CN112213582A - 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质 - Google Patents

电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112213582A
CN112213582A CN202011048442.5A CN202011048442A CN112213582A CN 112213582 A CN112213582 A CN 112213582A CN 202011048442 A CN202011048442 A CN 202011048442A CN 112213582 A CN112213582 A CN 112213582A
Authority
CN
China
Prior art keywords
module
electronic module
detection
setting
parameters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202011048442.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112213582B (zh
Inventor
王志强
付青琴
刘佳
王于波
庞振江
李延
梁昭庆
曲胜波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
State Grid Corp of China SGCC
State Grid Information and Telecommunication Co Ltd
Beijing Smartchip Microelectronics Technology Co Ltd
Beijing Smartchip Semiconductor Technology Co Ltd
Original Assignee
State Grid Corp of China SGCC
State Grid Information and Telecommunication Co Ltd
Beijing Smartchip Microelectronics Technology Co Ltd
Beijing Smartchip Semiconductor Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by State Grid Corp of China SGCC, State Grid Information and Telecommunication Co Ltd, Beijing Smartchip Microelectronics Technology Co Ltd, Beijing Smartchip Semiconductor Technology Co Ltd filed Critical State Grid Corp of China SGCC
Priority to CN202011048442.5A priority Critical patent/CN112213582B/zh
Publication of CN112213582A publication Critical patent/CN112213582A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112213582B publication Critical patent/CN112213582B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明公开一种电子模块的检测系统，该系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于第一设置操作生成并设置电子模块的模块参数，模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与电子模块电连接，用于实时控制电子模块按照模块参数运行；检测模块，与电子模块电连接，用于对运行中的电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。本发明还公开一种电子模块的检测方法及一种电子模块的检测装置。通过采用宽压高速MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足技术人员的实际检测需求。

Description

电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质
技术领域
本发明涉及硬件检测技术领域，具体地涉及一种电子模块的检测系统、一种电子模块的检测方法、一种电子模块的检测装置及计算机可读存储介质。
背景技术
随着科技的不断发展，具有运算处理能力的芯片被应用到生活的各个应用场景，在应用过程中，为了辅助芯片能够更好地实现应用功能，具有特定功能的电子模块被配置与芯片连接以形成一个处理系统。
在实际应用过程中，电子模块在使用过程中会涉及到数据的传输、数据的存储、数据的执行、数据的反馈等功能，例如为了有效保证数据在终端设备中传输的安全性和准确性，防止数据被截获和篡改，ESAM(Embedded Secure Access Module，嵌入式终端安全访问模块)在终端设备的操作系统中应用广泛。
在现有技术中，为了验证上述功能的完整性，电子模块在焊接之前，需要事先在检测装置上完成相关测试工作。然而，现有检测装置只能在固定工作频率和工作电压情况下验证电子模块功能的完整性，针对电子模块由于工作频率变化或工作电压变化等原因造成的芯片异常现象还未能进行检测，而终端设备在实际运行过程中，经常会出现突然变频或者电压突变及波动等现象，因此对技术人员造成了极大的困扰。
发明内容
为了克服现有技术中对电子模块的检测功能的不完善，无法满足实际的检测需求的技术问题，本发明实施例提供一种电子模块的检测系统，通过对在工作频率或工作电压的干扰下的电子模块进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足了技术人员的实际检测需求。
