CN110401994A - 电磁加热烹饪器具及其igbt管的驱动控制电路和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电磁加热烹饪器具及其IGBT管的驱动控制电路，所述控制电路，包括：过零检测模块，用以检测输入交流电源的过零点以输出过零信号；控制模块，用以根据接收到的过零信号输出IGBT控制信号；IGBT导通电压检测模块，用以将检测到的IGBT管的导通电压发送给IGBT驱动模块中的驱动芯片；IGBT驱动模块，IGBT驱动模块中的驱动芯片根据接收到的IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制，从而实现了IGBT管工作状态检测和软开启，提高了IGBT管工作的可靠性。
Description
技术领域
本发明涉及家用电器技术领域，特别涉及一种电磁加热烹饪器具中IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极型晶体管)管的驱动控制电路、一种电磁加热烹饪器具和一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法。
背景技术
目前，应用于电磁加热烹饪器具中的IGBT管的驱动电路一般为分离元件三极管组成的推挽电路，用于控制IGBT管的开通或关断，但是在对IGBT管进行控制的过程中，IGBT管会出现工作不可靠的问题。
发明内容
本发明旨在至少从一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
本发明的第二个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具。
本发明的第三个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法。
为实现上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，包括控制模块、IGBT驱动模块、过零检测模块和IGBT导通电压检测模块，所述控制模块包括信号输出端口、过零信号检测端口和保护检测端口，所述IGBT驱动模块包括驱动芯片，其中，所述过零检测模块通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号；所述信号输出端口连接到所述驱动芯片的信号接收端口，所述保护检测端口连接到所述驱动芯片的故障反馈端口，所述过零信号检测端口连接到所述过零检测模块，所述控制模块通过所述过零信号检测端口接收所述过零信号，并根据所述过零信号通过所述信号输出端口输出IGBT控制信号；所述IGBT导通电压检测模块连接在所述IGBT的C极和所述驱动芯片的电压检测端口之间，所述IGBT导通电压检测模块用以检测所述IGBT管的导通电压，并将所述导通电压发送给所述驱动芯片；所述驱动芯片的驱动输出端口连接到所述IGBT的G极，所述驱动芯片通过所述信号接收端口接收所述IGBT控制信号，并根据所述IGBT控制信号通过所述驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至所述IGBT管，以使所述IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据所述导通电压判断所述IGBT管发生故障时反馈故障信号至所述控制模块，以便所述控制模块根据所述保护检测端口接收到的故障信号对所述IGBT管进行保护控制，其中，所述放大区驱动电压小于所述饱和区驱动电压。
根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，通过过零检测模块检测输入交流电源的过零点以输出过零信号，控制模块通过过零信号检测端口接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口输出IGBT控制信号，IGBT驱动模块中的驱动芯片通过信号接收端口接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启。在IGBT管每次开通时，通过IGBT导通电压检测模块检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片，并根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制。由此，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
另外，根据本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路还可以具有如下附加的技术特征：
根据本发明的一个实施例，所述IGBT导通电压检测模块包括：第一二极管，所述第一二极管的阴极与所述IGBT管的C极相连；第二二极管，所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阳极相连；第一电阻，所述第一电阻的一端与所述第二二极管的阳极相连，所述第一电阻的另一端与所述驱动芯片的电压检测端口相连。
根据本发明的一个实施例，所述IGBT驱动模块还包括：第一电容，所述第一电容的一端分别与所述第一电阻的另一端和所述驱动芯片的电压检测端口相连，所述第一电容的另一端接地。
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片的故障反馈端口通过第二电阻连接到所述保护检测端口。
根据本发明的一个实施例，所述IGBT驱动模块还包括：第三电阻，所述第三电阻的一端与所述IGBT管的G极相连，所述第三电阻的另一端接地；稳压管，所述稳压管的阳极与所述第三电阻的另一端相连后接地，所述稳压管的阴极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连；第三二极管，所述第三二极管的阳极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连，所述第三二极管的阴极与预设电源相连；第四二极管，所述第四二极管的阳极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连；第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第四二极管的阴极相连，所述第四电阻的另一端与所述驱动芯片的驱动输出端口相连；第五电阻，所述第五电阻连接到所述第四二极管的阳极与所述第四电阻的另一端之间。
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片的电源地端口连接到地，所述驱动芯片的电源端口连接到预设电源，且所述驱动芯片的电源端口还通过第二电容接地。
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片在软开启所述IGBT管时，输出所述放大区驱动电压的时间为0.3微秒至6微秒，输出所述饱和区驱动电压的时间为1微秒至35微秒。
根据本发明的一个实施例，在通过控制所述IGBT管以控制所述电磁加热烹饪器具中的谐振模块进行谐振工作之前，所述控制模块还通过所述保护检测端口输出复位信号至所述驱动芯片，以使所述驱动芯片进行驱动工作。
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片在所述IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据所述导通电压判断所述IGBT管是否发生故障。
为实现上述目的，本发明第二方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具，其包括上述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路。
本发明实施例的电磁加热烹饪器具，通过上述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，能够实现IGBT管工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，所述电磁加热烹饪器具包括控制模块和IGBT驱动模块，所述控制模块包括信号输出端口、过零信号检测端口和保护检测端口，所述IGBT驱动模块包括驱动芯片，所述方法包括以下步骤：通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号；所述控制模块通过所述过零信号检测端口接收所述过零信号，并根据所述过零信号通过所述信号输出端口输出IGBT控制信号；检测所述IGBT管的导通电压，并将所述导通电压发送给所述驱动芯片；所述驱动芯片通过信号接收端口接收所述IGBT控制信号，并根据所述IGBT控制信号通过所述驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至所述IGBT管，以使所述IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据所述导通电压判断所述IGBT管发生故障时反馈故障信号至所述控制模块，以便所述控制模块根据所述保护检测端口接收到的故障信号对所述IGBT管进行保护控制，其中，所述放大区驱动电压小于所述饱和区驱动电压。
根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号，控制模块通过过零信号检测端口接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口输出IGBT控制信号，驱动芯片通过信号接收端口接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启。在IGBT每次开启通时，检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片，以及根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制。由此，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
另外，根据本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法还可以具有如下附加的技术特征：
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片在软开启所述IGBT管时，输出所述放大区驱动电压的时间为0.3微秒至6微秒，输出所述饱和区驱动电压的时间为1微秒至35微秒。
根据本发明的一个实施例，在通过控制所述IGBT管以控制所述电磁加热烹饪器具中的谐振模块进行谐振工作之前，所述控制模块还通过所述保护检测端口输出复位信号至所述驱动芯片，以使所述驱动芯片进行驱动工作。
根据本发明的一个实施例，所述驱动芯片在所述IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据所述导通电压判断所述IGBT管是否发生故障。
附图说明
图1是根据本发明一个实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路的方框示意图；
图2是根据本发明一个实施例的IGBT管的驱动电压的示意图；
图3是根据本发明一个实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路的电路图；以及
图4是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法的流程图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
下面参照附图来描述根据本发明实施例提出的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路、电磁加热烹饪器具和电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法。
图1是根据本发明一个实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路的方框示意图。如图1所示，该电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路可包括：控制模块10、IGBT驱动模块20、过零检测模块30和IGBT导通电压检测模块40。
其中，控制模块10可包括信号输出端口11、过零信号检测端口12和保护检测端口13。IGBT驱动模块20可包括驱动芯片21。过零检测模块30通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号。控制模块10的信号输出端口11连接到驱动芯片21的信号接收端口1，保护检测端口13连接到驱动芯片21的故障反馈端口6，过零信号检测端口12连接到过零检测模块30，控制模块10通过过零信号检测端口12接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口11输出IGBT控制信号。IGBT导通电压检测模块40连接在IGBT的C极和驱动芯片21的电压检测端口5之间，IGBT导通电压检测模块40用以检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片21。
