CN111599710A - 太阳能电池片的测试设备及测试方法 - Google Patents

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CN111599710A CN202010527568.4A CN202010527568A CN111599710A CN 111599710 A CN111599710 A CN 111599710A CN 202010527568 A CN202010527568 A CN 202010527568A CN 111599710 A CN111599710 A CN 111599710A
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刘晓兵
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赵福祥
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Abstract

本发明公开了一种太阳能电池片的测试设备,包括用于与太阳能电池片正面主栅电性接触的第一测试装置以及用于与太阳能电池片背面电极电性接触的第二测试装置以及连接在所述第一测试装置和第二测试装置之间的测试系统,所述第一测试装置包括底框、导电薄膜以及用于将所述导电薄膜固定在所述底框上的压条,所述底框上形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,所述导电薄膜覆盖所述测试空间;所述第二测试装置由下至上依次包括支撑架、测试支架以及测试台面,所述测试台面上具有用于与太阳能电池片的背面电极电性接触的探点。本发明的太阳能电池片的测试设备,避免了探针的伸缩不良导致的电池片隐裂或碎片问题,且能够适用于多种规格的电池片。

Description

太阳能电池片的测试设备及测试方法
技术领域
本发明属于光伏生产制造及测试检验技术领域,具体涉及一种太阳能电池片的测试设备以及基于该测试设备进行太阳能电池片测试的测试方法。
背景技术
目前光伏发展迅速,多种高效电池片崭露头角,同时也有许多不同规格尺寸的电池片出现,但类型繁多电池片在测试过程中存在以下的缺点:传统的电池片采用的都是3-5条探针按压式的方法进行电性能测试,但对于多主栅技术或者尺寸规格不同的电池片来说,这样的测试方法显然并不通用;探针在按压过程中,电池片受力可能不均匀,会导致电池片隐裂;探针在按压过程中,如若探针异常无法及时压缩,会导致电池片碎片;测试不同类型的电池片时,为保障测试精确性,必须更换相应数量的探针排,操作工序复杂;探针排更换后,可能造成部分探针排未能更换至电极的准确位置,导致测试结果出现误差,测试结果准确率差。
发明内容
有鉴于此,为了克服现有技术的缺陷,本发明的目的是提供一种改进的太阳能电池片的测试设备,其能够解决现有光伏电池片在测试过程中,电池片因探针下压导致的隐裂及碎片,并且解决因更换探针导致电池片电性能测试出现误差等问题。
为了达到上述目的,本发明采用以下的技术方案:
一种太阳能电池片的测试设备,包括用于与太阳能电池片正面主栅电性接触的第一测试装置以及用于与太阳能电池片背面电极电性接触的第二测试装置以及连接在所述第一测试装置和第二测试装置之间的测试系统,所述第一测试装置包括底框、导电薄膜以及用于将所述导电薄膜固定在所述底框上的压条,所述底框上形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,所述导电薄膜覆盖所述测试空间;所述第二测试装置由下至上依次包括支撑架、测试支架以及测试台面,所述测试台面上具有用于与太阳能电池片的背面电极电性接触的探点,所述探点凸出所述测试台面的表面。
通过在底框上用压条固定有导电薄膜,使导电薄膜替代探针与电池片的主栅进行接触,从而实现对电池片的测试。由于导电薄膜为一个平面,能够适用于多主栅电池片,且导电薄膜与主栅之间为柔性接触,相对于现有技术中的探针与主栅的刚性接触更能保护电池片,避免电池片的隐裂及碎片;且主栅高于电池片,导电薄膜先与主栅接触,不会出现部分主栅没有接触到导致的测量结果不准确的问题。采用金属材质的探点与待测电池片电性接触进行测试,替代了传统伸缩式的探针,避免了探针的伸缩不良导致的电池片隐裂或碎片问题,且能够适用于多种规格的电池片。
