CN116985063A - 一种检测用多组取样芯片围固装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开的一种检测用多组取样芯片围固装置，所述固定板中空位置活动安装有卡件，所述卡件的两端分别活动设于槽孔一内，所述固定板中空位置还活动安装有限位件，所述限位件的两端分别活动设于螺纹孔处，所述限位件和卡件交错放置将固定板内部空间划分为若干组放置槽，所述固定板内部中空位置底壁安装有多组弹性件二，所述弹性件二分别设于卡件和限位件下端，所述卡件内活动安装有推动组件，所述卡件外活动安装有卡接件。本发明属于柔性芯片检测技术领域，尤其涉及一种检测用多组取样芯片围固装置，便于对不同尺寸的样品芯片进行批量的固定和限位，实现各种不同的样品芯片的快速整齐摆放的技术效果，提高了分析效率。

Description

一种检测用多组取样芯片围固装置

技术领域

本发明属于柔性芯片检测技术领域，尤其涉及一种检测用多组取样芯片围固装置。

背景技术

在柔性电路板生产的过程中，由于人员问题、机台问题或是产品本身的问题，使得封装后的成品出现异常，此时需要将异常的芯片从成品上取下，成为样品芯片，工作人员需要对收集的样品芯片进行分析；通常是将多组样品芯片一一摆放在工业显微镜工作台面上，然后进行观察分析；由于样品的数量较大，在工作台面上无法做到摆放整齐，导致每看一颗样品都需要调整工作台面的量测位置，严重影响人员的工作效率，降低了工作人员分析问题的时效性，对产品的处理判断和解决方案产生了延后，严重影响了产品的后续工作；而且在对取样芯片分析完成后，还需要对工业显微镜的工作台面进行清洁，降低了工作效率。

发明内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本发明提供一种检测用多组取样芯片围固装置，便于对不同尺寸的样品芯片进行批量的固定和限位，实现各种不同的样品芯片的快速整齐摆放的技术效果，提高了分析效率；柔性件和弹性件二的设置，通过软管的连接，配合卡接件的使用，实现了气体之间的流通，便于对取样芯片进行拿取或固定。

本发明采用的技术方案如下：一种检测用多组取样芯片围固装置，包括上端开口且内部中空的固定板，所述固定板相对两侧壁对称设有槽孔一，所述固定板上壁对称设有多组用于固定的螺纹孔，所述固定板中空位置活动安装有多组用于格挡固定的卡件，所述卡件的两端分别活动设于槽孔一内，所述固定板中空位置还活动安装有多组用于格挡固定的限位件，所述限位件的两端分别活动设于螺纹孔处，限位件和卡件呈垂直状交错放置，所述限位件和卡件交错放置将固定板内部空间划分为若干组用于固定芯片样品的放置槽，所述固定板内部中空位置底壁安装有多组均匀排放的弹性件二，所述弹性件二分别设于卡件和限位件下端，所述卡件内活动安装有多组用于固定芯片的推动组件，所述卡件外活动安装有用于限位推动组件的卡接件；

由于受到客户的要求及厂内现有打孔治具尺寸的影响，在对不合格芯片取样时，会产生不同的取样尺寸，本发明中卡件和限位件均能活动调节，根据样品芯片的尺寸，调节卡件和限位件之间的放置槽的尺寸，以适应不用样品芯片尺寸的需求，将样品芯片放置在放置槽中。

进一步地，所述卡件内设有卡槽，所述推动组件活动设于卡槽内，所述推动组件包括弹簧，所述弹簧设有多组，多组所述弹簧的一端与卡槽内侧壁相连，所述卡槽内侧壁连接有伸缩杆，所述伸缩杆设于多组弹簧之间，所述伸缩杆的另一端连接有推板，所述弹簧的另一端与推板相连，弹簧为弱弹性的弹簧，所述卡接件活动卡接设于推板外侧壁，卡接件卡接在推板外侧时，弹簧呈压缩状态，弹簧、伸缩杆以及柔性件均设于卡槽内，同时伸缩杆也为压缩状态。

作为本发明优选地，所述推板侧壁和卡槽内侧壁之间连接有柔性件，柔性件、推板和卡槽之间形成密封空间，柔性件为弹性材质，所述弹簧和伸缩杆均设于柔性件内，所述卡槽内底壁设有通气孔一，所述卡件底壁内设有通气腔一，所述卡件相对两侧壁对称设有连通腔一，所述通气孔一与柔性件贯通连接，所述通气孔一与通气腔一贯通连接，所述通气腔一与连通腔一贯通连接；