为了实现上述目的，本发明实施例提供一种电子模块的检测系统，所述检测系统包括：参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置所述电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，与所述电子模块电连接，用于实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；检测模块，与所述电子模块电连接，用于对运行中的所述电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。
优选地，所述检测系统还包括串口设置模块，与所述电子模块电连接，用于获取第二设置操作，基于所述第二设置操作生成并设置所述电子模块的串口参数，所述电子模块基于所述串口参数与所述参数设置模块和所述检测模块进行信号通信。
优选地，所述参数设置模块包括单一参数设置单元和广播参数设置单元，所述单一参数设置单元用于基于所述第一设置操作生成并设置单个电子模块的模块参数，所述广播参数设置单元用于基于所述第一设置操作生成并统一设置与参数设置模块电连接的所有电子模块的模块参数。
优选地，所述检测模块包括参数验证单元和功能验证单元；所述参数验证单元用于向所述电子模块发送操作指令，获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息，基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果；所述功能验证单元用于在设置所述电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
优选地，所述检测系统还包括显示装置，与所述检测模块电连接，用于实时显示所述检测结果。
相应的，本发明实施例还提供一种电子模块的检测方法，所述检测方法包括：获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
优选地，所述设置待检测的电子模块的模块参数，包括：获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个电子模块的模块参数进行设置；或获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有电子模块的模块参数进行设置。
优选地，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，包括：向运行中的所述电子模块发送操作指令；获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
优选地，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，还包括：在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
优选地，所述检测方法还包括：实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
相应的，本发明实施例还提供一种电子模块的检测装置，所述检测装置包括：设置模块，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，用于运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；检测模块，用于对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
优选地，所述设置模块包括：第一设置单元，用于获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个电子模块的模块参数进行设置；或第二设置单元，用于获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有电子模块的模块参数进行设置。
优选地，所述检测模块包括第一检测单元，所述第一检测单元用于：向运行中的所述电子模块发送操作指令；获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
优选地，所述检测模块包括第二检测单元，所述第二检测单元用于：在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
优选地，所述检测装置还包括显示模块，所述显示模块用于实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
另一方面，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的方法。
通过本发明提供的技术方案，本发明至少具有如下技术效果：
通过采用宽压高速的MCU对电子模块的工作电压和/或工作频率进行调整测试，从而对在工作频率或工作电压的干扰下运行的电子模块进行模拟并进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足了技术人员的实际检测需求。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：
图1是本发明实施例提供的电子模块的检测系统的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的电子模块的检测系统中；
图3是本发明实施例提供的电子模块的检测系统中；
图4是本发明实施例提供的电子模块的检测系统中；
图5是本发明实施例提供的电子模块的检测方法的具体实现流程图；
图6是本发明实施例提供的电子模块的检测装置的结构示意图。
附图标记说明
100参数设置模块200电子模块
300控制模块400检测模块
500串口设置模块101单一参数设置单元
102广播参数设置单元401参数验证单元
402功能验证单元
具体实施方式
为了克服现有技术中对电子模块的检测功能的不完善，无法满足实际的检测需求的技术问题，本发明实施例提供一种电子模块的检测系统，通过对在工作频率或工作电压的干扰下的电子模块进行检测，从而有效保证了对电子模块的检测完整度，满足了技术人员的实际检测需求。
以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。
