CN111804606A - 电阻外观检测机的检测速度提升方法 - Google Patents

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杨从新
周林华
李永传
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    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
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    • B07C5/361Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
    • B07C5/362Separating or distributor mechanisms

Abstract

本发明涉及电阻检测领域,公开了电阻外观检测机的检测速度提升方法,在对多批次的电阻进行外观检测时,输送线在处理单元对当前批次电阻的图像进行运算处理时对下一批次电阻进行输送,不用等摄像单元完成摄像、处理器处理完电阻图像以及对电阻自动分拣后才能对下一批次电阻进行输送,进而减少检测电阻外观的步骤,节约检测时间,提高检测速度。

Description

电阻外观检测机的检测速度提升方法
技术领域
本发明涉及电阻检测领域,具体涉及电阻外观检测机的检测速度提升方法。
背景技术
电阻生产时通常是在大小为60mm*70mm的陶瓷基板上进行印刷、烧结、折粒、电镀和测试包装等等工序。由于电阻体积小,一块陶瓷基板上可以印刷几千甚至上万颗电阻,如果这些电阻的成品好坏都靠人工检测,效率无疑低下。
为了替代人工检测,现有电阻生产企业在电阻的生产线上安装CCD检测系统即电阻外观检测机,通过视觉技术对电阻外观进行检测,整体检测过程如下:电阻外观检测机使用时先通过输送线将电阻输送到摄像头下方,摄像头将拍摄的电阻图像发送给处理器,处理器对电阻图像进行处理,并根据处理结果对合格电阻和次品电阻进行自动分拣。然而此检测过程中输送线只有在摄像头完成拍摄、处理器处理完电阻图像以及对电阻自动分拣后,输送线才能继续输送,整个检测步骤过长,影响检测效率。
发明内容
鉴于背景技术的不足,本发明是提供了电阻外观检测机的检测速度提升方法,所要解决的技术问题是目前电阻外观检测机在检测电阻时步骤过长,检测速度慢。
为解决以上技术问题,本发明提供了如下技术方案:电阻外观检测机的检测速度提升方法,包括输送线、摄像单元、处理单元和自动分拣单元,输送线上沿输送线的输送方向依次设有摄像单元和自动分拣单元,该方法具体步骤如下:
S1:摄像单元将当前批次电阻的图像发送给处理单元后,处理单元先将当前批次电阻的图像存入缓冲区间,然后控制输送线将当前批次电阻输送到自动分拣单元、将下一批次电阻输送到摄像单元;
S2:在当前批次电阻输送到自动分拣单元的过程中,处理单元对缓冲区间中的当前批次电阻的图像进行运算处理,并筛选出当前批次电阻中的所有次品电阻;
S3:当前批次电阻到达自动分拣单元时,下一批次电阻到达摄像单元,接着处理单元先控制自动分拣单元对当前批次电阻中的成品电阻和次品电阻自动分拣;
S4:将摄像单元处的电阻作为当前批次电阻;
S5:重复执行步骤S1、S2、S3和S4,直至完成所有批次的电阻检测。
进一步,步骤S2中,处理单元对当前批次电阻的图像进行运算处理具体为处理单元先对当前批次电阻的图像进行二值化,然后对二值化后的图像去噪,接着对去噪后的图像分割,以此获取每个电阻的外观图像,最后根据每个电阻的外观图像判断该电阻是成品电阻还是次品电阻。
进一步,步骤S3中,在分拣完成后处理单元清除缓冲区间中的当前批次电阻的图像。
进一步,输送线上在下一批次电阻与摄像单元之间依次设有第一检测传感器和第二检测传感器,下一批次电阻运动到第一检测传感器时输送线以低于当前输送速度的速度将下一批次电阻从第一检测传感器输送到摄像单元,第二检测传感器用来检测下一批次电阻是否到达摄像单元的摄像位置。
本发明与现有技术相比所具有的有益效果是:在对多批次的电阻进行外观检测时,输送线在处理单元对当前批次电阻的图像进行运算处理时对下一批次电阻进行输送,不用等摄像单元完成摄像、处理器处理完电阻图像以及对电阻自动分拣后才能对下一批次电阻进行输送,进而减少检测电阻外观的步骤,提高检测速度。
附图说明
本发明有如下附图:
图1为实施例中实现本发明的检测结构框图。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例一:如图1所示,电阻外观检测机的检测速度提升方法,包括输送线5、摄像单元、处理单元和自动分拣单元,输送线5上沿输送线5的输送方向依次设有摄像单元和自动分拣单元,图1中的箭头方向为输送线的输送方向,该方法具体步骤如下:
S1:摄像单元将当前批次电阻1的图像发送给处理单元后,处理单元先将当前批次电阻1的图像存入缓冲区间,然后控制输送线将当前批次电阻1输送到自动分拣单元、将下一批次电阻2输送到摄像单元;
S2:在当前批次电阻1输送到自动分拣单元的过程中,处理单元对缓冲区间中的当前批次电阻1的图像进行运算处理,并筛选出当前批次电阻1中的所有次品电阻;
S3:当前批次电阻1到达自动分拣单元时,下一批次电阻2到达摄像单元,接着处理单元先控制自动分拣单元对当前批次电阻1中的成品电阻和次品电阻自动分拣;
S4:将摄像单元处的电阻作为当前批次电阻1;
S5:重复执行步骤S1、S2、S3和S4,直至完成所有批次的电阻检测。
本实施例的步骤S2中,处理单元对当前批次电阻1的图像进行运算处理具体为处理单元先对当前批次电阻1的图像进行二值化,然后对二值化后的图像去噪,接着对去噪后的图像分割,以此获取每个电阻的外观图像,最后根据每个电阻的外观图像判断该电阻是成品电阻还是次品电阻。
本实施例的步骤S3中,在分拣完成后处理单元清除缓冲区间中的当前批次电阻1的图像。
本实施例中,输送线1上在下一批次电阻2与摄像单元之间依次设有第一检测传感器3和第二检测传感器4。下一批次电阻2运动到第一检测传感器3时,第一检测传感器3像处理单元发送检测信号,处理单元接收到该检测信号时控制输送线1以低于当前输送速度的速度将下一批次电阻2从第一检测传感器3输送到摄像单元。当下一批次电阻2是否到达摄像单元的摄像位置时,第二检测传感器4向处理单元发送检测信号,处理单元接收到该检测信号时控制输送线停止运动。
通过此方式当下一批次电阻2距离摄像单元较远时,输送线1先快速将下一批次电阻2输送到第一检测传感器3,然后在慢速将下一批次电阻2从第一检测传感器输送到摄像单元的拍摄位置,不仅可以降低下一批次电阻2到达摄像单元的输送时间,还能实现是下一批次电阻精确停在摄像单元的拍摄位置。
实施例二:
在实施例一的基础上,对三批电阻进行外观检测,假设摄像单元对电阻的拍摄时间为T1、处理单元对电阻图形的处理时间和输送线1将一批电阻送到摄像单元的时间均为T2、处理单元控制自动分拣单元完成分拣的时间为T3,则现有技术对这三批电阻进行外观检测所用到的时间:
Tn=T2+T1+T2+T3+T2+T1+T2+T3+T2+T1+T2+T3=3T1+6T2+3T3,而采用本发明对这三批电阻进行外观检测所用到的时间Tm=T2+T1+T2+T3+T1+T2+T3+T2+T3=2T1+4T2+3T3,相对于现有技术,本发明共节约了T1+2T2的检测时间,提高了检测速度。
结合实施例一和实施例二,本发明在对多批次的电阻进行外观检测时,输送线1在处理单元对当前批次电阻的图像进行运算处理时对下一批次电阻进行输送,不用等摄像单元完成摄像、处理器处理完电阻图像以及对电阻自动分拣后才能对下一批次电阻进行输送,进而减少检测电阻外观的步骤,节约检测时间,提高检测速度。
上述依据本发明为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。

