CN118068348A - 一种单站光电定位测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及光电测量技术领域，具体提供一种单站光电定位测量装置，包括：设置在箱体内的主口径反射镜组、长波红外后成像单元、中波红外后成像单元、单光子后接收单元、第一分色镜、第二分色镜、单光子发射单元、第一快速反射镜和第二快速反射镜，以及用于带动所述箱体运动的跟踪架，通过两个分光镜使得长波红外、中波红外和单光子多波段共用主口径反射镜组，通过两个快速反射镜的同步控制保证了各单元光轴的平行度，提高了单光子后接收单元回波探测的准确性；并通过粗跟踪和精跟踪两层跟踪模式，提高了远距离运动目标的跟踪精度。本发明可实现对远距离飞行目标进行有效的跟踪、实时成像和定位测量，具有测量精度高、作用距离远、体积小等特点。

Description

一种单站光电定位测量装置

技术领域

本发明涉及光电测量技术领域，具体提供一种单站光电定位测量装置。

背景技术

光电经纬仪利用光学成像采集飞行目标信息，是测量、记录各种机动目标飞行轨迹、瞬时位置、姿态变化的重要手段。传统光电经纬仪不能直接测量目标的距离，需要用两台及以上光电经纬仪同时对同一目标进行交汇测量。为了实现单台光电经纬仪对飞行目标的定位测量，经纬仪可以加装激光测距机，测距机可实时提供目标的距离信息，结合经纬仪测角数据经计算机处理后能够得到飞行目标的信息参数。但是，激光测距机作用距离较小，通常为十几公里以下，限制了单站光电经纬仪的应用范围。

近年来，单光子测距技术得到了快速发展，单光子探测器具备光子量级的探测灵敏度，探测能力明显提高。单光子测距雷达可在激光回波能量极低的条件下实现远距离目标的距离探测。单光子测距雷达与具有200mm以上通光口径的红外成像光电经纬仪结合使用，是实现单台光电经纬仪对百公里外飞行目标进行定位测量的有效途径。由于单光子测距雷达视场较小，一般为100~300微弧度，而经纬仪自动跟踪误差相对较大，为单光子激光雷达视场的1~3倍，这就导致单光子测距雷达发射出去的光子很难回到单光子探测器上，测距有效性不能保证；另外，受系统体积、重量的限制，单光子测距雷达的通光口径相比经纬仪的成像系统光学口径更小，无法与红外成像系统上百公里的探测距离相匹配，这是制约单光子测距技术应用到光电经纬仪上的重要因素。

因此，亟需研制一种既能对远距离飞行目标（百公里以上）进行稳定跟踪，又能够精确测距和成像的装置。

发明内容

本发明为解决上述问题，提供了一种单站光电定位测量装置，采用独特的共口径分光结构和两层控制结构，仅通过单台本装置即可实现对远距离飞行目标（作用距离≥100km）进行有效跟踪、稳定成像和定位测量。

本发明提供的单站光电定位测量装置，包括：

设置在箱体内的主口径反射镜组、长波红外后成像单元、中波红外后成像单元、单光子后接收单元、第一分色镜、第二分色镜、单光子发射单元、第一快速反射镜和第二快速反射镜，以及用于带动箱体运动的跟踪架；

其中，主口径反射镜组为离轴反射式结构，用于接收单光子、中波红外和长波红外的入射光线，并将入射光线处理为平行光线，平行光线沿光路传输至第一分色镜；第一分色镜用于将平行光线中的长波红外射入长波红外后成像单元进行长波红外成像，将单光子和中波红外射入第一快速反射镜；第一快速反射镜将单光子和中波红外射射入第二分色镜，第二分色镜用于将中波红外射入中波红外后成像单元进行中波红外成像，将单光子射入单光子后接收单元进行单光子测距；

单光子发射单元用于发射测距激光；

第一快速反射镜设置在第一分色镜至第二分色镜的光路上，第一快速反射镜的偏转角度可调整；

第二快速反射镜设置在单光子发射单元发射的测距激光的光路上，用于将测距激光反射至目标，测距激光被第二快速反射镜反射后的光线光轴与主口径反射镜组通光孔径轴线在初始安装位置成0°夹角；

