CN114325162B - 一种光耦合器检测装置及其方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种光耦合器检测装置及其方法，其包括安装板和固定安装于安装板的一侧的料轨，料轨内部设置有至少两个电路板，电路板沿料轨的长度方向间隔设置，电路板嵌设于安装板，电路板远离安装板的一侧安装有与光耦合器的引脚数量相等的导电片，每一电路板位于工序下游的一侧设置有第一支撑板，第一支撑板伸缩安装于安装板，导电片相对设置有压板，压板安装有用于控制压板靠近或远离电路板的移动机构，电路板所在工序的上游设置有放料机构，料轨位于工序的下游的一端设置有回收机构。本申请具有降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现的效果。

Description

一种光耦合器检测装置及其方法

技术领域

本申请涉及元器件检测设备的领域，尤其是涉及一种光耦合器检测装置及其方法。

背景技术

光耦合器，亦称光电耦合元件或光隔离器以及光电隔离器。光耦合器检测装置是一种用于检测光耦合器优劣的设备。

如图1所示，光耦合器包括本体和安装于本体的四个引脚，引脚呈近似Z型。相关技术公开一种光耦合器检测装置，包括安装板和安装于安装板的料轨，料轨沿工序的上游至下游依次设置有放料机构、检测机构和回收机构，检测机构包括电路板、两根左压杆和两根右压杆，左压杆和右压杆均与电路板电性连接。料轨两侧均开设有供左压杆和右压杆穿设的通孔，放料机构将光耦合器放出，光耦合器沿料轨向下滑动。在光耦合器到达检测机构时，两根左压杆和两根右压杆均从通孔伸入料轨内部，从而挤压光耦合器的四个引脚。通过光耦合器的四个引脚一一对应与两根左压杆和两根右压杆接触，从而检测光耦合器的好坏。之后回收机构回收好的光耦合器。

针对上述中的相关技术，发明人认为两根左压杆和两根右压杆在挤压四个引脚时，为了确保与引脚接触的可靠性。两根左压杆和两根右压杆均在触碰到引脚后继续向光耦合器伸出一段长度，从而可能造成光耦合器的引脚弯曲损坏。

发明内容

为了降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现，本申请提供一种光耦合器检测装置。

本申请提供的一种光耦合器检测装置，采用如下的技术方案：

一种光耦合器检测装置，包括安装板和固定安装于安装板的一侧的料轨，所述料轨内部设置有至少两个电路板，所述电路板沿料轨的长度方向间隔设置，所述电路板嵌设于安装板，所述电路板远离安装板的一侧安装有与光耦合器的引脚数量相等的导电片，每一所述电路板位于工序下游的一侧设置有第一支撑板，所述第一支撑板伸缩安装于安装板，所述导电片相对设置有压板，所述压板安装有用于控制压板靠近或远离电路板的移动机构，所述电路板所在工序的上游设置有放料机构，所述料轨位于工序的下游的一端设置有回收机构。

通过采用上述技术方案，第一支撑板由下至少依次伸出，在一个第一支撑板伸出后，放料机构放出一个光耦合器。在光耦合器落在第一支撑板后，移动机构控制压板向电路板移动，同时另一个第一支撑板伸出。压板向电路板移动时，压板压住光耦合器的引脚，从而带动光耦合器向电路板移动。在光耦合器的引脚与导电片接触后，从而完成对光耦合器的检测。通过挤压光耦合器的引脚从而带动光耦合器移动完成检测，这有利于降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现。

光耦合器检测完成后，第一支撑板缩回安装板，光耦合器从料轨掉入回收机构，回收机构根据从料轨掉落的光耦合器进行分类后回收。在所有光耦合器检测完成后，所有第一支撑板缩回安装板，之后进行下一次的检测。电路板至少有两个，这有利于提高每次检测的光耦合器的数量，从而提高检测速度。