优选地,所述第一测试装置包括用于调节所述导电薄膜张力的张力调节机构,所述张力调节机构包括滑动设置在所述底框上的调节块以及用于调节所述调节块在所述底框上位置的调节旋钮,所述导电薄膜的至少一边固定在所述调节块上。通过张力调节机构可以实现对导电薄膜的张力进行调整,使其适用于不同规格的电池片。调节旋钮与调节块之间螺纹连接,通过旋转调节旋钮实现调节块的移动。
更加优选地,所述底框包括由四根分框首尾连接形成的矩形框,所述底框中的至少一个分框上固定有所述压条,所述底框的剩余分框上设置有所述张力调节机构。四根分框连接后形成测试空间,测试时,将电池片放置在测试空间内进行测试。
在一些实施例中,所述底框中相邻的两个分框上固定有所述压条,与所述压条相对的两个分框上设置有所述张力调节机构。通过将导电薄膜的两边完全固定,相对的另外两边固定在调节块上,能够实现对导电薄膜的两个方向的张力的调节。
在一些实施例中,所述第一测试装置还包括水平度调节机构,所述水平度调节机构包括设置在底框四个边角处的调节脚,所述调节脚螺纹连接在所述底框上。通过旋转不同位置的调节脚从而调节底框以及导电薄膜的水平度,使导向薄膜与待测电池片保持平行。
优选地,所述导电薄膜为镀有FTO或者ITO或者石墨烯导电材料的薄膜;所述导电薄膜的透光度在50-100%;所述导电薄膜的电阻率在1.5×10-8~5×10-2Ω.cm。控制导电薄膜的透光度以及电阻率以保证测试结果的准确。
在一些实施例中,所述底框上开设有用于容纳所述压条的容纳槽、用于容纳所述调节块的调节槽,所述压条容纳在所述容纳槽内,所述调节块容纳在所述调节槽内。通过将压条以及调节块容纳在底框内,使得第一测试装置的整体结构更加紧凑。在本发明的一些实施例中,导电薄膜、底框、压条、调节块、调节旋钮以及调节脚等均可拆卸连接,便于安装、拆卸、维修和保养。
优选地,所述探点向下延伸依次贯穿所述测试台面、测试支架以及支撑架,所述探点与所述测试台面、测试支架以及支撑架之间设置有绝缘套,即探点与支撑架、测试支架以及测试台面之间绝缘设置。
优选地,所述测试支架的上表面开设有凹槽,所述凹槽与测试台面下表面之间形成供气流通过的通道,所述测试台面对应所述凹槽开设有气孔,所述气孔贯穿所述测试台面的厚度方向。通过在通道内送入压缩气体,使得气孔内形成微负压,从而将待测电池片吸附在测试台面上,使得待测电池片的背面电极与探点之间有效接触。
更加优选地,所述测试支架的上表面上开设有多条凹槽,所述测试台面对应每条凹槽上开设有多个气孔,同一条凹槽上的气孔形成气孔列,相邻气孔列之间的距离相同,同一气孔列上的相邻气孔之间的距离相同;相邻的所述气孔列之间均匀分布有所述探点。通过开设多条凹槽、多个气孔,且气孔均匀分布在测试台面上,使得测试台面对待测电池片的吸附更加稳定,待测电池片的受力更加均衡,避免了气孔过于集中导致电池片受力不均匀、出现碎片或隐裂的问题。
其中,相邻的所述气孔列之间均匀分布有所述探点。探点均匀分布,一方面能够保证每个背面电极至少与一个探点接触,另一方面使得探点与待测电池片之间均匀接触,待测电池片受力均匀。
在一些实施例中,所述凹槽的直径范围为0.5-5.0mm;所述气孔的直径范围为0.5-5.0mm。气孔过大或过小,负压的形成效果均不好。所述探点的直径为0.1-1mm,所述探点高出测试台面表面0.1-1.5mm,相邻探点之间的距离为1-3mm。控制探点的直径以及高度,使得探点与待测电池片的背面电极间的连接更加有效。
优选地,所述测试台面和测试支架之间设置有密封圈,所述测试台面的上表面以及测试支架的下表面上开设有密封槽,所述密封圈容纳在所述密封槽内。所述密封圈以及密封槽围绕在所有所述凹槽的外围。通过设置密封圈,保证了测试台面与测试支架之间的气密性,防止漏气,保证了气孔内的负压状态。
在一些实施例中,所述测试支架与支撑架之间设置有绝缘垫块,所述绝缘垫块的体积大于或等于所述测试支架与支撑架之间的接触面积,以保证支撑架与其上方的测试支架和测试台面之间电绝缘。
优选地,所述测试设备包括用于接通和断开所述探点的控制装置,所述控制装置包括用于在测试时拍摄第二测试装置的照相机构、用于控制探点工作的控制器以及连接在所述控制器和照相机构之间的处理器。通过设置控制装置,在测试时,控制位于待测电池片外的探点断开、不接入闭合回路中,避免待测电池片外的探点与上方的导电薄膜接触,影响测试结果。
具体的,照相机构包括相机,测试时,对待测电池片进行拍照,并将拍照所得的信息发送至处理器,处理器处理信息并通过控制器将待测电池片外的探点断开。位于待测电池片内的探点,即使没有与背面电极接触,也不会影响到测试结果。
