CN110320214A - 一种片状物料的上料检测装置 - Google Patents
一种片状物料的上料检测装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN110320214A CN110320214A CN201910703251.9A CN201910703251A CN110320214A CN 110320214 A CN110320214 A CN 110320214A CN 201910703251 A CN201910703251 A CN 201910703251A CN 110320214 A CN110320214 A CN 110320214A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- fixed plate
- fixed
- plate
- conveyer belt
- pallet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 284
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 164
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 47
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 39
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 23
- 238000003475 lamination Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 11
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 claims description 10
- 238000004898 kneading Methods 0.000 claims description 10
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims description 10
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 6
- 230000003447 ipsilateral effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000006835 compression Effects 0.000 claims description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 claims description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- WTFXARWRTYJXII-UHFFFAOYSA-N iron(2+);iron(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Fe+2].[Fe+3].[Fe+3] WTFXARWRTYJXII-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 208000012661 Dyskinesia Diseases 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 239000002594 sorbent Substances 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/845—Objects on a conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8867—Grading and classifying of flaws using sequentially two or more inspection runs, e.g. coarse and fine, or detecting then analysing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors
Abstract
发明公开了一种片状物料的上料检测装置，包括机架、上料装置和AOI检测装置，上料装置、AOI检测装置依次均固定于机架上；所述上料装置包括输送装置、取料装置和送料装置，取料装置吸取输送装置供给的物料、并输送到送料装置中，输送装置固定于机架的相对两侧面上，机架上还设置有调整两输送装置之间距离的推动气缸，所述输送装置包括上料平台和用于推动上料平台上下运动的电机组件；所述AOI检测装置包括对物料的矢印缺陷进行图像获取的第一检测组件和用于对物料表面缺陷进行图像获取的第二检测组件；实现了物料的机械化循环上料，提高了物料的检测质量和上料效率。
Description
技术领域
本发明涉及片状物料检测技术领域，尤其涉及一种片状物料的上料检测装置。
背景技术
片状物料例如偏光片、偏振片，超薄的眼镜片、层状复合片等，例如为了使显示器达到明亮、清晰等要求，偏光片作为显示器中的重要元件，起到至关重要的作用。由于片状物料无法以肉眼轻易辨识出偏极方向，为解决该问题，通常的做法是：在制造片状物料时，会在片状物料离型膜的角落的某一区域印上用于识别偏极方向的彩色图案或文字，统称为矢印。
偏光片在生产过程中，需要通过视觉检查设备对其表面缺陷（异物、气泡、划痕等）和其矢印缺陷进行检测，以获取合格的片状物料，由于无法以肉眼辨识出偏光片的偏转角及方向，因此传统往往采用在片状物料使用前，生产线人员进行人工矢印和自动Mark，但偏光片的粘贴程序是一贯性作业，若是其中有部分的偏光片倒置或者是入料方向错误的话，会降低整个生产输出的良品率以及提高制造成本，因此需要对片状物料在使用前进行有效的上料检测。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种片状物料的上料检测装置，实现了物料的机械化循环上料，提高了物料的检测质量和上料效率。
本发明提出的一种片状物料的上料检测装置，包括机架、上料装置和AOI检测装置，上料装置、AOI检测装置依次均固定于机架上；所述上料装置包括输送装置、取料装置和送料装置，取料装置吸取输送装置供给的物料、并输送到送料装置中，输送装置固定于机架的相对两侧面上，机架上还设置有调整两输送装置之间距离的推动气缸，所述输送装置包括上料平台和用于推动上料平台上下运动的电机组件；所述AOI检测装置包括对物料的矢印缺陷进行图像获取的第一检测组件和用于对物料表面缺陷进行图像获取的第二检测组件。
进一步地，上料平台下方设置有用于放置上料平台的第二固定板和固定于机架上的第一固定板，电机组件固定于第一固定板上，电机组件的输出端连接到第二固定板底面上；第一固定板上设置有至少一个第一导柱，上料平台下方固定设置有与第一导柱嵌套连接的第二导柱。
进一步地，所述输送装置还包括两相对设置的第一输送带、设置于第一输送带下方的第二输送带；两推动气缸分别设置于两第一输送带的相对外侧，在与两推动气缸的同侧分别设置有至少一个导向机构，所述导向机构的运动方向与同侧推动气缸的伸缩方向一致；
所述导向机构包括固定于机架上的第一导轨和与第一导轨滑动连接的第一导向块，第一导轨轴向与推动气缸的输出方向平行，第一导向块与第一输送带固定连接；
所述电机组件为两个、分别设置于第二输送带的轴向两端的下方，所述电机组件包括固定于第一固定板上的第一电机和一端与第一电机输出端连接的第一丝杠，第一丝杠另一端连接有第二固定板，上料平台设置于第二固定板上，第二固定板通过第一电机带动第一丝杠转动而移动、以实现上料平台的移动；
进一步地，所述取料装置包括多个第一吸嘴、带动第一吸嘴相对于上料平台移动的第一直线模组、用于消除物料表面静电的离子风装置和固定于机架上的压缩气腔，离子风嘴与压缩气腔通过离子风管连通；在第一吸嘴一侧设置有用于检测第一吸嘴运行位置的第一传感器。
进一步地，第一直线模组的输出端连接有第三固定板，第三固定板的轴线方向设置有用于固定第一吸嘴的第四固定板，第四固定板与第三固定板滑动连接；
所述第四固定板为L形折弯件，第四固定板的一折弯面与第三固定板连接，第四固定板的另一折弯面上开设有第一腰孔，第一吸嘴通过螺栓可移动的固定于第一腰孔上；所述第四固定板上设置有用于检测第一吸嘴所吸取物料厚度的第二传感器和用于对叠片的物料进行分离的揉搓机构，第二传感器设置于在与第三固定板连接的第四固定板一折弯面上；
所述揉搓机构包括第五固定板和固定于第三固定板上的第一气缸，第五固定板的一端与第一气缸的输出端连接、另一端与第四固定板连接，第三固定板上开设有第二腰孔，第四固定板通过第一螺栓穿过第二腰孔固定于第三固定板上，第一气缸驱动第五固定板带动第四固定板绕第一螺栓转动。
进一步地，所述AOI检测装置还包括第四输送带，第一检测组件和第二检测组件别获取第四输送带上的物料缺陷图像；
所述机架上固定有检测框架，检测框架包括两支撑框架，两支撑框架分别相对固定于第四输送带输送方向的两侧，两支撑框架之间转动连接有组件固定板，第一检测组件和第二检测组件均滑动固定于组件固定板上，第二检测组件对应的第四输送带的下方设置有用于对第四输送带上的物料进行整平的吸附装置；
所述组件固定板在与两支撑框架的连接处设置有转动机构，所述转动机构包括第一转动轴和固定于机架上的第二固定块，第二固定块上开设有第一转动孔，第一转动轴一端固定连接到组件固定板的轴向端部、另一端插入第一转动孔中。
进一步地，第一检测组件包括第一相机和第一光源，第一相机和第一光源分别设置于第四输送带的两侧，第一光源设置于第一相机的正下方，第一相机对第一光源照射下的物料进行抓拍；第二检测组件包括第二相机和第二光源，第二相机和第二光源设置于第四输送带的同一侧，第二相机对第二光源照射下的物料进行抓拍；第一相机、第一光源、第二相机、第二光源分别固定于固定于组件固定板上；
所述吸附装置包括真空机构和固定于机架上的吸盘，吸盘和物料设置于第四输送带的两侧，吸盘上开设有与真空机构连通的多个出气孔，第四输送带上开设有多个通气孔，第四输送带传送时出气孔与通风孔交替连通。出气孔的位置排布与第四输送带上的通风孔对应，每个出气孔外周表面设置有向第四输送带方向开口的第一腰槽，多个第一腰槽的轴线平行；
进一步地，该装置还包括与AOI检测装置输出端连接的下料装置，下料装置包括升降旋转平台、第一位置调节板、第二位置调节板以及用于放置片状物料的第一托盘和第二托盘；第一位置调节板和第二位置调节板设置在升降旋转平台上，第一位置调节板和第二位置调节板上分别固定连接有第一托盘和第二托盘，第一托盘和第二托盘的俯仰角度可调节；所述升降旋转平台包括支撑平台、升降平台和旋转平台，支撑平台上布置有丝杠传动组件，所述丝杠传动组件包括竖直设置在支撑平台上的第二丝杠，第二丝杠另一端与升降平台底部接触以带动升降平台上下移动。
进一步地，所述升降平台上设置有第三电机和旋转轴，第三电机通过齿轮带动旋转轴旋转，旋转轴连接有第六传感器，旋转轴竖直布置在升降平台上且旋转轴另一端与所述旋转平台底部接触；所述升降平台上还设置有旋转支撑柱，旋转支撑柱上设置有滚轮，滚轮与所述旋转平台底部接触；所述第一托盘或第二托盘上均开设有顶升孔，两顶升孔呈中心对称，顶升孔内套有顶升板，所述第一托盘或第二托盘底部固定设置有一第六固定板，第六固定板连接有第三气缸且第三气缸位于顶升孔下方，第三气缸的活塞杆与顶升板固定连接。
进一步地，所述旋转平台上表面固定设置有所述第一位置调节板和第二位置调节板，所述第一位置调节板和第二位置调节板均布置有丝杠传动组件以带动所述第一位置调节板和第二位置调节板左右移动，所述第一位置调节板和第二位置调节板上均设置有至少三个调节脚，调节脚的一端固定在第一位置调节板或第二位置调节板、另一端固定在所述第一托盘或第二托盘底部以调整所述第一托盘和第二托盘的俯仰角度；所述调节脚包括第二气缸和转动板，第二气缸的活塞杆连接转动板，第二气缸固定在所述第一位置调节板或第二位置调节板上，转动板固定在所述第一托盘或第二托盘底部。
本发明提供的一种片状物料的上料检测装置的优点在于：本发明结构中提供的一种片状物料的上料检测装置，实现了物料的机械化循环上料，提高了物料检测时的上料和下料效率；上料装置中的第一传感器检测第一吸嘴的初始下行位置，以固定第一吸嘴之后的下行位置，通过调整下料平台的高度，以实现第一吸嘴对物料的稳定吸取，避免了传统物料上料中第一吸嘴上下运行时，对物料吸取不稳定的缺陷；当丝杠运行时，第一导柱在第二导柱中运动，对上料平台起到导向支撑作用，避免了由于丝杠运行在成上料平台倾斜、甚至脱落的缺陷，同时丝杠上设置的上限位传感器和下限位传感器，使得顶升机构在一定的位置范围内转动，使得上料平台在一定的范围内上下运动，避免了上料平台被过量顶升或过量下降，造成物料难以上料的缺陷；当发生物料叠片时，揉搓机构对物料进行揉搓，在揉搓的过程中，叠片的物料由于抖动或者振动，使得空气进入叠片的物料之间，实现叠片物料的分离。AOI检测装置中通过光源对获取物料图像的相机进行补光，提高了相应相机获取物料图像的清晰度，通过第一检测组件和第二监测工位对物料进行矢印缺陷和表面缺陷的检测，使得存在矢印缺陷和表面缺陷的物料被去除，提高了物料的合格率；在第二检测组件和第四检测组件时，输送带连接有吸附装置，对进入第二检测组件和第四检测组件的物料进行翘曲平整，同时在进入第二检测组件或第四检测组件之前，在输送带上设置压辊，以对物料进行平整度预处理。在下料装置中升降旋转平台上布置两位置调节板，两位置调节板上分别布置有托盘，升降旋转平台用于带动整个机构上下移动以调整托盘与片状物料出口之间的距离，适用片状物料比如偏光片的收料，以及带动两位置调节板进行180度旋转，实现两个托盘位置的切换。
附图说明
图1为本发明上料装置的结构示意图；
图2为本发明输送装置和取料装置的结构示意图
图3为输送装置的结构示意图；
图4为第一输送带与推动气缸的结构示意图；
图5为取料装置的结构示意图；
图6为直线模组与第一吸嘴的结构示意图；
图7为揉搓机构与第一吸嘴的结构示意图；
图8为第二固定板与电机组件的结构示意图；
图9为电机组件的结构示意图；
图10为AOI检测装置的结构示意图；
图11为图10的简化图；
图12为第四输送带的结构示意图；
图13为吸盘与真空腔的装配示意图；
图14为图13中M的局部放大示意图；
图15为组件固定板与第一转动轴的装配结构示意图；
图16为第二固定块的结构示意图；
图17为第二检测组件中第二相机、第二光源分别与物料的角度示意图；
图18为第四检测组件中第四相机、第四光源分别与物料的角度示意图；
图19是下料装置的结构示意图；
图20是旋转平台结构示意图；
图21是升降平台的结构示意图；
图22为第一托盘的结构示意图；
其中，1-输送装置，2-取料装置，3-送料装置，4-机架，5-第三输送带，6-压辊，7-吸盘，8-真空腔，9-检测框架，10-转动机构，11-电机组件，12-第一固定块，13-上料平台，14-第一输送带，15-第二输送带，20-第四输送带，21-离子风嘴，22-压缩气腔，23-取料机架，25-揉搓机构，30-第一检测组件，31-组件固定板，32-第一相机，33-第一光源，40-第二检测组件，43-第二相机，46-第二光源，50-第三检测组件，51-第三相机，53-第三光源，60-第四检测组件，62-第四光源，66-第四相机，71-第一腰槽，72-出气孔，73-支撑平台；74-升降平台；75-旋转平台，80-升降旋转平台；81-第一位置调节板；82-第二位置调节板；90-支撑框架，91-第一托盘；92-第二托盘，93-横梁，94-第六固定板；95-第三气缸，96-顶升孔，100-调节脚，101-第一转动轴，102-第二固定块，103-第一转动孔，104-第二气缸；105-转动板，111-第二固定板，112-第一固定板，113-第一丝杠，114-第一电机，115-第二导柱，116-第一导柱，117-保护桩，121-第三腰孔，122-第二腰孔，123-推动气缸，124-第一导轨，125-第一导向块，126-第二电机，131-磁吸块，201-通气孔，211-第一直线模组，212-第一吸嘴，213-第三固定板，214-第四固定板，215-第一腰孔，251-第一气缸，252-第五固定板，711-第一转轮；721-第三电机；722-旋转轴；723-支撑柱；724-滚轮；811-第二转轮； 821-第三转轮。