可选的，所述移动机构包括第一轴承、第一连接杆和第二连接杆，所述第一连接杆伸缩安装于安装板，所述第一轴承固定套设于第一连接杆，所述第一轴承位于安装板远离料轨的一侧，所述第二连接杆的一端与第一轴承的外壁固定连接，所述第二连接杆的另一端与压板固定连接，所述料轨的开设有供第二连接杆移动的滑口。

通过采用上述技术方案，第一连接杆从安装板伸出，从而带动第二连接杆沿滑口向远离安装板的一侧滑动，压板随第二连接杆的移动而远离电路板；第一连接杆缩回安装板，从而带动第二连接杆沿滑口向安装板移动，压板随第二连接杆的移动而靠近电路板，从而实现压板靠近或远离电路板。

可选的，每一所述第一连接杆均套设有第二轴承，每一所述第一连接杆均螺纹套设有第一齿轮，所述第二轴承和第一齿轮均位于安装板远离料轨的一侧，所述第一齿轮固定安装于第二轴承的外圈，所述第二轴承的内圈固定安装于安装板，位于同一所述电路板的每一所述第一齿轮之间啮合有传动链，所述传动链啮合有第二齿轮，所述安装板安装有电机，所述电机的旋转轴与第二齿轮同轴连接。

通过采用上述技术方案，启动电机，电机的旋转轴朝向一个方向转动，第二齿轮随电机的旋转轴转动，从而带动传动链传动。传动链带动第一齿轮进行转动，从而使第一连接杆从安装板伸出。电机的旋转轴朝向另一个方向转动，第一连接缩回安装板。这有利于第一连接杆从安装板伸出或缩回安装板。

可选的，所述电路板的两侧均设置有撑块，所述撑块伸缩安装于安装板，所述撑块的厚度由靠近料轨一侧向另一侧逐渐减小。

通过采用上述技术方案，在压板带动光耦合器向电路板移动时，撑块从安装板伸出。撑块沿料轨长度方向的长度最小的一侧先穿过光耦合器一侧的两个引脚之间，之后撑块穿过两个引脚之间的部分逐渐增大，从而撑开光耦合器的引脚与导电片对齐，这有利于降低光耦合器的引脚弯曲而与导电片错位的情况出现。

可选的，所述撑块远离料轨的一侧转动安装有第三连接杆，所述第三连接杆套设有第三轴承，所述第三连接杆螺纹套设有第三齿轮，所述第三齿轮固定安装于第三轴承的外圈，所述第三轴承的内圈固定安装于安装板，所述第三齿轮与第一齿轮啮合，所述第三连接杆的伸缩方向与第一连接杆的伸缩方向相反。

通过采用上述技术方案，启动电机，电机的旋转轴朝向一个方向转动，第二齿轮随电机的旋转轴转动，从而带动传动链传动。传动链带动第一齿轮和第三齿轮转动，从而使第一连接杆从安装板伸出，第三连接杆缩回安装板，第三连接杆带动撑块缩回安装板。电机的旋转轴朝另一个方向转动，第一连接杆缩回安装板，第三连接杆从安装板伸出，第三连接杆带动撑块从安装板伸出或缩回安装板。这样压块向电路板移动时，撑块从安装板伸出；压块远离电路板时，撑块缩回安装板。

可选的，所述料轨包括第一挡板和相对设置的两个第二挡板，所述第二挡板的一侧固定安装于安装板，所述第二挡板的另一侧与第二挡板固定连接，所述第二挡板沿料轨的长度方向开设有观察口。

通过采用上述技术方案，通过观察口观察料轨内部光耦合器的掉落是否顺畅。若光耦合器在料轨内部发生倾斜而卡住时，可从观察口将卡住的光耦合器摆正，从而让光耦合器正常下落。

