CN111289011B - 光纤陀螺多组件测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种光纤陀螺多组件测试系统,包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路,耦合器的输入一端连接光源,耦合器的输入二端连接探测器,耦合器的输出一端连接Y波导的一端,耦合器的输出二端为尾纤C,Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。本发明测试系统实现了对不同组件测试时,不同光路损耗下,探测器信号在最佳附近;解决不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题,通过对光路和电路进行设计,实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。
Description
技术领域
本发明属于光纤环组件模块的温度性能测试技术领域,尤其涉及一种光纤陀螺多组件测试系统。
背景技术
现有技术中,对光纤环组件等模块进行温度性能测试时,主要是将陀螺测试和光纤环测试(适应各种尺寸的光纤环)相结合,而不能对多种组件进行测试,不同种类的待测组件所需光路和电路不一致,并且测量精度有待于提高。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种光纤陀螺多组件测试系统,针对不同类型的光纤陀螺组件测试需求,根据实际情况与待测组件熔接、连接,并调整适当光功率,实现光纤陀螺组件的测量。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:提供一种光纤陀螺多组件测试系统,包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路,耦合器的输入一端连接光源,耦合器的输入二端连接探测器,耦合器的输出一端连接Y波导的一端,耦合器的输出二端为尾纤C,Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。
按上述技术方案,主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。
按上述技术方案,光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上,光纤环放置于温箱中。
按上述技术方案,待测组件包括Y波导与光纤环,该Y波导尾纤与系统耦合器尾纤C相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到组件的Y波导电极上,待测组件中的Y波导与光纤环尾纤两两连接。
按上述技术方案,待测组件包括光纤环、Y波导、待测耦合器,待测耦合器的一端与待测Y波导的一端连接,待测Y波导的另外2端与光纤环尾纤两两连接,待测耦合器的另外2端分别与系统耦合器尾纤C第二探测器的尾纤D相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到待测组件Y波导电极,待测组件放置于温箱中。
按上述技术方案,光源为SLD或ASE光源。
本发明方案解决的技术问题是:首先解决光源功率光功率匹配问题:通过高精度DAC 芯片输出可控电压来调整光源驱动电流,实现光源光功率可调。通过调整光源驱动电流,得到合适的光功率,实现对不同组件测试时,不同光路损耗下,探测器信号在最佳附近;其次解决不同待测组件光路、电路兼容问题:解决了不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题,通过对光路和电路进行设计,实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。
本发明产生的有益效果是:1)具备光源温控及驱动电流可调功能,系统可根据待测件实际损耗情况,调整合适光功率,使系统测试多种待测组件;
2)具备多种待测组件温度测试功能,待测件可以为:“光纤环”、“光纤环+Y波导”组件和“光纤环+Y波导+耦合器”组件;
3)具备两路信号检测电路,可根据待测件不同,选用其中之一检测电路进行待测件测试;
4)实现两路、三路甚至更多的测量通道的组合系统。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:
图1是本发明实施例光纤陀螺多组件测试系统示意图;
图2是本发明实施例中光纤环组件测试连接示意图;
图3是本发明实施例中光纤环+Y波导组件测试连接示意图;
图4是本发明实施例中光纤环+Y波导+耦合器组件测试连接示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本发明实施例中,提供一种光纤陀螺多组件测试系统,光源为SLD或ASE 光源,包括一个2×2耦合器、Y波导、探测器、、主控电路以及上位机。主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出。
将Y波导尾纤A和B,耦合器尾纤C、探测器尾纤D引出至系统外时:
1)当待测件为光纤环时,将光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接,调整合适的光源驱动电流,闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上。光纤环放置于试验平台或环境中,本测试系统即实现了对光纤环的测试,见附图2。
2)当待测件为“光纤环+Y波导”组件时,将待测组件的Y波导尾纤与系统耦合器尾纤C相熔接,调整适当光源驱动电流,同时将闭环反馈信号加载到组件的Y波导电极上,待测组件放置于试验平台或环境中,本测试系统即实现了对“光纤环+Y波导”组件的测试,见附图3。
3)当待测件为“光纤环+Y波导+耦合器”组件时,将待测组件耦合器之一尾纤与系统耦合器尾纤C熔接,将待测组件耦合器另一尾纤与探测器尾纤D相熔接,调整适当光源驱动电流,闭环反馈信号加载到待测组件Y波导(外部波导)电极后,待测组件放置于试验平台或环境中,本测试系统即实现了对“光纤环+Y波导+耦合器”组件的测试,见附图4。
应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (5)
1.一种光纤陀螺多组件测试系统,其特征在于,包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路,耦合器的输入一端连接光源,耦合器的输入二端连接探测器,耦合器的输出一端连接Y波导的一端,耦合器的输出二端为尾纤C,Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B,待测组件包括Y波导与光纤环,该Y波导尾纤与系统耦合器尾纤C相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到组件的Y波导电极上,待测组件中的Y波导与光纤环尾纤两两连接。
2.根据权利要求1所述的光纤陀螺多组件测试系统,其特征在于,主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。
3.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统,其特征在于,光纤环尾纤与Y波导尾纤A和B相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到系统内部Y波导上,光纤环放置于温箱中。
4.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统,其特征在于,待测组件包括光纤环、Y波导、待测耦合器,待测耦合器的一端与待测Y波导的一端连接,待测Y波导的另外2端与光纤环尾纤两两连接,待测耦合器的另外2端分别与系统耦合器尾纤C第二探测器的尾纤D相熔接,调整光源可调驱动电流,闭环反馈信号加载到待测组件Y波导电极,待测组件放置于温箱中。
5.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统,其特征在于,光源为SLD或ASE光源。
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