本发明还提供了一种如上所述的测试设备进行太阳能电池片测试的测试方法,包括如下步骤:
1)将待测电池片移入第一测试装置和第二测试装置之间,并放置在第二测试装置的测试台面上;
2)使测试台面的气孔内形成微负压,将电池片吸附在测试台面上,电池片的背面电极与测试台面上的探点接触;
3)照相机构对测试台面以及待测电池片进行拍照,并输出原始信号至处理器,处理器接收所述原始信号并计算待测电池片的工作面积,得到面积信号,并将所述面积信号输送至控制器,控制器接收所述面积信号并控制位于待测电池片工作面积内的探点导通,位于待测电池片工作面积外的探点断开;
4)将第一测试装置下压,使导电薄膜与待测电池片的正面栅线接触;
5)待测电池片的正面栅线通过导电薄膜与测试系统连接,待测电池片的背面电极通过探点与测试系统连接,待测电池片的正面栅线和背面电极间形成闭合回路,进行测试。测试系统用于测试,收集数据并进行结果分析。
与现有技术相比,本发明的有益之处在于:本发明的太阳能电池片的测试设备,其中第一测试装置通过在底框上用压条固定有导电薄膜,使导电薄膜替代探针与电池片的主栅进行接触,从而实现对电池片的测试。由于导电薄膜为一个平面,能够适用于多主栅电池片,且导电薄膜与主栅之间为柔性接触,相对于现有技术中的探针与主栅的刚性接触更能保护电池片,避免电池片的隐裂及碎片;且主栅高于电池片,导电薄膜先与主栅接触,不会出现部分主栅没有接触到导致的测量结果不准确的问题。第二测试装置采用金属材质的探点与待测电池片电性接触进行测试,替代了传统伸缩式的探针,避免了探针的伸缩不良导致的电池片隐裂或碎片问题,且能够适用于多种规格的电池片。采用本发明的测试设备,解决了电池片因探针下压导致的隐裂及碎片;避免了因更换探针导致电池片电性能测试出现误差;同时改善了因测试不同数量主栅或者不同类型需更换探针排的繁琐工序等问题,从而达到增加测试效率、提高测试准确率及避免测试污染等目的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的太阳能电池片的第一测试装置的俯视图;
图2是本发明实施例提供的太阳能电池片的第一测试装置的剖视主视图;
图3是本发明实施例提供的太阳能电池片第二测试装置的截面图;
图4是本发明实施例提供的太阳能电池片第二测试装置的俯视局部剖视图。
其中,附图标记包括:1-支撑架,2-绝缘垫块,3-测试支架,4-测试台面,5-橡胶垫圈,6-金属探点,7-绝缘套,8-相机,9-处理器,10-控制器,11-气道,12-气孔,13-导电薄膜,14-底框,15-压条,16-调节旋钮,17-调节块,18-调节脚。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明的技术方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
实施例1太阳能电池片的测试设备
参照附图1-4,本实施例的太阳能电池片的测试设备,包括用于与太阳能电池片正面主栅电性接触的第一测试装置以及用于与太阳能电池片背面电极电性接触的第二测试装置以及连接在所述第一测试装置和第二测试装置之间的测试系统。
参照附图1-2,本实施例的第一测试装置,包括底框14、导电薄膜13、用于将导电薄膜13固定在底框14上的压条15、用于调节导电薄膜13张力的张力调节机构以及水平度调节机构,底框14包括由四根分框首尾连接形成的矩形框,四根分框连接后形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,导电薄膜13覆盖测试空间。测试时,将电池片放置在测试空间内进行测试。导电薄膜13与底框14、压条15以及调节块17电绝缘。
其中,张力调节机构包括滑动设置在底框14上的调节块17以及用于调节调节块17在底框14上位置的调节旋钮16,导电薄膜13的至少一边固定在调节块17上。本实施例中底框14中相邻的两个分框上固定有压条15,与压条15相对的两个分框上设置有张力调节机构。通过将导电薄膜13的两边完全固定,相对的另外两边固定在调节块17上,能够实现对导电薄膜13的两个方向的张力的调节。通过张力调节机构可以实现对导电薄膜13的张力进行调整,使其适用于不同规格的电池片。调节旋钮16与调节块17之间螺纹连接,通过旋转调节旋钮16实现调节块17的移动。