柔性件受到挤压后，内部气体通过通气孔一进入通气腔一内，在通过通气腔一进入连通腔一中。

其中，所述固定板相对两侧壁对称设有连通腔二，所述固定板底壁内设有通气腔二，所述固定板底壁上设有通气孔二，所述通气孔二与弹性件二贯通连接，所述通气孔二与通气腔二贯通连接，所述通气腔二与连通腔二贯通连接，所述连通腔二与连通腔一之间连接有软管，软管受外力作用时，可发生形变；

连通腔一内的气体通过软管进入到连通腔二内，并通过连通腔二进通气腔二内，通过通气孔二进入到弹性件二中，未受到挤压的弹性件二即设于放置槽内的弹性件二，发生形变鼓起。

进一步地，所述卡接件侧壁设有挡件，所述挡件靠近推板放置，所述挡件靠近推板的侧壁设有倾斜结构，所述卡接件上壁设有抬板，卡接件插在卡件上后，倾斜面逐步推动推板向卡槽内移动，推板挤压弹簧和伸缩杆压缩，直至挡件上端设于推板外侧壁上后，实现推板的固定，抬板的设置，便于将卡接件从卡件上取下。

其中，所述固定板底壁设有多组用于清洁的下落孔，多组所述下落孔设于弹性件二之间，弹性件二抬升后，其上的杂质翻滚至下落孔处，将杂质从固定板内排出。

进一步地，所述卡件的两端部和限位件两端部均设有螺纹孔，需要对卡件进行固定时，螺栓的一端贯穿槽孔一设于卡件端部的螺纹孔内，螺栓的另一端设于固定板外，旋拧螺栓，螺栓对卡件进行固定，需要对限位件进行固定时，螺栓的一端贯穿限位件上的螺纹孔后设于固定板上壁上的螺纹孔内，螺栓的另一端设于固定板外，旋拧螺栓，螺栓对限位件进行固定。

优选地，所述限位件上设有贯通孔，所述贯通孔设有多组，多组所述限位孔均贯穿限位件设置，所述卡件活动贯穿贯通孔设置。

采用上述结构后，本发明有益效果如下：

（1）卡件和限位件的设置，对固定板内部空间进行划分，便于对不同尺寸的样品芯片进行批量的固定和限位，实现各种不同的样品芯片的快速整齐摆放的技术效果，提高了分析效率。

（2）柔性件和弹性件二的设置，通过软管的连接，配合卡接件的使用，实现了气体之间的流通，便于对取样芯片进行固定，当弹性件二抬升后，将样品芯片顶起，为拿去样品芯片提供了便捷。

（3）弹性件二抬升后，其上的杂质翻滚至下落孔处，将杂质从固定板内排出，实现自清洁的技术效果。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

图1为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的结构示意图；

图2为图1的A处的局部放大图；

图3为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的卡接件和卡件的连接结构图；

图4为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的柔性件的连接结构图；

图5为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的推动组件的结构示意图；

图6为图5的B处的局部放大图；

图7为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的剖视图；

图8为图7的C处的局部放大图；

图9为本发明提出的一种检测用多组取样芯片围固装置的卡接件的剖视图。

在附图中：1、固定板，2、槽孔一，3、螺纹孔，4、卡件，5、限位件，6、弹性件二，7、推动组件，8、卡接件，9、卡槽，10、弹簧，11、伸缩杆，12、推板，13、柔性件，14、通气孔一，15、通气腔一，16、连通腔一，17、连通腔二，18、通气腔二，19、通气孔二，20、软管，21、挡件，22、抬板，23、下落孔，24、贯通孔，25、放置槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例；基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

如图1-图9所示，一种检测用多组取样芯片围固装置，包括上端开口且内部中空的固定板1，所述固定板1相对两侧壁对称设有槽孔一2，所述固定板1上壁对称设有多组用于固定的螺纹孔3，所述固定板1中空位置活动安装有多组用于格挡固定的卡件4，所述卡件4的两端分别活动设于槽孔一2内，所述固定板1中空位置还活动安装有多组用于格挡固定的限位件5，所述限位件5的两端分别活动设于螺纹孔3处，限位件5和卡件4呈垂直状交错放置，所述限位件5和卡件4交错放置将固定板1内部空间划分为若干组用于固定芯片样品的放置槽25，所述固定板1内部中空位置底壁安装有多组均匀排放的弹性件二6，所述弹性件二6分别设于卡件4和限位件5下端，所述卡件4内活动安装有多组用于固定芯片的推动组件7，所述卡件4外活动安装有用于限位推动组件7的卡接件8；所述限位件5上设有贯通孔24，所述贯通孔24设有多组，多组所述限位孔均贯穿限位件5设置，所述卡件4活动贯穿贯通孔24设置；所述卡件4的两端部和限位件5两端部均设有螺纹孔3，需要对卡件4进行固定时，螺栓的一端贯穿槽孔一2设于卡件4端部的螺纹孔3内，螺栓的另一端设于固定板1外，旋拧螺栓，螺栓对卡件4进行固定，需要对限位件5进行固定时，螺栓的一端贯穿限位件5上的螺纹孔3后设于固定板1上壁上的螺纹孔3内，螺栓的另一端设于固定板1外，旋拧螺栓，螺栓对限位件5进行固定；

需要说明的是，由于受到客户的要求及厂内现有打孔治具尺寸的影响，在对不合格芯片取样时，会产生不同的取样尺寸，本发明中卡件4和限位件5均能活动调节，根据样品芯片的尺寸，调节卡件4和限位件5之间的放置槽25的尺寸，以适应不用样品芯片尺寸的需求，将样品芯片放置在放置槽25中。

所述卡件4内设有卡槽9，所述推动组件7活动设于卡槽9内，所述推动组件7包括弹簧10，所述弹簧10设有多组，多组所述弹簧10的一端与卡槽9内侧壁相连，所述卡槽9内侧壁连接有伸缩杆11，所述伸缩杆11设于多组弹簧10之间，所述伸缩杆11的另一端连接有推板12，所述弹簧10的另一端与推板12相连，弹簧10为弱弹性的弹簧10，所述卡接件8活动卡接设于推板12外侧壁，卡接件8卡接在推板12外侧时，弹簧10呈压缩状态，弹簧10、伸缩杆11以及柔性件13均设于卡槽9内，同时伸缩杆11也为压缩状态。

所述推板12侧壁和卡槽9内侧壁之间连接有柔性件13，柔性件13、推板12和卡槽9之间形成密封空间，柔性件13为弹性材质，所述弹簧10和伸缩杆11均设于柔性件13内，所述卡槽9内底壁设有通气孔一14，所述卡件4底壁内设有通气腔一15，所述卡件4相对两侧壁对称设有连通腔一16，所述通气孔一14与柔性件13贯通连接，所述通气孔一14与通气腔一15贯通连接，所述通气腔一15与连通腔一16贯通连接；所述固定板1相对两侧壁对称设有连通腔二17，所述固定板1底壁内设有通气腔二18，所述固定板1底壁上设有通气孔二19，所述通气孔二19与弹性件二6贯通连接，所述通气孔二19与通气腔二18贯通连接，所述通气腔二18与连通腔二17贯通连接，所述连通腔二17与连通腔一16之间连接有软管20，软管20受外力作用时，可发生形变；

需要说明的是，柔性件13受到挤压后，内部气体通过通气孔一14进入通气腔一15内，在通过通气腔一15进入连通腔一16中；连通腔一16内的气体通过软管20进入到连通腔二17内，并通过连通腔二17进通气腔二18内，通过通气孔二19进入到弹性件二6中，未受到挤压的弹性件二6即设于放置槽25内的弹性件二6，发生形变鼓起。

所述卡接件8侧壁设有挡件21，所述挡件21靠近推板12放置，所述挡件21靠近推板12的侧壁设有倾斜结构，所述卡接件8上壁设有抬板22，卡接件8插在卡件4上后，倾斜面逐步推动推板12向卡槽9内移动，推板12挤压弹簧10和伸缩杆11压缩，直至挡件21上端设于推板12外侧壁上后，实现推板12的固定，抬板22的设置，便于将卡接件8从卡件4上取下。

所述固定板1底壁设有多组用于清洁的下落孔23，多组所述下落孔23设于弹性件二6之间，弹性件二6抬升后，其上的杂质翻滚至下落孔23处，将杂质从固定板1内排出。

具体使用如下：

在柔性电路板的生产过程中，发现有产品异常时，通过人员手动或者机台自动打孔的方式将异常样品从成品上取下来，收集分析，由于受到客户的要求及厂内现有打孔治具尺寸的影响，在对不合格芯片取样时，会产生不同的取样尺寸，根据样品芯片的尺寸，调节卡件4和限位件5之间的放置槽25的尺寸，以适应不用样品芯片尺寸的需求，调整好放置槽25尺寸后，通过螺栓分别将卡件4和限位件5进行固定：需要对卡件4进行固定时，螺栓的一端贯穿槽孔一2设于卡件4端部的螺纹孔3内，螺栓的另一端设于固定板1外，旋拧螺栓，螺栓对卡件4进行固定，需要对限位件5进行固定时，螺栓的一端贯穿限位件5上的螺纹孔3后设于固定板1上壁上的螺纹孔3内，螺栓的另一端设于固定板1外，旋拧螺栓，螺栓对限位件5进行固定；

