如权利要求1所述的方法，其中形成所述第一信息记录层的只再现区域的步骤包括将所述只再现区域的大小形成为0。
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