水平度调节机构包括设置在底框14四个边角处的调节脚18,调节脚18螺纹连接在底框14上。通过旋转不同位置的调节脚18从而调节底框14以及导电薄膜13的水平度,使导向薄膜与电池片保持平行。
导电薄膜13为特定的导电材料制成,包括但不限于镀有FTO或者ITO或者石墨烯等导电材料的薄膜结构。且导电薄膜13的透光度在50-100%;导电薄膜13的电阻率在1.5×10-8~5×10-2Ω.cm。控制导电薄膜13的透光度以及电阻率以保证测试结果的准确。
在本实施例中,导电薄膜13、底框14、压条15、调节块17、调节旋钮16以及调节脚18等均可拆卸连接,便于安装、拆卸、维修和保养。
在其他的一些实施例中,底框14上开设有用于容纳压条15的容纳槽、用于容纳调节块17的调节槽,压条15容纳在容纳槽内,调节块17容纳在调节槽内。通过将压条15以及调节块17容纳在底框14内,使得第一测试装置的整体结构更加紧凑。
如图3-4所示,本实施例的第二测试装置,其适用于与待测电池片的背面电极电性接触后对电池片进行测试,其由下至上依次包括支撑架1、测试支架3以及测试台面4,测试台面4上具有用于与太阳能电池片的背面电极电性接触的金属材质探点6,探点6凸出测试台面4的表面,测试台面4用于将电池片进行吸附。探点6向下延伸依次贯穿测试台面4、测试支架3以及支撑架1,探点6与测试台面4、测试支架3以及支撑架1之间设置有绝缘套7,即探点6与支撑架1、测试支架3以及测试台面4之间绝缘设置。
测试支架3的上表面开设有凹槽,凹槽与测试台面4下表面之间形成供气流通过的通道11,测试台面4对应凹槽开设有气孔12,气孔12贯穿测试台面4的厚度方向。通过在通道11内送入压缩气体,使得气孔12内形成微负压,从而将待测电池片吸附在测试台面4上,使得待测电池片的背面电极与探点6之间有效接触。如图2所示,本实施例中的测试支架3的上表面上开设有多条凹槽,测试台面4对应每条凹槽上开设有多个气孔12,同一条凹槽上的气孔12形成气孔12列,相邻气孔12列之间的距离相同,同一气孔12列上的相邻气孔12之间的距离相同。通过开设多条凹槽、多个气孔12,且气孔12均匀分布在测试台面4上,使得测试台面4对待测电池片的吸附更加稳定,待测电池片的受力更加均衡,避免了气孔12过于集中导致电池片受力不均匀、出现碎片或隐裂的问题。
相邻的气孔12列之间均匀分布有探点6。探点6均匀分布,一方面能够保证每个背面电极至少与一个探点6接触,另一方面使得探点6与待测电池片之间均匀接触,待测电池片受力均匀。
本实施例中的凹槽直径为1mm,气孔12的直径为1mm,与凹槽的直径相同。气孔12过大或过小,负压的形成效果均不好。在其他的实施例中,凹槽的直径范围为0.5-5.0mm;气孔12的直径范围为0.5-5.0mm。本实施例中探点6的直径为0.8mm探点6高出测试台面4的表面0.5mm,相邻探点6之间的距离为3mm。控制探点6的直径以及高度,使得探点6与待测电池片的背面电极间的连接更加有效。在其他的实施例中,探点6的直径为0.1-1mm,探点6高出测试台面4表面0.1-1.5mm,相邻探点6之间的距离为1-3mm。
如图2所示,测试台面4和测试支架3之间设置有密封圈5,测试台面4的上表面以及测试支架3的下表面上开设有密封槽,密封圈5容纳在密封槽内,密封圈5以及密封槽围绕在所有凹槽的外围。通过设置密封圈5,保证了测试台面4与测试支架3之间的气密性,防止漏气,保证了气孔12内的负压状态。
如图1所示,测试支架3与支撑架1之间设置有绝缘垫块2如橡胶块,绝缘垫块2的体积大于或等于测试支架3与支撑架1之间的接触面积,以保证支撑架1与其上方的测试支架3和测试台面4之间电绝缘。
在其他实施例中,若待测电池片的背面为弧形,那么测试台面4也设置成与电池片背面相匹配的弧度,以与待测电池片更好地贴合。
为了防止在测试时待测电池片工作面积外的探点与导电薄膜接触,从而对测试结果产生影响,本实施例在第二测试装置上增加了用于接通和断开探点的控制装置,控制装置包括用于在测试时拍摄第二测试装置的照相机构、用于控制探点工作的控制器10以及连接在控制器10和照相机构之间的处理器9。通过设置控制装置,在测试时,控制位于待测电池片外的探点断开、不接入闭合回路中,避免待测电池片外的探点与上方的导电薄膜接触,影响测试结果。在其他的实施例中,在测试时使得导电薄膜与金属探点不接触,那么用于控制探点工作状态的控制机构也可以去除。
具体的,照相机构包括相机8,测试时,对待测电池片进行拍照,并将拍照所得的信息发送至处理器9,处理器9处理信息并通过控制器10将待测电池片外的探点断开。而位于待测电池片内的探点,即使没有与背面电极接触,也不会影响到测试结果。