可选的，所述第一挡板靠近安装板的一侧固定安装有两个导向板，两个所述导向板相对设置。

通过采用上述技术方案，光耦合器在料轨内部移动时，光耦合器的本体在两个导向板之间移动，从而降低光耦合器的引脚与第二挡板接触的情况出现。

可选的，所述放料机构包括第二支撑板和压杆，所述第二支撑板和压杆均伸缩于安装板，所述压杆位于第二支撑板所在的工序的上游。

通过采用上述技术方案，第二支撑板从安装板伸出，将待检测的光耦合器放入料轨内部，第二支撑板阻挡光耦合器下落。位于最下方的光耦合器抵贴于第二支撑板，与最下方的光耦合器抵贴的另一个光耦合器被压杆压在料轨上。在需要放光耦合器时，第二支撑板缩回安装板，位于最下方的管耦合器掉落到第一支撑板。之后第二支撑板从安装板伸出，压杆缩回安装板，待检测的光耦合器向下移动抵贴于第二支撑板。压杆重新从安装板伸出，将光耦合器压在料轨上。

可选的，所述回收机构包括无杆气缸和多个回收筒，所述无杆气缸固定安装于安装板，每一所述回收筒均安装于无杆气缸，所述无杆气缸的滑移方向与料轨的长度方向垂直。

通过采用上述技术方案，光耦合器在检测完后，根据光耦合器的检测结果，无杆气缸带动相应的回收筒移动到料轨的出料端，从而完成对光耦合器的分类回收。

本申请提供的一种光耦合器检测装置，采用如下的技术方案：

一种光耦合器检测方法，通过上述光耦合器检测装置实现，包括以下步骤：

S1：由料轨顶端添加待检测光耦合器；

S2：第一支撑板由下往上依次伸出，每伸出一个第一支撑板，放料机构放出一个待检测光耦合器；

S3：在待检测光耦合器掉入第一支撑板后，推动光耦合器向电路板移动，引脚与导电片接触后，光耦合器检测完成；

S4：停止推动光耦合器，同时第一支撑板缩回安装板，已检测光耦合器掉入回收机构，回收机构对已检测光耦合器进行分类回收；

S5：在全部第一支撑板由下至上依次缩回安装板后，光耦合器检测装置完成一次检测。

通过采用上述技术方案，在下方的第一支撑板上的光耦合器被压板推动向电路板移动时，位于上方的第一支撑板伸出。这有利于减少等待光耦合器移动直到引脚与导电片接触的时间，从而提高检测效率。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

通过压板推动光耦合器的引脚，从而带动光耦合器向电路板靠近，在光耦合器的引脚压在导电片时，光耦合器检测结束，这有利于降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现；

通过设置至少两个电路板用于检测光耦合器，从而有利于提高光耦合器检测装置每次的检测光耦合器的数量；

在光耦合器向电路板移动时，撑块从安装板伸出，从而起到将引脚发生弯曲的光耦合器撑开，这有利于降低光耦合器引脚位于导电片接触的情况出现。

附图说明

图1是光电耦合器的整体结构示意图；

图2是本申请实施例的整体结构示意图；

图3是本申请实施例的料轨的结构示意图；

图4是本申请实施例的放料机构无光电耦合器的部分结构示意图；

图5是本申请实施例的爆炸图；

图6是本申请实施例的放料机构有光电耦合器部分结构示意图；

图7是图4在A处的放大图；

图8是图4在B处的放大图；

图9是图5在C处的放大图。

附图标记说明：1、光耦合器本体；2、引脚；3、安装板；4、观察口；5、导向板；6、第一支撑板；7、放料机构；71、第二支撑板；72、压杆；8、料轨；81、第一挡板；82、第二挡板；9、第一伸缩缸；10、第二伸缩缸；11、第三伸缩缸；12、电路板；13、导电片；14、压板；15、移动机构；151、第一轴承；152、第一连接杆；153、第二连接杆；16、滑口；17、第二轴承；18、第一齿轮；19、第二齿轮；20、第三齿轮；21、电机；22、传动链；23、撑块；24、第三连接杆；25、第三轴承；26、回收机构；261、无杆气缸；262、回收筒。

