CN117971583A - 一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质 - Google Patents
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- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 108
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 68
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 238000011161 development Methods 0.000 claims abstract description 94
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000008187 granular material Substances 0.000 claims description 21
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 11
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 3
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
- G06F11/2221—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/2273—Test methods
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- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
本发明提供一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质，测试方法包括通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，存储颗粒安装于开发板上；通过主机上的交叉编译程序，对接口信息进行编译生成中间件程序；将中间件程序加载到开发板上；在主机上运行测试程序，测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出测试程序在存储颗粒上对应的输入输出接口；通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，对存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对存储颗粒进行测试程序关联的测试，生成测试信息。本发明可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求，提高了对存储颗粒的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及静态存储技术领域，尤其涉及一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质。
背景技术
存储颗粒是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。无论是系统芯片还是存储颗粒，都是通过在单一芯片中嵌入软件，以实现多功能、高性能以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。存储颗粒广泛应用于计算机、移动设备、物联网等领域，用于存储各种数据，如操作系统、应用程序、音乐、视频、照片等。
在存储颗粒焊接到开发板之后，便形成具有特定功能的存储设备。如果要对开发板上的存储颗粒再次进行测试，需要先将存储颗粒从开发板上拆下，放到专用的芯片测试座上进行调试工作，存在效率低下、费时费力的缺点。因此，存在待改进之处。
发明内容
本发明提供一种存储颗粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质，以解决现有技术中存在对存储颗粒的测试效率低下、费时费力的技术问题。
本发明提供的一种存储颗粒的测试方法，包括：
通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上；
通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序；
将所述中间件程序加载到所述开发板上；
在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口；
通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
在本发明的一个实施例中，所述接口信息包括设备节点、结构体和数据流，其中，所述设备节点包括所述开发板上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点，所述结构体封装所述存储颗粒的命令码和所述存储颗粒的数据，所述数据流表示为用于传输所述存储颗粒对应的读取、写入的数据。
在本发明的一个实施例中，所述存储颗粒的命令码包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区，所述区别读写区用以识别所述存储颗粒接收的读取/写入命令，所述数据大小区用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小，所述幻数区用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分，所述区别序号区用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。
在本发明的一个实施例中，所述在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤，包括：
接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件开卡的命令，在所述主机上生成固件开卡的测试程序；
在所述主机上运行固件开卡的测试程序，固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。
在本发明的一个实施例中，所述在所述主机上运行固件开卡的测试程序，固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后，包括：
所述主机向所述开发板发送固件开卡的测试程序相应的测试指令；
所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，向所述存储颗粒发送固件开卡的测试指令，生成所述存储颗粒固件开卡的测试信息。
在本发明的一个实施例中，所述在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤，包括：
接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件调试的命令，在所述主机上生成固件调试的测试程序；
在所述主机上运行固件调试的测试程序，固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。
在本发明的一个实施例中，所述在所述主机上运行固件调试的测试程序，固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后，包括：
所述主机向所述开发板发送固件调试的测试程序相应的测试指令；
