CN114527302A - 一种cpci测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种CPCI测试夹具。该夹具通过PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中,PCB安装在壳体底部,CPCI总线连接单元装配在PCB上,J30J连接器单元装配在壳体的侧面,且显露在壳体侧面外部,通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机;CPCI总线连接单元的输入端连接被测产品,输出端连接J30J连接器单元。本发明将主机的CPCI总线扩展至主机外部,与主机通过线缆连接,板卡插入夹具的CPCI插槽测试,避免了反复插拔对主机造成的损害,既方便又提高了测试效率;CPCI测试夹具设置电源开关,这样在不关闭主机电源的情况下即可更换板卡,提高了测试效率及测试可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及CPCI总线板卡测试设备,具体涉及一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。
背景技术
CPCI总线板卡设计和生产过程中需要对其进行调试,目前大多数的CPCI板卡测试都是将板卡插入主机CPCI插槽中进行测试,这样测试存在以下几个问题:
1、CPCI板卡多次插拔容易损坏主机CPCI插槽,轻则造成可靠性降低,重则使CPCI主机彻底报废。2、CPCI板卡插入主机测试为黑盒测试模式,不能直观观察板卡上设计的指示状态,同时也不能通过万用表及示波器等辅助调测。3、CPCI板卡插入主机测试不方便对故障板卡飞线测试。4、CPCI板卡插入主机测试在更换板卡时需要将主机彻底关机,对测试效率造成很大影响。
发明内容
鉴于以上现有技术存在的问题,本发明提供一种用于CPCI信号转接的CPCI测试夹具。
本发明采取的技术方案是:一种CPCI测试夹具,所述CPCI测试夹具通过测试夹具PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中,用于CPCI信号的转接;其中,所述测试夹具PCB安装在壳体底部,所述CPCI总线连接单元装配在测试夹具PCB上,所述J30J连接器单元装配在壳体的侧面,且显露在壳体侧面外部,用于连接外部的J30J连接器,通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机;同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元输入端连接被测产品,CPCI总线连接单元输出端通过测试夹具PCB连接J30J连接器单元。
所述J30J连接器单元包括六个连接器,分别为:两个型号均为J30J-66ZKW的连接器J1-1、连接器J1-2;两个型号均为J30J-74ZKW的连接器J2-1、连接器J2-2;两个型号均为J30J-100ZKW的连接器J3-1、连接器J3-2。
所述CPCI总线连接单元包括四个连接器,分别为:CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器,每个连接器分为五个区域,CPCI_P1连接器的五个区域分别为:P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域;CPCI_P2连接器的五个区域分别为:P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域;CPCI2_P1连接器的五个区域分别为:P2-1B、P2-1C、P2-1D、P2-1E、P2-1F区域;CPCI2_P2连接器的五个区域分别为:P2-2B、P2-2C、P2-2D、P2-2E、P2-2F区域;共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。
所述CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1-1的第1-A1至1-A25管脚;P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-1的第1-B1至1-B25管脚;P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-1的第1-C1至1-C25管脚;P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-1的第1-D1至1-D25管脚;P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2-1的第1-E1至1-E25管脚。
所述CPCI_P2连接器P2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3-1的第2-A1至2-A22管脚;P2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-1的第2-B1至2-B22管脚;P2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-1的第2-C1至2-C22管脚;P2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-1的第2-D1至2-D22管脚;P2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-1的第2-E1至2-E17管脚;P2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-1的第2-E18至2-E22管脚。
所述CPCI2_P1连接器P2-1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1-2的第2.1-A1管脚至第2.1-A25管脚;P2-1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-B1管脚至2.1-B25管脚;P2-1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-C1管脚至2.1-C25管脚;P2-1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-D1管脚至2.1-D25管脚;P2-1F区域的第e1管脚至e25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-E1管脚至2.1-E25管脚。