本发明实施例中的术语“系统”和“网络”可被互换使用。“多个”是指两个或两个以上，鉴于此，本发明实施例中也可以将“多个”理解为“至少两个”。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，字符“/”，如无特殊说明，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。另外，需要理解的是，在本发明实施例的描述中，“第一”、“第二”等词汇，仅用于区分描述的目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，也不能理解为指示或暗示顺序。
请参见图1，本发明实施例提供一种电子模块的检测系统所述检测系统包括：参数设置模块100，与待检测的电子模块200电连接，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置电子模块200的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块300，与电子模块200电连接，用于实时控制电子模块200按照所述模块参数运行；检测模块400，与电子模块200电连接，用于对运行中的电子模块200执行检测操作，获得对应的检测结果。
请参见图2，在本发明实施例中，所述检测系统还包括串口设置模块500，与电子模块200电连接，用于获取第二设置操作，基于所述第二设置操作生成并设置电子模块200的串口参数，电子模块200基于所述串口参数与参数设置模块100和检测模块400进行信号通信。
在一种可能的实施方式中，该电子模块200为ESAM，在应用过程中，ESAM芯片在嵌入式系统中作为安全存取单元，用于实现安全的数据加解密、双向解密认证、关键数据存储等功能。为了对ESAM芯片的功能进行更完整的检测和验证，因此首先获取第一设置操作，例如该第一设置操作可以为用户直接对检测系统的操作，也可以为用户通过与检测系统信号连接的移动终端或专用操作装置发送的，例如该第一设置操作可以为参数设置操作。在获取到该第一设置操作后，立即对ESAM芯片进行对应的参数设置，例如在本发明实施例中，对ESAM芯片的工作电压和SPI频率等参数进行设置。
在本发明实施例中，该检测系统还可以包括串口设置模块500，该串口设置模块500与ESAM芯片电连接，在对ESAM芯片进行检测之前，首先获取第二设置操作，并根据该第二设置操作生成ESAM芯片的串口参数，并根据该串口参数对ESAM芯片的串口进行设置，在对ESAM芯片进行检测的过程中，ESAM芯片根据该串口参数与参数设置模块100和检测模块400进行信号通信。
在本发明实施例中，电子模块200可以通过RS232、RS485、wifi、蓝牙等通信方式与参数设置模块100和检测模块400进行信号通信，优选的，为了进一步保证在工业应用场景下的可靠通信，采用RS485的通信方式。
为了进一步对ESAM芯片在不同工作频率和工作电压下的功能稳定性及完整性进行检测，在对ESAM芯片的工作电压和SPI频率等参数进行设置后，运行该ESAM芯片，并通过控制模块300控制该ESAM芯片按照上述工作电压和/或SPI频率运行，例如在本发明实施例中，上述工作电压为2.7-5.5V，上述SPI频率为0-20MHz。最后，对运行中的ESAM芯片进行检测，从而获得对应的检测结果。
在本发明实施例中，通过对电子模块200运行中的工作频率和/或工作电压进行实时控制，从而对电子模块200在运行过程中受到工作频率变化和/或工作电压的干扰下的功能稳定性和完整性进行检测，扩大了对电子模块200的检测范围，保证了对电子模块200的检测完善度，满足了实际的检测需求。
请参见图3，在本发明实施例中，参数设置模块100包括单一参数设置单元101和广播参数设置单元102，单一参数设置单元101用于基于所述第一设置操作生成并设置单个电子模块200的模块参数，广播参数设置单元102用于基于所述第一设置操作生成并统一设置与参数设置模块电连接的所有电子模块200的模块参数。
在一种可能的实施方式中，技术人员需要对ESAM芯片执行在不同模块参数下的检测，因此对不同的ESAM芯片设置不同的模块参数以进行安全检测。在本发明实施例中，通过单一参数设置单元101对不同的ESAM芯片进行模块参数的单独设置，在本发明实施例中，单一参数设置单元101在对第一个ESAM芯片设置模块参数后，再对第二个ESAM芯片设置模块参数；单一参数设置单元101也可以有多个，每个单一参数设置单元101与一个ESAM芯片进行一一对应连接，技术人员可以依次对每个单一参数设置单元101进行设置，从而完成对每个ESAM芯片的模块参数的设置。
在另一种可能的实施方式中，技术人员需要对一批电子模块200进行统一的检测，因此在将广播参数设置单元102与每个电子模块200连接后，根据第一设置操作将对应的模块参数通过广播的形式发送至每个电子模块200中。
在本发明实施例中，通过采用单独参数设置单元101和广播参数设置单元102相结合的方式，一方面可实现对电子模块200的多参数并行测试，从而快速获取到电子模块200在不同模块参数下的检测结果；另一方面也可实现对大量电子模块200的批量参数设置，从而快速获取到批次电子模块200在同一参数下的检测结果，通过上述检测方式，能够进一步对电子模块200的运行稳定性和可靠性进行更精确的检测。
请参见图4，在本发明实施例中，检测模块400包括参数验证单元401和功能验证单元402，参数验证单元401用于向电子模块200发送操作指令，获取电子模块200基于所述操作指令的反馈信息，基于所述反馈信息对电子模块200的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果；功能验证单元402用于在设置电子模块200的模块参数之后，对电子模块200的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
进一步地，在本发明实施例中，所述检测系统还包括显示装置，与所述检测模块电连接，用于实时显示所述检测结果。
在一种可能的实施方式中，在对电子模块200进行参数设置并运行该电子模块200后，开始对电子模块200的检测。例如在本发明实施例中，控制模块为宽压高速MCU，在检测过程中，可以通过该MCU对ESAM的MOSI、MISO、SCK和SSN等拐角中的任意一个或多个拐角进行供电，此时可以通过参数验证单元401读取ESAM的特定引脚的拐角电压，例如读取ESAM的VCC和GND的拐角电压，以判断在ESAM中是否引起了电流倒灌现象，验证ESAM的工作电压和工作频率的返回值是否正确，并生成对应的参数检测结果；另一方面，此时通过MCU对VCC和GND的参数进行重新设置，从而通过功能验证单元402对ESAM的功能运行进行检测，以确定该ESAM此时是否依然能够正常实现对应的功能，输出对应的功能检测结果。
进一步地，为了进一步便于技术人员的查看和分析，还检测模块还与显示装置电连接，用于实时显示检测结果，例如实时显示ESAM在检测过程中返回的工作电压值和/或工作频率值。
在本发明实施例中，通过宽压高速MCU对电子模块200的工作电压和工作频率进行大范围的调节，从而实现对电子模块200在大范围的电压或频率波动干扰情况下的运行状况进行检测，从而实现对电子模块200功能完整性进行更精确和完善的检测，满足了实际的检测需求。
下面结合附图对本发明实施例所提供的电子模块的检测方法进行说明。
请参见图5，基于同一发明构思，本发明实施例提供一种电子模块的检测方法，所述检测方法包括：
S10)获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；
S20)运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；
S30)对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
在本发明实施例中，所述设置待检测的电子模块的模块参数，包括：获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个所述电子模块的所述模块参数进行设置；或获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有所述电子模块的所述模块参数进行设置。
在本发明实施例中，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，包括：向运行中的所述电子模块发送操作指令；获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
在本发明实施例中，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，还包括：在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
在本发明实施例中，所述检测方法还包括：实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
进一步地，请参见图6，本发明实施例还提供一种电子模块的检测装置，所述检测装置包括：设置模块，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；控制模块，用于运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；检测模块，用于对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
在本发明实施例中，所述设置模块包括：第一设置单元，用于获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个电子模块的模块参数进行设置；或第二设置单元，用于获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有电子模块的模块参数进行设置。
在本发明实施例中，所述检测模块包括第一检测单元，所述第一检测单元用于：向运行中的所述电子模块发送操作指令；获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
在本发明实施例中，所述检测模块包括第二检测单元，所述第二检测单元用于：在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
在本发明实施例中，所述检测装置还包括显示模块，所述显示模块用于实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
进一步地，本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例所述的方法。
以上结合附图详细描述了本发明实施例的可选实施方式，但是，本发明实施例并不限于上述实施方式中的具体细节，在本发明实施例的技术构思范围内，可以对本发明实施例的技术方案进行多种简单变型，这些简单变型均属于本发明实施例的保护范围。
另外需要说明的是，在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征，在不矛盾的情况下，可以通过任何合适的方式进行组合。为了避免不必要的重复，本发明实施例对各种可能的组合方式不再另行说明。
本领域技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得单片机、芯片或处理器(processor)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
此外，本发明实施例的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合，只要其不违背本发明实施例的思想，其同样应当视为本发明实施例所公开的内容。

Claims (16)

1.一种电子模块的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：
参数设置模块，与待检测的电子模块电连接，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置所述电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；
控制模块，与所述电子模块电连接，用于实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；
检测模块，与所述电子模块电连接，用于对运行中的所述电子模块执行检测操作，获得对应的检测结果。
2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括串口设置模块，与所述电子模块电连接，用于获取第二设置操作，基于所述第二设置操作生成并设置所述电子模块的串口参数，所述电子模块基于所述串口参数与所述参数设置模块和所述检测模块进行信号通信。
3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述参数设置模块包括单一参数设置单元和广播参数设置单元，所述单一参数设置单元用于基于所述第一设置操作生成并设置单个电子模块的模块参数，所述广播参数设置单元用于基于所述第一设置操作生成并统一设置与参数设置模块电连接的所有电子模块的模块参数。
4.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测模块包括参数验证单元和功能验证单元；
所述参数验证单元用于向所述电子模块发送操作指令，获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息，基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果；
所述功能验证单元用于在设置所述电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括显示装置，与所述检测模块电连接，用于实时显示所述检测结果。
6.一种电子模块的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：
获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；
运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；
对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述设置待检测的电子模块的模块参数，包括：
获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个电子模块的模块参数进行设置；或
获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有电子模块的模块参数进行设置。
8.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，包括：
向运行中的所述电子模块发送操作指令；
获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；
基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
9.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果，还包括：
在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
10.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述检测方法还包括：
实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
11.一种电子模块的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
设置模块，用于获取第一设置操作，基于所述第一设置操作生成并设置待检测的电子模块的模块参数，所述模块参数包括频率参数和/或电压参数；
控制模块，用于运行所述电子模块，实时控制所述电子模块按照所述模块参数运行；
检测模块，用于对运行中的所述电子模块进行检测，获得对应的检测结果。
12.根据权利要求11所述的检测装置，其特征在于，所述设置模块包括：
第一设置单元，用于获取单一设置操作，基于所述单一设置操作对单个电子模块的模块参数进行设置；或
第二设置单元，用于获取广播设置操作，基于所述广播设置操作对所有电子模块的模块参数进行设置。
13.根据权利要求11所述的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括第一检测单元，所述第一检测单元用于：
向运行中的所述电子模块发送操作指令；
获取所述电子模块基于所述操作指令的反馈信息；
基于所述反馈信息对所述电子模块的运行参数进行检测，获得对应的参数检测结果。
14.根据权利要求11所述的检测装置，其特征在于，所述检测模块包括第二检测单元，所述第二检测单元用于：
在设置待检测的电子模块的模块参数之后，对所述电子模块的功能运行进行检测，获得对应的功能检测结果。
15.根据权利要求11所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括显示模块，所述显示模块用于实时生成并输出与所述检测结果对应的显示信息。
16.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求6-10中任一项权利要求所述的方法。
CN202011048442.5A 2020-09-29 2020-09-29 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质 Active CN112213582B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011048442.5A CN112213582B (zh) 2020-09-29 2020-09-29 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011048442.5A CN112213582B (zh) 2020-09-29 2020-09-29 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112213582A true CN112213582A (zh) 2021-01-12
CN112213582B CN112213582B (zh) 2024-05-10

Family

ID=74051992

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011048442.5A Active CN112213582B (zh) 2020-09-29 2020-09-29 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112213582B (zh)

Citations (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050021260A1 (en) * 2003-06-26 2005-01-27 Robertson Naysen Jesse Use of I2C programmable clock generator to enable frequency variation under BMC control
CN1848092A (zh) * 2005-04-14 2006-10-18 华为技术有限公司 测试装置及方法
CN2862054Y (zh) * 2005-08-15 2007-01-24 东莞中逸电子有限公司 一种网络ic测试仪
CN101093395A (zh) * 2006-06-23 2007-12-26 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 脉宽调制风扇电气性能测试装置及方法
CN101236220A (zh) * 2008-03-07 2008-08-06 北京邮电大学 一种测试微动接触电阻的系统和方法
CN101718819A (zh) * 2009-11-06 2010-06-02 深圳市科陆电子科技股份有限公司 批量自动终端事件测试方法及其系统
CN201677754U (zh) * 2009-12-18 2010-12-22 东风襄樊仪表系统有限公司 一种汽车电子组合仪表
CN201892741U (zh) * 2010-09-30 2011-07-06 中国电力科学研究院 一种智能电表安全控制模块电气特性的检测装置
CN102506901A (zh) * 2011-11-25 2012-06-20 北京航空航天大学 一种多串口导航信息模拟集成系统
CN102890234A (zh) * 2012-09-21 2013-01-23 中国空间技术研究院 一种sram型fpga应用验证系统及应用验证方法
CN102931655A (zh) * 2011-08-12 2013-02-13 珠海全志科技股份有限公司 一种动态调节电压和频率的电路控制系统和方法
CN203587761U (zh) * 2013-08-29 2014-05-07 台州市菱士达电器有限公司 一种变频器主板测试装置
CN104007340A (zh) * 2014-05-21 2014-08-27 杭州互诚控制技术有限公司 电子产品老化测试系统以及老化测试方法
CN105067928A (zh) * 2015-08-11 2015-11-18 惠州华阳通用电子有限公司 一种汽车电子产品暗电流自动化测试方法及装置
CN106407062A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 珠海格力电器股份有限公司 工控芯片调试系统和调试方法
CN107478937A (zh) * 2017-09-22 2017-12-15 国网上海市电力公司 一种用于电能质量监测装置的检测平台及检测方法
CN107656233A (zh) * 2017-09-04 2018-02-02 国家电网公司 一种用于电能表软件自动测试的方法
JP2018189620A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 有限会社 山本エンジニアリング 部分放電、コロナ放電および沿面放電（以下コロナ放電等と表記）の放電量検出による絶縁物余寿命測定装置
CN108959148A (zh) * 2018-06-26 2018-12-07 郑州云海信息技术有限公司 服务器串口信息采集装置及方法
CN208367126U (zh) * 2018-07-10 2019-01-11 株洲中达特科电子科技有限公司 一种变压器测试系统
CN109743815A (zh) * 2019-02-01 2019-05-10 浙江晶日照明科技有限公司 一种led参数设置系统
CN110045283A (zh) * 2019-05-07 2019-07-23 广东工业大学 一种电机运行检测系统及方法
CN110351429A (zh) * 2019-07-15 2019-10-18 上海汉枫电子科技有限公司 一种使用手机基于无线方式配置串口设备的方法及装置

Patent Citations (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050021260A1 (en) * 2003-06-26 2005-01-27 Robertson Naysen Jesse Use of I2C programmable clock generator to enable frequency variation under BMC control
CN1848092A (zh) * 2005-04-14 2006-10-18 华为技术有限公司 测试装置及方法
CN2862054Y (zh) * 2005-08-15 2007-01-24 东莞中逸电子有限公司 一种网络ic测试仪
CN101093395A (zh) * 2006-06-23 2007-12-26 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 脉宽调制风扇电气性能测试装置及方法
CN101236220A (zh) * 2008-03-07 2008-08-06 北京邮电大学 一种测试微动接触电阻的系统和方法
CN101718819A (zh) * 2009-11-06 2010-06-02 深圳市科陆电子科技股份有限公司 批量自动终端事件测试方法及其系统
CN201677754U (zh) * 2009-12-18 2010-12-22 东风襄樊仪表系统有限公司 一种汽车电子组合仪表
CN201892741U (zh) * 2010-09-30 2011-07-06 中国电力科学研究院 一种智能电表安全控制模块电气特性的检测装置
CN102931655A (zh) * 2011-08-12 2013-02-13 珠海全志科技股份有限公司 一种动态调节电压和频率的电路控制系统和方法
CN102506901A (zh) * 2011-11-25 2012-06-20 北京航空航天大学 一种多串口导航信息模拟集成系统
CN102890234A (zh) * 2012-09-21 2013-01-23 中国空间技术研究院 一种sram型fpga应用验证系统及应用验证方法
CN203587761U (zh) * 2013-08-29 2014-05-07 台州市菱士达电器有限公司 一种变频器主板测试装置
CN104007340A (zh) * 2014-05-21 2014-08-27 杭州互诚控制技术有限公司 电子产品老化测试系统以及老化测试方法
CN105067928A (zh) * 2015-08-11 2015-11-18 惠州华阳通用电子有限公司 一种汽车电子产品暗电流自动化测试方法及装置
CN106407062A (zh) * 2016-08-29 2017-02-15 珠海格力电器股份有限公司 工控芯片调试系统和调试方法
JP2018189620A (ja) * 2017-05-08 2018-11-29 有限会社 山本エンジニアリング 部分放電、コロナ放電および沿面放電（以下コロナ放電等と表記）の放電量検出による絶縁物余寿命測定装置
CN107656233A (zh) * 2017-09-04 2018-02-02 国家电网公司 一种用于电能表软件自动测试的方法
CN107478937A (zh) * 2017-09-22 2017-12-15 国网上海市电力公司 一种用于电能质量监测装置的检测平台及检测方法
CN108959148A (zh) * 2018-06-26 2018-12-07 郑州云海信息技术有限公司 服务器串口信息采集装置及方法
CN208367126U (zh) * 2018-07-10 2019-01-11 株洲中达特科电子科技有限公司 一种变压器测试系统
CN109743815A (zh) * 2019-02-01 2019-05-10 浙江晶日照明科技有限公司 一种led参数设置系统
CN110045283A (zh) * 2019-05-07 2019-07-23 广东工业大学 一种电机运行检测系统及方法
CN110351429A (zh) * 2019-07-15 2019-10-18 上海汉枫电子科技有限公司 一种使用手机基于无线方式配置串口设备的方法及装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘立宗等: "智能电能表嵌入式安全控制模块电气特性检测系统的设计", 低压电器, no. 16, 30 August 2012 (2012-08-30), pages 33 - 37 *
路燈杰等: "基于LabVIEW与DSP通信的无线电能传输无线监控设计", 上海电机学院学报, vol. 23, no. 2, pages 93 - 98 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN112213582B (zh) 2024-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111063386A (zh) Ddr芯片测试方法和装置
CN108983077B (zh) 一种基于jtag链路的电路板测试系统及测试方法
CN106841977A (zh) 板卡的测试方法及系统
US11828787B2 (en) Eye diagram capture test during production
CN109298317A (zh) 一种中低频电路的智能化测试装置及其测试方法
CN106547653A (zh) 计算机系统故障状态检测方法、装置及系统
CN111693089A (zh) 装配线的产品质量控制方法、装置、设备及存储介质
CN108762243A (zh) 一种ecu功能测试平台和ecu功能测试方法
CN111324502A (zh) 批量测试系统及其方法
CN104572385A (zh) 存储器故障检测系统及方法
WO2021056101A1 (en) A method and apparatus for detection of counterfeit parts, compromised or tampered components or devices, tampered systems such as local communication networks, and for secure identification of components
CN113255271A (zh) 一种芯片io引脚自动验证系统及方法
CN104635141B (zh) 一种集成电路检测方法、装置及系统
US10613963B2 (en) Intelligent packet analyzer circuits, systems, and methods
CN108072855B (zh) 一种测试装置及测试系统
US7093174B2 (en) Tester channel count reduction using observe logic and pattern generator
CN104977483A (zh) 测试装置、测试系统以及测试方法
CN112213582A (zh) 电子模块的检测系统、检测方法、检测装置及存储介质
RU2430406C2 (ru) Автоматизированная система диагностирования цифровых устройств
CN115616372A (zh) 故障注入测试方法和系统
CN104750101A (zh) 一种机载询问机数字信号处理模块检测仪及其检测方法
CN107065660B (zh) 一种测试方法及系统
US20190122227A1 (en) IDD Signature
CN106019021B (zh) 电子设备测试装置的通用测试工装及其测试方法
CN105320120A (zh) 模拟空调压缩机启动失败的装置和方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant