CN110763983A - 一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 - Google Patents
一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110763983A CN110763983A CN201911132476.XA CN201911132476A CN110763983A CN 110763983 A CN110763983 A CN 110763983A CN 201911132476 A CN201911132476 A CN 201911132476A CN 110763983 A CN110763983 A CN 110763983A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- interface chip
- circuit
- special interface
- channel
- open
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 101001024685 Pandinus imperator Pandinin-2 Proteins 0.000 claims description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 6
- 101001128814 Pandinus imperator Pandinin-1 Proteins 0.000 claims description 5
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2853—Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开的属于电路测试技术领域，具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路；其中所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压。本发明采用专用接口电路，该芯片有数十路输出通道，每一输出通道都是独立可控三态输出，从而无需数量众多的模拟开关芯片，大大减少了复杂性，降低了成本，采用单电源供电，在复杂度、可靠性、经济性均优于现有技术方案。
Description
技术领域
本发明涉及电路测试技术领域，具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。
背景技术
信息技术在当今社会飞速发展，而集成电路产业作为信息技术的基础产业也取得迅猛增长。据中国半导体行业协会统计，2018年中国集成电路产业销售额为6532亿元，同比增长20.7％。
随着集成电路产业快速发展，对集成电路质量的要求也越来越高。集成电路引脚开短路测试是电路测试的基本项目，在电路圆片测试、成品测试、失效分析中均有涉及。为了提高集成电路抗静电能力，在电路设计时通常在每个引脚上加入对地、对电源的保护二极管，开短路测试即通过测试被测引脚的保护二极管导通电压，从而判断引脚是否开路或者短路，现有开短路测试方案被测电路的地端和检测电路的地端相连，通过模拟开关芯片在引脚上切换输入正电压或负电压来测试保护二极管的导通，现有开短路测试技术通常需要正负两路电源，且对模拟开关数量需求多，设备复杂，成本高。为此，我们提出一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，以解决上述背景技术中提出的现有开短路测试技术通常需要正负两路电源，且对模拟开关数量需求多，设备复杂，成本高的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路，其中：
所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压。
所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连，CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连，CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连，CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连，所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。
优选的，所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控，可输出三态；输出高电平时，通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道；输出低电平时，输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。
优选的，所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端。
优选的，所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样。
优选的，所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压；所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片。
优选的，所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序。
优选的，所述检测开短路状态的控制程序包含：
所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序；
所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压，将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序。
优选的，所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明采用专用接口电路，该芯片有数十路输出通道，每一输出通道都是独立可控三态输出，从而无需数量众多的模拟开关芯片，大大减少了复杂性，降低了成本。
本发明采用单电源供电，在复杂度、可靠性、经济性均优于现有技术方案。
附图说明
图1为本发明实施结构电路图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种技术方案：一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路，其中：
所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压；
所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连，CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连，CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连，CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连，所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。
其中，所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控，可输出三态；输出高电平时，通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道；输出低电平时，输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND，所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端，所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样，所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压；所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片，所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序，所述检测开短路状态的控制程序包含：所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序；所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压，将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序，所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。
具体的，在使用时，如图1所示，专用接口芯片的CH1通道与被测电路的Pin1引脚相连，CH2通道与被测电路的Pin2引脚相连，CH3通道与被测电路的Pin3引脚相连，CH4通道与被测电路的Pin4引脚相连，被测电路的其余引脚分别与专用接口芯片的其他通道相连；被测电路的Pin1引脚为GND，Pin2、Pin3、Pin4引脚为普通I/O端口；D1为Pin2引脚对GND的保护二极管，D2为Pin3引脚对GND的保护二极管，D3为Pin4引脚对GND的保护二极管；
测试Pin2引脚的开短路特性时，主控模块输出控制信号，使专用接口芯片的CH1通道输出VDD，使CH2通道输出GND，使其他和被测电路引脚相连接的通道输出高阻态。若Pin2的对地保护二极管D1正常，则VDD端的电压为0.6V左右；若D1因损坏短路，则VDD端电压为接近0V；若D1因损坏开路，则VDD端电压为VCC*(R2+R3)/(R1+R2+R3)。主控模块采集R2、R3分压后的信号，将其转换为VDD端电压，从而判断D1二极管的状态。
测试Pin3引脚的开短路特性时，主控模块输出控制信号，使专用接口芯片的CH1通道输出VDD，使CH3通道输出GND，使其他和被测电路引脚相连接的通道输出高阻态。若Pin3的对地保护二极管D2正常，则VDD端的电压为0.6V左右；若D2因损坏短路，则VDD端电压为接近0V；若D2因损坏开路，则VDD端电压为VCC*(R2+R3)/(R1+R2+R3)。主控模块采集R2、R3分压后的信号，将其转换为VDD端电压，从而判断D2二极管的状态；
测试其他引脚的开短路特性同上述所述测试Pin2引脚的开短路特性和上述所述测试Pin3引脚开短路特性的方法步骤相同。
本发明中的专用接口芯片中每一路输出通道都可独立配置输出三态，输出高电平时，通道电源VDD通过低导通电阻MOS管输出到通道；输出低电平时，输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。检测被测电路引脚开短路特性时，主控模块配置专用接口芯片在与被测引脚保护二极管正向端相连的通道输出VDD，与反向端相连的通道输出GND，其他通道输出高阻态。若保护二极管正常导通，此时专用接口芯片VDD端电压应该被钳位在二极管管压降0.6V左右；若保护二极管开路，则此时专用接口芯片VDD端电压为R1、R2、R3对检测电压电源VCC的分压；若保护二极管短路，则此时专用接口芯片VDD端电压应该约等于0V；通过检测专用接口芯片VDD端电压，则可以获知被测保护二极管状态，即得到被测引脚开短路状态。
虽然在上文中已经参考实施例对本发明进行了描述，然而在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本发明所披露的实施例中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
Claims (8)
1.一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于，包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路，其中：
所述主控模块用于控制所述专用接口芯片，对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态；所述专用接口芯片用于输出测试电压；所述电压采样部分负责采样测试电压；
所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连，CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连，CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连，CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连，所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。
2.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控，可输出三态；输出高电平时，通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道；输出低电平时，输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。
3.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端。
4.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样。
5.根据权利要求1-4任意所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压；所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片。
6.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序。
7.根据权利要求6所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述检测开短路状态的控制程序包含：
所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序；
所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压，将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序。
8.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路，其特征在于：所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911132476.XA CN110763983A (zh) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | 一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911132476.XA CN110763983A (zh) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | 一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110763983A true CN110763983A (zh) | 2020-02-07 |
Family
ID=69338493
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201911132476.XA Pending CN110763983A (zh) | 2019-11-19 | 2019-11-19 | 一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110763983A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113655322A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-16 | 重庆盟讯电子科技有限公司 | 一种fct自动测试平台 |
| TWI755204B (zh) * | 2020-12-16 | 2022-02-11 | 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 | 引腳短路檢測電路、積體電路晶片、及資訊處理裝置 |
| WO2024077614A1 (zh) * | 2022-10-14 | 2024-04-18 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 测试采样芯片的方法和测试装置、控制设备和存储介质 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5101153A (en) * | 1991-01-09 | 1992-03-31 | National Semiconductor Corporation | Pin electronics test circuit for IC device testing |
| CN103698654A (zh) * | 2013-12-28 | 2014-04-02 | 珠海全志科技股份有限公司 | 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法 |
| CN204086438U (zh) * | 2014-05-08 | 2015-01-07 | 江苏联康电子有限公司 | 一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置 |
| CN105866656A (zh) * | 2016-03-17 | 2016-08-17 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路 |
| CN207263883U (zh) * | 2017-09-18 | 2018-04-20 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 芯片开短路测试装置及系统 |
| CN108398627A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-08-14 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | 芯片引脚电路、芯片和芯片测试方法 |
-
2019
- 2019-11-19 CN CN201911132476.XA patent/CN110763983A/zh active Pending
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5101153A (en) * | 1991-01-09 | 1992-03-31 | National Semiconductor Corporation | Pin electronics test circuit for IC device testing |
| CN103698654A (zh) * | 2013-12-28 | 2014-04-02 | 珠海全志科技股份有限公司 | 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法 |
| CN204086438U (zh) * | 2014-05-08 | 2015-01-07 | 江苏联康电子有限公司 | 一种利用芯片保护二极管测量电路开短路的装置 |
| CN105866656A (zh) * | 2016-03-17 | 2016-08-17 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种用于多引脚芯片开短路测试的控制模块电路 |
| CN207263883U (zh) * | 2017-09-18 | 2018-04-20 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 芯片开短路测试装置及系统 |
| CN108398627A (zh) * | 2018-02-06 | 2018-08-14 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | 芯片引脚电路、芯片和芯片测试方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI755204B (zh) * | 2020-12-16 | 2022-02-11 | 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 | 引腳短路檢測電路、積體電路晶片、及資訊處理裝置 |
| CN113655322A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-16 | 重庆盟讯电子科技有限公司 | 一种fct自动测试平台 |
| WO2024077614A1 (zh) * | 2022-10-14 | 2024-04-18 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 测试采样芯片的方法和测试装置、控制设备和存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110763981B (zh) | 集成电路芯片的检测系统和方法 | |
| CN110763983A (zh) | 一种基于专用接口芯片的开短路检测电路 | |
| CN105093094B (zh) | 芯片上电可靠性自动检测装置和检测方法 | |
| CN101297209B (zh) | 具有测试电路的模拟ic和用于这种ic的测试方法 | |
| US6664798B2 (en) | Integrated circuit with test interface | |
| US9465086B2 (en) | On-chip test technique for low drop-out regulators | |
| CN113483923B (zh) | 一种解决柔性阵列压阻式传感器信号串扰与多点检测的调理电路及方法 | |
| CN103605017A (zh) | 一种汽车开关量信号的检测方法 | |
| CN103698654A (zh) | 芯片管脚的开路短路测试装置及测试方法 | |
| CN104076194B (zh) | 测试集成电路封装件的输出短路电流 | |
| US20100045327A1 (en) | Test circuit and test method for power switch | |
| CN112698240B (zh) | 开短路测试装置 | |
| TWI827290B (zh) | 晶圓檢測方法與檢測設備 | |
| CN106526456B (zh) | 一种集成电路在线测试装置和测试方法 | |
| TW201602595A (zh) | 用於開路線掃瞄的系統和方法 | |
| KR102006023B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 장비 | |
| CN108616278B (zh) | 一种离散量、模拟量归一化采集电路及方法 | |
| US5343479A (en) | Semiconductor integrated circuit having therein circuit for detecting abnormality of logical levels outputted from input buffers | |
| EP0436358B1 (en) | Integrated circuit having power supply connection integrity monitor | |
| WO2018032766A1 (zh) | 一种电压产生装置及半导体芯片 | |
| CN114295962A (zh) | 一种电源芯片测试系统 | |
| CN106445868A (zh) | 一种ADC型Type‑C自动识别电路 | |
| CN212850461U (zh) | 一种数字逻辑自触发电路及具有该电路的ifc、vfc转换电路 | |
| CN101521395B (zh) | 多功能输入终端及方法 | |
| CN202502212U (zh) | 半导体分立器件的测试系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20200207 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |