CN114383477B - 一种弹体装药底隙模拟方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种弹体装药底隙模拟方法,满足某型号弹体注装药工艺要求该产品注装药后在弹体底部不允许存在的一定厚度的间隙,为保证注装药质量,确定X光对该种弹药底部间隙的实际检测能力。该方法为在下弹体上端面处放入已知厚度的铜垫片,再将上弹体与炸药柱放入下弹体中模拟某型弹体注装药后的底隙,通过更换已知厚度铜垫片来确定X光可检测出该型弹体底隙的实际大小。

Description

一种弹体装药底隙模拟方法
技术领域
本发明属于无损检测领域,涉及一种X射线检测弹体装药底隙能力的方法
背景技术
某种弹体装药后为保证装药质量,常采用X射线成像检测的方式来对其内部缺陷进行识别。其中,底隙缺陷的大小对弹药发射安全性至关重要。X射线检测能力需要依靠可识别某一规格像质计的尺寸来确定。
采用像质计验证X射线检测装药底隙能力的缺点:底隙缺陷属于面积型缺陷,其存在于弹体底部,受弹体底部形状和装药种类限制等因素影响,同时像质计所表达的灵敏度为相对灵敏度无法真实的反应X射线对弹药底部间隙的实际检测能力。
发明内容
本发明提供一种弹体装药底隙模拟方法,满足某型号弹体注装药工艺要求该产品注装药后在弹体底部不允许存在(0.38毫米)一定厚度的间隙,为保证注装药质量,确定X光对该种弹药底部间隙的实际检测能力。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
一种弹体装药底隙模拟方法,其特征在于,该方法包括下述内容:通过将下弹体2内壁涂抹润滑油后与上弹体1组合,通过其内注入炸药,来模拟弹体内的炸药;待弹体内炸药固化后将上弹体1与固化后的炸药4一同取出,清理上弹体1下端面残药与下弹体2上端面残余炸药;在下弹体2上端面处放入已知厚度的铜垫片3;再将上弹体1与炸药柱4放入下弹体中模拟弹体注装药后的底隙;更换已知厚度铜垫片3;确定X光可检测出该型弹体底隙时的放置的已知厚度铜垫片3的厚度,该厚度即为X光可检测出实际测量水平。
进一步地,上弹体用于固定药柱,与下弹体组成装配弹体,注入炸药固化后成为一体,可与药柱一同取出。
进一步地,下弹体:模拟某型弹体底部实际形状,与上弹体组成装配弹体,注入炸药后,保证炸药成型;通过在上下弹体之间增加不同厚度的铜垫片,来模拟某型号弹药底隙的实际大小。
本发明的有益效果:
该模拟方法可模拟某种弹药的底部实际状态,通过更换不同规格铜垫片,来确定X光成像检测方法对弹药底部间隙的实际测量水平。
附图说明
图1为本发明的主视图
图中,1-上弹体;2-下弹体;3-铜垫片;4-炸药
具体实施方式
该装药底隙模拟方法,包括上弹体1、下弹体2、铜垫片3、炸药4。
上弹体1:固定药柱,与下弹体组成装配弹体,注入炸药固化后成为一体,可与药柱一同取出。
下弹体2:模拟某型弹体底部实际形状,与上弹体组成装配弹体,注入炸药后,保证炸药成型;通过在上下弹体之间增加不同厚度的铜垫片,来模拟某型号弹药底隙的实际大小。
铜垫片3:测量铜片的厚度来确定模拟底隙的实际大小。
炸药4:某型弹体实际装填物。
该装药底隙模拟方法通过将下弹体2内壁涂抹润滑油后与上弹体1组合,注入炸药,来模拟某型弹体注药。待弹体内炸药固化后将上弹体1与固化后的炸药4一同取出,清理上弹体1下端面残药与下弹体2上端面残余炸药。在下弹体2上端面处放入已知厚度的铜垫片3,再将上弹体1与炸药柱4放入下弹体中模拟某型弹体注装药后的底隙,通过更换已知厚度铜垫片3来确定X光可检测出该型弹体底隙的实际大小。

Claims (3)

1.一种弹体装药底隙模拟方法,其特征在于,该方法包括下述内容:
通过将下弹体内壁涂抹润滑油后与上弹体组合,通过弹体内注入炸药,来模拟弹体内的炸药;
待弹体内炸药固化后将上弹体与固化后的炸药一同取出,清理上弹体下端面残余炸药与下弹体上端面残余炸药;
在下弹体上端面处放入已知厚度的铜垫片;
再将上弹体与炸药柱放入下弹体中模拟弹体装药后的底隙;
更换已知厚度铜垫片;
确定X光检测出弹体底隙时的放置的已知厚度铜垫片的厚度,该厚度即为X光检测出实际测量水平。
2.根据权利要求1所述的一种弹体装药底隙模拟方法,其特征在于,其中,上弹体用于固定药柱,与下弹体组成装配弹体,注入炸药固化后成为一体,与药柱一同取出。
3.根据权利要求1所述的一种弹体装药底隙模拟方法,其特征在于,其中,下弹体:模拟弹体底部实际形状,与上弹体组成装配弹体,注入炸药后,保证炸药成型;通过在上下弹体之间更换不同厚度的铜垫片,来模拟弹药底隙的实际大小。
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