并且，驱动芯片21的驱动输出端口4连接到IGBT的G极，驱动芯片21通过信号接收端口1接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口4先后输出放大区驱动电压VC1和饱和区驱动电压VC2至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块10，以便控制模块10根据保护检测端口13接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制，其中，放大区驱动电压VC1小于饱和区驱动电压VC2。
根据本发明的一个实施例，驱动芯片21在软开启IGBT管时，输出放大区驱动电压的时间t1为0.3微秒至6微秒，输出饱和区驱动电压的时间t2为1微秒至35微秒。
根据本发明的一个实施例，驱动芯片在IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据导通电压判断IGBT管是否发生故障。其中，预设时间可根据实际情况进行设置，例如，可以为1微秒至5微秒。
具体地，如图1和图3所示，当电磁加热烹饪器具上电工作后，电源模块60输出的交流电源通过第一滤波模块70进行滤波处理，然后通过整流模块80(如，整流桥)进行整流以输出脉动的直流电，并通过第二滤波模块90和平滑滤波电容100进行滤波处理，以输出稳定的直流电至谐振模块50，其中，谐振模块50可由并联的谐振电容C3和谐振线圈盘L2组成，第二滤波模块90可包括并联的第一电感L1和第五电容C5，平滑滤波电容100可包括第四电容C4。
在电磁加热烹饪器具工作的过程中，过零检测模块30对交流电源的过零点进行检测，在检测到过零点时生成过零信号，并发送给控制模块10。控制模块10通过过零信号检测端口12接收过零信号，并根据接收到的过零信号通过信号输出端口11输出IGBT控制信号至IGBT驱动模块20。IGBT驱动模块20通过驱动芯片21的信号接收端口1接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动芯片21的驱动输出端口4先后输出放大区驱动电压VC1和饱和区驱动电压VC2，其中，由于放大区驱动电压VC1小于饱和区驱动电压VC2，从而能够实现IGBT管的软启动。例如，如图2所示，驱动芯片21先输出t1时间(如，0.3微秒≤t1≤6微秒)的放大区驱动电压VC1至IGBT管，再输出t2时间(如，1微秒≤t2≤35微秒)的饱和区驱动电压VC2至IGBT管，以使IGBT管开通时进行软开启；当不输出驱动电压时，IGBT管处于关断状态。
另外，驱动芯片21在驱动IGBT管每次开通时，延时预设时间(如1微秒至5微秒)再通过IGBT导通电压检测模块40检测IGBT管的导通电压，并将该导通电压通过驱动芯片21的电压检测端口5发送给驱动芯片21，驱动芯片21根据导通电压判断IGBT管是否发生故障，例如，当导通电压大于一定值(具体可根据IGBT管的型号确定)时，判断IGBT管正常；当导通电压小于一定值时，判断IGBT管发生故障。驱动芯片21在判断出IGBT管发生故障时生成故障信号，并通过故障反馈端口6反馈故障信号至控制模块10。控制模块10通过保护检测端口13接收故障信号，并根据接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制，例如，控制模块10输出低电平信号至IGBT驱动模块20，以使IGBT管关断。在IGBT管关断时，IGBT导通电压检测模块40停止进行故障检测。从而能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，使得IGBT管工作更加可靠。
进一步地，根据本发明的一个实施例，在通过控制IGBT管以控制电磁加热烹饪器具中的谐振模块50进行谐振工作之前，控制模块10还通过保护检测端口13输出复位信号至驱动芯片21，以使驱动芯片21进行驱动工作。
也就是说，在控制电磁加热烹饪器具中的谐振模块50进行谐振工作之前，还需通过控制模块10对驱动芯片21进行复位控制。具体地，控制模块10先通过保护检测端口13输出复位信号至驱动芯片21，驱动芯片21通过故障反馈端口6接收该复位信号，并根据该复位信号进行复位，以使驱动芯片21能够驱动IGBT管工作。
下面结合具体示例来对本发明的驱动控制电路进一步说明。
根据本发明的一个实施例，如图3所示，IGBT导通电压检测模块40可包括：第一二极管D1、第二二极管D2和第一电阻R1。其中，第一二极管D1的阴极与IGBT管的C极相连，第二二极管D2的阴极与第一二极管D1的阳极相连，第一电阻R1的一端与第二二极管D2的阳极相连，第一电阻R1的另一端与驱动芯片21的电压检测端口5相连。
根据本发明的一个实施例，如图3所示，驱动芯片21的故障反馈端口6通过第二电阻R2连接到保护检测端口13，驱动芯片21的信号接收端口1通过第六电阻R6连接到信号输出端口11。驱动芯片21的电源地端口2连接到地GND，驱动芯片21的电源端口3连接到预设电源VCC，且驱动芯片21的电源端口3还通过第二电容C2接地GND。
根据本发明的一个实施例，如图3所示，IGBT驱动模块20还可包括：第一电容C1，第一电容C1的一端分别与第一电阻R1的另一端和驱动芯片21的电压检测端口5相连，第一电容C1的另一端接地GND。
进一步地，如图3所示，IGBT驱动模块20还可包括：第三电阻R3、稳压管ZD、第三二极管D3、第四二极管D4、第四电阻R4和第五电阻R5。其中，第三电阻R3的一端与IGBT管的G极相连，第三电阻R3的另一端接地GND。稳压管ZD的阳极与第三电阻R3的另一端相连后接地GND，稳压管ZD的阴极分别与第三电阻R3的一端和IGBT管的G极相连。第三二极管D3的阳极分别与第三电阻R3的一端和IGBT管的G极相连，第三二极管D3的阴极与预设电源VCC相连。第四二极管D4的阳极分别与第三电阻R3的一端和IGBT管的G极相连。第四电阻R4的一端与第四二极管D4的阴极相连，第四电阻R4的另一端与驱动芯片21的驱动输出端口4相连。第五电阻R5连接到第四二极管D4的阳极与第四电阻R4的另一端之间。
具体地，在电磁加热烹饪器具工作的过程中，过零检测模块30对交流电源的过零点进行检测，并在检测到过零点时生成过零信号，并发送给控制模块10。控制模块10在接收到过零信号后输出IGBT控制信号至驱动芯片21，驱动芯片21根据接收到的IGBT控制信号先输出t1时间(如，0.3微秒≤t1≤6微秒)的放大区驱动电压VC1至IGBT管，再输出t2时间(如，1微秒≤t2≤35微秒)的饱和区驱动电压VC2至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启。
驱动芯片21在IGBT管每次开通时，延时预设时间后通过IGBT导通电压检测模块40检测IGBT管的导通电压，并将该导通电压发送给驱动芯片21，以便驱动芯片21根据导通电压判断IGBT管是否发生故障。驱动芯片21在判断出IGBT管发生故障时生成故障信号，并发送至控制模块10，以使控制模块10根据接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制。在IGBT管关断时，IGBT导通电压检测模块40停止进行故障检测。从而能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，使得IGBT管工作更加可靠。
综上所述，根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，通过过零检测模块检测输入交流电源的过零点以输出过零信号，控制模块通过过零信号检测端口接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口输出IGBT控制信号，IGBT驱动模块中的驱动芯片通过信号接收端口接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启。在IGBT管每次开通时，通过IGBT导通电压检测模块检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片，并根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制。由此，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
另外，本发明的实施例还提出了一种电磁加热烹饪器具，其包括上述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路。
本发明实施例的电磁加热烹饪器具，通过上述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
此外，本发明的实施例还提出了一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法。
图4是根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法的流程图。
在本发明的实施例中，如图1所示，电磁加热烹饪器具可包括控制模块10和IGBT驱动模块20，控制模块10包括信号输出端口11、过零信号检测端口12和保护检测端口13，IGBT驱动模块20可包括驱动芯片21。
如图4所示，该电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法可包括以下步骤：
S1，通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号。
S2，控制模块通过过零信号检测端口接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口输出IGBT控制信号。
S3，检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片。
S4，驱动芯片通过信号接收端口接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制，其中，放大区驱动电压小于饱和区驱动电压。
根据本发明的一个实施例，驱动芯片在软开启IGBT管时，输出放大区驱动电压的时间为0.3微秒至6微秒，输出饱和区驱动电压的时间为1微秒至35微秒。
根据本发明的一个实施例，在通过控制IGBT管以控制电磁加热烹饪器具中的谐振模块进行谐振工作之前，控制模块还通过保护检测端口输出复位信号至驱动芯片，以使驱动芯片进行驱动工作。
根据本发明的一个实施例，驱动芯片在IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据导通电压判断IGBT管是否发生故障。
需要说明的是，本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法中未披露的细节，请参考本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路中所披露的细节，具体这里不再详述。
根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号，控制模块通过过零信号检测端口接收过零信号，并根据过零信号通过信号输出端口输出IGBT控制信号，驱动芯片通过信号接收端口接收IGBT控制信号，并根据IGBT控制信号通过驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至IGBT管，以使IGBT管每次开通时进行软开启。在IGBT每次开启通时，检测IGBT管的导通电压，并将导通电压发送给驱动芯片，以及根据导通电压判断IGBT管发生故障时反馈故障信号至控制模块，以便控制模块根据保护检测端口接收到的故障信号对IGBT管进行保护控制。由此，能够实现IGBT管的工作状态检测和软开启，提高IGBT管工作的可靠性。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (14)
1.一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，包括控制模块、IGBT驱动模块、过零检测模块和IGBT导通电压检测模块，所述控制模块包括信号输出端口、过零信号检测端口和保护检测端口，所述IGBT驱动模块包括驱动芯片，其中，
所述过零检测模块通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号；
所述信号输出端口连接到所述驱动芯片的信号接收端口，所述保护检测端口连接到所述驱动芯片的故障反馈端口，所述过零信号检测端口连接到所述过零检测模块，所述控制模块通过所述过零信号检测端口接收所述过零信号，并根据所述过零信号通过所述信号输出端口输出IGBT控制信号；
所述IGBT导通电压检测模块连接在所述IGBT的C极和所述驱动芯片的电压检测端口之间，所述IGBT导通电压检测模块用以检测所述IGBT管的导通电压，并将所述导通电压发送给所述驱动芯片；
所述驱动芯片的驱动输出端口连接到所述IGBT的G极，所述驱动芯片通过所述信号接收端口接收所述IGBT控制信号，并根据所述IGBT控制信号通过所述驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至所述IGBT管，以使所述IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据所述导通电压判断所述IGBT管发生故障时反馈故障信号至所述控制模块，以便所述控制模块根据所述保护检测端口接收到的故障信号对所述IGBT管进行保护控制，其中，所述放大区驱动电压小于所述饱和区驱动电压。
2.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述IGBT导通电压检测模块包括：
第一二极管，所述第一二极管的阴极与所述IGBT管的C极相连；
第二二极管，所述第二二极管的阴极与所述第一二极管的阳极相连；
第一电阻，所述第一电阻的一端与所述第二二极管的阳极相连，所述第一电阻的另一端与所述驱动芯片的电压检测端口相连。
3.如权利要求2所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述IGBT驱动模块还包括：
第一电容，所述第一电容的一端分别与所述第一电阻的另一端和所述驱动芯片的电压检测端口相连，所述第一电容的另一端接地。
4.如权利要求1-3中任一项所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述驱动芯片的故障反馈端口通过第二电阻连接到所述保护检测端口。
5.如权利要求4所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述IGBT驱动模块还包括：
第三电阻，所述第三电阻的一端与所述IGBT管的G极相连，所述第三电阻的另一端接地；
稳压管，所述稳压管的阳极与所述第三电阻的另一端相连后接地，所述稳压管的阴极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连；
第三二极管，所述第三二极管的阳极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连，所述第三二极管的阴极与预设电源相连；
第四二极管，所述第四二极管的阳极分别与所述第三电阻的一端和所述IGBT管的G极相连；
第四电阻，所述第四电阻的一端与所述第四二极管的阴极相连，所述第四电阻的另一端与所述驱动芯片的驱动输出端口相连；
第五电阻，所述第五电阻连接到所述第四二极管的阳极与所述第四电阻的另一端之间。
6.如权利要求4所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述驱动芯片的电源地端口连接到地，所述驱动芯片的电源端口连接到预设电源，且所述驱动芯片的电源端口还通过第二电容接地。
7.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述驱动芯片在软开启所述IGBT管时，输出所述放大区驱动电压的时间为0.3微秒至6微秒，输出所述饱和区驱动电压的时间为1微秒至35微秒。
8.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，在通过控制所述IGBT管以控制所述电磁加热烹饪器具中的谐振模块进行谐振工作之前，所述控制模块还通过所述保护检测端口输出复位信号至所述驱动芯片，以使所述驱动芯片进行驱动工作。
9.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路，其特征在于，所述驱动芯片在所述IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据所述导通电压判断所述IGBT管是否发生故障。
10.一种电磁加热烹饪器具，其特征在于，包括如权利要求1-9中任一项所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制电路。
11.一种电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，其特征在于，所述电磁加热烹饪器具包括控制模块和IGBT驱动模块，所述控制模块包括信号输出端口、过零信号检测端口和保护检测端口，所述IGBT驱动模块包括驱动芯片，所述方法包括以下步骤：
通过检测输入交流电源的过零点以输出过零信号；
所述控制模块通过所述过零信号检测端口接收所述过零信号，并根据所述过零信号通过所述信号输出端口输出IGBT控制信号；
检测所述IGBT管的导通电压，并将所述导通电压发送给所述驱动芯片；
所述驱动芯片通过信号接收端口接收所述IGBT控制信号，并根据所述IGBT控制信号通过所述驱动输出端口先后输出放大区驱动电压和饱和区驱动电压至所述IGBT管，以使所述IGBT管每次开通时进行软开启，以及根据所述导通电压判断所述IGBT管发生故障时反馈故障信号至所述控制模块，以便所述控制模块根据所述保护检测端口接收到的故障信号对所述IGBT管进行保护控制，其中，所述放大区驱动电压小于所述饱和区驱动电压。
12.如权利要求11所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，其特征在于，所述驱动芯片在软开启所述IGBT管时，输出所述放大区驱动电压的时间为0.3微秒至6微秒，输出所述饱和区驱动电压的时间为1微秒至35微秒。
13.如权利要求11或12所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，其特征在于，在通过控制所述IGBT管以控制所述电磁加热烹饪器具中的谐振模块进行谐振工作之前，所述控制模块还通过所述保护检测端口输出复位信号至所述驱动芯片，以使所述驱动芯片进行驱动工作。
14.如权利要求11所述的电磁加热烹饪器具中IGBT管的驱动控制方法，其特征在于，所述驱动芯片在所述IGBT管每次开通时，延时预设时间后再根据所述导通电压判断所述IGBT管是否发生故障。
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