CN111197951A - 一种检具及零件检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种检具,用于检测零件上螺纹孔延伸公差带,包括:检具本体和检测插销;检具本体包括:底座,用于支承零件;底座,用于支承零件;底座一端沿第一方向延伸形成第一定位部件,第一定位部件用于抵接零件;第一定位部件平行于底座延伸方向形成支架,支架设置有通孔,通孔与零件上的螺纹孔同轴设置;支架的上表面为检具本体的止挡面;检测插销包括限位部件和检测部件;限位部件与检测部件台阶面为检测插销的限位面;限位面用于与所述止挡面配合以检测零件。本发明提供的检具一方面,提高了对零件的检测效率。另一方面,提高了检测的精度。

Description

一种检具及零件检测方法
技术领域
本发明涉及机械零件领域,尤其是涉及一种检具及零件检测方法。
背景技术
第一零件设置有螺纹孔,通过螺栓/螺柱,螺钉,销,键等紧固件与螺纹孔的配合将第一零件和第二零件装配。由于螺栓/螺柱,螺钉,销,键等紧固件的角度倾斜会引起紧固件的根部与第二零件的匹配面出现干涉(参见图1(a)和1(b)),为了保证紧固件的装配,当第二零件为厚壁件时,需对第一零件的螺纹孔增加延伸公差要求,使得紧固件在有一定角度倾斜时,避免出现干涉,能够成功的装配(参见图1(c)和图1(d))。延伸公差的评价对象是螺纹孔最大内切圆柱轴线的延伸段长度,为了检测延伸公差是否符合要求,现有技术通常采用三坐标检测方法或者采用光杆检测销的方法,但是这些方案本身存在如下缺陷。
(1)三坐标检测方法通常是:在螺纹孔某一平面上,选取一个圆在该圆上随机选取三个点,利用这三个点采用最大值最小法拟合出圆心的位置,将该圆心所在的轴线作为螺纹孔的轴线,并基于该圆心所在的轴线来检测延伸公差。一方面,有时候拟合出来的圆心所在轴线并不是螺纹孔内最大内切圆柱轴线,导致测量结果不准确。另一方面,采用三坐标检测方法需要大量计算,因此测量的效率比较低。
(2)采用光杆检测销的方法通常是:假如对深度为D毫米的螺纹孔检测延伸公差,GD&T图纸上显示对于其延伸公差的要求为:螺纹孔内直径方向的延伸公差带为T1毫米,且轴线方向的延伸公差带为P毫米,采用光杆检测销检测公差带是否符合要求时,需要结合其螺纹孔的深度来检测。也就是说,认为其轴线方向的延伸公差带值为P+D毫米。也就是说,采用光杆检测销的方法,在检测螺纹孔延伸公差带时,对于螺纹孔内的尺寸要完全符合光杆检测销的尺寸,如果螺纹孔内的尺寸在公差范围内,但小于光杆检测插销的尺寸,则视该螺纹孔为不合格,而对于这种尺寸的螺纹孔实际上是合格的,能够符合装配的要求。因此,采用光杆检测销的方法实际上更加严格了公差的要求,会导致将合格的零件被误判为不合格的零件,导致制造的成本提高。
发明内容
本发明的目的是提供一种检具及检测螺纹孔延伸公差带的方法,采用本发明提供的方法,基于检测插销的限位面与检具本体的止挡面贴合程度确定零件是否符合要求。一方面,提高了对零件的检测效率。另一方面,提高了检测的精度。
为解决上述问题,本发明的第一方面提供了一种检具,用于基于螺纹孔延伸公差带检测零件,包括:检测插销和检具本体;检具本体包括:底座,用于支承零件;底座,用于支承零件;底座一端沿第一方向延伸形成第一定位部件,第一定位部件用于抵接零件;第一定位部件平行于底座延伸方向形成支架,支架设置有通孔,通孔与零件上的螺纹孔同轴设置;支架的上表面为检具本体的止挡面;检测插销包括限位部件和检测部件;限位部件与检测部件台阶面为检测插销的限位面;限位面用于与止挡面配合以检测零件。
进一步地,底座沿第二方向延伸形成第二定位部件,第二定位部件用于抵接零件;第二定位部件与第一定位部件形成为“L”形。
进一步地,检测部件形成有圆柱和圆台;圆台包括第一底面和第二底面,第一底面的面积大于第二底面;第一底面与圆柱的底面贴合。
根据本发明的第二方面,提供了一种检测螺纹孔延伸公差带的方法,该方法包括:获取螺纹孔外部直径方向的延伸公差带值T1、螺纹孔深度D和螺纹孔轴线方向的延伸公差带值P,并基于公差带值T1、螺纹孔深度D和公差带值P获取螺纹孔底部直径方向的延伸公差带值T2;基于公差带值T1、公差带值T2和零件的尺寸选用尺寸匹配的检具;通过检具检测零件是否符合要求。
进一步地,螺纹孔底部的公差带值T2通过下述公式计算得到:
进一步地,基于公差带值T1、公差带值T2、零件的尺寸选用尺寸匹配的检具包括:基于公差带值T2和公差带值T1确定检测插销的尺寸;基于零件的尺寸和公差带T1确定检具本体的尺寸。
进一步地,基于公差带值T2和公差带值T1确定检测插销的尺寸包括:螺纹孔内最小的内径为d;圆柱的高为P,圆柱的直径为φ1,φ1为d与T1的差值;圆台的高为D,第二底面的直径为φ2,φ2为d与T2的差值。
进一步地,基于零件的尺寸和公差带值T1确定检具本体的尺寸包括:检具本体的长度和宽度与零件的长度和宽度相适配;支架下表面与底座上表面的距离为零件的高与螺纹孔延伸长度P之和。
进一步地,通孔的直径为螺纹孔的最小内径d与T1的差值。
进一步地,通过检具检测零件是否符合要求步骤包括:若限位面与止挡面能够贴合,则零件符合要求;若限位面与止挡面存在间隙,则零件不符合要求。
发明的上述技术方案具有如下有益的技术效果:
(1)本发明提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法,基于检测插销的限位面与检具本体的止挡面贴合程度确定零件是否符合要求。一方面,提高了对零件的检测效率。另一方面,提高了检测的精度。
(2)本发明提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法,通过检测插销的限位面与检具本体止挡面的贴合程度检测延伸公差带是否符合要求,更加直观的体现了零件是否符合要求,检测方法更快速直观。
附图说明
图1(a)是现有技术中螺纹孔的示意图;
图1(b)是图1(a)中螺纹孔与紧固件装配过程图;
图1(c)是现有技术中螺纹孔的示意图;
图1(d)是图1(a)中螺纹孔与紧固件装配过程图;
图2(a)是现有技术中螺纹孔的示意图;
图2(b)是实际对图2(a)所示的螺纹孔的延伸公差带要求示意图;
图2(c)是采用光杆检测销的方法检测延伸公差的示意图;
图3是根据本发明第一实施方式提供的检具本体的结构示意图;
图4是根据本发明第一实施方式提供的检具与零件的装配示意图;
图5是根据本发明第二实施方式提供的对螺纹孔位置度公差要求示意图;
图6是根据本发明第二实施方式提供的基于螺纹孔延伸公差带的零件检测方法流程示意图;
图7是根据本发明第二实施方式提供的获取螺纹孔底部公差带值T2示意图;
图8是根据本发明第二实施方式提供的检测插销的结构示意图;
图9是根据本发明第二实施方式提供的检具的断面图;
图10是根据本发明第二实施方式提供的检具与检测插销的装配示意图。
附图标记:
1:检测插销;11:限位部件;12:检测部件;121:圆柱;122:圆台;2:零件;3:检具本体;31:底座;32第一定位部件;33:支架;331:通孔;332:止挡部件;34:第二定位部件。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式并参照附图,对本发明进一步详细说明。应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本发明的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本发明的概念。
图1是螺栓与螺纹孔装配示意图。
如图1(a)和图1(b)所示,图1(a)显示图纸上对第一零件上的一个螺纹孔的要求是:直径为M14的螺纹孔,其最大内切圆柱轴线在垂直于A方向的公差带T1为0.4。但缺少对螺纹孔最大内切圆柱轴线在螺纹孔外部延伸段的长度公差的要求。通过该螺纹孔和紧固件将第一零件和第二零件进行装配时,当第二零件的壁厚比较厚时,则在装配紧固件时,有可能导致紧固件的根部与第二零件的匹配面出现干涉(参见图1(b))。
图1(c)和图1(d)则是将图1(a)和图1(b)所示的螺纹孔增设延伸公差的要求,其要求是:将直径为M14的螺纹孔的最大内切圆柱轴线延伸至螺纹孔外部P=35mm处,在P=35mm的延伸区域,此延伸线在垂直于A方向的公差带T1为0.4mm。延伸公差带的评价对象是将螺纹孔最大内切圆柱轴线延伸至螺纹孔外部长度P后所得的延伸轴线,此延伸轴线能够偏离的最大公差范围为T1。也就是说T1为螺纹孔径向的延伸公差带值,P为螺纹孔轴向的延伸公差带值。在设置延伸公差带后,第一零件与第二零件进行装配时,不会出现干涉情况。
图2是现有技术提供的采用光杆检测销的方法检测延伸公差的示意图。
