CN110928440B - 触摸面板 - Google Patents

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Abstract

本发明提供容易地抑制电阻体整体的阻值的触摸面板,具备:电阻体,从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;多个电阻体电极部,配置为从电阻体向检测配线部延伸;多个检测电极部,配置为在多个电阻体电极部之间从检测配线部向电阻体延伸;触摸电极部,通过另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于检测电极部,低电阻区域配置于电阻体中与多个电阻体电极部对应的部分,并且形成为相对于多个电阻体电极部仅向电阻体的一端部侧和另一端部侧中的任意一方延伸。

Description

触摸面板
技术领域
本发明涉及触摸面板,尤其涉及一种通过电阻方式检测触摸位置的触摸面板。
背景技术
近年来,提出了在通过电阻方式检测对表面进行触摸的触摸位置的触摸面板中使用三线式的触摸面板。一般来说,在三线式的触摸面板中,相互对置地配置有一对基材,在一方的基材以线状延伸的方式配置有电阻体,并且以沿电阻体延伸的方式配置有检测配线部,在另一方的基材配置有触摸电极部。由此,当另一方的基体被触摸时,电阻体中与触摸位置对应的部分通过触摸电极部而被连接到检测配线部,基于该电阻体的电位来检测触摸位置。
在此,在三线式的触摸面板中基于与触摸位置对应的电阻体的电位来检测触摸位置,因此如果电阻体全长的阻值大,则触摸位置的运算变得困难。例如,在触摸面板的两点被触摸的情况下,基于测量到的电位和电阻体的阻值算出两点的触摸位置,因此,如果电阻体的全长的阻值大,则存在两点的检测识别降低,精度降低的问题。
因此,作为抑制电阻体的整体的阻值的技术,例如专利文献1中提出了一种LED显示装置,其能减少印刷于有限面积的导电涂料的电阻的影响,实现高密度安装。该LED显示装置在使用银墨和碳墨进行双重印刷的情况下,通过少进行一部分银印刷来抑制阻值。
然而,如专利文献1的LED显示装置那样使电阻体的一部分欠缺,存在需要大量的劳力的问题。
现有技术文献
专利文献1:日本实开昭62-172165号公报
发明内容
发明所要解决的问题
本发明是为了消除像这样的现有的问题而完成的,其目的在于提供一种容易地抑制电阻体整体的阻值的触摸面板。
用于解决问题的方案
本发明的触摸面板具备:一对基材,相互对置配置;电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;多个电阻体电极部,具有比电阻体的高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔,分别从电阻体向检测配线部线状延伸;多个检测电极部,具有比电阻体的高电阻区域低的阻值,配置为在多个电阻体电极部之间分别从检测配线部向电阻体以线状延伸;以及触摸电极部,以覆盖多个电阻体电极部和多个检测电极部的方式配置于另一方的基材,通过另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于检测电极部,将电阻体中与触摸位置对应的部分连接于检测配线部,低电阻区域配置于电阻体中与多个电阻体电极部对应的部分,并且形成为相对于多个电阻体电极部仅向电阻体的一端部侧和另一端部侧中的任一方延伸,触摸面板测量通过触摸电极部而连接于检测配线部的电阻体的电位,由此检测触摸位置。
本发明的触摸面板具备:一对基材,相互对置配置;电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;多个电阻体电极部,具有比电阻体的高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从电阻体向检测配线部以线状延伸;多个检测电极部,具有比电阻体的高电阻区域低的阻值,配置为在多个电阻体电极部之间分别从检测配线部向电阻体线状延伸;以及触摸电极部,以覆盖多个电阻体电极部和多个检测电极部的方式配置于另一方的基材,通过另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于检测电极部,将电阻体中与触摸位置对应的部分连接于检测配线部,低电阻区域配置于电阻体中与多个检测电极部对应的部分,触摸面板测量通过触摸电极部而连接于检测配线部的电阻体的电位,由此检测触摸位置。
