CN110795481A - 一种集成电路测试数据融合分析方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种集成电路测试数据融合分析方法，第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；本发明涉及集成电路技术领域。该集成电路测试数据融合分析方法，能够直接将测试的数据进行传输，然后对数据进行压缩，降低了整体内存的同时也便于数据的传输，保证了集成电路测试数据的融合性，提高了集成电路测试数据融合分析的效果。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试数据融合分析方法。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。随着现在在集成电路芯片广泛应用于电子信息系统、产品质量要求日益提高、超大规模集成电路制造工艺的不断进步，对集成电路的测试也是必不可少的一项工作，这些测试数据能够被充分地加以统计和分析，对于芯片整体的特性，以及设计、工艺、封装等方面的问题非常具有价值。但是现有的大型化生产设备，产量非常之大，如果对每一次测试都完整保存的话不太现实，占用内存太大，需要用大的存储设备进行存储，导致整体效率低，影响了使用者的使用。
传统的集成电路测试数据融合分析方法，不能够直接将测试的数据进行传输，不能对数据进行压缩，增加了整体内存的同时也便于数据的传输，难以保证集成电路测试数据的融合性，降低了集成电路测试数据融合分析的效果，整体实用性不强，不便于使用者进行操作，使用者不可以根据需要对测试结果进行很好查看。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供了一种集成电路测试数据融合分析方法，解决了集成电路测试数据融合分析方法不能对数据进行压缩发送的问题。
为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：一种集成电路测试数据融合分析方法，具体包括以下步骤：
第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；
第二步、压缩后的数据会传递给数据融合分析系统，首先解压模块会对文件进行解压，解压之后传递给算法处理模块，算法处理模块会对大量信息进行定量分析并将有关联的信息分到同一个类别中，然后传递给融合分析模块，融合分析模块可以对多源异构信息进行验证、分析、互补、综合、估计，生成综合信息与态势预测，然后存储在结果存储模块中；
第三步、使用者可以通过登录单元和验证单元进行登录，然后进入到数据集融合分析系统，这样使用者就可以对测试的数据进行查看，且可以通过数据管理模块对存储的数据进行管理；
第四步、通过测试结果不断完善数据融合分析系统，并且数据融合分析系统根据测试数据做出一些预测和建议。
优选的，所述数据融合分析系统是对多台测试机自动获取的未预处理的多源异构信息进行处理、综合与分析，将获得的特征向量组合并传输到处理中心进行综合分析，通过基于神经网络、聚类算法、分类算法及模板法算法规则，压缩海量信息，提高数据分析效率，减小了对通信带宽的依赖。
优选的，包括测试设备、无线收发单元、数据接收单元和预处理单元，所述测试设备的输出端与无线收发单元的输入端连接，并且无线收发单元的输出端与数据接收单元的输入端连接，所述数据接收单元的输出端与预处理单元的输入端连接，所述预处理单元的输出端与数据融合分析系统的输入端连接，并且数据融合分析系统的输入端与验证单元的输出端连接，所述验证单元的输入端与登录单元的输出端连接。
优选的，所述预处理单元包括异常数据清除模块和压缩模块。
优选的，所述测试设备的输入端与对比单元的输出端连接，并且对比单元与结果数据库之间实现双向连接。
优选的，所述数据融合分析系统包括解压模块、算法处理模块、融合分析模块和数据管理模块。
优选的，所述解压模块的输出端与算法处理模块的输入端连接，并且算法处理模块的输出端与融合分析模块的输入端连接，所述融合分析模块与结果存储模块之间实现双向连接。
有益效果
本发明提供了一种集成电路测试数据融合分析方法。与现有技术相比具备以下有益效果：
(1)、该集成电路测试数据融合分析方法，通过具体包括以下步骤：第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；能够直接将测试的数据进行传输，然后对数据进行压缩，降低了整体内存的同时也便于数据的传输，保证了集成电路测试数据的融合性，提高了集成电路测试数据融合分析的效果，整体实用性强。
(2)、该集成电路测试数据融合分析方法，通过数据融合分析系统是对多台测试机自动获取的未预处理的多源异构信息进行处理、综合与分析，将获得的特征向量组合并传输到处理中心进行综合分析，通过基于神经网络、聚类算法、分类算法及模板法算法规则，压缩海量信息，提高数据分析效率，减小了对通信带宽的依赖，包括测试设备、无线收发单元、数据接收单元和预处理单元，测试设备的输出端与无线收发单元的输入端连接，并且无线收发单元的输出端与数据接收单元的输入端连接，数据接收单元的输出端与预处理单元的输入端连接，预处理单元的输出端与数据融合分析系统的输入端连接，并且数据融合分析系统的输入端与验证单元的输出端连接，验证单元的输入端与登录单元的输出端连接，便于使用者进行操作，使用者可以根据需要对测试结果进行很好查看。
附图说明
图1为本发明实施的流程图；
图2为本发明系统的结构原理框图；
图3为本发明数据融合分析系统的结构原理框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-3，本发明提供一种技术方案：一种集成电路测试数据融合分析方法，具体包括以下步骤：
第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；
第二步、压缩后的数据会传递给数据融合分析系统，首先解压模块会对文件进行解压，解压之后传递给算法处理模块，算法处理模块会对大量信息进行定量分析并将有关联的信息分到同一个类别中，然后传递给融合分析模块，融合分析模块可以对多源异构信息进行验证、分析、互补、综合、估计，生成综合信息与态势预测，然后存储在结果存储模块中；
第三步、使用者可以通过登录单元和验证单元进行登录，然后进入到数据集融合分析系统，这样使用者就可以对测试的数据进行查看，且可以通过数据管理模块对存储的数据进行管理；
第四步、通过测试结果不断完善数据融合分析系统，并且数据融合分析系统根据测试数据做出一些预测和建议，
本发明中，数据融合分析系统是对多台测试机自动获取的未预处理的多源异构信息进行处理、综合与分析，将获得的特征向量组合并传输到处理中心进行综合分析，通过基于神经网络、聚类算法、分类算法及模板法算法规则，压缩海量信息，提高数据分析效率，减小了对通信带宽的依赖。
本发明中，包括测试设备、无线收发单元、数据接收单元和预处理单元，测试设备的输出端与无线收发单元的输入端连接，并且无线收发单元的输出端与数据接收单元的输入端连接，数据接收单元的输出端与预处理单元的输入端连接，预处理单元的输出端与数据融合分析系统的输入端连接，并且数据融合分析系统的输入端与验证单元的输出端连接，验证单元()的输入端与登录单元的输出端连接。
本发明中，预处理单元包括异常数据清除模块和压缩模块。
本发明中，测试设备的输入端与对比单元的输出端连接，并且对比单元与结果数据库之间实现双向连接。
本发明中，数据融合分析系统包括解压模块、算法处理模块、融合分析模块和数据管理模块。
本发明中，解压模块的输出端与算法处理模块的输入端连接，并且算法处理模块的输出端与融合分析模块的输入端连接，融合分析模块与结果存储模块之间实现双向连接。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (7)
1.一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：具体包括以下步骤：
第一步、首先建立相应的结果数据库，完成之后通过测试设备对待测试的集成电路进行测试，测试结果在经过对比单元进行对比后会直接通过无线收发单元传递给数据接收单元，对比单元会将测试数据分为合格和不合格两大类，然后传递给预处理单元，这时异常数据清除模块首先会对测试中的异常数据进行清除，然后通过压缩单元对测试数据进行压缩；
第二步、压缩后的数据会传递给数据融合分析系统，首先解压模块会对文件进行解压，解压之后传递给算法处理模块，算法处理模块会对大量信息进行定量分析并将有关联的信息分到同一个类别中，然后传递给融合分析模块，融合分析模块可以对多源异构信息进行验证、分析、互补、综合、估计，生成综合信息与态势预测，然后存储在结果存储模块中；
第三步、使用者可以通过登录单元和验证单元进行登录，然后进入到数据集融合分析系统，这样使用者就可以对测试的数据进行查看，且可以通过数据管理模块对存储的数据进行管理；
第四步、通过测试结果不断完善数据融合分析系统，并且数据融合分析系统根据测试数据做出一些预测和建议。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述数据融合分析系统是对多台测试机自动获取的未预处理的多源异构信息进行处理、综合与分析，将获得的特征向量组合并传输到处理中心进行综合分析，通过基于神经网络、聚类算法、分类算法及模板法算法规则，压缩海量信息，提高数据分析效率，减小了对通信带宽的依赖。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，包括测试设备、无线收发单元、数据接收单元和预处理单元，所述测试设备的输出端与无线收发单元的输入端连接，并且无线收发单元的输出端与数据接收单元的输入端连接，所述数据接收单元的输出端与预处理单元的输入端连接，其特征在于：所述预处理单元的输出端与数据融合分析系统的输入端连接，并且数据融合分析系统的输入端与验证单元的输出端连接，所述验证单元的输入端与登录单元的输出端连接。
4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述预处理单元包括异常数据清除模块和压缩模块。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述测试设备的输入端与对比单元的输出端连接，并且对比单元与结果数据库之间实现双向连接。
6.根据权利要求3所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述数据融合分析系统包括解压模块、算法处理模块、融合分析模块和数据管理模块。
7.根据权利要求3所述的一种集成电路测试数据融合分析方法，其特征在于：所述解压模块的输出端与算法处理模块的输入端连接，并且算法处理模块的输出端与融合分析模块的输入端连接，所述融合分析模块与结果存储模块之间实现双向连接。
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