如图2(a)所示的GD&T图纸中,对某零件上的一个螺纹孔的要求是:将直径为M14的螺纹孔的最大内切圆柱轴线延伸至螺纹孔外部P=35mm处,在P=35mm的延伸区域,此延伸线在垂直于A方向的公差带T1为0.4mm。
实际需要检测的是根据图纸所制造的零件,该螺纹孔在径向的延伸公差带T1和轴向的延伸公差带值P是否分别为0.4mm和35mm,以确定该螺纹孔是否合格(参见图2(b))。但是采用光杆检测销检测该螺纹孔,是采用长度为50mm的圆柱形销钉通过检具插入到螺纹孔内,实际上是将延伸公差带值P从35mm改为P+D(D为螺纹孔深度),也就是50mm(参见图2(c))。而如果由于加工的原因,导致螺纹孔底部的直径稍微小于销钉的直径,就会导致光杆检测销无法插入,该零件会被判定为不符合零件。然而,有时候螺纹孔底部的尺寸稍微小一点,但是符合螺纹孔内径公差的要求,该零件实际上是合格的零件。因此,这种检测方法实际加严了螺纹孔内公差要求,将会导致合格零件被误判为不合格零件,零件报废率增大,大大提高了制造成本。
图3是根据本发明第一实施方式提供检具本体的结构示意图。图4是根据本发明第一实施方式提供的检具与零件的装配示意图。
如图3和图4所示,检具包括检具本体3和检测插销1。
检具本体3包括:底座31,用于支承零件2;底座31一端沿第一方向延伸形成第一定位部件32,第一定位部件32用于抵接零件2;第一定位部件32平行于底座31延伸方向形成支架33,支架33设置有通孔331,通孔331与零件2上的螺纹孔同轴设置;支架33的上表面为检具本体3的止挡面。
检测插销1包括限位部件11和检测部件12;限位部件11与检测部件12台阶面为检测插销1的限位面;限位面用于与所述止挡面配合以检测零件2。
进一步地,底座31沿第二方向延伸形成第二定位部件34,第二定位部件34用于抵接零件2;第二定位部件34与第一定位部件32形成为“L”形。
可选的,限位部件11可以是限位板。
可选的,支架33还包括止挡部件332,止挡部件332为圆环状,可以固定设置在通孔331的外部,且止挡部件332与通孔331同轴设置。当支架33上设置有止挡部件332时,止挡部件332的上表面为检具本体的止挡面。
进一步地,检具本体3还包括:第二定位部件32,设置在底座31上,与第一定位部件32连接,且与零件2抵接。
进一步地,检测部件12包括相互连接的圆柱121和圆台122;圆台122包括第一底面和第二底面,第一底面的面积大于第二底面;第一底面与圆柱的底面贴合。
在图4所示的检具与零件的装配示意图中,检测插销1插入零件2中的螺纹孔中,检测插销的限位面与检具本体3的止挡面之间贴合,无缝隙,可知该螺纹孔的延伸公差符合图纸的要求,该零件是属于合格的零件。
图5是根据本发明第二实施方式提供的对螺纹孔位置度公差要求示意图。
如图5所示,GD&T图纸上显示,零件上M16盲孔螺纹有位置度公差要求,为了防止装配螺栓时干涉,选用了直径方向上延伸公差带为0.3mm、轴线方向上延伸公差为36mm的延伸公差带。
下面将对根据图纸制作出来的零件上的螺纹孔的延伸公差带进行检测。
图6是根据本发明第二实施方式提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法流程示意图。
如图6所示,该方法包括步骤S101-步骤S103:
步骤S101,获取螺纹孔外部直径方向的延伸公差带值T1、螺纹孔深度D和螺纹孔轴线方向的延伸公差带值P,并基于公差带值T1、螺纹孔深度D和公差带值P获取螺纹孔底部直径方向的延伸公差带值T2
根据图5所示的图纸可知,螺纹孔外部直径方向的延伸公差带T1=0.3mm、螺纹孔轴线方向的延伸公差带P=36mm,螺纹孔的深度D=18mm,螺纹孔内最小的内径d=13.835mm。
具体地,将螺纹孔的侧视图视做由点A、B、B1和A1构成的第一矩形,将A、B、B’和A’构成的矩形作为第二矩形(参见图7),其中,BB’的距离为延伸公差带值P,AB为螺纹孔内最小的内径d,AB=A1B1=A’B’,该螺纹孔径向的延伸公差带值为T1,则根据几何关系,可知螺纹孔底部直径方向的延伸公差带
步骤S102,基于公差带值T1、公差带值T2和零件2的尺寸选用尺寸匹配的检具。
具体地,基于公差带值T2和公差带值T1确定检测插销1的尺寸。螺纹孔内最小的内径为d;圆柱121的高为P,圆柱121的直径为φ1,φ1为d与T1的差值,φ1为13.835-0.3=13.535mm。
圆台122的高为D,第二底面的直径为φ2,φ2为d与T2的差值。因此,圆台122的高为18mm,第二底面的直径φ2=13.835-0.6=13.235mm,第一底面的直径φ3=φ1=13.535mm,可参见图8。
具体地,基于零件2的尺寸和公差带T1选用尺寸匹配的检具本体3。
图9是根据本发明第二实施方式提供的检具的断面图。
在图9所示的图中,该断面是在支架长度方向上且沿着通孔331直径的断面。其中,检具本体3的长度不小于零件2的长度,检具本体3的宽度与零件2的宽度相适配;检具本体3的止挡面与底座31上表面的距离为零件2的高与延伸公差带值P之和。
步骤S103,通过检具检测零件2是否符合要求。
优选的,若限位面与检具本体的止挡面能够贴合,则零件符合要求,可参见图10(a)。若限位面与检具本体的止挡面存在间隙,则零件不符合要求,可参见图10(b)。
可选的,还可以通过以下方式确定限位面与检具本体的止挡面是否贴合:
如果限位面和止挡面之间能够插入一张纸,则确定限位面和止挡面不能够贴合。
可选的,还可以通过以下方式确定限位面与检具本体的止挡面是否贴合:
如果限位面和止挡面之间距离高于0.05mm,则确定限位面和止挡面不能够贴合,例如,如果限位面和止挡面之间能够插入高于0.05mm的塞片,则确定限位面与检具本体的止挡面不能够贴合。
发明的上述技术方案具有如下有益的技术效果:
(1)本发明提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法,采用本发明提供的方法,基于检测插销的限位面与检具本体的止挡面贴合程度确定零件是否符合要求。一方面,提高了对螺纹孔延伸公差的检测效率。另一方面,提高了检测的精度。
(2)本发明提供的检测螺纹孔延伸公差带的方法,通过检测插销的限位面与检具本体止挡面的贴合程度检测零件是否符合要求,检测方法更快速直观,提高了检测效率。
应当理解的是,本发明的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本发明的原理,而不构成对本发明的限制。因此,在不偏离本发明的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。此外,本发明所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。

Claims (10)

1.一种检具,用于基于螺纹孔延伸公差带检测零件(2),其特征在于,包括:检具本体(3)和检测插销(1);
所述检具本体(3)包括:
底座(31),用于支承所述零件(2);
所述底座(31)一端沿第一方向延伸形成第一定位部件(32),所述第一定位部件(32)用于抵接所述零件(2);所述第一定位部件(32)平行于所述底座(31)延伸方向形成支架(33),所述支架(33)设置有通孔(331),所述通孔(331)与所述零件(2)上的螺纹孔同轴设置;所述支架(33)的上表面为所述检具本体(3)的止挡面;
所述检测插销(1)包括限位部件(11)和检测部件(12);
所述限位部件(11)与所述检测部件(12)台阶面为所述检测插销(1)的限位面;所述限位面用于与所述止挡面配合以检测所述零件(2)。
2.根据权利要求1所述的检具,其特征在于,所述底座(31)沿第二方向延伸形成第二定位部件(34),所述第二定位部件(34)用于抵接所述零件(2);
所述第二定位部件(34)与所述第一定位部件(32)形成为“L”形。
3.根据权利要求1所述的检具,其特征在于,所述检测部件(12)形成有圆柱(121)和圆台(122);
所述圆台(122)包括第一底面和第二底面,所述第一底面的面积大于所述第二底面;
所述第一底面与所述圆柱(121)的底面贴合。
4.一种零件检测的方法,通过权利要求1-3任一项所述的检具检测,其特征在于,包括:
获取螺纹孔外部直径方向的延伸公差带值T1、螺纹孔深度D和螺纹孔轴线方向的延伸公差带值P,并基于所述公差带值T1、螺纹孔深度D和所述公差带值P获取螺纹孔底部直径方向的延伸公差带值T2
基于所述公差带值T1、所述公差带值T2和所述零件(2)的尺寸选用尺寸匹配的所述检具;
通过所述检具检测所述零件是否符合要求。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述公差带值T2通过下述公式计算得到:
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,基于所述公差带值T1、所述公差带值T2、所述零件(2)的尺寸选用尺寸匹配的所述检具包括:
基于所述公差带值T2和所述公差带值T1确定检测插销(1)的尺寸;
基于所述零件(2)的尺寸和所述公差带T1确定所述检具本体(3)的尺寸。
7.根据权利要求6所述的方法,应用权利要求3所述的检具进行检测,其特征在于,基于所述公差带值T2和所述公差带值T1确定检测插销(1)的尺寸包括:
所述螺纹孔内最小的内径为d;
所述圆柱(121)的高为P,所述圆柱(121)的直径为φ1,φ1为d与T1的差值;
所述圆台(122)的高为D,所述第二底面的直径为φ2,φ2为d与T2的差值。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,基于零件(2)的尺寸和所述公差带值T1确定检具本体(3)的尺寸包括:
所述止挡面与所述底座(31)上表面的距离为所述零件(2)的高与所述延伸公差带值P之和。
9.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述通孔(331)的直径为所述螺纹孔的最小内径d与T1的差值。
10.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,通过所述检具检测所述零件是否符合要求步骤包括:
若所述限位面与所述止挡面能够贴合,则所述零件符合要求;
若所述限位面与所述止挡面存在间隙,则所述零件不符合要求。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4291504A (en) * 1980-03-03 1981-09-29 Ex-Cell-O Corporation Method and apparatus for in-process gaging of tool elements
US4604809A (en) * 1985-04-05 1986-08-12 Meyer Jr Franklin Gage head actuating coupler
CN202947562U (zh) * 2012-11-14 2013-05-22 无锡麦铁精密机械制造有限公司 电机壳盖反面孔位检具
CN204043544U (zh) * 2014-08-13 2014-12-24 二重集团(德阳)重型装备股份有限公司 测深式螺纹塞规
CN204255253U (zh) * 2014-12-03 2015-04-08 重庆小康工业集团股份有限公司 前置前驱发动机左悬置托架安装孔检具
CN108188451A (zh) * 2018-03-20 2018-06-22 平南县五金制品厂 一种发电机支架组件的钻底板孔工装

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4291504A (en) * 1980-03-03 1981-09-29 Ex-Cell-O Corporation Method and apparatus for in-process gaging of tool elements
US4604809A (en) * 1985-04-05 1986-08-12 Meyer Jr Franklin Gage head actuating coupler
CN202947562U (zh) * 2012-11-14 2013-05-22 无锡麦铁精密机械制造有限公司 电机壳盖反面孔位检具
CN204043544U (zh) * 2014-08-13 2014-12-24 二重集团(德阳)重型装备股份有限公司 测深式螺纹塞规
CN204255253U (zh) * 2014-12-03 2015-04-08 重庆小康工业集团股份有限公司 前置前驱发动机左悬置托架安装孔检具
CN108188451A (zh) * 2018-03-20 2018-06-22 平南县五金制品厂 一种发电机支架组件的钻底板孔工装

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