CN112557861A - 一种检测mos管的方法和系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测MOS管的方法和系统，包括计算机，所述计算机连接有上位机，所述上位机连接有高温房，所述高温房内设有下位机，且上位机与下位机相连接，所述下位机连接有测试台，所述计算机包括数据库、打印设备和声光报警器，所述上位机包括第一单片机、温控模块、数码管和第一编译器，所述下位机包括第二单片机、第二编译器、红外温度计和模拟开关，所述测试台包括夹持装置、温度调节器和电阻测试仪，优选的，所述计算机通过USB接口与上位机连接。实现了便于对MOS管进行自动化老化检测的效果，大大节省了人力成本，保证了检测数值的准确性，有效提升了检测效率，实现了大批量进行检测的效果，实用性较好。
Description
技术领域
本发明涉及MOS管检测技术领域，尤其涉及一种检测MOS管的方法和系统。
背景技术
MOS管一般指PMOS管。PMOS是指n型衬底、p沟道，靠空穴的流动运送电流的MOS管。金属氧化物半导体场效应(MOS)晶体管可分为N沟道与P沟道两大类，P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区，分别叫做源极和漏极，两极之间不通导，源极上加有足够的正电压(栅极接地)时，栅极下的N型硅表面呈现P型反型层，成为连接源极和漏极的沟道。改变栅压可以改变沟道中的空穴密度，从而改变沟道的电阻。半导体器件作为电子设备的核心，其可靠性尤为重要。但是半导体器件制作工艺复杂性以及其寿命特点(浴盆失效概率)，很难从外观上检测其好坏。
目前现有的MOS管生产中大多为人工抽样进行老化检测，人工检测耗费时间较长且检测效率较低，并且人工检测数值容易出现误差，难以对MOS管的大批量自动化老化检测，缺乏相应自动化检测方法，现有检测方法实用性较差。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供了一种检测MOS管的方法和系统，解决了难以对MOS管进行自动化老化检测的问题。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种检测MOS 管的方法和系统，包括计算机，所述计算机连接有上位机，所述上位机连接有高温房，所述高温房内设有下位机，且上位机与下位机相连接，所述下位机连接有测试台，所述计算机包括数据库、打印设备和声光报警器，所述上位机包括第一单片机、温控模块、数码管和第一编译器，所述下位机包括第二单片机、第二编译器、红外温度计和模拟开关，所述测试台包括夹持装置、温度调节器和电阻测试仪。
优选的，所述计算机通过USB接口与上位机连接，所述上位机采用MSP430F1471单片机，所述下位机采用MSP430F133单片机。
优选的，所述上位机和下位机通过RS485总线转换器进行连接。
优选的，数码管为九位数码管，且前六位用于显示测试时长，且后三位用于显示测试台号码。
优选的，所述上位机每隔一分钟通过红外温度计采集一次温度信息，且温度信息通过数码管显示。
一种检测MOS管的方法和系统，包括以下步骤：
S1：将待测产品置于测试台夹持装置处，进行夹持固定并与电阻测试仪连接；
S2：计算机通过控制上位机温控模块控制产生输入信号，通过下位机第二单片机和第二编译器传递给模拟开关，再控制温度调节器线性调节测试台温度，使得测试台温度到达所需温度；
S3：由红外温度计收集温度信息，由电阻测试仪收集测试器件电阻数值，并每隔一分钟传递给上位机，测试温度和时间信息通过数码管显示；
S4：测试温度、时间和电阻数值再经由上位机传输给计算机，存入计算机数据库中，并将电阻值与标准老化阻值进行比对；
S5：当电阻值达到稳定标准老化阻值时，计算机控制声光报警器声光报警进行提示，并同时控制上位机停止相应测试台停止运行；当电阻值未达到稳定标准老化阻值时，计算机不做出反应；
S6：测试完成后，可通过计算机连接的打印设备，进行测试报告打印。
优选的，待测产品通过二十五针插头与下位机相连接。
优选的，上位机始终为接收状态，且上位机采用74154芯片循环产生下位机选通信号。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、该检测MOS管的方法和系统，通过计算机对上位机以及下位机进行控制，调节测试温度，并监测测试产品阻值、温度和测试时间，并进行自动记录存档，当完成产品达到老化稳态后，计算机声光报警提示并停止相应测试台运行，在使用中实现了便于对MOS管进行自动化老化检测的效果，大大节省了人力成本。
2、全程通过计算机实时监测并记录检测结果，保证了检测数值的准确性，降低了监测误差。
3、该系统可以同时并联运行多个检测台，并能同时处理多个检测台信息，有效提升了检测效率，实现了大批量进行检测的效果，实用性较好。
附图说明
图1是检测MOS管的系统构造组成示意图；
图2是计算机组构造成示意图；
图3是上位机构造组成示意图；
图4是下位机构造组成示意图；
图5是测试台构造组成示意图；
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
参照图1-5，一种检测MOS管的方法和系统，包括计算机，计算机连接有上位机，计算机通过USB接口与上位机连接，上位机采用 MSP430F1471单片机，上位机连接有高温房，通过设置高温房，将上位机与计算机和高温环境隔绝开，保证了计算机和上位机不受温度影响，保证了整个系统的稳定性，高温房内设有下位机，且上位机与下位机相连接，上位机和下位机通过RS485总线转换器进行连接，下位机采用MSP430F133单片机，上位机始终为接收状态，且上位机采用 74154芯片循环产生下位机选通信号，在未接收中断信号前，下位机始终保持工作状态，当下位机响应中断信号后，下位机自动设为发送状态，将测试时间、测试温度和电阻数值通过RS485总线转换器传递给上位机，下位机连接有测试台，计算机包括数据库、打印设备和声光报警器，上位机包括第一单片机、温控模块、数码管和第一编译器，数码管为九位数码管，且前六位用于显示测试时长，且后三位用于显示测试台号码，通过设置数码管，使得测试信息更方便地展现给用户，使用起来更加方便，下位机包括第二单片机、第二编译器、红外温度计和模拟开关，上位机每隔一分钟通过红外温度计采集一次温度信息，且温度信息通过数码管显示，测试台包括夹持装置、温度调节器和电阻测试仪，待测产品通过二十五针插头与下位机相连接。S1：将待测产品置于测试台夹持装置处，进行夹持固定并与电阻测试仪连接；S2：计算机通过控制上位机温控模块控制产生输入信号，通过下位机第二单片机和第二编译器传递给模拟开关，再控制温度调节器线性调节测试台温度，使得测试台温度到达所需温度；S3：由红外温度计收集温度信息，由电阻测试仪收集测试器件电阻数值，并每隔一分钟传递给上位机，测试温度和时间信息通过数码管显示；S4：测试温度、时间和电阻数值再经由上位机传输给计算机，存入计算机数据库中，并将电阻值与标准老化阻值进行比对；S5：当电阻值达到稳定标准老化阻值时，计算机控制声光报警器声光报警进行提示，并同时控制上位机停止相应测试台停止运行；当电阻值未达到稳定标准老化阻值时，计算机不做出反应；S6：测试完成后，可通过计算机连接的打印设备，进行测试报告打印。该检测MOS管的方法和系统，通过计算机对上位机以及下位机进行控制，调节测试温度，并监测测试产品阻值、温度和测试时间，并进行自动记录存档，当完成产品达到老化稳态后，计算机声光报警提示并停止相应测试台运行，在使用中实现了便于对MOS管进行自动化老化检测的效果，大大节省了人力成本。全程通过计算机实时监测并记录检测结果，保证了检测数值的准确性，降低了监测误差。该系统可以同时并联运行多个检测台，并能同时处理多个检测台信息，有效提升了检测效率，实现了大批量进行检测的效果，实用性较好。
综上所述，该检测MOS管的方法和系统，通过计算机对上位机以及下位机进行控制，调节测试温度，并监测测试产品阻值、温度和测试时间，并进行自动记录存档，当完成产品达到老化稳态后，计算机声光报警提示并停止相应测试台运行，在使用中实现了便于对MOS管进行自动化老化检测的效果，大大节省了人力成本，全程通过计算机实时监测并记录检测结果，保证了检测数值的准确性，降低了监测误差。该系统可以同时并联运行多个检测台，并能同时处理多个检测台信息，有效提升了检测效率，实现了大批量进行检测的效果，实用性较好，解决了难以对MOS管进行自动化老化检测的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种检测MOS管的方法和系统，包括计算机，其特征在于，所述计算机连接有上位机，所述上位机连接有高温房，所述高温房内设有下位机，且上位机与下位机相连接，所述下位机连接有测试台，所述计算机包括数据库、打印设备和声光报警器，所述上位机包括第一单片机、、温控模块、数码管和第一编译器，所述下位机包括第二单片机、第二编译器、红外温度计和模拟开关，所述测试台包括夹持装置、温度调节器和电阻测试仪。
2.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，所述计算机通过USB接口与上位机连接，所述上位机采用MSP430F1471单片机，所述下位机采用MSP430F133单片机。
3.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，所述上位机和下位机通过RS485总线转换器进行连接。
4.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，所述数码管为九位数码管，且前六位用于显示测试时长，且后三位用于显示测试台号码。
5.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，所述上位机每隔一分钟通过红外温度计采集一次温度信息，且温度信息通过数码管显示。
6.一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，包括以下步骤：
S1：将待测产品置于测试台夹持装置处，进行夹持固定并与电阻测试仪连接；
S2：计算机通过控制上位机温控模块控制产生输入信号，通过下位机第二单片机和第二编译器传递给模拟开关，再控制温度调节器线性调节测试台温度，使得测试台温度到达所需温度；
S3：由红外温度计收集温度信息，由电阻测试仪收集测试器件电阻数值，并每隔一分钟传递给上位机，测试温度和时间信息通过数码管显示；
S4：测试温度、时间和电阻数值再经由上位机传输给计算机，存入计算机数据库中，并将电阻值与标准老化阻值进行比对；
S5：当电阻值达到稳定标准老化阻值时，计算机控制声光报警器声光报警进行提示，并同时控制上位机停止相应测试台停止运行；当电阻值未达到稳定标准老化阻值时，计算机不做出反应；
S6：测试完成后，可通过计算机连接的打印设备，进行测试报告打印。
7.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，待测产品通过二十五针插头与下位机相连接。
8.根据权利要求1所述的一种检测MOS管的方法和系统，其特征在于，所述上位机始终为接收状态，且上位机采用74154芯片循环产生下位机选通信号。
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