初始时，卡接件8卡在卡件4外侧，弹簧10呈压缩状态，均设于卡槽9内，同时伸缩杆11也为压缩状态，初始时，卡接件8卡在卡件4上时，柔性件13受到挤压后，内部气体通过通气孔一14进入通气腔一15内，在通过通气腔一15进入连通腔一16中，连通腔一16内的气体通过软管20进入到连通腔二17内，并通过连通腔二17进通气腔二18内，通过通气孔二19进入到弹性件二6中，未受到挤压的弹性件二6即设于放置槽25内的弹性件二6，发生形变鼓起对样品芯片进行支撑，将取下的样品芯片放置在放置槽25内后，将卡接件8从卡件4上取下，弹簧10推动推板12向外移动，推板12带动柔性件13恢复形变，柔性件13内的压强减小，弹性件二6内的气体通过通气孔二19进入通气腔二18内，通气腔二18内的气体进入连通腔二17，连通腔二17内的气体通过软管20进入连通腔一16内，连通腔一16内的气体进入通气腔一15中，通气腔一15内的气体通过通气孔一14进入柔性件13内，样品芯片设于放置槽25内，同时推板12对样品芯片进行固定，然后依次将样品芯片放置在放置槽25中，将放置了样品芯片的固定板1设于工业显微镜工作台面上依次进行观察分析；

观察分析完后，需要将样品芯片从固定板1中取下，依次将卡接件8卡在卡件4上，卡接件8插在卡件4上后，倾斜面逐步推动推板12向卡槽9内移动，推板12挤压弹簧10和伸缩杆11压缩，直至挡件21上端设于推板12外侧壁上后，柔性件13受到挤压，柔性件13内部气体通过通气孔一14进入通气腔一15内，在通过通气腔一15进入连通腔一16中，连通腔一16内的气体通过软管20进入到连通腔二17内，并通过连通腔二17进通气腔二18内，通过通气孔二19进入到弹性件二6中，未受到挤压的弹性件二6即设于放置槽25内的弹性件二6，发生形变鼓起对样品芯片顶起，便于将样品芯片从放置槽25内取下，同时弹性件二6抬升后，其上的杂质翻滚至下落孔23处，将杂质从固定板1内排出，实现自清洁的技术效果。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种检测用多组取样芯片围固装置，包括上端开口且内部中空的固定板，所述固定板相对两侧壁对称设有槽孔一，所述固定板上壁对称设有多组用于固定的螺纹孔，其特征在于，所述固定板中空位置活动安装有多组用于格挡固定的卡件，所述卡件的两端分别活动设于槽孔一内，所述固定板中空位置还活动安装有多组用于格挡固定的限位件，所述限位件的两端分别活动设于螺纹孔处，限位件和卡件呈垂直状交错放置，所述限位件和卡件交错放置将固定板内部空间划分为若干组用于固定芯片样品的放置槽，所述固定板内部中空位置底壁安装有多组均匀排放的弹性件二，所述弹性件二分别设于卡件和限位件下端，所述卡件内活动安装有多组用于固定芯片的推动组件，所述卡件外活动安装有用于限位推动组件的卡接件。

2.根据权利要求1所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述卡件内设有卡槽，所述推动组件活动设于卡槽内，所述推动组件包括弹簧，所述弹簧设有多组，多组所述弹簧的一端与卡槽内侧壁相连，所述卡槽内侧壁连接有伸缩杆，所述伸缩杆设于多组弹簧之间，所述伸缩杆的另一端连接有推板，所述弹簧的另一端与推板相连，所述卡接件活动卡接设于推板外侧壁。

3.根据权利要求2所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述推板侧壁和卡槽内侧壁之间连接有柔性件，所述弹簧和伸缩杆均设于柔性件内，所述卡槽内底壁设有通气孔一，所述卡件底壁内设有通气腔一，所述卡件相对两侧壁对称设有连通腔一，所述通气孔一与柔性件贯通连接，所述通气孔一与通气腔一贯通连接，所述通气腔一与连通腔一贯通连接。

4.根据权利要求3所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述固定板相对两侧壁对称设有连通腔二，所述固定板底壁内设有通气腔二，所述固定板底壁上设有通气孔二，所述通气孔二与弹性件二贯通连接，所述通气孔二与通气腔二贯通连接，所述通气腔二与连通腔二贯通连接，所述连通腔二与连通腔一之间连接有软管。

5.根据权利要求4所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述卡接件侧壁设有挡件，所述挡件靠近推板放置，所述挡件靠近推板的侧壁设有倾斜结构，所述卡接件上壁设有抬板。

6.根据权利要求5所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述固定板底壁设有多组用于清洁的下落孔，多组所述下落孔设于弹性件二之间。

7.根据权利要求6所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述卡件的两端部和限位件两端部均设有螺纹孔。

8.根据权利要求7所述的一种检测用多组取样芯片围固装置，其特征在于，所述限位件上设有贯通孔，所述贯通孔设有多组，多组所述限位孔均贯穿限位件设置，所述卡件活动贯穿贯通孔设置。