本实施例的第一测试装置,通过在测试台面上方设置有用于压紧待测电池片的导电薄膜13,结构整体呈矩形框状,替代了以往的下压探针,导电薄膜13一端或者多端与边框固定,另外多端或者一端与张力调节机构相连,通过旋转调节旋钮16可以实现对导电薄膜13进行涨紧,使导电薄膜13具有一定张力,以适用于不同规格的电池片。本实施例的第二测试装置包括支撑架1及设置于支撑架1上的测试支架3,测试支架3与支撑架1之间有绝缘垫块2确保电绝缘;测试支架3表面有凹槽及两端的进出气口,与测试台面4的下表面之间形成贯穿的通道11;测试台面4分布有气孔12,并开口于通道11的正上方;测试台面4和测试支架3之间有橡胶垫圈,合至一起并在通道11中通入压缩空气时,可在气压的作用下对测试台面4上的待测电池片进行吸附;测试台面4设置有多个金属探点6,金属探点6与测试台面4及测试支架3之间电绝缘并用绝缘套7分隔,金属探点6微凸于测试台面4,确保能与待测电池片紧密接触;探点6的下端通过电线实现与测试设备电性连接,以进行测试。
采用本发明的测试设备,解决了电池片因探针下压导致的隐裂及碎片;避免了因更换探针导致电池片电性能测试出现误差;同时改善了因测试不同数量主栅或者不同类型需更换探针排的繁琐工序等问题,从而达到增加测试效率、提高测试准确率及避免测试污染等目的。
实施例2太阳能电池片的测试方法
基于实施例1中的太阳能电池片的测试设备,本实施例中的测试方法具体包括如下步骤:
a.将待测电池片移入第一测试装置和第二测试装置之间,并放置在第二测试装置的测试台面上。
b.向测试支架与测试台面间的通道中通入压缩空气,压缩空气在通道内快速通过,使测试台面的气孔内形成微负压,将电池片吸附在测试台面上。
c.微凸于测试台面的多个金属探点,与待测电池片背面电极接触,并确保待测电池片的每个背面电极均至少与一个金属探点电性接触,金属探点的下端通过接线与测试系统连接。
d.测试台面上方照相机构中的相机对测试台面以及待测电池片进行拍照,并输出原始信号至处理器,处理器接收所述原始信号并计算待测电池片的工作面积,得到面积信号,并将所述面积信号输送至控制器,控制器接收所述面积信号并控制位于待测电池片工作面积内的探点导通,位于待测电池片工作面积外的探点断开。
即处理器通过控制器控制金属探点的工作状态,待测电池片工作面积内的金属探点正常工作,处于工作状态,非待测电池片工作面积内的金属探点不工作,处于断开状态。
控制装置的作用在于避免待测电池片工作面积外的探点与上方的导电薄膜接触,从而对结果产生影响。如果能够在测试时保证导电薄膜与金属探点不会接触,那么用于控制探点工作状态的控制机构也是可以去除的。
e.带有导电薄膜结构的第一测试装置下压,导电薄膜与电池片正面栅线接触,导电薄膜通过接线与测试系统连接。
f.待测电池片的正面栅线通过导电薄膜与测试系统连接,待测电池片的背面电极通过探点与测试系统连接,待测电池片的正面栅线和背面电极间形成闭合回路,进行测试。测试系统用于测试,收集数据并进行结果分析。
以上为了方便理解和叙述,将测试方法分为上述几个步骤,在实际的测试中,上述部分步骤能够同时进行以提高效率。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施,并不能以此限制本发明的保护范围,凡根据本发明精神实质所作的等效变化或修饰,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种太阳能电池片的测试设备,包括用于与太阳能电池片正面主栅电性接触的第一测试装置以及用于与太阳能电池片背面电极电性接触的第二测试装置以及连接在所述第一测试装置和第二测试装置之间的测试系统,其特征在于:所述第一测试装置包括底框、导电薄膜以及用于将所述导电薄膜固定在所述底框上的压条,所述底框上形成有用于容纳太阳能电池片的测试空间,所述导电薄膜覆盖所述测试空间;所述第二测试装置由下至上依次包括支撑架、测试支架以及测试台面,所述测试台面上具有用于与太阳能电池片的背面电极电性接触的探点,所述探点凸出所述测试台面的表面。
2.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述第一测试装置包括用于调节所述导电薄膜张力的张力调节机构,所述张力调节机构包括滑动设置在所述底框上的调节块以及用于调节所述调节块在所述底框上位置的调节旋钮,所述导电薄膜的至少一边固定在所述调节块上。