具体实施方式

以下结合附图2-9对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种光耦合器检测装置。

参照图2、图3，一种光耦合器检测装置包括安装板3和固定安装于安装板3的一侧的料轨8。料轨8包括第一挡板81和相对设置的两个第二挡板82，第二挡板82固定安装于安装板3，第一挡板81与两个第二挡板82远离安装板3的一侧固定连接。第一挡板81的沿料轨8的长度方向的中部开设有观察口4。从观察口4可以查看料轨8内部的光耦合器是否卡住。在光耦合器卡在料轨8内部时，可从观察口4伸进去对卡在料轨8的光耦合器进行摆正。

位于观察口4的两侧设置有导向板5，两个导向板5相对设置。导向板5固定安装于第一挡板81靠近安装板3的一侧。光耦合器在料轨8内部下落时，光耦合器的本体保持在两个导向板5之间移动。第二挡板82主要起到支撑第一挡板81的作用，这样可增加两个第二挡板82之间的距离，从而使光耦合器下落过程中发生倾斜时，光耦合器的引脚不会与第二挡板82摩擦而损伤。

参照图2、图4、图5，料轨8设置有放料机构7，放料机构7包括第二支撑板71和压杆72。第二支撑板71和压杆72均伸缩安装于安装板3。压杆72位于第二支撑板71所在的工序的上游。安装板3远离料轨8的一侧设置有第一伸缩缸9和第二伸缩缸10，第一伸缩缸9用于驱动第二支撑板71从安装板3伸出或缩回安装板3；第二伸缩缸10用于驱动压杆72从安装板3伸出或缩回安装板3。

第一伸缩缸9推动第二支撑板71从安装板3伸出，从而限制待检测的光耦合器沿料轨8向下滑落。之后第二伸缩缸10推动压杆72从安装板3伸出，从而挤压待检测光耦合器的本体在料轨8上。位于最下方的待检测光耦合器与第二支撑板71抵贴，与最下方的待检测光耦合器相邻的另一个光耦合器被压杆72挤压。

在第一伸缩缸9带动第二支撑板71缩回安装板3后，一个待检测的光耦合器沿料轨8向下滑落，其余待检测的光耦合器保持不动。第一伸缩缸9推动第二支撑板71从安装板3伸出，第二伸缩缸10带动压杆72缩回安装板3，其余待检测的光耦合器全部下落，在有一个待检测的光耦合器抵贴于第二支撑板71后，第二伸缩缸10推动压杆72从安装板3伸出，从而挤压待检测光耦合器的本体在料轨8上。

参照图2、图6，位于第二支撑板71的下游工序的一侧设置有至少两个电路板12，电路板12沿料轨8的长度方向间隔设置。在本申请实施例中电路板12有三个。电路板12嵌设于安装板3靠近料轨8的一侧，从而让电路板12靠近料轨8的一侧与安装板3靠近料轨8的一侧在同一平面，这有利于降低光耦合器在料轨8中滑动被电路板12卡住的情况出现。

参照图4、图5、图7，每个电路板12位于工序下游的一侧设置有第一支撑板6，第一支撑板6伸缩安装于安装板3。安装板3远离料轨8的一侧安装有第三伸缩缸11，第三伸缩缸11用于驱动第一支撑板6从安装板3伸出或缩回安装板3。电路板12靠近料轨8的一侧安装有与光耦合器的引脚数量相等的导电片13。在本申请实施例中光耦合器有四个引脚，所以每个电路板12均有四个导电片13。

在第三伸缩缸11推动第一支撑板6从安装板3伸出时，放料机构7放出一个待检测的光耦合器。待检测的光耦合器掉落至第一支撑板6时，待检测的光耦合器的引脚与导电片13对齐。

参照图3、图7、图8，导电片13相对设置有压板14，压板14设置有移动机构15。移动机构15包括第一轴承151、第一连接杆152和第二连接杆153。第一连接杆152伸缩安装于安装板3。第一轴承151固定套设于第一连接杆152，第一轴承151位于安装板3靠近料轨8的一侧。第二连接杆153一端固定安装于第一轴承151的外圈，第二连接杆153的另一端与压板14连接。第二挡板82开设有供第二连接杆153移动的滑口16。

在第一连接杆152缩回安装板3时，第二连接杆153向靠近安装板3的一侧移动，第二连接杆153带动压板14靠近电路板12，从而带动待检测的光耦合器的向电路板12移动。在待检测光耦合器的引脚与导电片13接触后，光耦合器检测完成。在第一连接杆152从安装板3伸出时，第二连接杆153向远离安装板3的一侧移动，第二连接杆153带动压板14远离电路板12，从而使压板14离开已检测完成的光耦合器。

参照图5、图9，第一连接杆152套设有第二轴承17，第一连接杆152螺纹套设有第一齿轮18。第二轴承17和第一齿轮18均位于安装板3远离料轨8的一侧。第二轴承17的内圈固定安装于安装板3，第二齿轮19固定安装于第二轴承17的外圈。位于同一电路板12的每个第一齿轮18之间啮合有传动链22，传动链22啮合有第二齿轮19。安装板3远离料轨8的一侧固定安装有电机21，电机21的旋转轴与第二齿轮19同轴连接。启动电机21，电机21带动第二齿轮19转动，第二齿轮19带动传动链22传动，从而带动第一齿轮18转动，从而控制第一连接杆152从安装板3伸出或缩回安装板3。

参照图7、图9，位于电路板12同一侧的两个导电片13之间设置有撑块23，撑块23伸缩安装于安装板3。撑块23朝远离料轨8的一侧转动安装有第三连接杆24，第三连接杆24套设有第三轴承25，第三连接杆24螺纹套设有第三齿轮20。第三齿轮20固定安装于第三轴承25的外圈，第三轴承25的内圈固定安装于安装板3，第三齿轮20与第一齿轮18啮合。

在第一齿轮18转动时，第一齿轮18会带动第三齿轮20转动，第三齿轮20转动带动撑块23从安装板3伸出或缩回安装板3。同时第一齿轮18转动带动第一连接杆152从安装板3伸出时，第三齿轮20带动撑块23缩回安装板3；第一齿轮18转动带动第一连接杆152缩回安装板3时，第三齿轮20带动撑块23从安装板3伸出。

撑块23沿料轨8长度方向的长度由朝向安装板3外部的一侧向另一侧逐渐减小，从而方便撑块23从光耦合器的两个引脚之间穿过。通过撑块23撑开光耦合器的两个引脚，这有利于光耦合器的引脚与导电片13对齐。

参照图2，料轨8位于工序的下游的一端设置有回收机构26。回收机构26包括无杆气缸261和多个回收筒262，无杆气缸261安装于安装板3每一所述回收筒262均可拆卸安装于无杆气缸261，所述无杆气缸261的滑移方向与料轨8的长度方向垂直。根据已检测的光耦合器的质量，无杆气缸261将相应的回收筒262移动到料轨8的底端进行收集。

本申请实施例公开一种光耦合器检测方法。

通过采用本申请实施例的一种光耦合器检测装置实施，包括以下步骤：

S1：由料轨8顶端添加待检测光耦合器。光耦合器沿料轨8滑动至放料机构7后停止滑动。

S2：第一支撑板6由下至少依次伸出，位于最下方的第一支撑板6从安装板3伸出，放料机构7放出一个待检测光耦合器。在光耦合器掉入最下方的第一支撑板6后，位于上方的第一支撑板6伸出，直到全部第一支撑板6从安装板3伸出；

S3：在待检测光耦合器掉入第一支撑板6后，移动机构15带动压板14向电路板12移动，压板14挤压待检测光耦合器的引脚，从而带动待检测光耦合器向电路板12靠近，引脚与导电片13接触后，光耦合器检测完成；

S4：移动机构15带动压板14远离电路板12，第一支撑板6缩回安装板3，已检测光耦合器掉入回收机构26，回收机构26对已检测光耦合器进行分类回收；

S5：在全部第一支撑板6由下至上依次缩回安装板3后，光耦合器检测装置完成一次检测。

本申请实施例一种光耦合器检测装置及其方法的实施原理为：上料时，第一伸缩缸9推动第二支撑板71伸出安装板3后抵贴于第一挡板81。将待检测的光耦合器从料轨8的顶端放入料轨8内部。待检测的光耦合器沿料轨8滑落至第二支撑板71时停止滑落。之后第二伸缩缸10推动压杆72伸出安装板3。压杆72将待检测的光耦合器压在第一挡板81上。光耦合器在滑落过程中，两个导向板5限制光耦合器向第二挡板82偏移，从而降低光耦合器的引脚与第二挡板82摩擦而损坏的情况出现。

第一支撑板6由下至少依次通过第三伸缩缸11推动伸出安装板3。每伸出一个第一支撑板6，第一伸缩缸9拉动第二支撑板71缩回安装板3内部，从而使一个待检测光耦合器沿滑轨滑落至伸出的第一支撑板6。之后第一伸缩缸9带动第二支撑板71重新伸出安装板3，第二伸缩缸10带动压杆72缩回安装板3。在待检测的光耦合器重新抵贴于第二支撑板71后，第二伸缩缸10带动压杆72伸出安装板3，从而挤压待检测光耦合器。

在待检测光耦合器与第一支撑板6接触后，另一个第一支撑板6才伸出，同时电机21启动。电机21带动第二齿轮19转动，第二齿轮19带动传动链22传动，从而带动第一齿轮18和第三齿轮20转动。第一齿轮18转动，从而带动第一连接杆152缩回安装板3内部，第一连接杆152带动第二连接杆153向安装板3移动，第二连接杆153带动压板14向电路板12移动。压板14通过挤压待检测光耦合器的引脚，从而带动待检测的光耦合器向电路板12移动，这有利于降低光耦合器的引脚受到挤压而弯曲损坏的情况出现。同时第三齿轮20转动，从而带动撑块23伸出安装板3，撑块23用于撑开待检测光耦合器的引脚，从而让光耦合器的引脚与导电片13对齐。在光耦合器的引脚与导电片13接触，光耦合器检测完成。

在光耦合器检测完成后，第三伸缩缸11拉动第一支撑板6缩回安装板3。检测完成的光耦合器沿料轨8向下滑落。根据检测完成的光耦合器的质量，无杆气缸261带动相应的回收筒262到料轨8的最下端接收检测完成的光耦合器。

第一支撑板6由下至上依次伸出阻拦待检测的光耦合器，第一支撑板6由下至上依次缩回放出检测完成的光耦合器。相比一次检测一个光耦合器，一次检测多个光耦合器有利于减少推动光耦合器直到光耦合器的引脚与导电片13接触的时间，从而提高检测效率。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种光耦合器检测装置，其特征在于：包括安装板(3)和固定安装于安装板(3)的一侧的料轨(8)，所述料轨(8)内部设置有至少两个电路板(12)，所述电路板(12)沿料轨(8)的长度方向间隔设置，所述电路板(12)嵌设于安装板(3)，所述电路板(12)远离安装板(3)的一侧安装有与光耦合器的引脚数量相等的导电片(13)，每一所述电路板(12)位于工序下游的一侧设置有第一支撑板(6)，所述第一支撑板(6)伸缩安装于安装板(3)，所述导电片(13)相对设置有压板(14)，所述压板(14)安装有用于控制压板(14)靠近或远离电路板(12)的移动机构(15)，所述电路板(12)所在工序的上游设置有放料机构(7)，所述料轨(8)位于工序的下游的一端设置有回收机构(26)，所述移动机构(15)包括第一轴承(151)、第一连接杆(152)和第二连接杆(153)，所述第一连接杆(152)伸缩安装于安装板(3)，所述第一轴承(151)固定套设于第一连接杆(152)，所述第一轴承(151)位于安装板(3)远离料轨(8)的一侧，所述第二连接杆(153)的一端与第一轴承(151)的外壁固定连接，所述第二连接杆(153)的另一端与压板(14)固定连接，所述料轨(8)的开设有供第二连接杆(153)移动的滑口(16)，每一所述第一连接杆(152)均套设有第二轴承(17)，每一所述第一连接杆(152)均螺纹套设有第一齿轮(18)，所述第二轴承(17)和第一齿轮(18)均位于安装板(3)远离料轨(8)的一侧，所述第一齿轮(18)固定安装于第二轴承(17)的外圈，所述第二轴承(17)的内圈固定安装于安装板(3)，位于同一所述电路板(12)的每一所述第一齿轮(18)之间啮合有传动链(22)，所述传动链(22)啮合有第二齿轮(19)，所述安装板(3)安装有电机(21)，所述电机(21)的旋转轴与第二齿轮(19)同轴连接。

2.根据权利要求1所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述电路板(12)的两侧均设置有撑块(23)，所述撑块(23)伸缩安装于安装板(3)，所述撑块(23)的厚度由靠近料轨(8)一侧向另一侧逐渐减小。

3.根据权利要求2所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述撑块(23)远离料轨(8)的一侧转动安装有第三连接杆(24)，所述第三连接杆(24)套设有第三轴承(25)，所述第三连接杆(24)螺纹套设有第三齿轮(20)，所述第三齿轮(20)固定安装于第三轴承(25)的外圈，所述第三轴承(25)的内圈固定安装于安装板(3)，所述第三齿轮(20)与第一齿轮(18)啮合，所述第三连接杆(24)的伸缩方向与第一连接杆(152)的伸缩方向相反。

4.根据权利要求1所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述料轨(8)包括第一挡板(81)和相对设置的两个第二挡板(82)，所述第二挡板(82)的一侧固定安装于安装板(3)，所述第二挡板(82)的另一侧与第二挡板(82)固定连接，所述第二挡板(82)沿料轨(8)的长度方向开设有观察口(4)。

5.根据权利要求4所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述第一挡板(81)靠近安装板(3)的一侧固定安装有两个导向板(5)，两个所述导向板(5)相对设置。

6.根据权利要求1所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述放料机构(7)包括第二支撑板(71)和压杆(72)，所述第二支撑板(71)和压杆(72)均伸缩于安装板(3)，所述压杆(72)位于第二支撑板(71)所在的工序的上游。

7.根据权利要求1所述的一种光耦合器检测装置，其特征在于：所述回收机构(26)包括无杆气缸(261)和多个回收筒(262)，所述无杆气缸(261)固定安装于安装板(3)，每一所述回收筒(262)均安装于无杆气缸(261)，所述无杆气缸(261)的滑移方向与料轨(8)的长度方向垂直。

8.一种光耦合器检测方法，其特征在于：通过采用如权利要求1-7中任意一项所述光耦合器检测装置实施，包括以下步骤：

S1：由料轨(8)顶端添加待检测光耦合器；

S2：第一支撑板(6)由下往上依次伸出，每伸出一个第一支撑板(6)，放料机构(7)放出一个待检测光耦合器；

S3：在待检测光耦合器掉入第一支撑板(6)后，推动光耦合器向电路板(12)移动，引脚与导电片(13)接触后，光耦合器检测完成；

S4：停止推动光耦合器，同时第一支撑板(6)缩回安装板(3)，已检测光耦合器掉入回收机构(26)，回收机构(26)对已检测光耦合器进行分类回收；

S5：在全部第一支撑板(6)由下至上依次缩回安装板(3)后，光耦合器检测装置完成一次检测。