第二快速反射镜的偏转角度可调整；第二快速反射镜的偏转频率、偏转角度与第一快速反射镜的偏转频率、偏转角度相同。

优选的，主口径反射镜组的通光孔径大于或等于200毫米。

优选的，沿入射光线的光路，主口径反射镜组至少依次包括主反射镜、次级反射镜、三级反射镜和四级反射镜，主反射镜的反射面面型为凹面抛物面；次级反射镜的反射面面型为凸面双曲面；三级反射镜的反射面面型为平面；四级反射镜的反射面面型为凹面抛物面。

优选的，主反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角，且/>；次级反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角/>，且/>；三级反射镜的反射面法线与主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角/>，且/>；四级反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组的通光口径轴线的垂线成夹角/>，且/>。

优选的，次级反射镜、三级反射镜和四级反射镜均放置在主反射镜的通光孔径所在圆外侧。

优选的，第一分色镜和第二分色镜均为平行平板玻璃。

优选的，跟踪架，包括方位轴和俯仰轴，箱体安装在俯仰轴上，通过跟踪架带动箱体进行方位和俯仰运动。

优选的，还包括粗跟踪控制系统，粗跟踪控制系统包括长波红外图像处理板、粗跟踪控制板和功率级，长波红外图像处理板用于提取长波红外后成像单元视场内目标的特征点或特征区域，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并结合参考点坐标计算脱靶量；粗跟踪控制板用于采集长波红外图像处理板的脱靶量、方位轴和俯仰轴的旋转速度和旋转角度，并计算方位轴和俯仰轴的控制量，将控制量输出至功率级；功率级驱动方位轴和俯仰轴运动。

优选的，还包括精跟踪控制系统，精跟踪控制系统包括中波红外图像处理板、精跟踪控制板和驱动器，中波红外图像处理板用于提取中波红外后成像单元视场内目标的特征点或特征区域，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并结合参考点坐标计算脱靶；精跟踪控制板用于采集中波红外图像处理板的脱靶量、第一快速反射镜的位姿信息，并计算第一快速反射镜的偏转控制量，将偏转控制量输出至驱动器；驱动器驱动第一快速反射镜和第二快速反射镜运动进行同步偏转。

与现有技术相比，本发明能够取得如下有益效果：

本发明通过多波段共口径分光结构实现了长波红外、中波红外和单光子共用主光学系统（主口径反射镜组），提高了单光子探测的有效光学口径，增加了单光子测距的作用距离，有效解决了现有技术中单光子测距装置的通光口径与光电经纬仪的探测距离不匹配的问题；此外，共口径设计可以有效保证单光子入射光的光轴和长波红外、中波红外入射光的光轴具有极高的平行度。

本发明的主口径反射镜组采用离轴反射式三光合一的光学结构，通过折叠光路有效压缩了系统尺寸，提高了结构紧凑度；同时，离轴反射式系统有效解决了透射式系统共用多波段光学材料不足以及透镜尺寸过大的问题，又避免了传统同轴折反式光学系统的中心遮拦造成的能量损失。此外，离轴反射式系统在中间具有像面，更便于检测和装调，也能够有效压缩进入各光学单元的光束直径。

本发明采用粗跟踪控制系统和精跟踪控制系统两层跟踪模式，可以实现对远距离（≥100km）运动目标的稳定跟踪、实时成像和定位测量，大幅提高了现有光电经纬仪的使用效能；通过长波红外成像实现光电经纬仪对远距离飞行目标的闭环粗跟踪；对中波红外后成像单元与单光子后接收单元共用的第一快速反射镜和单光子发射单元用的第二快速反射镜进行同步控制，使各单元的光轴平行度始终能保持在100微弧度以内，有效保证了单光子后接收单元回波探测的准确性。

