CN110595368A - 片式结构产品aoi检测设备 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种片式结构产品AOI检测设备,应用在自动化检测设备技术领域,解决了现有检测效率低、精度低的技术问题,其技术方案要点是一种片式结构产品AOI检测设备,包括机架,所述机架上设置有转料盘,机架底侧设有用于驱动转料盘转动的转料驱动装置,所述转料盘上设有用于放待检测产品的治具,所述机架沿转料盘的外周向依次设有:进料工位,供待检测产品放置于治具上;平面检测工位,包括处于转料盘下方的底侧光源、与机架连接的检测架、处于转料盘上方且连接于检测架上的摄像终端、连接于检测架上的压平组件;厚度检测工位,包括基准面测量组件、相对面测量组件;出料工位,供待检测产品从治具上取出;具有的技术效果是检测精度、效率高。

Description

片式结构产品AOI检测设备
技术领域
本发明涉及的自动化检测设备技术领域,尤其是涉及一种片式结构产品AOI检测设备。
背景技术
如图1,无线充电设备中,内部的线路结构中包含有电磁线圈,电磁线圈包含导电石墨片、上膜和下膜,其中上膜、下膜、导电石墨片目前均采用千分尺测量,采用千分尺测量,实际测量精度不高,测量效率较低。
发明内容
本发明的目的是提供一种片式结构产品AOI检测设备,其优点是检测精度较高、检测效率较高。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种片式结构产品AOI检测设备,包括机架,所述机架上设置有转料盘,机架底侧设有用于驱动转料盘转动的转料驱动装置,所述转料盘上设有用于放待检测产品的治具,所述机架沿转料盘的外周向依次设有:
进料工位,供待检测产品放置于治具上;
平面检测工位,包括处于转料盘下方的底侧光源、与机架连接的检测架、处于转料盘上方且连接于检测架上的摄像终端、连接于检测架上的压平组件;
厚度检测工位,包括基准面测量组件、相对面测量组件;
出料工位,供待检测产品从治具上取出。
通过上述技术方案,机架上设置有转料盘,转料盘上设置治具,待检测产品可放置入治具内,随着转料盘的转动,治具移动至不同工位进行检测;具体的转料盘的外周向依次有进料工位、平面检测工位、厚度检测工位、出料工位,进料工位可供操作人员将待检测产品放置于治具上,平面检测工位上,底侧光源照亮待检测件,使得待检测产品整体透亮,待检测产品的边缘以及内孔均可展示清楚,摄像终端的成像更加清晰准确;同时,测试时,实际需要将待检测产品压平,防止产品翘起或卷曲而影响检测精度,该检测过程为2D检测;另外,厚度检测工位,进行3D检测,即对待检测产品的厚度进行检测,检测时,首先通过基准面测量组件建立基准面,其次,再通过相对面测量组件,测量出上膜、下膜以及电磁线圈的厚度。
本发明进一步设置为:所述治具上平置有玻璃面板,玻璃面板上设有用于供待检测产品定位的定位块,所述治具上设有若干个透光槽。
通过上述技术方案,玻璃面板采用光学玻璃,其表面粗糙度低于5μm,可使得待检测产品放置平稳,水平度较高;同时,玻璃面板可供待检测产品透光,底侧光源透光后使得产品整体透亮,产品检测效果更好。
本发明进一步设置为:所述压平组件包括压平气缸、由压平气缸带动升降的压板,压板上设有至少一个长度基准槽、至少一个长度检测槽、至少一个宽度基准槽、至少一个宽度检测槽、至少一个结构检测槽。
通过上述技术方案,具体的压平组件包括压平气缸,压平气缸可带动压板升降,压板升降后即可压平待检测产品,压平时,仍需要保留一部分边缘的结构在可视范围内;其中长度基准槽用于确定一个长度基准边,其它长度检测槽以该长度基准边为基准,从而确定了各个位置的长度,同理,宽度基准槽确定了一个宽度基准,其它宽度检测槽以该宽度基准为参考,从而确定了各个位置的宽度;结构检测槽则直接供摄像终端对于一些孔径等较小的进行拍摄。
本发明进一步设置为:所述检测架靠近转料盘的上侧设有上侧光源。
通过上述技术方案,上侧光源可为待检测产品上的二维表示提供足够的亮度,便于摄像终端采集信息。
本发明进一步设置为:所述机架在平面检测工位处设有:
基准架,基准架上设有安装板,基准面测量组件和相对面测量组件均插装于安装板上,安装板下方设有与其连接且平行的顶升基准板;
顶升组件,所述顶升组件包括顶升气缸、连接于顶升气缸的活塞杆上的顶升板,所述转料盘上设有供顶升板穿过后抵触至治具底壁的顶升槽;
治具的边缘设有凸沿,凸沿高于治具内放置的玻璃面板的高度。
