CN115254690A - 一种电子器件制造用检测筛选装置 - Google Patents

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CN115254690A CN202210946867.0A CN202210946867A CN115254690A CN 115254690 A CN115254690 A CN 115254690A CN 202210946867 A CN202210946867 A CN 202210946867A CN 115254690 A CN115254690 A CN 115254690A
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    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
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Abstract

本申请公开了一种电子器件制造用检测筛选装置,属于电子器件筛选装置技术领域。一种电子器件制造用检测筛选装置,包括底座,底座外侧转动设置有移动切换台,移动切换台表面设置有多个放置盒,通过转向筛选机构的设置,在使用时,通过检测体检测后,对于不合格的电子器件,拾取后在换向筒转动上升后直接的将其放入的收集箱内部,合格的将在移动切换台进行传送输送,此过程中合格件并不进行夹持,避免了在筛选时,直接对合格件进行筛选移动而导致损坏的情况,同时相对而言,合格件较多,从而对于不合格件的剔除,提高了检测处理的效率。

Description

一种电子器件制造用检测筛选装置
技术领域
本申请涉及电子器件筛选装置技术领域,更具体地说,涉及一种电子器件制造用检测筛选装置。
背景技术
在电子器件生产过程需要进行检测筛选,保证合格率。电子器件的检测手段因电子器件的种类以及检测要求的不同而不同;在多数的电子器件制造过程中对电子器件的检测需要在生产线的一侧安装检测装置,检测装置发现有不合格品及时发出指示,然后再由工人或者机械手臂将该不合格品取下。
当采用机械手臂时,由于需要多种动作,因此可能需要复杂的驱动系统,使得整个装置的造价较高,结构也较为复杂,控制系统繁琐。
鉴于此,我们提出一种电子器件制造用检测筛选装置。
发明内容
1.要解决的技术问题
本申请的目的在于提供一种电子器件制造用检测筛选装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
2.技术方案
一种电子器件制造用检测筛选装置,包括底座,所述底座外侧转动设置有移动切换台,所述移动切换台表面设置有多个放置盒;
所述底座表面设置有收集箱,所述底座表面还设置有转向筛选机构,所述转向筛选机构外侧设置有检测体;;
所述转向筛选机构包括设置于所述底座上的立柱,所述立柱外壁套设换向筒;所述换向筒的一侧设置有升降驱动,所述升降驱动能够带动所述换向筒沿所述立柱上下移动;
所述转向筛选机构还包括转向驱动,所述转向驱动能够带动换向筒绕所述立柱转动;
所述换向筒外侧通过固定杆设置有夹持组件,当所述升降驱动带动所述换向筒向下移动时,所述夹持组件能够将所述放置盒中的器件进行夹持,并在转向驱动的作用下转至所述收集箱的一侧进行释放。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述底座圆周外壁开设有限位滑槽,所述限位滑槽与所述移动切换台滑动连接,所述底座及所述移动切换台均呈圆形结构设置。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述底座内部一侧开设有机腔,所述机腔内部设置有第一电机,所述第一电机输出轴套接有齿轮,所述齿轮设置于所述底座内的带动腔内;
所述移动切换台内侧设置有齿环,所述齿环呈环形结构设置,所述齿环与齿轮啮合连接。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述转向驱动包括固定块,所述固定块一侧滑动设置有移动轨,所述移动轨一端设置有卡块,所述卡块朝向所述换向筒的一侧设置有U型卡槽,所述幻想筒的外沿卡设在所述U型卡槽中且所述换向筒的外沿能够在所述U型卡槽中转动;
所述升降驱动包括设置在所述固定块内侧的伸缩杆,所述伸缩杆输出端与所述移动轨一端连接固定;
所述底座表面设置有限制杆,所述限制杆一端设置有限制柱,所述换向筒外壁一侧设置有限制槽,所述限制槽与限制柱滑动连接。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述移动轨呈梯形结构设置,所述固定块一侧开设有导槽,所述移动轨滑动设置在所述导槽中。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述限制槽中部呈倾斜结构设置且沿着所述换向筒外壁设置,所述限制槽两端均呈竖直线设置。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述夹持组件包括转动设置于固定杆外侧的两个夹持杆,所述夹持杆呈中心对称结构设置;
所述夹持杆一端设置有夹持块,所述夹持杆外侧设置有拉块,所述拉块外侧固定连接有弹簧;
所述换向筒一端设置有延长块,所述延长块外壁设置有至少一个顶杆,所述顶杆能够与所述夹持杆一端抵触。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述夹持块外端呈圆弧度设置。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述顶杆设置有两个,两个所述顶杆分别对应其中一个所述夹持杆一端,所述夹持杆一端呈平面结构设置。
作为本申请文件技术方案的一种可选方案,所述夹持杆外壁设置有限距槽,所述固定杆外侧设置有限距杆,所述限距槽与所述限距杆滑动连接。
3.有益效果
相比于现有技术,本申请的优点在于:
(1)本申请通过转向筛选机构的设置,在使用时,通过检测体检测后,对于不合格的电子器件,拾取后在换向筒转动上升后直接的将其放入的收集箱内部,合格的将在移动切换台进行传送输送,此过程中合格件并不进行夹持,避免了在筛选时,直接对合格件进行筛选移动而导致损坏的情况,同时相对而言,合格件较多,从而对于不合格件的剔除,提高了检测处理的效率。
(2)本申请通过该种转向驱动的设置,在使用时,会带动夹持组件下降且转向,对低处的器件进行拾取,完成后进行提升转动到收集箱顶面,进行不合格件的放置,提高了工作的连续性及效率,同时升高后进行放置,使得收集箱可以容纳更多的不合格件。
(3)本申请通过夹持组件的设置,使换向筒在下降后通过挤压即可进行打开夹取,而换向筒上升后通过顶杆的设置,进行打开放置,该夹持组件依附于转向驱动提供动力,从而实现夹持与放置,减少了设备多个动作需要多个驱动及编程衔接的弊端,提高了能源的利用率及衔接连续性。
附图说明
图1为本申请一较佳实施例中公开的电子器件制造用检测筛选装置的整体结构示意图;
图2为本申请一较佳实施例中公开的电子器件制造用检测筛选装置的底座结构剖面图;
图3为本申请一较佳实施例中公开的电子器件制造用检测筛选装置的转向筛选机构结构拆分图;
图4为本申请一较佳实施例中公开的电子器件制造用检测筛选装置的转向驱动部分结构示意图;
图5为本申请一较佳实施例中公开的电子器件制造用检测筛选装置的夹持组件结构示意图;
具体实施方式
请参阅图1-5,本申请提供一种技术方案:
一种电子器件制造用检测筛选装置,包括底座1,底座1外侧转动设置有移动切换台2,移动切换台2表面设置有多个放置盒3;
底座1表面设置有收集箱4,底座1表面还设置有转向筛选机构5,转向筛选机构5外侧设置有检测体;
转向筛选机构5包括设置于底座1上的立柱6,立柱6外壁套设有换向筒7;换向筒7的一侧设置有升降驱动,升降驱动能够带动换向筒7沿立柱6上下移动;在实际使用的过程中,升降驱动响应于检测体。
转向筛选机构5还包括转向驱动,转向驱动能够带动换向筒7转动;
换向筒7外侧通过固定杆9设置有夹持组件8。
在这种技术方案中,通过转向筛选机构5的设置,在使用时,通过检测体检测后,升降驱动响应后带动换向筒7向下移动,夹持组件能够将不合格的电子器件进行夹持,对于不合格的电子器件,拾取后在换向筒转动上升后直接的将其放入的收集箱4内部;合格的将在移动切换台2进行传送输送,此过程中合格件并不进行夹持,避免了在筛选时,直接对合格件进行筛选移动而导致损坏的情况,同时相对而言,合格件较多,从而对于不合格件的剔除,提高了检测处理的效率。
具体的,底座1圆周外壁开设有限位滑槽10,限位滑槽10与移动切换台2滑动连接,底座1及移动切换台2均呈圆形结构设置。
在这种技术方案中,使得移动切换台2可以进行圆周运动,形成生产检测链。
进一步的,底座1内部一侧开设有机腔11,机腔11内部设置有第一电机12,第一电机12输出轴套接有齿轮13,齿轮13设置于底座1内的带动腔内;
移动切换台2内侧设置有齿环15,齿环15呈环形结构设置,齿环15与齿轮13啮合连接。
在这种技术方案中,通过第一电机12输出轴转动,使得齿环15转动,可以带动移动切换台2进行运动,即使得成产检测链进行运行。
再进一步的,转向驱动包括固定块16,固定块16一侧滑动设置有移动轨17,移动轨17一端设置有卡块18,卡块18朝向换向筒的一侧设置有呈U型结构的U型卡槽,换向筒7的外沿转动设置在U型卡槽中;
固定块16内侧设置有伸缩杆,伸缩杆输出端与所述移动轨17一端连接固定;
底座1表面设置有限制杆19,限制杆19一端设置有限制柱20,换向筒7外壁一侧设置有限制槽21,限制槽21与限制柱20滑动连接。
在这种技术方案中,
更进一步的,移动轨17呈梯形结构设置,固定块16一侧开设有导槽22,导槽22与移动轨17滑动连接。
在这种技术方案中,通过该种转向驱动的设置,在使用时,会带动夹持组件8下降且转向,对低处的电子器件进行拾取,完成后进行提升转动到收集箱4顶面,进行不合格件的放置,提高了工作的连续性及效率,同时升高后进行放置,使得收集箱可以容纳更多的不合格件。
值得说明的是,限制槽21中部呈倾斜结构设置且沿着换向筒7外壁设置,限制槽21两端均呈竖直线设置。
在这种技术方案中,在换向筒7运动上升或下降换向后,会继续运动,而次运动是竖直上或下的运动,来为夹持组件8提供动力。
值得注意的是,夹持组件8包括转动设置于固定杆9外侧的两个夹持杆23,夹持杆23呈中心对称结构设置;
夹持杆23一端设置有夹持块24,夹持杆23外侧设置有拉块24,拉块24外侧固定连接有弹簧25;
换向筒7一端设置有延长块26,延长块26外壁设置有至少一个顶杆27,顶杆27与夹持杆23一端抵触;除此之外,夹持块24外端呈圆弧度设置。
在这种技术方案中,通过夹持组件8的设置,使换向筒7在下降后通过挤压待夹持的电子器件即可使得夹持块相互远离,继而在弹簧25的作用下将挤入两夹持块24之间的电子器件进行夹持,而换向筒7上升后通过顶杆的设置,进行打开放置,该夹持组件8依附于转向驱动提供动力,从而实现对不合格电子器件的夹持与放置,减少了设备多个动作需要多个驱动及编程衔接的弊端,提高了能源的利用率及衔接连续性。
除此之外,顶杆27设置有两个,两个顶杆27呈一前一后且呈斜线结构设置,两个顶杆27分别对应其中一个夹持杆23一端,夹持杆23一端呈平面结构设置。
在这种技术方案中,通过顶杆27的设置,可以同时对夹持杆23进行抵触,从而使夹持杆23打开,放置。
除此之外,夹持杆23外壁设置有限距槽28,固定杆9外侧设置有限距杆14,限距槽28与限距杆14滑动连接。
在这种技术方案中,限距槽28的设置,有效的限制了夹持杆23开合的角度大小。
当需要该电子器件制造用检测筛选装置时,首先,将需要检测的电子器件放置到放置盒3内,此时,通过控制器驱动第一电机12带动其输出轴上的齿轮13转动,从而带动了齿环15上的移动切换台2进行转动,此时,通过底座1上的检测体,对当前的放置盒3内的电子器件进行检测;
当遇到不合格的时,驱动固定块16内的伸缩杆伸缩,带动移动轨17下降,此时卡块18带动换向筒7下降,此时由于固定杆19上限制柱20在换向筒7上的限制槽21内滑动,此时,换向筒7在下降的同时,会沿着限制槽21的方向转动,此时,夹持块24转向下降到收集箱4内,到达限制槽21的直线处时,夹持块24垂直下降施加压力,此时,夹持块24由于与电子器件的使得电子器件挤入两夹持块24之间,之后在弹簧25的作用下将两夹持块24之间的电子器件进行夹持;
此时,固定块16内的伸缩杆伸长,此时换向筒7转动换向且上升,此时在电子器件在收集箱4的上方,当到达限制槽21上侧的直线处时,换向筒随后呈直线移动,直至顶杆27压紧两个夹持杆23端部,从而使得两个夹持块24打开,将电子器件放置到收集箱4内部,以便后续对不合格的电子器件进行集中处理。

Claims (10)

1.一种电子器件制造用检测筛选装置,包括底座,其特征在于:所述底座外侧转动设置有移动切换台,所述移动切换台表面设置有多个放置盒;
所述底座表面设置有收集箱,所述底座表面还设置有转向筛选机构,所述转向筛选机构外侧设置有检测体;
所述转向筛选机构包括设置于所述底座上的立柱,所述立柱外壁套设换向筒;所述换向筒的一侧设置有升降驱动,所述升降驱动能够带动所述换向筒沿所述立柱上下移动;
所述转向筛选机构还包括转向驱动,所述转向驱动能够带动换向筒绕所述立柱转动;
所述换向筒外侧通过固定杆设置有夹持组件,当所述升降驱动带动所述换向筒向下移动时,所述夹持组件能够将所述放置盒中的电子器件进行夹持,并在转向驱动的作用下转至所述收集箱的一侧进行释放。
2.根据权利要求1所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述底座圆周外壁开设有限位滑槽,所述限位滑槽与所述移动切换台滑动连接,所述底座及所述移动切换台均呈圆形结构设置。
3.根据权利要求1所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述底座内部一侧开设有机腔,所述机腔内部设置有第一电机,所述第一电机输出轴套接有齿轮,所述齿轮设置于所述底座内的带动腔内;
所述移动切换台内侧设置有齿环,所述齿环与齿轮啮合连接。
4.根据权利要求1所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述转向驱动包括固定块,所述固定块一侧滑动设置有移动轨,所述移动轨一端设置有卡块,所述卡块朝向所述换向筒的一侧设置有U型卡槽,所述幻想筒的外沿卡设在所述U型卡槽中且所述换向筒的外沿能够在所述U型卡槽中转动;
所述升降驱动包括设置在所述固定块内侧的伸缩杆,所述伸缩杆输出端与所述移动轨一端连接固定;
所述底座表面设置有限制杆,所述限制杆一端设置有限制柱,所述换向筒外壁一侧设置有限制槽,所述限制槽与限制柱滑动连接。
5.根据权利要求4所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述移动轨呈梯形结构设置,所述固定块一侧开设有导槽,所述移动轨滑动设置在所述导槽中。
6.根据权利要求4所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述限制槽中部呈倾斜结构设置且沿着所述换向筒外壁设置,所述限制槽两端均呈竖直线设置。
7.根据权利要求1所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述夹持组件包括转动设置于固定杆外侧的两个夹持杆,所述夹持杆呈中心对称结构设置;
所述夹持杆一端设置有夹持块,所述夹持杆外侧设置有拉块,所述拉块外侧固定连接有弹簧;
所述换向筒一端设置有延长块,所述延长块外壁设置有至少一个顶杆,所述顶杆能够与所述夹持杆一端抵触。
8.根据权利要求7所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述夹持块外端呈圆弧度设置。
9.根据权利要求7所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述顶杆设置有两个,两个所述顶杆分别对应其中一个所述夹持杆一端,所述夹持杆一端呈平面结构设置。
10.根据权利要求7所述的电子器件制造用检测筛选装置,其特征在于:所述夹持杆外壁设置有限距槽,所述固定杆外侧设置有限距杆,所述限距槽与所述限距杆滑动连接。
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