所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，向所述存储颗粒发送固件调试的测试指令，生成所述存储颗粒固件调试的测试信息。
本发明还提出一种存储颗粒的测试系统，包括：
获取单元，用以通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上；
编译单元，用以通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序；
加载单元，用以将所述中间件程序加载到所述开发板上；
调用单元，用以在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序对所述存储颗粒进行测试的输入输出接口；以及
测试单元，用以通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
本发明还提出一种电子设备，包括处理器、存储器和通信总线；所述通信总线用于将所述处理器和存储器连接；所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序，以实现如上述任一项所述的存储颗粒的测试方法。
本发明还提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序用于使计算机执行如上述任一项所述的存储颗粒的测试方法。
本发明的有益效果：本发明提出的一种存储颗粒的测试方法、装置、电子设备及存储介质，在将存储颗粒安装到开发板的场景下，可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求，提高了对存储颗粒的测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明一实施例提供的主机、开发板、存储颗粒的连接示意图。
图2为本发明一实施例提供的存储颗粒的测试方法的步骤示意图。
图3为本发明一实施例提供的图2中步骤S40的步骤示意图。
图4是本发明一实施例提供的图2中步骤S50的步骤示意图。
图5为本发明又一实施例提供的图2中步骤S40的步骤示意图。
图6是本发明又一实施例提供的图2中步骤S50的步骤示意图。
图7是本发明一实施例提供的存储颗粒的测试系统的结构示意图。
图8是本发明一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
在下文描述中，探讨了大量细节，以提供对本发明实施例的更透彻的解释，然而，对本领域技术人员来说，可以在没有这些具体细节的情况下实施本发明的实施例是显而易见的，在其他实施例中，以方框图的形式而不是以细节的形式来示出公知的结构和设备，以避免使本发明的实施例难以理解。
请参阅图1至图8，本发明提出一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质，可对eMMC（Embedded Multi Media Card，嵌入式多媒体卡）、SSD（Solid State Disk，固态硬盘）、UFS（Univeral Flash Storage，通用闪存存储器）等存储颗粒的重新开卡、调试进行测试。本发明在将存储颗粒安装到开发板的场景下，可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求，提高了对存储颗粒的测试效率。
请参见图1和图2，本发明提出一种存储颗粒的测试方法，可包括步骤S10至步骤S50，步骤S10至步骤S50可表示如下。
步骤S10、通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上。
步骤S20、通过主机上的交叉编译程序，对接口信息进行编译生成中间件程序。
步骤S30、将中间件程序加载到开发板上。
步骤S40、在主机上运行测试程序，测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出测试程序在存储颗粒上对应的输入输出接口。
步骤S50、通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，对存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对存储颗粒进行测试程序关联的测试，生成测试信息。
对于步骤S10至步骤S50，可通过下面的实施例进行详细的描述。
步骤S10、通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上。
在本发明的一个实施例中，如图1所示，将存储颗粒30安装到开发板20上，为了保证存储颗粒上存储数据在运行过程中的稳定性，需要将存储颗粒30焊接到开发板20上。为了解决现有技术中需要将存储颗粒30从开发板20上拆下进行调试，存在费时费力、效率低下的问题，在本发明中在存储颗粒30仍焊接在开发板20的前提下，利用开发板20上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒30上输入输出通道的接口信息。当开发板20上的嵌入式操作系统是基于Linux内核开发时，对于开发板20上Linux操作系统的设备控制接口指令（ioctl，input/output control），是一个专用于存储颗粒30输入输出的Linux操作系统调用，该调用传入一个跟存储颗粒30有关的请求码，Linux操作系统调用的功能完全取决于请求码。开发板20上Linux操作系统的设备控制接口指令，可用于对存储颗粒30中的输入输出通道进行管理，例如是对存储颗粒30的串口的传输波特率等特性进行控制。
在本发明的一个实施例中，接口信息包括设备节点、结构体和数据流，例如接口信息可表示为(int fd，struct ioc_mmc_dict*ioc_data，uint 8*buffer)，其中，fd表示为开发板20上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点，结构体ioc_mmc_dict封装存储颗粒30的命令码，结构体ioc_data封装存储颗粒30的数据，buffer表示为用于传输存储颗粒30对应的读取、写入的数据流。存储颗粒30的命令码（CMD，command）的大小为32位，可分4个区。存储颗粒30的命令码可包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区。区别读写区位于bit31~bit30，用以识别存储颗粒30接收的读取/写入命令。数据大小区位于bit29~bit15，用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小。幻数区位于bit20~bit08，用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分。区别序号区位于bit07~bit00，用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。
步骤S20、通过主机上的交叉编译程序，对接口信息进行编译生成中间件程序。
在本发明的一个实施例中，如图1所示，主机10和开发板20之间可通信连接，主机10可为个人计算机（pc，personal computer）、平板电脑（pad）、移动手机（cell phone）等通信设备。开发板20可将获取到存储颗粒30上输入输出通道的接口信息传递给主机10，主机10上的交叉编译程序，可将接口信息进行编译生成中间件程序。交叉编译程序可为arm-linux-gnueabihf交叉编译工具。
步骤S30、将中间件程序加载到开发板上。
在本发明的一个实施例中，主机10可将中间件程序传递至开发板20上，并在开发板20上加载中间件程序。在开发板20上加载中间件程序，可在主机10和存储颗粒30之间建立数据传递的桥梁，例如在主机10上运行存储颗粒30的重新开卡、调试的测试程序，开发板20上的中间件程序可给出存储颗粒30上相应输入输出通道的信息。
步骤S40、在主机上运行测试程序，测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出测试程序在存储颗粒上对应的输入输出接口。
在本发明的一个实施例中，在主机10上运行测试程序，测试程序可根据用户需求通过计算机壳层（shell）进行开发，shell接收用户命令，调用相应的应用程序，为使用者提供操作界面。测试程序可调用开发板20上的中间件程序，中间件程序可解析出测试程序在存储颗粒30上对应的输入输出通道，进一步的，可在开发板20上实现对存储颗粒30的测试。
步骤S50、通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，对存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对存储颗粒进行测试程序关联的测试，生成测试信息。
在本发明的一个实施例中，在主机10上运行测试程序，测试程序调用开发板20上的中间件程序之后，可通过开发板20上Linux操作系统的设备控制接口指令（ioctl），对存储颗粒30的输入输出接口进行调用。在对存储颗粒30的输入输出通道进行调用时，可对存储颗粒30进行测试程序关联的测试，并生成存储颗粒30的测试信息。
请参阅图3和图4，在本发明的一个实施例中，步骤S40可包括步骤S410和步骤S411，步骤S410可表示为接收当前用户输入的对存储颗粒30进行固件开卡的命令，在主机10上生成固件开卡的测试程序。步骤S411可表示为在主机10上运行固件开卡的测试程序，固件开卡的测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出固件开卡的测试程序在存储颗粒30上对应的输入输出接口。步骤S50可包括步骤S510和步骤S511。在步骤S411之后，步骤S510可表示为主机10向开发板20发送固件开卡的测试程序相应的测试指令。步骤S511可表示为开发板20通过其操作系统的设备控制接口指令，对存储颗粒30的输入输出接口进行调用，向存储颗粒30发送固件开卡的测试指令，生成存储芯片固件开卡的测试信息。
请参阅图5和图6，在本发明的一个实施例中，步骤S40可包括步骤S420和步骤S421，步骤S420可表示为接收当前用户输入的对存储颗粒30进行固件调试的命令，在主机10上生成固件调试的测试程序。步骤S421可表示为在主机10上运行固件调试的测试程序，固件调试的测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出固件调试的测试程序在存储颗粒30上对应的输入输出接口。步骤S50可包括步骤S520和步骤S521。在步骤S421之后，步骤S520可表示为主机10向开发板20发送固件调试的测试程序相应的测试指令。步骤S521可表示为开发板20通过其操作系统的设备控制接口指令，对存储颗粒30的输入输出接口进行调用，向存储颗粒30发送固件调试的测试指令，生成存储芯片固件调试的测试信息。
请参阅图7所示，本发明提出一种存储颗粒的测试系统100，可包括获取单元110、编译单元120、加载单元130、调用单元140和测试单元150。获取单元110可用以通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储芯片上输入输出通道的接口信息。编译单元120可用以通过主机上的交叉编译程序，对接口信息进行编译生成中间件程序。加载单元130可用以将中间件程序加载到开发板上。调用单元140可用以在主机上运行测试程序，测试程序调用开发板上的中间件程序，以解析出测试程序对存储芯片进行测试的输入输出接口。测试单元150可用以通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，对存储芯片的输入输出接口进行调用，并对存储芯片进行测试程序关联的测试，生成测试信息。
请参阅图8所示，本发明一实施例中计算机设备的一结构示意图。在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备200可以是服务端。该计算机设备200包括通过系统总线连接的处理器201、存储器202、网络接口204和数据库。其中，该计算机设备200的处理器201用于提供计算和控制能力。该计算机设备200的存储器202包括非易失性和/或易失性存储介质、内存储器203。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备200的网络接口用于与外部的客户端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种存储 的测试方法的功能或步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备200，包括存储器202、处理器201及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器201执行计算机程序时实现以下步骤：
通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储芯片上输入输出通道的接口信息，通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序，将所述中间件程序加载到所述开发板上，在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储芯片上对应的输入输出接口，通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储芯片的输入输出接口进行调用，并对所述存储芯片进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储芯片上输入输出通道的接口信息，通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序，将所述中间件程序加载到所述开发板上，在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储芯片上对应的输入输出接口，通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储芯片的输入输出接口进行调用，并对所述存储芯片进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
需要说明的是，上述关于计算机可读存储介质或计算机设备所能实现的功能或步骤，可对应参阅前述方法实施例中，服务端侧以及客户端侧的相关描述，为避免重复，这里不再一一描述。
综上所述，本发明提出一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质，在将存储颗粒安装到开发板的场景下，可快速高效的解决对存储颗粒进行重新开卡、调试的需求，提高了对存储颗粒的测试效率。
附图中的流程图和框图，图示了按照本公开各种实施例的方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，该模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (10)
1.一种存储颗粒的测试方法，其特征在于，包括：
通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上；
通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序；
将所述中间件程序加载到所述开发板上；
在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口；
通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
2.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述接口信息包括设备节点、结构体和数据流，其中，所述设备节点包括所述开发板上操作系统的所有文件、驱动程序对应的设备节点，所述结构体封装所述存储颗粒的命令码和所述存储颗粒的数据，所述数据流表示为用于传输所述存储颗粒对应的读取、写入的数据。
3.根据权利要求2所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述存储颗粒的命令码包括区别读写区、数据大小区、幻数区和区别序号区，所述区别读写区用以识别所述存储颗粒接收的读取/写入命令，所述数据大小区用以表示设备控制接口指令中的补充参数变量传送的内存大小，所述幻数区用以与其它存储颗粒对应的设备控制接口指令进行区分，所述区别序号区用以表示读取/写入命令的命令顺序序号。
4.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤，包括：
接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件开卡的命令，在所述主机上生成固件开卡的测试程序；
在所述主机上运行固件开卡的测试程序，固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。
5.根据权利要求4所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述在所述主机上运行固件开卡的测试程序，固件开卡的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件开卡的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后，包括：
所述主机向所述开发板发送固件开卡的测试程序相应的测试指令；
所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，向所述存储颗粒发送固件开卡的测试指令，生成所述存储颗粒固件开卡的测试信息。
6.根据权利要求1所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤，包括：
接收当前用户输入的对所述存储颗粒进行固件调试的命令，在所述主机上生成固件调试的测试程序；
在所述主机上运行固件调试的测试程序，固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口。
7.根据权利要求6所述的存储颗粒的测试方法，其特征在于，所述在所述主机上运行固件调试的测试程序，固件调试的测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出固件调试的测试程序在所述存储颗粒上对应的输入输出接口的步骤之后，包括：
所述主机向所述开发板发送固件调试的测试程序相应的测试指令；
所述开发板通过其操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，向所述存储颗粒发送固件调试的测试指令，生成所述存储颗粒固件调试的测试信息。
8.一种存储颗粒的测试系统，其特征在于，包括：
获取单元，用以通过开发板上操作系统的设备控制接口指令，获取存储颗粒输入输出通道的接口信息，其中，所述存储颗粒安装于所述开发板上；
编译单元，用以通过主机上的交叉编译程序，对所述接口信息进行编译生成中间件程序；
加载单元，用以将所述中间件程序加载到所述开发板上；
调用单元，用以在所述主机上运行测试程序，所述测试程序调用所述开发板上的中间件程序，以解析出所述测试程序对所述存储颗粒进行测试的输入输出接口；以及
测试单元，用以通过所述开发板上操作系统的设备控制接口指令，对所述存储颗粒的输入输出接口进行调用，并对所述存储颗粒进行所述测试程序关联的测试，生成测试信息。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器、存储器和通信总线；所述通信总线用于将所述处理器和存储器连接；所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序，以实现如权利要求1-7任一项所述的存储颗粒的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机程序，所述计算机程序用于使计算机执行如权利要求1-7任一项所述的存储颗粒的测试方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202410362425.0A CN117971583B (zh) | 2024-03-28 | 2024-03-28 | 一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| CN202410362425.0A CN117971583B (zh) | 2024-03-28 | 2024-03-28 | 一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117971583A true CN117971583A (zh) | 2024-05-03 |
| CN117971583B CN117971583B (zh) | 2024-06-11 |
Family
ID=90855701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202410362425.0A Active CN117971583B (zh) | 2024-03-28 | 2024-03-28 | 一种存储颗粒的测试方法、系统、电子设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117971583B (zh) |
Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20150318059A1 (en) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | International Business Machines Corporation | Memory tester design for soft error rate (ser) failure analysis |
| CN109684150A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-04-26 | 北京紫光得瑞科技有限公司 | 存储颗粒控制器的性能测试系统、测试方法及仿真平台 |
| WO2020042593A1 (zh) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 固态硬盘的生产方法及固态硬盘 |
| US20200089598A1 (en) * | 2018-09-19 | 2020-03-19 | SK Hynix Inc. | Reconfigurable simulation system and method for testing firmware of storage |
| CN112509631A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-03-16 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 存储颗粒质量的批量测试系统、方法、计算机设备及存储介质 |
| CN112712847A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-27 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 存储颗粒质量的测试装置、方法、计算机设备及存储介质 |
| CN113012750A (zh) * | 2019-12-18 | 2021-06-22 | 中移物联网有限公司 | 一种存储芯片的测试装置及方法 |
| CN114446381A (zh) * | 2022-04-07 | 2022-05-06 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | eMMC故障分析方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
| CN115101116A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-09-23 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 固态硬盘存储颗粒焊接异常检测方法、装置、设备及介质 |
| CN115509442A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-12-23 | 深圳市硅格半导体有限公司 | 闪存颗粒调试方法、闪存颗粒调试设备和可读存储介质 |
| CN116185747A (zh) * | 2022-12-09 | 2023-05-30 | 深圳市硅格半导体有限公司 | 存储颗粒开卡工具调试方法、设备和可读存储介质 |
| US20230229451A1 (en) * | 2020-10-16 | 2023-07-20 | Inspur Suzhou Intelligent Technology Co., Ltd. | Server power-down detection method and system, device, and medium |
| CN116820932A (zh) * | 2023-05-25 | 2023-09-29 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种bmc故障诊断方法、装置、设备及介质 |
| WO2023208231A1 (zh) * | 2022-04-29 | 2023-11-02 | 华为技术有限公司 | 一种内存数据读写方法、系统以及内存控制器 |
| CN117472294A (zh) * | 2023-12-28 | 2024-01-30 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种存储器及其数据处理方法 |
| CN117497036A (zh) * | 2023-11-27 | 2024-02-02 | 深圳大普微电子股份有限公司 | NAND Flash颗粒模拟装置、读写方法和系统 |
-
2024
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Patent Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20150318059A1 (en) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | International Business Machines Corporation | Memory tester design for soft error rate (ser) failure analysis |
| WO2020042593A1 (zh) * | 2018-08-27 | 2020-03-05 | 湖南国科微电子股份有限公司 | 固态硬盘的生产方法及固态硬盘 |
| US20200089598A1 (en) * | 2018-09-19 | 2020-03-19 | SK Hynix Inc. | Reconfigurable simulation system and method for testing firmware of storage |
| CN109684150A (zh) * | 2018-12-24 | 2019-04-26 | 北京紫光得瑞科技有限公司 | 存储颗粒控制器的性能测试系统、测试方法及仿真平台 |
| CN113012750A (zh) * | 2019-12-18 | 2021-06-22 | 中移物联网有限公司 | 一种存储芯片的测试装置及方法 |
| US20230229451A1 (en) * | 2020-10-16 | 2023-07-20 | Inspur Suzhou Intelligent Technology Co., Ltd. | Server power-down detection method and system, device, and medium |
| CN112509631A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-03-16 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 存储颗粒质量的批量测试系统、方法、计算机设备及存储介质 |
| CN112712847A (zh) * | 2020-12-25 | 2021-04-27 | 东莞记忆存储科技有限公司 | 存储颗粒质量的测试装置、方法、计算机设备及存储介质 |
| CN114446381A (zh) * | 2022-04-07 | 2022-05-06 | 深圳佰维存储科技股份有限公司 | eMMC故障分析方法、装置、可读存储介质及电子设备 |
| WO2023208231A1 (zh) * | 2022-04-29 | 2023-11-02 | 华为技术有限公司 | 一种内存数据读写方法、系统以及内存控制器 |
| CN115101116A (zh) * | 2022-07-27 | 2022-09-23 | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 | 固态硬盘存储颗粒焊接异常检测方法、装置、设备及介质 |
| CN115509442A (zh) * | 2022-08-26 | 2022-12-23 | 深圳市硅格半导体有限公司 | 闪存颗粒调试方法、闪存颗粒调试设备和可读存储介质 |
| CN116185747A (zh) * | 2022-12-09 | 2023-05-30 | 深圳市硅格半导体有限公司 | 存储颗粒开卡工具调试方法、设备和可读存储介质 |
| CN116820932A (zh) * | 2023-05-25 | 2023-09-29 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种bmc故障诊断方法、装置、设备及介质 |
| CN117497036A (zh) * | 2023-11-27 | 2024-02-02 | 深圳大普微电子股份有限公司 | NAND Flash颗粒模拟装置、读写方法和系统 |
| CN117472294A (zh) * | 2023-12-28 | 2024-01-30 | 合肥康芯威存储技术有限公司 | 一种存储器及其数据处理方法 |
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |