CN1141596C - 电器烧机故障测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

一种电器烧机故障测试方法及装置，其方法包含：测试该电器的一特定信号，当该特定信号正常时，发出一第一信号，当异常时，发出一第二信号，并维持住该第二信号；以及，重复测试该电器的特定信号，当第一信号及该第二信号同时发出时，测出该暂态不合格现象。它使一电器在烧机过程中，能测出该电器的暂态不合格现象，并不用支付额外人力时时检查烧机测试结果，节省人力成本，确保出厂产品的合格率。

Description

电器烧机故障测试方法及装置

技术领域

本发明涉及一种电器烧机故障测试方法及装置。

背景技术

一般电器产品在出厂前通常会有一连串的测试过程，烧机为其中的一种。烧机是将电器置于比普通室温高的温度下来运作一段时间，在高温运作下，不合格的产品会被提早发现，而通过烧机测试的电器可确保其在电性及可靠度上的品质。

在烧机过程中，通常会检测电器的电源，若电源供电异常，例如电源输出应为5伏特，但是却降为3.3伏以下时，则判定电器烧机失败。通常，把接往电器的电源接出至一指示灯，由指示灯的明与暗即可判定烧机是否通过。

但是这样的做法有下列缺点：

一、烧机过程中通常会有一段时间开(ON)一段时间关(OFF)及一段时间开—关(ON-OFF)间续，若有的电器产品属于半不合格品，则可能无法测出，例如该半不合格品在某一段时间ON时发生电源异常，但下一烧机周期时，却又正常时，即可能被误判为正常而出货。

二、通常的做法需支付人力时时检查烧机测试结果，徒增人力成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电器烧机故障测试方法及装置，用于一电器进行烧机过程中，测出该电器的暂态不合格现象，它不用支付额外人力时时检查烧机测试结果，节省人力成本，确保出厂产品的合格率。

本发明的目的是这样实现的，本发明电器烧机故障测试方法，它用于一电器进行烧机过程中，测出该电器的暂态不合格现象，它包含：测试该电器的一特定信号，当该特定信号正常时，发出一第一信号，当异常时，发出一第二信号，并维持住该第二信号；以及，重复测试该电器的特定信号，当第一信号及该第二信号同时发出时，测出该暂态不合格现象。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，特定信号为电器的一电源。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的电源为一12伏特电源，而在降至8.5伏特以下时，表示异常；

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的电源为一5V电源，而在降至3.3伏特以下时，表示异常。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的电源为一3.3V电源，而在降至2伏特以下时，表示异常。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的电源为一有效电力电源，而在降至3伏特以下时，表示异常。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的第一信号为一绿色光信号，第二信号为一红色光信号。

上述的电器烧机故障测试方法，其中，所述的第一信号及第二信号同时发出时为一橙色光信号。

本发明的目的也可以这样实现，一种电器烧机故障测试装置，用于一电器进行烧机过程中，测出该电器的暂态不合格现象，它包含：一第一测试电路，用于测试电器的一特定信号，当该特定信号正常时发出一第一信号，当该特定信号异常时，关闭该第一信号；以及，一第二测试电路，它电连接至该第一测试电路，在电器所述的特定信号异常时，发出一第二信号，并维持住该第二信号，使下一烧机周期中，根据同时发出的第一信号及第二信号测出暂态不合格现象。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，第一测试电路包含：一光耦合晶体管，用于耦合所述的特定信号；一缓冲门，电连接至该光耦合晶体管，在该特定信号异常时，关闭第一信号；以及，一第一发光二极管，电连接至该缓冲门，在烧机进行时，发出该第一信号，而在特定信号异常时，关闭之。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，第一发光二极管为一绿色光二极管，第一信号为其所发出的一绿色光信号。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的缓冲门由一与门的输入并联而成。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的第二测试电路包含：一电子开关；一第二发光二极管；该电子开关用于特定信号异常时，触发该第二发光二极管，并使该发光二极管维持发出该第二信号。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的电子开关包含二个与门及二个矽控整流器。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的第二发光二极管为一红色发光二极管，第二信号是该红色发光二极管发出的红色光信号。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的第一信号及该第二信号同时发出时，是一橙色光信号。

上述的电器烧机故障测试装置，其中，所述的暂态不合格信号是电器在一烧机周期测试过程中，出现异常而发出第二信号，而在下一次烧机周期时，并无异常现象而发第一信号。

由于采用了上述的技术解决方案，本发明在烧机过程中，除了可测试出真正不合格的电器产品之外，还可由本发明提出的装置及方法而加以测出其暂态不合格现象，不用支付额外人力时时检查烧机测试结果，节省人力成本，并经由本发明烧机测试，可确保出厂产品的合格率，提高厂商竞争力。

下面结合本发明的实施例附图对本发明进行详细说明。

附图说明

图1是本发明的电连接方框图；

图2是本发明的实施例的具体电连接线路图。

具体实施方式

请参见图1，本发明电器烧机故障测试方法，在待测电器10进行烧机过程中，测出该待测电器10的暂态不合格现象。测试方法先烧机待测电器10的12伏、5伏、3.3伏电源及有效电力(power good)等特定信号，在这些特定信号正常时，由第一测试电路11使绿色发光二极管LED1A发出绿色光的第一信号，异常时，由第二测试电路12使红色发光二极管发出红色光的一第二信号，并维持住红色光的第二信号。

接着在烧机重复的周期中(由信号B/I控制)，同样测试该待测电器10的这些电源特定信号，若同一个待测电器10在不同周期中测出异常又正常时，则出现绿色光的第一信号及红色光的第二信号同时发出的情况，而二个发光二极管因为在同一封包(package)里，所以二色光混合为橙色光，因而可测出该待测电器10的暂态不合格现象；当然，若同一待测电器10仍为异常，则红色灯继续亮着不变。

针对不同的电源，可设一下限，例如12伏的电源最低为8.5伏，当低于下限8.5伏时，则可判定为异常，同理5伏的下限可设为3.3伏，3.3伏电源的下限可设为2伏，而有效电力信号的下限则可设为3.0伏。

换言之，本发明电器烧机故障测试装置是由第一测试电路11及第二测试电路12组成。第一测试电路是以测试该待测电器10的电源等特定信号，在这些特定信号正常时使绿色发光二极管LED1A发出绿色光，而在特定信号异常时，关闭绿色发光二极管LED1A不发光。第二测试电路12电连接至该第一测试电路11，在该待测电器10的该特定信号异常时，使发光二极管LED1B发出红色光，并维持住该红色光。而在下一烧机周期时，若该待测电器变为正常时，则会由第一待测电路使绿色发光二极管LED1A发光，而同时红色发光二极管LED1B仍发着红光，又二个发光二极管在同一封包(package)里，在这一情况下，可发出橙色光，因而测出该待测电器10的暂态不合格现象。

请参见图2，左边的12伏、3.3伏、5伏电源、及有效电力信号是待测电器上常见的电源，分别经过电阻R1、R2、R3、R4而接至二个晶体管Q1，Q2上。当待测电器正常时，四组电源信号将维持在其所设定的下限(Vmin)上工作，其中，12伏的下限为8.5伏、5伏的下限为3.3伏、3.3伏的下限为2伏、有效电力的下限为3伏。因此，使得晶体管Q1及Q2进入饱合，二个光耦合晶体管ISO1及ISO2动作(ON)，与门IC1A及IC1C的输入端的电位为低电位，二极管D1及D2不动作(OFF)，晶体管Q3不动作(OFF)，节点B的电压由5Vcc经R9而提供使其电位为高电位，晶体管Q4动作(ON)，Vcc的电流流经限流电阻R11至绿色发光二极管LED1A而发出绿色光。

同时，节点B的高电位信号亦接至晶体管Q6的发射极，使晶体管Q6不动作(OFF)，晶体管Q7动作(ON)，矽控整流器SCR2不动作(OFF)，因此红色发光二极管LED1B不发光。

只要待测电器有一组电源发生低于其设定的下限(Vmin)时，即判定该待测电器异常。此时，与门IC1C或IC1A会输出高电位，使得晶体管Q3动作(ON)，节点B变低电位，晶体管Q4不动作(OFF)，绿色发光二极管LED1A变暗。节点B为高电位时，接至晶体管Q6发射极，在烧机周期输入时，使得与门IC1D输出高电位，晶体管Q5因为节点A的高电位而ON，矽控整流器SCR1 ON，流经电阻R13的电流在电阻R13上形成一电位降使与门IC1B输出高电位，晶体管Q6 ON，晶体管Q7 OFF，矽控整流器SCR2 ON，使得5Vcc的电流流经限流电阻R20而至红色发光二极管LED1B而发出红光。由发出红光，即可得知该待测电器烧机失败。

如上述，待测电器可能会有暂态不合格的现象，即待测电器在一烧机周期测试过程中，出现异常而发出红光的第二信号，而在下一次烧机周期时，并无异常现象而发绿光的第一信号。为了测出此一不合格现象，只要曾出现过异常，即由矽控整流器SCR2将红光维持住，若遇到下一周期为正常时，即可因为红光及绿光同时发出而得知(二光混合为橙光)，而若仍为异常，则亮红灯表示烧机失败。

当然，在电路中，与门IC1C，IC1A输入端并联，可视为一缓冲门，而所检测的电源当不限定于电路图所示，发光的光色亦非仅止于绿、红、橙而已。整个发明精神在于能测出暂态不合格的现象。

与图1的方框图对比可知，第一测试电路所包含与门IC1C、IC1A、晶体管Q1、Q2、Q3、Q4、二极管D1、D2等。而第二测试电路则包含与门IC1D、IC1B、晶体管Q5、Q6、矽控整流器SCR1、SCR2等。

Claims (17)

1.一种电器烧机故障测试方法，用于一电器进行烧机过程中，测出该电器的暂态不合格现象，其特征在于，它包含：

测试该电器的一特定信号，当该特定信号正常时，发出一第一信号，当异常时，发出一第二信号，并维持住该第二信号；以及

重复测试该电器的特定信号，当第一信号及该第二信号同时发出时，测出该暂态不合格现象。

2.如权利要求1所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的特定信号为电器的一电源。

3.如权利要求2所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的电源为一12伏特电源，而在降至8.5伏特以下时，表示异常。

4.如权利要求2所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的电源为一5V电源，而在降至3.3伏特以下时，表示异常。

5.如权利要求2所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的电源为一3.3V电源，而在降至2伏特以下时，表示异常。

6.如权利要求2所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的电源为一有效电力电源，而在降至3伏特以下时，表示异常。

7.如权利要求1所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的第一信号为一绿色光信号，第二信号为一红色光信号。

8.如权利要求1所述的电器烧机故障测试方法，其特征在于：所述的第一信号及第二信号同时发出时为一橙色光信号。

9.一种电器烧机故障测试装置，用于一电器进行烧机过程中，测出该电器的暂态不合格现象，其特征在于，它包含：

一第一测试电路，用于测试电器的一特定信号，当该特定信号正常时发出一第一信号，当该特定信号异常时，关闭该第一信号；以及

一第二测试电路，它电连接至该第一测试电路，在电器所述的特定信号异常时，发出一第二信号，并维持住该第二信号，使下一烧机周期中，根据同时发出的第一信号及第二信号测出暂态不合格现象。

10.如权利要求9所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，第一测试电路包含：

一光耦合晶体管，用于耦合所述的特定信号；

一缓冲门，电连接至该光耦合晶体管，在该特定信号异常时，关闭第一信号；以及

一第一发光二极管，电连接至该缓冲门，在烧机进行时，发出该第一信号，而在特定信号异常时，关闭之。

11.如权利要求10所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，第一发光二极管为一绿色光二极管，第一信号为其所发出的一绿色光信号。

12.如权利要求10所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的缓冲门由一与门的输入并联而成。

13.如权利要求9所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的第二测试电路包含：

一电子开关；

一第二发光二极管；

该电子开关用于特定信号异常时，触发该第二发光二极管，并使该发光二极管维持发出该第二信号。

14.如权利要求13所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的电子开关包含二个与门及二个矽控整流器。

15.如权利要求13所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的第二发光二极管为一红色发光二极管，第二信号是该红色发光二极管发出的红色光信号。

16.如权利要求9所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的第一信号及该第二信号同时发出时，是一橙色光信号。

17.如权利要求9所述的电器烧机故障测试装置，其特征在于，所述的暂态不合格信号是电器在一烧机周期测试过程中，出现异常而发出第二信号，而在下一次烧机周期时，并无异常现象而发第一信号。