本发明的触摸面板具备:一对基材,相互对置配置;电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;以及触摸电极部,以与电阻体和检测配线部对置的方式配置于另一方的基材,通过另一方的基材被触摸而将电阻体中与触摸位置对应的部分连接于检测配线部,电阻体具有以曲线状延伸的多个曲线部并以如下方式配置低电阻区域:在多个曲线部中曲率越大的曲线部处,低电阻区域的长尺寸方向的长度越短,触摸面板测量通过触摸电极部而连接于检测配线部的电阻体的电位,由此检测触摸位置。
本发明的触摸面板具备:一对基材,相互对置配置;电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值;检测配线部,配置为沿电阻体延伸;以及触摸电极部,以与电阻体和检测配线部对置的方式配置于另一方的基材,通过另一方的基材被触摸而将电阻体中与触摸位置对应的部分连接于检测配线部,低电阻区域形成为随着其所在位置从电阻体的一端部侧往另一端部侧,低电阻区域在长尺寸方向上逐渐变长,触摸面板测量通过触摸电极部而连接于检测配线部的电阻体的电位,由此检测触摸位置。
发明效果
根据本发明,电阻体以电位从一端部向另一端部台阶式上升的方式,沿长尺寸方向交替排列形成有高电阻区域和低电阻区域,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有规定值以下的阻值,因此能够提供一种容易地抑制电阻体的整体的阻值的触摸面板。
附图说明
图1是表示具备本发明的实施方式1的触摸面板的触摸面板装置的构成的图。
图2是表示电阻体电极部和检测电极部由触摸电极部连接的状态的剖视图。
图3是表示电阻体的电位从一端部向另一端部台阶式上升的状态的图。
图4是表示实施方式2的触摸面板的构成的图。
图5是表示实施方式3的触摸面板的构成的图。
图6是表示实施方式4的触摸面板的构成的图。
图7是表示实施方式5的触摸面板的构成的图。
图8是表示实施方式6的触摸面板的构成的图。
图9是表示实施方式1~6的变形例的触摸面板的构成的图。
附图标记说明
1触摸面板,2供电部,3测量部,4运算部,5a、5b基材,6、21、31、41、51、61电阻体,6a、21a、31a、41a、51a、61a一端部,6b、21b、31b、41b、51b、61b另一端部,7a、7b电阻体配线部,8、42、52检测配线部,9、9a电阻体电极部,10、10a检测电极部,11a、11b给电用端子,12检测用端子,13、43、53触摸电极部,14a、22a、32a、44a、55a、62a高电阻部,14b、22b、32b、32c、44b、55b、62b低电阻部,15a、23a、33a、45a、56a、63a高电阻区域,15b、23b、33b、33c、45b、56b、63b低电阻区域,16a、16b、16c保护部,54a、54b曲线部,P触摸位置,D长尺寸方向,S电阻体,Sa一端部,Sb另一端部。
具体实施方式
以下,基于附图对本发明的实施方式进行说明。
实施方式1
图1所示为具备本发明的实施方式1的触摸面板的触摸面板装置的构成。该触摸面板装置具有:触摸面板1、供电部2、测量部3以及运算部4。
触摸面板1具有相互对置配置的一对基材5a和5b,该一方的基材5a配置有:电阻体6、电阻体配线部7a和7b、检测配线部8、多个电阻体电极部9、多个检测电极部10、供电用端子11a和11b以及检测用端子12。此外,在另一方的基材5b配置有触摸电极部13。
基材5a和5b为具有长尺寸的板形状的绝缘性基材。基材5a和5b具有可挠性,较薄地形成为膜状。例如基材5a和5b能够由树脂材料形成。
电阻体6以直线状延伸的方式配置于基材5a上。在此,电阻体6具有:高电阻部14a,具有较高的阻值;以及多个低电阻部14b,具有比高电阻部14a低的阻值。高电阻部14a配置为从电阻体6的一端部6a起到另一端部6b为止沿长尺寸方向D以直线状延伸。多个低电阻部14b沿长尺寸方向D等间隔地排列于高电阻部14a与基材5a之间,分别连接于多个电阻体电极部9。这时,低电阻部14b形成为相对于电阻体电极部9向左右方向延伸,即向电阻体6的一端部6a侧和另一端部6b侧延伸。
高电阻部14a例如可以包含碳。此外,低电阻部14b可以包含具有与高电阻部14a相比非常低的阻值的材料,例如银、铜、碳纳米管以及氧化铟锡等,以便不产生电位梯度。例如,低电阻部14b可以包含与电阻体电极部9相同的材料。
由此,在电阻体6中,在仅配置有高电阻部14a的部分形成有具有比规定值高的阻值的高电阻区域15a,在配置有低电阻部14b的部分形成有具有规定值以下的阻值的低电阻区域15b。即,在电阻体6中沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域15a和低电阻区域15b,通过使电流流过电阻体6,形成电位从一端部6a向另一端部6b台阶式上升的电位分布。在此,优选将电阻体6的全长的阻值形成为200Ω~2kΩ的范围。
电阻体配线部7a配置为连接于电阻体6的一端部6a与供电用端子11a之间,电阻体配线部7b配置为连接于电阻体6的另一端部6b与供电用端子11b之间。电阻体配线部7a和7b具有比电阻体6的高电阻区域15a低的阻值,例如可以包含银等。
检测配线部8配置为从检测用端子12沿电阻体6以直线状延伸。检测配线部8具有比电阻体6低的阻值,例如可以包含银等。
多个电阻体电极部9形成为分别以线状延伸,并且相互隔开间隔地排列,其基端部连接于电阻体6。具体而言,电阻体电极部9形成为从电阻体6向检测配线部8相互等间隔地以梳齿状延伸。此外,电阻体电极部9分别具有与电阻体6的高电阻区域15a相比非常低的阻值,使其与电阻体6的连接部分为大致相同的电位,即在同一电阻体电极部9中不产生电位梯度。例如,电阻体电极部9可以包含银等。
多个检测电极部10形成为分别以线状延伸,并且相互隔开间隔地排列,其基端部连接于检测配线部8。具体而言,检测电极部10形成为从检测配线部8向电阻体6在电阻体电极部9之间相互等间隔地以梳齿状延伸。此外,检测电极部10具有与电阻体电极部9大致相同的阻值,例如可以包含银等。
触摸电极部13用于将多个电阻体电极部9与多个检测电极部10之间电连接,以隔开间隙与多个电阻体电极部9和多个检测电极部10对置的方式配置于基材5b。具体而言,触摸电极部13形成为整体地覆盖多个电阻体电极部9和多个检测电极部10。由此,当触摸位置P被从基材5b外侧触摸时,触摸电极部13会和基材5b一同局部弯曲,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a通过触摸电极部13而电连接到检测电极部10a。这样,电阻体6通过电阻体电极部9a和检测电极部10a而连接于检测配线部8。触摸电极部13具有与电阻体电极部9大致相同的阻值,例如可以包含银等。
供电用端子11a和11b用于将电阻体配线部7a和7b连接于供电部2。
检测用端子12用于将检测配线部8连接于测量部3。
供电部2用于通过供电用端子11a和11b向电阻体6供电。
测量部3用于通过检测用端子12测量与触摸位置P对应的电阻体电极部9a的电位。
运算部4连接于测量部3,用于基于由测量部3测量到的电阻体电极部9a的电位来运算触摸位置P。
接着,对电阻体电极部9、检测电极部10以及触摸电极部13的构成进行详细说明。
如图2的(a)所示,配置于基材5a的电阻体电极部9和检测电极部10与配置于基材5b的触摸电极部13隔开规定间隙地对置配置。在此,以电阻体电极部9、检测电极部10以及触摸电极部13分别被保护部16a、16b以及16c覆盖的方式进行配置。该保护部16a~16c用于抑制迁移(migration),例如可以包含碳、碳和银的混合物等。需要说明的是,优选保护部16a~16c中使用的碳具有比电阻体6的高电阻部14a中使用的碳小一个数量级以上的阻值。
这样,触摸电极部13与电阻体电极部9和检测电极部10对置配置,由此如图2的(b)所示,当触摸基材5b的外侧时,触摸电极部13会与另一方的基材5b一起局部弯曲,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部13而被连接。
接着,对本实施方式的动作进行说明。
首先,如图1所示,从供电部2通过供电用端子11a和11b对电阻体6供电,在电阻体6中形成电位分布。在此,电阻体6形成为以沿长尺寸方向D交替排列的方式形成有高电阻区域15a和低电阻区域15b,其中,所述高电阻区域15a具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域15b具有规定值以下的阻值。因此,电阻体6中形成从一端部6a向另一端部6b台阶式上升的电位分布。
例如,如图3的(a)所示,在对电阻体6施加了3V电压的情况下,在电阻体6中形成从一端部6a的0V起到另一端部6b的3V为止台阶式上升的电位分布。这时,低电阻部14b以在宽度方向大致充满电阻体6的方式配置,因此在低电阻区域15b中几乎不产生电位梯度而在每个高电阻区域15a中电位上升。
另一方面,如图3的(b)所示,现有的电阻体S仅由沿长尺寸方向D具有均匀的阻值的高电阻部构成,形成了从一端部Sa向另一端部Sb连续地上升的电位分布。
如本发明这样在电阻体6中形成台阶式上升的电位分布,由此能够明确地按每个低电阻区域15b区分电位。即,能够在夹着低电阻区域15b的两个位置之间明确地区分电位,能够明确地区分触摸位置P。
这样,如果在电阻体6中形成台阶式上升的电位分布,则多个电阻体电极部9具有与电阻体6的高电阻区域15a相比非常低的阻值,因此会按与电阻体6相同的电位分布沿长尺寸方向D排列。即,电阻体6的电位通过多个电阻体电极部9间歇地引出到检测配线部8侧。
接着,如图2的(a)和(b)所示,当从基材5b的外侧对触摸位置P进行触摸时,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部13而被连接。由此,利用测量部3,通过检测用端子12测量由电阻体电极部9a引出的电阻体6的电位。
然后,将由测量部3测量到的电阻体6的电位从测量部3输出到运算部4,运算部4基于电阻体6的电位来运算触摸位置P。
这时,与图3的(b)所示的电阻体S相比较,电阻体6整体的阻止随着低电阻区域15b的配置而被抑制到了小的范围。因此,运算部4能够用该小的阻值范围来运算触摸位置P,能够将运算容易化,容易地求出触摸位置P。特别是在基材5b的两点被触摸的情况下,为了识别检测两点的触摸位置P,需要将电阻体6的整体的阻值限制于规定的范围,电阻体6整体的阻值越大,该两个点的触摸位置P的识别检测越困难。因此,通过抑制电阻体6的阻值,能够高精度地识别检测两个点的触摸位置P。
而且,通过使触摸位置P的运算容易化,能够将电阻体6的全长形成得较长。例如如图3的(b)所示,在仅从高电阻部形成有电阻体S的情况下,为了运算的容易化,将电阻体S整体的阻值R抑制在2kΩ以下,如果将电阻体S的面电阻Rs设为100Ω/□,将电阻体S的宽度W设为1mm,则根据R=L×Rs/W,需要将电阻体S的全长L形成得非常短,为20mm以下。因此,通过如本发明那样抑制电阻体6整体的阻值,能够不使触摸位置P的运算复杂化地将电阻体6的全长形成得长,能够将电阻体6形成为与触摸面板的大小相应的长度。
此外,电阻体6的低电阻部14b包含银等单种物质。因此,例如与在碳中混合有银等而成的材料涂布于整体来抑制电阻体的阻值的情况相比较,能够抑制长尺寸方向D上的阻值变动,能够高精度地算出触摸位置P。
此外,低电阻部14b是将银等金属浆料印刷于基材5a而形成的,因此能够根据印刷精度容易地调整阻值。
此外,低电阻区域15b配置于电阻体6中与多个电阻体电极部9对应的部分,因此能够通过一系列的制造工序,例如连续地印刷金属浆料来形成低电阻部14b和多个电阻体电极部9,能简化该制造工序。
此外,如上所述,通过在电阻体6中形成台阶式上升的电位分布,运算部4能够按每个低电阻区域15b明确地区分电位,能够容易地算出触摸位置P。
而且,多个电阻体电极部9以间歇地引出电阻体6的电位的方式形成。因此,运算部4能够明确地区分电阻体6中与触摸位置P对应的电位和其他位置的电位,能够容易地算出触摸位置P。
根据本实施方式,电阻体6形成为沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域15a和低电阻区域15b,使得电位从一端部6a向另一端部6b台阶式上升,因此能够容易地抑制电阻体6整体的阻值,能够将电阻体6形成为与触摸面板的大小相应的希望的长度。
实施方式2
虽然在上述实施方式1中,电阻体6的低电阻区域15b形成为相对于多个电阻体电极部9向电阻体6的一端部6a侧和另一端部6b侧双方延伸,但也可以形成为仅向电阻体6的一端部6a侧和另一端部6b侧中的任意一方延伸。
例如,如图4所示,可以代替实施方式1的电阻体6而配置电阻体21。
与实施方式1同样,电阻体21具有:高电阻部22a,配置为从一端部21a到另一端部21b沿长尺寸方向D以直线状延伸;多个低电阻部22b,在高电阻部22a和基材5a之间分别与多个电阻体电极部9对应地沿长尺寸方向D排列。这时,多个低电阻部22b形成为相对于多个低电阻体电极部9仅向电阻体21的另一端部21b侧延伸。需要说明的是,与实施方式1同样,低电阻部22b形成为具有比高电阻部22a低的阻值。
由此,在电阻体21中,在仅配置有高电阻部22a的部分形成有高电阻区域23a,在配置有低电阻部22b的部分形成有低电阻区域23b。即,沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域23a和低电阻区域23b,其中,所述高电阻区域23a具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域23b具有规定值以下的阻值。在此,低电阻部22b形成为相对于多个电阻体电极部9仅向电阻体21的另一端部21b侧延伸。
通过这样的构成,当从基材5b外侧对触摸位置P进行触摸时,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部13而被连接。这时,低电阻区域23b形成为相对于电阻体电极部9a仅向电阻体21的另一端部21b侧延伸,因此能够在低电阻区域23b的一端部21a侧得到触摸位置P附近的电位,即,能得到与电阻体电极部9a连接的部分附近的电位。另一方面,如图1所示,如果低电阻区域15b形成为相对于电阻体电极部9a向电阻体21的一端部6a侧和另一端部6b侧延伸,则会得到以分别延伸的长度离开与电阻体电极部9a连接的部分的位置的电位。在本发明中,能得到电阻体21中与电阻体电极部9a连接的部分附近的电位,因此能够提高触摸位置P的检测精度。
此外,与实施方式1同样,在电阻体21中,沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域23a和低电阻区域23b,使得电位从一端部21a向另一端部21b台阶式上升,因此能够容易地抑制电阻体21整体的阻值。
根据本实施方式,低电阻区域23b形成为相对于多个电阻体电极部9仅向电阻体21的另一端部21b侧延伸,因此当触摸面板被触摸时,能够在低电阻区域23b的一端部21a侧得到与电阻体电极部9a连接的部分附近的电位,能够提高触摸位置P的检测精度。
实施方式3
在实施方式1和2中,低电阻区域配置于电阻体中与多个电阻体电极部9对应的部分,但只要低电阻区域在电阻体的长尺寸方向D上与高电阻区域交替排列即可,不限于与多个电阻体电极部9对应的部分。
例如,如图5所示,可以代替实施方式1的电阻体6而配置电阻体31。
电阻体31具有:高电阻部32a,以从一端部31a到另一端部31b沿长尺寸方向D直线状延伸的方式配置;多个低电阻部32b和32c,在高电阻部32a与基材5a之间分别与多个电阻体电极部9和多个检测电极部10对应配置。
与实施方式1同样,高电阻部32a具有较高的阻值。
低电阻部32b具有低于高电阻部32a的阻值,并且配置于电阻体31中与多个电阻体电极部9对应的部分,以与电阻体电极部9的宽度大致相同的长度沿长尺寸方向D较短地形成。
低电阻部32c具有与低电阻部32b相同的阻值,并且配置于电阻体31中与多个检测电极部10对应的部分,以比低电阻部32b长地沿长尺寸方向D延伸的方式形成。
由此,在电阻体31中,在仅配置有高电阻部32a的部分形成有高电阻区域33a,在配置有低电阻部32b和32c的部分形成有低电阻区域33b和33c。即,低电阻区域33b配置于与多个电阻体电极部9对应的部分,低电阻区域33c配置于与多个检测电极部10对应的部分。由此,沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域33a和低电阻区域33b和33c,其中,所述高电阻区域33a具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域33b和33c具有规定值以下的阻值。
通过这样的构成,当从基材5b的外侧对触摸位置P进行触摸时,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部13而被连接。这时,低电阻区域33b形成为与电阻体电极部9a的宽度大致同样短的长度,因此能够得到在电阻体31的一端部31a侧和另一端部31b侧与电阻体电极部9a连接的部分附近的电位,能够正确地检测触摸位置P。而且,低电阻区域33c以沿长尺寸方向D较长地延伸的方式配置,因此能够较大地抑制电阻体31整体的阻值。
根据本实施方式,低电阻区域33c配置于电阻体31中与多个检测电极部10对应的部分,因此能够不降低触摸位置P的检测精度地抑制电阻体31整体的阻值。
实施方式4
在上述实施方式1~3中,电阻体以直线状延伸的方式配置,但只要以线状延伸的方式配置即可,不限于直线状延伸。
例如,如图6所示,可以代替实施方式1的电阻体6、检测配线部8以及触摸电极部13而配置电阻体41、检测配线部42以及触摸电极部43。
电阻体41以圆形延伸的方式配置于一方的基材,一端部41a连接于供电用端子11a,并且另一端部41b连接于供电用端子11b。在此,电阻体41具有:高电阻部44a,配置为从一端部41a到另一端部41b沿长尺寸方向D以圆形延伸;多个低电阻部44b,在高电阻部44a与一方的基材之间分别与多个电阻体电极部9对应地沿长尺寸方向D排列。需要说明的是,与实施方式1同样,低电阻部44b具有比高电阻部44a低的阻值。
由此,在电阻体41中,在仅配置有高电阻部44a的部分形成有高电阻区域45a,在配置有低电阻部44b的部分形成有低电阻区域45b。即,沿长尺寸方向D交替排列有具有比规定值高的阻值的高电阻区域45a和具有规定值以下的阻值的低电阻区域45b。
检测配线部42在电阻体41的内侧以圆形延伸的方式于配置于一方的基材,一方的端部连接于检测用端子12。
触摸电极部43以覆盖多个电阻体电极部9和多个检测电极部10方式配置于另一方的基材。即,触摸电极部43配置为在电阻体41与检测配线部42之间圆形延伸。
通过这样的构成,当从另一方的基材的外侧对触摸位置P进行触摸时,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部43而被连接。在此,电阻体41配置为以圆形延伸,因此能够检测例如沿电阻体41圆状滑动的手指的动作。
根据本实施方式,电阻体41配置为以圆形延伸,在其长尺寸方向D上交替排列高电阻区域45a和低电阻区域45b,因此能够在进行圆形操作的触摸面板中容易地抑制电阻体41整体的阻值。
实施方式5
在上述实施方式1~4中,电阻体也可以配置在长尺寸方向D上以不同长度延伸的低电阻区域。
例如,如图7所示,可以代替实施方式1的电阻体6、检测配线部8以及触摸电极部13而配置电阻体51、检测配线部52以及触摸电极部53。
电阻体51以蛇行延伸的方式配置于一方的基材,一方的端部连接于供电用端子11a,并且另一方的端部连接于供电用端子11b。因此,在电阻体51中形成有以曲线状延伸的两个曲线部54a和54b,曲线部54a具有比曲线部54b小的曲率。此外,电阻体51具有:高电阻部55a,配置为从一端部51a到另一端部51b沿长尺寸方向D蛇行地线状延伸;多个低电阻部55b,在高电阻部55a与一方的基材之间分别与多个电阻体电极部9对应地沿长尺寸方向D排列。在此,多个低电阻部55b形成为:在曲线部54a和54b中曲率越大的曲线部54b处,低电阻部55b的长尺寸方向D的长度越短。需要说明的是,与实施方式1同样,低电阻部55b是具有比高电阻部55a低的阻值的部分。
由此,电阻体51在仅配置有高电阻部55a的部分形成有高电阻区域56a,在配置有低电阻部55b的部分形成有低电阻区域56b。即,沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域56a和低电阻区域56b,其中,所述高电阻区域56a具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域56b具有规定值以下的阻值。
检测配线部52以沿电阻体51蛇行延伸的方式配置于一方的基材,一方的端部连接于检测用端子12。
触摸电极部53以覆盖多个电阻体电极部9和多个检测电极部10的方式配置于另一方的基材。即,触摸电极部53以蛇行延伸的方式配置于电阻体51与检测配线部52之间。
通过这样的构成,当从另一方的基材外侧对触摸位置进行触摸时,与触摸位置对应的电阻体电极部9和检测电极部10通过触摸电极部53而被连接。在此,电阻体51以蛇行延伸的方式配置,因此能够检测例如沿电阻体51滑过的手指的动作。这时,低电阻区域56b形成为:在曲线部54a和54b中曲率越大的曲线部54b处,低电阻区域56b的长尺寸方向D的长度越短,因此曲线部54a会检测远离与电阻体电极部9连接的部分的位置的电位,曲线部54b会检测与电阻体电极部9连接的部分附近的电位。因此,在曲线部54a和54b中以相同的速度移动手指的情况下,曲线部54a的触摸位置检测幅度变大,并且曲线部54b的触摸位置检测幅度变小,能够使检测到的手指的移动量均匀化。
根据本实施方式,低电阻区域56b形成为:在曲线部54a和54b中曲率越大的曲线部54b处,低电阻区域56b的长尺寸方向D的长度越短,因此能够使由曲线部54a和曲线部54b检测的手指的移动量均匀化。
实施方式6
在上述实施方式5中,低电阻区域56b形成为曲线部54b的曲率越大则低电阻区域56b的长尺寸方向D的长度越短,但只要配置沿长尺寸方向D以不同长度延伸的低电阻区域即可,不限于此。
例如,如图8所示,可以代替实施方式1的电阻体6而配置电阻体61。
与实施方式1同样,电阻体61具有:高电阻部62a,配置为从一端部61a到另一端部61b沿长尺寸方向D以直线状延伸;多个低电阻部62b,在高电阻部62a与一方的基材5a之间分别与多个电阻体电极部9对应地沿长尺寸方向D排列。这时,多个低电阻部62b形成为随着其所在位置从电阻体61的一端部61a侧往另一端部61b侧,低电阻部62b在长尺寸方向D上逐渐变长。需要说明的是,与实施方式1同样,低电阻部62b具有比高电阻部62a低的阻值。
由此,在电阻体61中,在仅配置有高电阻部62a的部分形成有高电阻区域63a,在配置有低电阻部62b的部分形成有低电阻区域63b。即,沿长尺寸方向D交替排列有高电阻区域63a和低电阻区域63b,其中,所述高电阻区域63a具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域63b具有规定值以下的阻值。在此,低电阻区域63b形成为随着其所在位置从电阻体61的一端部61a侧往另一端部61b侧,低电阻区域63b在长尺寸方向D上逐渐变长。
通过这样的构成,当从基材5b的外侧对触摸位置P进行触摸时,与触摸位置P对应的电阻体电极部9a和检测电极部10a通过触摸电极部13被连接。这时,低电阻区域63b形成为随着其所在位置从电阻体61的一端部61a侧往另一端部61b侧低电阻区域63b在长尺寸方向D上逐渐变长,因此对越靠另一端部61b侧进行触摸时,会检测越是远离与电阻体电极部9连接的部分的位置的电位。即,在电阻体61的另一端部61b侧,与一端部61a侧相比,能够使触摸位置P的检测范围变大。因此,例如用触摸面板操作音量的情况下,仅通过使手指从电阻体61的一端部61a侧向另一端部61b侧移动,就能使音量急剧地增大。
根据本实施方式,低电阻区域63b形成为随着其所在位置从电阻体61的一端部61a侧往另一端部61b侧,低电阻区域63b在长尺寸方向D上逐渐变长,因此能够使另一端部61b侧的触摸位置P的检测范围比与一端部61a侧大,能够对触摸面板添加多样的功能。此外,根据需要使低电阻区域63b的长度变化,由此能够获得使触摸位置P的检测特性多样变化的自由度。
需要说明的是,在上述实施方式1~6中,在触摸面板中,从电阻体向检测配线部以线状延伸的方式配置有多个电阻体电极部9,并且从检测配线部向电阻体以线状延伸的方式配置有多个检测电极部10,但只要能够将电阻体中与触摸位置P对应的部分连接到检测配线部即可,不限于此。例如如图9所示,能够去除实施方式1的多个电阻体电极部9和多个检测电极部10,并且将检测配线部8以接近电阻体6方式配置。由此,当另一方的基材5b被触摸时,通过以与电阻体6和检测配线部8对置的方式配置于另一方的基材5b的触摸电极部13,在电阻体6中与触摸位置对应的部分直接连接到检测配线部8。
此外,在上述实施方式1~6中,在电阻体中,从一端部到另一端部沿长尺寸方向D以线状延伸的方式配置高电阻部,并且在高电阻部与基材5a之间沿长尺寸方向D配置多个低电阻部,由此形成有高电阻区域和低电阻区域,但只要能够沿长尺寸方向D交替排列形成高电阻区域和低电阻区域即可,不限于此。例如,在电阻体中也可以沿长尺寸方向D交替排列多个高电阻部和多个低电阻部而形成高电阻区域和低电阻部。
此外,在上述实施方式1~6中,高电阻区域形成为具有单个阻值,但只要形成为具有比规定值高的阻值即可,不限于此。例如高电阻区域可以形成为具有互不相同的多个阻值。
同样,在上述实施方式1~6中,低电阻区域形成为具有单个阻值,但只要形成为具有规定值以下的阻值即可,不限于此。例如低电阻区域可以形成为具有互不相同的多个阻值。

Claims (4)

1.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;
多个电阻体电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从所述电阻体向所述检测配线部以线状延伸;
多个检测电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为在所述多个电阻体电极部之间分别从所述检测配线部向所述电阻体以线状延伸;以及
触摸电极部,以覆盖所述多个电阻体电极部和所述多个检测电极部的方式配置于另一方的基材,通过所述另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于所述检测电极部,将所述电阻体中与触摸位置对应的部分连接于所述检测配线部,
所述低电阻区域配置于所述电阻体中与所述多个电阻体电极部对应的部分,并且形成为相对于所述多个电阻体电极部仅向所述电阻体的一端部侧和另一端部侧中的任一方延伸,
所述触摸面板测量通过所述触摸电极部而连接于所述检测配线部的所述电阻体的电位,由此检测所述触摸位置。
2.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;
多个电阻体电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为相互隔有间隔地分别从所述电阻体向所述检测配线部以线状延伸;
多个检测电极部,具有比所述电阻体的所述高电阻区域低的阻值,配置为在所述多个电阻体电极部之间分别从所述检测配线部向所述电阻体线状延伸;以及
触摸电极部,以覆盖所述多个电阻体电极部和所述多个检测电极部的方式配置于另一方的基材,通过所述另一方的基材被触摸而将与触摸位置对应的电阻体电极部连接于所述检测电极部,将所述电阻体中与触摸位置对应的部分连接于所述检测配线部,
所述低电阻区域配置于所述电阻体中与所述多个检测电极部对应的部分,
所述触摸面板测量通过所述触摸电极部而连接于所述检测配线部的所述电阻体的电位,由此检测所述触摸位置。
3.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;以及
触摸电极部,以与所述电阻体和所述检测配线部对置的方式配置于另一方的基材,通过所述另一方的基材被触摸而将所述电阻体中与触摸位置对应的部分连接于所述检测配线部,
所述电阻体具有以曲线状延伸的多个曲线部并以如下方式配置所述低电阻区域:在所述多个曲线部中曲率越大的曲线部处,所述低电阻区域的所述长尺寸方向的长度越短,
所述触摸面板测量通过所述触摸电极部而连接于所述检测配线部的所述电阻体的电位,由此检测所述触摸位置。
4.一种触摸面板,其特征在于,具备:
一对基材,相互对置配置;
电阻体,以线状延伸的方式配置于一方的基材,形成为从一端部向另一端部沿长尺寸方向交替排列有高电阻区域和低电阻区域,使电位从一端部向另一端部台阶式上升,其中,所述高电阻区域具有比规定值高的阻值,所述低电阻区域具有所述规定值以下的阻值;
检测配线部,配置为沿所述电阻体延伸;以及
触摸电极部,以与所述电阻体和所述检测配线部对置的方式配置于另一方的基材,通过所述另一方的基材被触摸而将所述电阻体中与触摸位置对应的部分连接于所述检测配线部,
所述低电阻区域形成为随着其所在位置从所述电阻体的一端部侧往另一端部侧,所述低电阻区域在所述长尺寸方向上逐渐变长,
所述触摸面板测量通过所述触摸电极部而连接于所述检测配线部的所述电阻体的电位,由此检测所述触摸位置。
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