所述CPCI2_P2连接器P2-2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3-2的第2.2-A1管脚至第2.2-A22管脚;P2-2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-B1管脚至2.2-B22管脚;P2-2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-C1管脚至2.2-C22管脚;P2-2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-D1管脚至2.2-D22管脚;P2-2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-2的第2.2-E1管脚至2.2-E17管脚;P2-2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-E18管脚至2.2-E22管脚。
所述CPCI测试夹具壳体的外侧面设有电源开关。
所述CPCI测试夹具壳体内侧面安装有换气扇。
本发明所产生的有益效果是:
1、CPCI测试夹具将CPCI主机的CPCI总线扩展至主机外部,CPCI测试夹具与CPCI主机通过线缆连接,板卡插入测试夹具的CPCI插槽测试,避免了反复插拔对CPCI主机造成的损害,既方便又提高了测试效率。
2、CPCI板卡在测试夹具中测试为开放模式,可以直观观察板卡设计的指示状态,并可通过万用表、示波器等仪器辅助调测。
3、CPCI板卡在测试夹具中测试可以非常方便地对故障板卡进行飞线测试。
4、CPCI测试夹具设置电源开关,这样在不关闭主机电源的情况下即可更换板卡,提高了测试效率及测试可靠性。
附图说明
图1为 CPCI测试夹具系统组成框图;
图2为图1中J30J连接单元的连接器J1-1原理图;
图3为图1中J30J连接单元的连接器J2-1原理图;
图4为图1中J30J连接单元的连接器J3-1原理图;
图5为图1中J30J连接单元的连接器J1-2原理图;
图6为图1中J30J连接单元的连接器J2-2原理图;
图7为图1中J30J连接单元的连接器J3-2原理图;
图8为图1中CPCI总线连接单元的CPCI_P1连接器原理图;
图9为图1中CPCI总线连接单元的CPCI_P2连接器原理图;
图10为图1中CPCI总线连接单元的CPCI2_P1连接器原理图;
图11为图1中CPCI总线连接单元的CPCI2_P2连接器原理图;
图12为CPCI测试夹具结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明作进一步说明:
如图1、图12所示:CPCI测试夹具通过测试夹具PCB 3将J30J连接器单元1和CPCI总线连接单元2集成在壳体5中,用于CPCI信号的转接;其中,测试夹具PCB 3安装在壳体5底部,CPCI总线连接单元2装配在测试夹具PCB 3上,J30J连接器单元1装配在壳体5的侧面,且显露出壳体5侧面外部(如图12所示),用于连接接外部的J30J连接器,通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机(如图1所示);同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元2的输入端连接被测产品,CPCI总线连接单元2的输出端通过测试夹具PCB3连接J30J连接器单元1。
如图2至图7所示,J30J连接器单元包括六个连接器,分别为:两个型号均为J30J-66ZKW的连接器J1-1、连接器J1-2;两个型号均为J30J-74ZKW的连接器J2-1、连接器J2-2;两个型号均为J30J-100ZKW的连接器J3-1、连接器J3-2。
如图8至图11所示,CPCI总线连接单元包括四个连接器,分别为:CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器,每个连接器分为五个区域,CPCI_P1连接器的五个区域分别为:P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域;CPCI_P2连接器的五个区域分别为:P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域;CPCI2_P1连接器的五个区域分别为:P2-1B、P2-1C、P2-1D、P2-1E、P2-1F区域;CPCI2_P2连接器的五个区域分别为:P2-2B、P2-2C、P2-2D、P2-2E、P2-2F区域;共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。
如图2、图3、图8所示,CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接连接器J1-1的第1-A1至1-A25管脚;P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-1的第1-B1至1-B25管脚;P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-1的第1-C1至1-C25管脚;P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-1的第1-D1至1-D25管脚;P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2-1的第1-E1至1-E25管脚。
如图3、图4、图9所示,CPCI_P2连接器P2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接连接器J3-1的第2-A1至2-A22管脚;P2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-1的第2-B1至2-B22管脚;P2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-1的第2-C1至2-C22管脚;P2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-1的第2-D1至2-D22管脚;P2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-1的第2-E1至2-E17管脚;P2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-1的第2-E18至2-E22管脚。
如图5、图6、图10所示,CPCI2_P1连接器P2-1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-A1管脚至第2.1-A25管脚;P2-1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-B1管脚至2.1-B25管脚;P2-1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-C1管脚至2.1-C25管脚;P2-1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-D1管脚至2.1-D25管脚;P2-1F区域的第e1管脚至e25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-E1管脚至2.1-E25管脚。
如图6、图7、图11所示,CPCI2_P2连接器P2-2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-A1管脚至第2.2-A22管脚;P2-2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-B1管脚至2.2-B22管脚;P2-2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-C1管脚至2.2-C22管脚;P2-2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-D1管脚至2.2-D22管脚;P2-2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-2的第2.2-E1管脚至2.2-E17管脚;P2-2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-E18管脚至2.2-E22管脚。
如图12所示,显露在CPCI测试夹具壳体5的同一外侧面还设有电源开关4,在壳体5的另一内侧面安装有两台换气扇6,由此既提高了测试效率,又保证测试的可靠性。
应用本发明,对于CPCI主机需要进行改造,将CPCI总线信号通过CPCI总线连接器至J30J连接器线缆引出到主机面板,从而与CPCI测试夹具连接,连接定义和本CPCI测试夹具一致。CPCI测试夹具的组成如图1所示。设备通过测试夹具PCB将J30J连接器及CPCI总线连接器集成在一起,实现CPCI信号的转接。J30J连接器的功能为转接CPCI信号,连接器显露在测试夹具外部,通过线缆实现与CPCI主机的总线连接;CPCI总线连接器选用标准CPCI背板连接器,被测试的CPCI板卡或设备通过CPCI总线连接器接入CPCI测试夹具。
J30J连接器单元:将CPCI信号转接出来,实现与CPCI主机的连接。J30J连接器选用三个型号连接器,分别为:J30J-66ZKW(J1-1、J1-2)、J30J-74ZKW(J2-1、J2-2)及J30J-100ZKW9(J3-1、J3-2),三个型号连接器可以实现防插错,连接器形式为弯插PCB板载连接器。电路原理如图2至图7所示。
CPCI总线连接单元:与J30J连接单元信号一一连接,通过CPCI标准背板连接器将信号引出,连接至被测板卡或设备。电路原理如图8至图11所示。
其中,连接器J1-1、连接器J2-1中的1-A1~1-A25、1-B1~1-B25、1-C1~1-C25、1-D1~1-D25、1-E1~1-E25管脚为CPCI总线第1路P1接口信号,连接连接器J2-1、连接器J3-1中的2-A1~2-A22、2-B1~2-B22、2-C1~2-C22、2-D1~2-D22、2-E1~2-E22管脚为CPCI总线第1路P2接口信号;连接器J1-1、连接器J2-1中的1-A15、1-A17、1-A19、1-A21、1-A23、1-C6、1-C10、1-C22、1-D25管脚为CPCI总线标准中+3.3V电源信号,处于同一网络中;连接器J1-1、连接器J2-1中的1-A1、1-A25、1-B2、1-B24、1-D3、1-D23、1-E1、1-E25管脚为CPCI总线标准中+5V电源信号,处于同一网络中。
连接器J1-2、连接器J2-2中的2.1-A1~2.1-A25、2.1-B1~2.1-B25、2.1-C1~2.1-C25、2.1-D1~2.1-D25、2.1-E1~2.1-E25管脚为CPCI总线第2路P1接口信号;连接器J2-2、连接器J3-2中的2.2-A1~2.2-A22、2.2-B1~2.2-B22、2.2-C1~2.2-C22、2.2-D1~2.2-D22、2.2-E1~2.2-E22管脚为CPCI总线第2路P2接口信号;连接器J1-2、连接器J2-2中的2.1-A15、2.1-A17、2.1-A19、2.1-A21、2.1-A23、2.1-C6、2.1-C10、2.1-C22、2.1-D25为CPCI总线标准中+3.3V电源信号,处于同一网络中;连接器J1-2、连接器J2-2中的2.1-A1、2.1-A25、2.1-B2、2.1-B24、2.1-D3、2.1-D23、2.1-E1、2.1-E25为CPCI总线标准中+5V电源信号,处于同一网络中。
当使用连接线缆将CPCI测试夹具与CPCI主机连接后,即与CPCI主机的CPCI总线建立连接,CPCI测试夹具中CPCI总线连接单元的CPCI连接器与CPCI主机一致,信号也一致,这样就可以将CPCI总线接口扩展至CPCI主机外部,进行CPCI板卡或设备的测试。
Claims (5)
1.一种CPCI测试夹具,其特征在于,所述CPCI测试夹具通过测试夹具PCB将J30J连接器单元和CPCI总线连接单元集成在壳体中,用于CPCI信号的转接;其中,所述测试夹具PCB安装在壳体底部,所述CPCI总线连接单元装配在测试夹具PCB上,所述J30J连接器单元装配在壳体的侧面,且显露在壳体侧面外部,用于连接外部的J30J连接器,通过外部的J30J连接器连接至CPCI主机;同时CPCI测试夹具中的CPCI总线连接单元的输入端连接被测产品,CPCI总线连接单元的输出端通过测试夹具PCB连接J30J连接器单元。
2.根据权利要求1所述的一种CPCI测试夹具,其特征在于,所述J30J连接器单元包括六个连接器,分别为:两个型号均为J30J-66ZKW的连接器J1-1、连接器J1-2;两个型号均为J30J-74ZKW的连接器J2-1、连接器J2-2;两个型号均为J30J-100ZKW的连接器J3-1、连接器J3-2;
所述CPCI总线连接单元包括四个连接器,分别为:CPCI_P1连接器、CPCI_P2连接器、CPCI2_P1连接器、CPCI2_P2连接器,每个连接器分为五个区域,CPCI_P1连接器的五个区域分别为:P1B、P1C、P1D、P1E、P1F区域;CPCI_P2连接器的五个区域分别为:P2B、P2C、P2D、P2E、P2F区域;CPCI2_P1连接器的五个区域分别为:P2-1B、P2-1C、P2-1D、P2-1E、P2-1F区域;CPCI2_P2连接器的五个区域分别为:P2-2B、P2-2C、P2-2D、P2-2E、P2-2F区域;共二十个区域分别连接所述J30J连接器单元的六个连接器。
3.根据权利要求2所述的一种CPCI测试夹具,其特征在于,所述CPCI_P1连接器P1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1-1的第1-A1至1-A25管脚;P1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-1的第1-B1至1-B25管脚;P1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-1的第1-C1至1-C25管脚;P1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-1的第1-D1至1-D25管脚;P1F区域的第e1管脚至第e25管脚分别连接连接器J2-1的第1-E1至1-E25管脚;
所述CPCI_P2连接器P2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3-1的第2-A1至2-A22管脚;P2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-1的第2-B1至2-B22管脚;P2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-1的第2-C1至2-C22管脚;P2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-1的第2-D1至2-D22管脚;P2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-1的第2-E1至2-E17管脚;P2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-1的第2-E18至2-E22管脚;
所述CPCI2_P1连接器P2-1B区域的第a1管脚至a25管脚分别连接所述连接器J1-2的第2.1-A1管脚至第2.1-A25管脚;P2-1C区域的第b1管脚至b25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-B1管脚至2.1-B25管脚;P2-1D区域的第c1管脚至c25管脚分别连接连接器J1-2的第2.1-C1管脚至2.1-C25管脚;P2-1E区域的第d1管脚至d25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-D1管脚至2.1-D25管脚;P2-1F区域的第e1管脚至e25管脚分别连接连接器J2-2的第2.1-E1管脚至2.1-E25管脚;
所述CPCI2_P2连接器P2-2B区域的第a1管脚至a22管脚分别连接所述连接器J3-2的第2.2-A1管脚至第2.2-A22管脚;P2-2C区域的第b1管脚至b22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-B1管脚至2.2-B22管脚;P2-2D区域的第c1管脚至c22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-C1管脚至2.2-C22管脚;P2-2E区域的第d1管脚至d22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-D1管脚至2.2-D22管脚;P2-2F区域的第e1管脚至e17管脚分别连接连接器J2-2的第2.2-E1管脚至2.2-E17管脚;P2-2F区域的第e18管脚至e22管脚分别连接连接器J3-2的第2.2-E18管脚至2.2-E22管脚。
4.根据权利要求1所述的一种CPCI测试夹具,其特征在于,所述CPCI测试夹具壳体的外侧面设有电源开关。
5.根据权利要求1所述的一种CPCI测试夹具,其特征在于,所述CPCI测试夹具壳体内侧面安装有换气扇。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202210192411.XA CN114527302A (zh) | 2022-03-01 | 2022-03-01 | 一种cpci测试夹具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210192411.XA CN114527302A (zh) | 2022-03-01 | 2022-03-01 | 一种cpci测试夹具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN114527302A true CN114527302A (zh) | 2022-05-24 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210192411.XA Pending CN114527302A (zh) | 2022-03-01 | 2022-03-01 | 一种cpci测试夹具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN114527302A (zh) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN201069567Y (zh) * | 2007-07-23 | 2008-06-04 | 中国科学院计算技术研究所 | 一种用于工控计算机板卡调试的底板装置 |
| CN202126450U (zh) * | 2011-07-07 | 2012-01-25 | 天津光电聚能专用通信设备有限公司 | 一种cpci板卡设备试验台 |
| CN205038638U (zh) * | 2015-08-26 | 2016-02-17 | 华北水利水电大学 | 一种cpci、pxi总线转接卡装置 |
| CN109406838A (zh) * | 2018-11-07 | 2019-03-01 | 沈阳兴华航空电器有限责任公司 | 一种板卡检测机箱 |
| CN209086385U (zh) * | 2018-08-24 | 2019-07-09 | 新津腾华智控科技有限公司 | 一种板卡测试仪 |
| CN217739231U (zh) * | 2022-03-01 | 2022-11-04 | 天津可宏振星科技有限公司 | Cpci测试夹具 |
-
2022
- 2022-03-01 CN CN202210192411.XA patent/CN114527302A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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