Claims (4)

1.电阻外观检测机的检测速度提升方法,包括输送线、摄像单元、处理单元和自动分拣单元,其特征在于:所述输送线上沿输送线的输送方向依次设有摄像单元和自动分拣单元,该方法具体步骤如下:
S1:摄像单元将当前批次电阻的图像发送给处理单元后,处理单元先将当前批次电阻的图像存入缓冲区间,然后控制输送线将当前批次电阻输送到自动分拣单元、将下一批次电阻输送到摄像单元;
S2:在当前批次电阻输送到自动分拣单元的过程中,处理单元对缓冲区间中的当前批次电阻的图像进行运算处理,并筛选出当前批次电阻中的所有次品电阻;
S3:当前批次电阻到达自动分拣单元时,下一批次电阻到达摄像单元,接着处理单元先控制自动分拣单元对当前批次电阻中的成品电阻和次品电阻自动分拣;
S4:分拣完成后,将摄像单元处的电阻作为当前批次电阻;
S5:重复执行步骤S1、S2、S3和S4,直至完成所有批次的电阻检测。
2.根据权利要求1所述的电阻外观检测机的检测速度提升方法,其特征在于:步骤S2中,处理单元对当前批次电阻的图像进行运算处理具体为处理单元先对当前批次电阻的图像进行二值化,然后对二值化后的图像去噪,接着对去噪后的图像分割,以此获取每个电阻的外观图像,最后根据每个电阻的外观图像判断该电阻是成品电阻还是次品电阻。
3.根据权利要求1所述的电阻外观检测机的检测速度提升方法,其特征在于:步骤S3中,在分拣完成后处理单元清除缓冲区间中的当前批次电阻的图像。
4.根据权利要求1所述的电阻外观检测机的检测速度提升方法,其特征在于:所述输送线上在下一批次电阻与摄像单元之间依次设有第一检测传感器和第二检测传感器,所述下一批次电阻运动到第一检测传感器时输送线以低于当前输送速度的速度将下一批次电阻从第一检测传感器输送到摄像单元,所述第二检测传感器用来检测下一批次电阻是否到达摄像单元的摄像位置。
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