通过上述技术方案,基准架上设置安装板,该安装板供基准面测量组件和相对面测量组件安装固定,安装板下方设置顶升基准板,该顶升基准板作为一个高度基准保持指定高度,当治具移送至顶升基准板下方时,顶升组件中,顶升气缸的活塞杆带动顶升板上升,由于转料盘上设置有顶升槽,顶升板可穿过顶升槽,顶升板继续上升后推动治具平稳上升,治具上设置凸沿,治具上升后其凸沿抵触至顶升基准板,此时相当于将治具定位于一个稳定的基准位置,由此便于进一步的测量。
本发明进一步设置为:所述基准面测量组件包括至少三个基准测试探头,所述相对面测量组件包括至少一个上膜测试探头、至少一个下膜测试探头、至少两组线圈测试探头。
通过上述技术方案,三点确立一个平面,通过三个基准测试探头接触至玻璃面板确立基准平面,进一步的通过上膜测试探头测试上膜的厚度、通过下膜测试探头测试下膜的厚度,通过线圈测试探头测试出整体的厚度,减去上膜和下膜的厚度即为导电石墨片的厚度。
本发明进一步设置为:所述机架上设有上机罩,所述上机罩上设有净风系统。
通过上述技术方案,上机罩上的净风系统可持续性净化该设备内部空气,减少空气粉尘。
本发明进一步设置为:所述机架的进料工位处设有进料启动按钮和进料光栅、靠近出料工位处设有出料启动按钮和出料光栅。
通过上述技术方案,进料启动按钮和出料启动按钮分别按下,无需同步按下,即可使得整体设备进入检测运行状态;进一步的,进料启动系统上,进料光栅和出料光栅分别进行检测,若操作人员还未离开该区域时,则整体设备不启动,反之则启动。
本发明进一步设置为:所述转料盘的外周面设有若干个定位槽,所述机架上设有用于插入定位槽的定位组件,所述定位组件包括定位架、设置于定位架上的定位气缸,定位气缸的活塞杆用于插入定位槽。
通过上述技术方案,转料盘通过定位槽实现转动角度的定位,具体的定位槽可供定位气缸上的活塞杆插入,以实现定位;相邻定位槽相对于转料盘的圆心的夹角为90度,通过定位槽的限制,提高了转料盘的转动位置准确度。
本发明进一步设置为:所述机架上设有原点复位器,原点复位器包括光电感应器、电连接光电感应器的控制器,所述转料盘的底侧设有定位至光电感应器上方的复位片。
通过上述技术方案,为了进一步提高转料盘的转动精度,可在每次启动前进行转料盘的复位,转料盘转动带动复位片转动,复位片定位至光电感应器上方,此时控制器控制转料盘停转,并实现原点定位。
综上所述,本发明的有益技术效果为:
1.待检测产品进行2D、3D检测,实现长、宽、厚度的全方位自动检测,效率较高,可达到3秒一片,精度较高;
2.为了2D检测提高精度,采用了压板,为了提高3D检测精度,采用了多个基准。
附图说明
图1是本实施例的整体结构示意图;
图2是本实施例的内部结构示意图;
图3是图2中A处放大图;
图4是本实施例的各工位位置示意图;
图5是本实施例体现平面检测工位的结构示意图;
图6是本实施例体现转料盘底侧结构的示意图;
图7是本实施例体现检测架的整体结构示意图;
图8是本实施例体现转料驱动电机的示意图;
图9是本实施例体现集中面测量组件、相对面测量组件的结构示意图;
图10是本实施例体现顶升槽的结构示意图;
图11是本实施例体现治具的结构示意图;
图12a是无线充电设备的内部线路结构示意图;
图12b是无线充电设备的内部线路结构拆分示意图。
附图说明,1、机架;11、上机罩;111、净风系统;12、进料启动按钮;13、进料光栅;14、出料启动按钮;15、出料光栅;16、定位组件;161、定位架;162、定位气缸;17、光电感应器;2、转料盘;21、顶升槽;22、定位槽;23、复位片;3、转料驱动电机;4、治具;41、玻璃面板;42、定位块;43、透光槽;44、凸沿;51、进料工位;52、平面检测工位;53、厚度检测工位;54、出料工位;61、底侧光源;62、检测架;63、摄像终端;64、压平组件;641、压平气缸;642、压板;643、长度基准槽;644、长度检测槽;645、宽度基准槽;646、宽度检测槽;647、结构检测槽;648、上侧光源;7、基准架;71、基准面测量组件;711、基准测试探头;72、相对面测量组件;721、上膜测试探头;722、下膜测试探头;723、线圈测试探头;73、安装板;74、顶升基准板;75、顶升组件;751、顶升气缸;752、顶升板。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
实施例:
参照图1,为本发明公开的一种片式结构AOI检测设备,包括机架1,机架1上设置有上机罩11,上机罩11上设置有净风系统111,净风系统111用于过滤设备内空气的细微粉尘。
参加图2和图4,机架1上设置有转料盘2,机架1沿转料盘2的外周向依次设有进料工位51、平面检测工位52、厚度检测工位53、出料工位54,转料盘2上设置有治具4,治具4用于放置待检测产品,本实施例所检测的产品为无线充电设备中的上膜、下膜和导电石墨片。
参考图10和图11,治具4上设置有透光槽43,治具4上平置有玻璃面板41,玻璃面板41上设置有多个定位块42,可供待检测产品放置后定位。
参考图5和图6,转料盘2底侧设置有转料驱动电机3,转料驱动电机3用于驱动转料盘2转动。
参考图4,转料盘2的外周面设有四个定位槽22,四个定位槽22相对于转料盘2外周向均布,机架1上设有定位组件16,定位组件16包括定位架161、设置于定位架161上的定位气缸162,定位气缸162的活塞杆用于插入定位槽22,通过该方式提升转动角度的精准性。
参考图2和图3,机架1上设置有原点复位器,原点复位器包括光电感应器17和连接该光电感应器17的控制器(图中未示出),转料盘2的底侧设置有复位片23;转料盘2位置“调零位”时,转料盘2由转料驱动电机3带动转动,复位片23定位于光电感应器17上,此时转料盘2停转。
关于平面检测工位52,参考图6和图7,转料盘2的下方设置有底侧光源61,机架1上设置有检测架62,检测架62上设置有摄像终端63,摄像终端63用于对治具4上的待检测产品进行拍照、检测。检测架62上设置有压平气缸641,压平气缸641连接有压板642,压板642上设置有长度基准槽643、长度检测槽644、宽度基准槽645、宽度检测槽646、结构检测槽647;其中长度基准槽643,长度基准槽643可供摄像终端63拍摄待检测产品的边缘线,确定长度基准线,长度检测槽644再检测对应的长度,同理,宽度基准槽645,确定宽度基准线,宽度检测槽646再检测对应的宽度。而结构检测槽647则直接可供摄像终端63检测产品上的小孔径。
参考图7,对于待检测产品的长宽等尺寸的检测,仅通过底侧光源61即可照亮待检测产品的边缘结构,完成检测过程。而待检测产品上表面还有部分结构需要照明,例如二维码,此时需要关闭底侧光源61,检测架62靠近转料盘2的上侧设置有上侧光源648,开启上侧光源648可照亮待检测产品。
关于厚度检测工装,参考图8和图9,机架1上设置基准架7,基准架7上设置有安装板73,安装板73上插装有基准面测量组件71和相对面测量组件72,安装板73下方固定连接有顶升基准板74,基准架7、安装板73、顶升基准板74均保持相对固定。转料盘2下方设置有顶升组件75,顶升组件75包括顶升气缸751、连接于顶升气缸751活塞杆上的顶升板752,转料盘2上设置有顶升槽21(参考图10),顶升板752可穿过顶升槽21抵触至治具4底侧,推动治具4上升,治具4上边缘设置有凸沿44,凸沿44略高于治具4内放置的玻璃面板41的高度。治具4上升后其凸沿44抵触至顶升基准板74,此时相当于将治具4定位于一个稳定的基准位置,由此便于进一步的测量。
继续参考图9,基准面测量组件71包括三个基准测试探头711、一个上膜测试探头721、一个下膜测试探头722、两组线圈测试探头723,通过三点确定一个面,基准面建立在玻璃面板41上,通过上膜测试探头721测试上膜的厚度、通过下膜测试探头722测试下膜的厚度,通过线圈测试探头723测试出整体的厚度,减去上膜和下膜的厚度即为导电石墨片的厚度。
为了整体设备的安全运转,参考图2和图4,机架1的进料工位51处设有进料启动按钮12和进料光栅13、靠近出料工位54处设有出料启动按钮14和出料光栅15,当进料启动按钮12和出料启动按钮14分别按下后,且进料光栅13和出料光栅15均未被遮挡,此时设备启动。
本实施例的实施原理为:操作人员将待检测产品摆放于治具4上,按下进料启动按钮12,另外,在出料工位54处,取出已检测完的产品,按下出料启动按钮14,此时操作人员离开,进料光栅13和出料光栅15均无检测人员,此时设备运转。转料盘2转动,带动治具4依次经过平面检测工位52和厚度检测工位53,平面检测工位52处,摄像终端63拍摄待检测产品,检测宽度、长度、孔径等尺寸,厚度检测工位53处,检测上膜、下膜和电磁线圈的厚度。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例,并非依此限制本发明的保护范围,故:凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,包括机架(1),所述机架(1)上设置有转料盘(2),机架(1)底侧设有用于驱动转料盘(2)转动的转料驱动装置,所述转料盘(2)上设有用于放待检测产品的治具(4),所述机架(1)沿转料盘(2)的外周向依次设有:
进料工位(51),供待检测产品放置于治具(4)上;
平面检测工位(52),包括处于转料盘(2)下方的底侧光源(61)、与机架(1)连接的检测架(62)、处于转料盘(2)上方且连接于检测架(62)上的摄像终端(63)、连接于检测架(62)上的压平组件(64);
厚度检测工位(53),包括基准面测量组件(71)、相对面测量组件(72);
出料工位(54),供待检测产品从治具(4)上取出。
2.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述治具(4)上平置有玻璃面板(41),玻璃面板(41)上设有用于供待检测产品定位的定位块(42),所述治具(4)上设有若干个透光槽(43)。
3.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述压平组件(64)包括压平气缸(641)、由压平气缸(641)带动升降的压板(642),压板(642)上设有至少一个长度基准槽(643)、至少一个长度检测槽(644)、至少一个宽度基准槽(645)、至少一个宽度检测槽(646)、至少一个结构检测槽(647)。
4.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述检测架(62)靠近转料盘(2)的上侧设有上侧光源(648)。
5.根据权利要求2所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述机架(1)在平面检测工位(52)处设有:
基准架(7),基准架(7)上设有安装板(73),基准面测量组件(71)和相对面测量组件(72)均插装于安装板(73)上,安装板(73)下方设有与其连接且平行的顶升基准板(74);
顶升组件(75),所述顶升组件(75)包括顶升气缸(751)、连接于顶升气缸(751)的活塞杆上的顶升板(752),所述转料盘(2)上设有供顶升板(752)穿过后抵触至治具(4)底壁的顶升槽(21);
治具(4)的边缘设有凸沿(44),凸沿(44)高于治具(4)内放置的玻璃面板(41)的高度。
6.根据权利要求5所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述基准面测量组件(71)包括至少三个基准测试探头(711),所述相对面测量组件(72)包括至少一个上膜测试探头(721)、至少一个下膜测试探头(722)、至少两组线圈测试探头(723)。
7.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述机架(1)上设有上机罩(11),所述上机罩(11)上设有净风系统(111)。
8.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述机架(1)的进料工位(51)处设有进料启动按钮(12)和进料光栅(13)、靠近出料工位(54)处设有出料启动按钮(14)和出料光栅(15),当进料启动按钮(12)和出料启动按钮(14)分别按下后,且进料光栅(13)和出料光栅(15)均未被遮挡,此时设备启动。
9.根据权利要求1所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述转料盘(2)的外周面设有若干个定位槽(22),所述机架(1)上设有用于插入定位槽(22)的定位组件(16),所述定位组件(16)包括定位架(161)、设置于定位架(161)上的定位气缸(162),定位气缸(162)的活塞杆用于插入定位槽(22)。
10.根据权利要求9所述的片式结构产品AOI检测设备,其特征在于,所述机架(1)上设有原点复位器,原点复位器包括光电感应器(17)、电连接光电感应器(17)的控制器,所述转料盘(2)的底侧设有定位至光电感应器(17)上方的复位片(23)。
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CN111578883A (zh) * 2020-05-07 2020-08-25 威克迈动力系统部件(廊坊)有限公司 一种磁环高度检测及划线设备和方法
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