3.根据权利要求2所述的测试设备,其特征在于:所述底框包括由四根分框首尾连接形成的矩形框,所述底框中的至少一个分框上固定有所述压条,所述底框的剩余分框上设置有所述张力调节机构。
4.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述导电薄膜为镀有FTO或者ITO或者石墨烯导电材料的薄膜;所述导电薄膜的透光度在50-100%;所述导电薄膜的电阻率在1.5×10-8~5×10-2Ω.cm。
5.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述探点向下延伸依次贯穿所述测试台面、测试支架以及支撑架,所述探点与所述测试台面、测试支架以及支撑架之间设置有绝缘套。
6.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述测试支架的上表面开设有凹槽,所述凹槽与测试台面下表面之间形成供气流通过的通道,所述测试台面对应所述凹槽开设有气孔,所述气孔贯穿所述测试台面的厚度方向。
7.根据权利要求6所述的测试设备,其特征在于:所述测试支架的上表面上开设有多条凹槽,所述测试台面对应每条凹槽上开设有多个气孔,同一条凹槽上的气孔形成气孔列,相邻气孔列之间的距离相同,同一气孔列上的相邻气孔之间的距离相同;相邻的所述气孔列之间均匀分布有所述探点。
8.根据权利要求1所述的测试设备,其特征在于:所述测试台面和测试支架之间设置有密封圈,所述测试台面的上表面以及测试支架的下表面上开设有密封槽,所述密封圈容纳在所述密封槽内。
9.根据权利要求1-8任意一项所述的测试设备,其特征在于:所述测试设备包括用于接通和断开所述探点的控制装置,所述控制装置包括用于在测试时拍摄第二测试装置的照相机构、用于控制探点工作的控制器以及连接在所述控制器和照相机构之间的处理器。
10.一种如权利要求1-9任意一项所述的测试设备进行太阳能电池片测试的测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
1)将待测电池片移入第一测试装置和第二测试装置之间,并放置在第二测试装置的测试台面上;
2)使测试台面的气孔内形成负压,将电池片吸附在测试台面上,电池片的背面电极与测试台面上的探点接触;
3)照相机构对测试台面以及待测电池片进行拍照,并输出原始信号至处理器,处理器接收所述原始信号并计算待测电池片的工作面积,得到面积信号,并将所述面积信号输送至控制器,控制器接收所述面积信号并控制位于待测电池片工作面积内的探点导通,位于待测电池片工作面积外的探点断开;
4)将第一测试装置下压,使导电薄膜与待测电池片的正面栅线接触;
5)待测电池片的正面栅线通过导电薄膜与测试系统连接,待测电池片的背面电极通过探点与测试系统连接,待测电池片的正面栅线和背面电极间形成闭合回路,进行测试。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115085666A (zh) * 2021-03-12 2022-09-20 江苏润阳光伏科技有限公司 一种测试双面电池片防止曝光影响的治具及其使用方法
US11768242B1 (en) 2022-08-31 2023-09-26 Fluke Corporation Analyzer and method for regulations testing of a solar installation
US12455318B2 (en) 2022-08-31 2025-10-28 Fluke Corporation Analyzer and method for regulations testing of a solar installation

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103490724A (zh) * 2013-09-05 2014-01-01 上海伟信新能源科技有限公司 一种全背接触太阳能电池测试台
KR20140109634A (ko) * 2013-03-06 2014-09-16 엘지전자 주식회사 태양 전지 측정 장치
CN105827201A (zh) * 2016-04-08 2016-08-03 浙江晶科能源有限公司 一种晶硅太阳能无主栅电池片iv测试装置
CN106301218A (zh) * 2016-11-01 2017-01-04 常州天合光能有限公司 一种用于多主栅电池片的测试装置
US20170331427A1 (en) * 2014-11-07 2017-11-16 Solexel, Inc. Temporary Field Assisted Passivation For Testing Of Partially Processed Photovoltaic Solar Cells
CN208478302U (zh) * 2018-07-23 2019-02-05 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 电池片测试装置
CN111082748A (zh) * 2020-01-07 2020-04-28 通威太阳能(眉山)有限公司 测试装置和测试方法
CN211907456U (zh) * 2020-06-11 2020-11-10 韩华新能源(启东)有限公司 太阳能电池片的测试设备
CN211907387U (zh) * 2020-06-11 2020-11-10 韩华新能源(启东)有限公司 太阳能电池片的测试装置
CN211980571U (zh) * 2020-06-11 2020-11-20 韩华新能源(启东)有限公司 一种太阳能电池片的测试装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140109634A (ko) * 2013-03-06 2014-09-16 엘지전자 주식회사 태양 전지 측정 장치
CN103490724A (zh) * 2013-09-05 2014-01-01 上海伟信新能源科技有限公司 一种全背接触太阳能电池测试台
US20170331427A1 (en) * 2014-11-07 2017-11-16 Solexel, Inc. Temporary Field Assisted Passivation For Testing Of Partially Processed Photovoltaic Solar Cells
CN105827201A (zh) * 2016-04-08 2016-08-03 浙江晶科能源有限公司 一种晶硅太阳能无主栅电池片iv测试装置
CN106301218A (zh) * 2016-11-01 2017-01-04 常州天合光能有限公司 一种用于多主栅电池片的测试装置
CN208478302U (zh) * 2018-07-23 2019-02-05 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司 电池片测试装置
CN111082748A (zh) * 2020-01-07 2020-04-28 通威太阳能(眉山)有限公司 测试装置和测试方法
CN211907456U (zh) * 2020-06-11 2020-11-10 韩华新能源(启东)有限公司 太阳能电池片的测试设备
CN211907387U (zh) * 2020-06-11 2020-11-10 韩华新能源(启东)有限公司 太阳能电池片的测试装置
CN211980571U (zh) * 2020-06-11 2020-11-20 韩华新能源(启东)有限公司 一种太阳能电池片的测试装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115085666A (zh) * 2021-03-12 2022-09-20 江苏润阳光伏科技有限公司 一种测试双面电池片防止曝光影响的治具及其使用方法
US11768242B1 (en) 2022-08-31 2023-09-26 Fluke Corporation Analyzer and method for regulations testing of a solar installation
US12455318B2 (en) 2022-08-31 2025-10-28 Fluke Corporation Analyzer and method for regulations testing of a solar installation

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