附图说明

图1是根据本发明实施例提供的单站光电定位测量装置的外观结构图；

图2是根据本发明实施例提供的单站光电定位测量装置的光学结构图；

图3是根据本发明实施例提供的单光子发射单元的结构示意图；

图4是根据本发明实施例提供的跟踪控制系统的组成架构的示意图；

图5是根据本发明实施例提供的精跟踪控制系统的控制原理图。

其中的附图标记包括：

主口径反射镜组1、主反射镜101、次级反射镜102、三级反射镜103、四级反射镜104、一次像面105、长波红外后成像单元2、中波红外后成像单元3、单光子后接收单元4、单光子发射单元5、激光器501、扩束透镜组502、窗口玻璃503、第一快速反射镜6、第二快速反射镜7、反射镜8、跟踪架9、方位轴901、俯仰轴902、第一分色镜10、第二分色镜11、箱体12。

具体实施方式

在下文中，将参考附图描述本发明的实施例。在下面的描述中，相同的模块使用相同的附图标记表示。在相同的附图标记的情况下，它们的名称和功能也相同。因此，将不重复其详细描述。

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，而不构成对本发明的限制。

如图1和2所示，本发明实施例提供了一种单站光电定位测量装置，包括安装在箱体12内部的主口径反射镜组1、长波红外后成像单元2、中波红外后成像单元3、单光子后接收单元4、单光子发射单元5、第一快速反射镜6、第二快速反射镜7、反射镜8、跟踪架9、第一分色镜10和第二分色镜11。

其中，跟踪架9采用地平式U型跟踪架，具有方位轴901和俯仰轴902，方位轴901整体为U型结构，通过其下端竖直方向上的转轴实现方位运动。俯仰轴902穿过方位轴901上端U型结构的两侧，并与方位轴901活动连接，俯仰轴902的轴线沿水平方向，箱体12固定在俯仰轴902上，可通过俯仰轴902转动带动箱体12及其内部的光学系统进行俯仰运动。

主口径反射镜组1为本发明装置的主光学系统，主口径反射镜组1采用离轴反射式光学结构，其通光孔径大于或等于200毫米，用于接收单光子、中波红外和长波红外的入射光线。上述中波红外波长为3.7~4.8微米，长波红外波长为7~9.5微米；单光子波长为1550纳米、1570纳米或1064纳米。主口径反射镜组1用于将接收到的入射光线进行多次反射处理成平行光线，优选设计为3次或4次反射，基于反射次数和对出射光线的要求，在本实施例中，沿入射光线的传输光路依次设置主反射镜101、次级反射镜102、三级反射镜103和四级反射镜104，组成主口径反射镜组1，从空间布局上看，从主反射镜101开始，按顺时针方向，依次设置三级反射镜103、次级反射镜102和四级反射镜104，入射光线由主反射镜101射入主口径反射镜组1，主反射镜101的反射面面型为凹面抛物面，主反射镜101的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组1的通光口径轴线成夹角，要求/>。入射光线被主反射镜101反射至次级反射镜102，次级反射镜102的反射面面型为凸面双曲面，其反射面同时朝向主反射镜101和三级反射镜103，次级反射镜102的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组1的通光口径轴线成夹角/>，要求/>。入射光线再被次级反射镜102反射至三级反射镜103，三级反射镜103的反射面面型为平面，其反射面同时朝向次级反射镜102和四级反射镜104，三级反射镜103的反射面的法线与主口径反射镜组1的通光口径轴线成夹角/>，要求/>，优选/>为45°。入射光线再被三级反射镜103反射至四级反射镜104，在三级反射镜103和四级反射镜104之间存在一次像面105，一次像面105的轴上点成完整像，该一次像面105在三级反射镜103至四级反射镜104的前半段或后半段光路上，需要一次像面105与三级反射镜103反射面中心之间存在一定距离。四级反射镜104的反射面面型为凹面抛物面，四级反射镜104的反射面中心到反射面焦点的连线与主口径反射镜组1的通光口径轴线的垂线成夹角/>，要求/>。此外，对于主反射镜101、次级反射镜102、三级反射镜103和四级反射镜104之间的距离，要求次级反射镜102、三级反射镜103和四级反射镜104均放置在主反射镜101的通光孔径所在圆的外侧。

入射光线经过主口径反射镜组1多次反射后变成平行光线，此时平行光线的光轴与入射光线射入主口径反射镜组1时的光轴相互垂直。平行光线由四级反射镜104反射至第一分色镜10，第一分色镜10为平行平板玻璃，其在光学系统中的空间位置和角度是不变的，平行光线经过第一分色镜10后，其中的长波红外光线被反射进入长波红外后成像单元2，长波红外后成像单元2主要用于对目标进行实时的长波红外成像，沿长波红外光线的传播光路，依次设置有二次成像镜组和第一探测器。在本实施例中，二次成像镜组为透镜组，采用摄远二次成像结构，用于保证冷阑匹配，降低杂散辐射影响，此外，为了提高成像效果，二次成像镜组还包括现有的调焦机构、变倍机构和/或可变光阑等。

剩余的平行光线透射过第一分色镜10，继续传播照射在第一快速反射镜6上，第一快速反射镜6设置在第一分色镜10至第二分色镜11的光路上，第一快速反射镜6连接有偏转机构、驱动电机和驱动器，通过偏转机构可以带动第一快速反射镜6在横向和纵向两个相互垂直的方向上做偏转运动，即绕除反射镜面的法线以外的其他两个坐标轴做偏转运动。第一快速反射镜6的反射面为平面，第一快速反射镜6的初始安装角度为倾斜45°，用于将剩余的平行光线反射至第二分色镜11上，第二分色镜11为平行平板玻璃，其在光学系统中的空间位置和角度是不变的，剩余的平行光线经过第二分色镜11后，其中的中波红外光线透射进入中波红外后成像单元3。中波红外后成像单元3主要用于对目标进行实时的中波红外成像，沿中波红外光线的传播光路，同样依次设置有二次成像镜组和第二探测器。在本实施例中，二次成像镜组为透镜组，采用摄远二次成像结构，用于保证冷阑匹配，降低杂散辐射影响，此外，为了提高成像效果，二次成像镜组也还包括现有的调焦机构、变倍机构和/或可变光阑等。在本发明实施例中，长波红外后成像单元2和中波红外后成像单元3的光学结构基本相同，两者均可直接采用现有的结构或产品，具体光学元件的参数可依据成像波长范围进行微调即可。

剩余的平行光线中的单光子光线被第二分色镜11反射至反射镜8，反射镜8在光学系统中的空间位置和角度是不变的，反射镜8用于将单光子光线反射进入单光子后接收单元4，单光子后接收单元4主要用于对目标进行定位测距，单光子后接收单元4具体可采用常规的单光子测距装置即可，主要通过透镜组和第三探测器等装置对目标实现测距。

如图3所示，单光子发射单元5用于发射单光子测距所需的单光子激光，单光子发射单元5由激光器501、扩束透镜组502和窗口玻璃503组成，通过激光器501发射单光子激光，再经过扩束透镜组502进行扩束后形成平行光，该平行光先由第二快速反射镜7反射改变传播方向，再通过设置在箱体12的外壳上的窗口玻璃503射向目标。第二快速反射镜7反射面为平面，第二快速反射镜7初始安装位置为倾斜45°。经第二快速反射镜7反射后的光线光轴与主口径反射镜组1通光孔径轴线在初始安装位置成0°夹角。

第二快速反射镜7在结构上与第一快速反射镜6相同，也连接有一个单独的偏转机构、驱动电机和驱动器，通过该偏转机构可以带动第二快速反射镜7在横向和纵向两个相互垂直的方向上做偏转运动，即绕除反射镜面的法线以外的其他两个坐标轴做偏转运动。第一快速反射镜6和第二快速反射镜7的偏转运动采用同步控制方法，以相同的偏转频率和偏转角度做偏转运动。

如图4所示，本发明实施例的单站光电定位测量装置采用粗跟踪控制系统和精跟踪控制系统结合的两层跟踪模式，其中，粗跟踪控制系统由长波红外图像处理板、粗跟踪控制板和功率级构成，通过闭环控制对跟踪架9进行调整，带动整个光学系统进行方位和俯仰运动，以实现对目标较低精度的跟踪；精跟踪控制系统由中波红外图像处理板、精跟踪控制板和驱动器组成，通过闭环控制对光学系统内部的第一快速反射镜6和第二快速反射镜7进行调整，对光路进行微调，以实现对目标较高精度的跟踪。

结合长波、中波红外成像和单光子测距过程，对粗跟踪控制系统和精跟踪控制系统的控制过程进行描述如下：

首先，由单光子发射单元5发射用于测距的测距激光，测距激光射向目标，测距激光被目标反射，测距激光被目标反射的回波即为单光子入射光线，长波红外、中波红外、单光子以及其他波段光线经主反射镜101射入主口径反射镜组1，经过主口径反射镜组1和第一分色镜10处理后，长波红外光线射入长波红外后成像单元2进行长波红外成像，长波红外图像处理板对长波红外后成像单元2视场内捕获的目标长波红外图像进行特征点或特征区域的提取，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并计算其相对于参考点坐标的偏差形成脱靶量；粗跟踪控制板接收长波红外图像处理板的目标脱靶量，并采集跟踪架9的方位轴901和俯仰轴902的旋转角度和旋转速度信息，通过运行位置与速度双闭环控制、前馈控制、机械谐振补偿、速度噪声滤波等现有的控制算法，计算用于带动方位轴901和俯仰轴902运动的力矩电机的控制量，并将该控制量输出至功率级，功率级主要实现对PWM控制信号进行功率放大以驱动方位轴901和俯仰轴902的力矩电机运转，进而实现整个装置相对于目标位置的粗跟踪。

入射光线中的中波红外和单光子继续经过第一快速反射镜6、第二分色镜11和反射镜8的处理，中波红外光线射入中波红外后成像单元3进行中波红外成像。如图5所示，中波红外图像处理板对中波红外后成像单元3视场内捕获的目标中波红外图像进行特征点或特征区域的提取，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并计算其相对于参考点坐标的偏差形成脱靶量。精跟踪控制板接收中波红外图像处理板的目标脱靶量，并采集第一快速反射镜6的位置反馈信号，经过坐标变换、数据插值、闭环控制计算第一快速反射镜6的偏转控制量，该偏转控制量同时输出至第一快速反射镜6对应的驱动器和第二快速反射镜7对应的驱动器，两个驱动器分别驱动第一快速反射镜6和第二快速反射镜7的驱动电机，通过驱动电机带动偏转机构，使第一快速反射镜6和第二快速反射镜7按照一定频率和偏转角度偏转，第一快速反射镜6和第二快速反射镜7同时做偏转运动，且偏转频率和偏转角度相同。最后，单光子光线进入单光子后接收单元4，并通过单光子后接收单元4对目标进行单光子测距。

在本发明实施例中，采用粗跟踪控制系统和精跟踪控制系统同时跟踪飞行目标，既实现了精跟踪视场内目标成像稳定，又修正了跟踪架9粗跟踪时带来的偏差，保证单光子接收光路光轴与单光子发射光路光轴的平行度，提高单光子激光回波探测的准确性。

此外，为了保证单站光电定位测量装置能够独立实现跟踪、成像和定位测量等功能，还可以设置图像存储分系统、主控计算机分系统、成像控制分系统、信息综合分系统、调光调焦分系统、定位定向分系统和图像显示分系统，其中图像存储分系统用于完成对各路数字图像进行实时无损记录；主控计算机分系统用于发送控制命令对各系统进行控制，完成各系统的数据采集、处理、记录和上传，并指挥、协调、各系统的工作，完成对目标的捕获、跟踪和测量的任务。成像控制分系统用于实时调整光学系统的调光、调焦机构及成像单元的参数，完成图像的闭环控制。信息综合分系统包括时统终端单元、光纤通讯单元、数据通讯单元、智能监控单元四个部分，用于实现系统的授时、信号和数据的共享以及工作状态监控等功能。调光调焦分系统包括镜头信息适配单元和调光调焦单元，具备光纤通讯和驱动调光调焦机构运动的能力。定位定向分系统包括GPS或北斗，用于空间经纬度信息的获取。图像显示分系统用于对成像单元捕获的图像进行示出，以便于工作人员观察。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制。本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

以上本发明的具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限定。任何根据本发明的技术构思所做出的各种其他相应的改变与变形，均应包含在本发明权利要求的保护范围内。

Claims (9)

1.一种单站光电定位测量装置，其特征在于，包括：设置在箱体内的主口径反射镜组、长波红外后成像单元、中波红外后成像单元、单光子后接收单元、第一分色镜、第二分色镜、单光子发射单元、第一快速反射镜和第二快速反射镜，以及用于带动所述箱体运动的跟踪架；

其中，所述主口径反射镜组为离轴反射式结构，用于接收单光子、中波红外和长波红外的入射光线，并将所述入射光线处理为平行光线，所述平行光线沿光路传输至所述第一分色镜；所述第一分色镜用于将所述平行光线中的长波红外射入所述长波红外后成像单元进行长波红外成像，将单光子和中波红外射入所述第一快速反射镜；所述第一快速反射镜将单光子和中波红外射入所述第二分色镜，所述第二分色镜用于将中波红外射入所述中波红外后成像单元进行中波红外成像，将单光子射入所述单光子后接收单元进行单光子测距；

所述单光子发射单元用于发射测距激光；

所述第一快速反射镜设置在所述第一分色镜至所述第二分色镜的光路上，所述第一快速反射镜的偏转角度可调整；

所述第二快速反射镜设置在所述单光子发射单元发射的测距激光的光路上，用于将测距激光反射至目标，测距激光被所述第二快速反射镜反射后的光线光轴与所述主口径反射镜组通光孔径轴线在初始安装位置成0°夹角；

所述第二快速反射镜的偏转角度可调整；所述第二快速反射镜的偏转频率、偏转角度与所述第一快速反射镜的偏转频率、偏转角度相同。

2.如权利要求1所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，所述主口径反射镜组的通光孔径大于或等于200毫米。

3.如权利要求1所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，沿所述入射光线的光路，所述主口径反射镜组至少依次包括主反射镜、次级反射镜、三级反射镜和四级反射镜，所述主反射镜的反射面面型为凹面抛物面；所述次级反射镜的反射面面型为凸面双曲面；所述三级反射镜的反射面面型为平面；所述四级反射镜的反射面面型为凹面抛物面。

4.如权利要求3所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，所述主反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与所述主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角，且；所述次级反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与所述主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角/>，且/>；所述三级反射镜的反射面法线与所述主口径反射镜组的通光口径轴线成夹角/>，且/>；所述四级反射镜的反射面中心到反射面焦点的连线与所述主口径反射镜组的通光口径轴线的垂线成夹角/>，且/>。

5.如权利要求4所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，所述次级反射镜、所述三级反射镜和所述四级反射镜均放置在所述主反射镜的通光孔径所在圆外侧。

6.如权利要求1所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，所述第一分色镜和所述第二分色镜均为平行平板玻璃。

7.如权利要求1所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，所述跟踪架包括方位轴和俯仰轴，所述箱体安装在俯仰轴上，通过所述跟踪架带动所述箱体进行方位和俯仰运动。

8.如权利要求7所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，还包括粗跟踪控制系统，所述粗跟踪控制系统包括长波红外图像处理板、粗跟踪控制板和功率级，所述长波红外图像处理板用于提取所述长波红外后成像单元视场内目标的特征点或特征区域，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并结合参考点坐标计算脱靶量；所述粗跟踪控制板用于采集所述长波红外图像处理板的脱靶量、方位轴和俯仰轴的旋转速度和旋转角度，并计算方位轴和俯仰轴的控制量，将控制量输出至所述功率级；所述功率级驱动方位轴和俯仰轴运动。

9.如权利要求1或8所述的单站光电定位测量装置，其特征在于，还包括精跟踪控制系统，所述精跟踪控制系统包括中波红外图像处理板、精跟踪控制板和驱动器，所述中波红外图像处理板用于提取所述中波红外后成像单元视场内目标的特征点或特征区域，根据目标的特征点或特征区域计算跟踪点坐标，并结合参考点坐标计算脱靶；所述精跟踪控制板用于采集所述中波红外图像处理板的脱靶量、所述第一快速反射镜的位姿信息，并计算所述第一快速反射镜的偏转控制量，将偏转控制量输出至所述驱动器；所述驱动器驱动所述第一快速反射镜和所述第二快速反射镜运动进行同步偏转。