具体实施方式
下面，通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明,在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其他方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一元件，它可以直接在另一元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一元件，它可以是直接连接到另一元件或者可能存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、以及类似的表述只是为了说明目的，并不表示是唯一的实施方式。本文中在发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在限制本发明。
该装置输送的物料一般为片状，易被吸嘴吸取以上料的物料，例如：偏光片、偏振片，超薄的眼镜片、层状复合片等，均可以采用该装置进行自动上料以提高加工效率，而且其上料过程基本一致；以下以偏光片为例进行实施例说明。
参照图1至21，本发明提出的一种片状物料的上料检测装置，包括机架4、上料装置、AOI检测装置，上料装置、AOI检测装置依次均固定于机架4上；
所述上料装置包括输送装置1、取料装置2和送料装置3，取料装置2吸取输送装置1供给的物料、并输送到送料装置3中，输送装置1固定于机架4的相对两侧面上，机架4上还设置有调整两输送装置1之间距离的推动气缸123，所述输送装置1包括上料平台13和用于推动上料平台13上下运动的电机组件11。
所述AOI检测装置包括对物料的矢印缺陷进行图像获取的第一检测组件30和用于对物料表面缺陷进行图像获取的第二检测组件40。
可以设置两个或多个上料平台13，上料平台13通过输送装置1而运动，实现上料平台13的循环上料，当载有片状物料的上料平台13运动到上料处时，推动气缸123工作，增大两输送装置1之间的距离，电机组件11运转，将上料平台13顶起，以实现上料，并将物料输送到AOI检测装置中以对物料的矢印和表面图像进行获取，以提高物料进入市场的合格率。当上料平台13中载有的片状物料被处理完后，电机组件11反转，使得上料平台13降到输送装置1上，通过输送装置1被输送出该装置、以进行再次装料操作。下一个载有片状物料的上料平台13被另一电机组件11顶起，取料装置2向上料平台13运动，吸取上料平台13上的物料后向远离上料平台13的方向进行移动，并将该吸取的物料通过送料装置3输送到下一工序中，实现了片状物料的机械化循环上料，提高了物料的上料效率，避免了传统上料中不能循环上料和物料出现翘曲、断裂等的缺陷。
如图8和9所示，上料平台13下方设置有用于放置上料平台13的第二固定板111和固定于机架4上的第一固定板112，电机组件11固定于第一固定板112上，电机组件11的输出端连接到第二固定板111底面上；第一固定板112上设置有至少一个第一导柱116，上料平台13下方固定设置有与第一导柱116嵌套连接的第二导柱115。
上料平台13放置于第二固定板111上表面，第二固定板111上的下表面与电机组件11的输出端连接，上料平台13在通过电机组件11驱动运动时，有可能会因为运动的不稳定造成上料平台13出现倾斜、甚至掉落的危险，因此在第二固定板111的下表面设置第二导柱115，同时在第一固定板112上设置中空的第一导柱116，第二导柱115可以嵌套设置于第一导柱116中，在上料平台13在通过电机组件11上下运动时，可以通过第二导柱115在第一导柱116中运动，一方面通过第一导柱116的运动，避免了上料平台13出现倾斜、掉落的缺陷，另一方面通过两导柱的相对嵌套运动，实现上料平台13的运动运行，避免上料平台13由于运动异常，造成与其他结构的结构干涉缺陷。
如图3所示，所述输送装置1还包括两相对设置的第一输送带14、设置于第一输送带14下方的第二输送带15；第一输送带14与第二输送带15上下放置，上料平台13上设置有多个磁吸块131，多个磁吸块131形成用于放置偏光片的第一空腔，磁吸块131所形成的第一空腔可以将物料固定在一定的空间内，便于第一吸嘴对偏光片的吸取运输，避免了第一吸嘴在对物料吸取的过程中，造成物料位置变化较大，使得第一吸嘴不易吸取物料的缺陷。
如图4所示，机架4上还设置有调整两第一输送带14之间距离的推动气缸123，两推动气缸123分别设置于两第一输送带14的相对外侧，在与两推动气缸123的同侧分别设置有至少一个导向机构，所述导向机构的运动方向与同侧推动气缸123的伸缩方向一致；所述导向机构包括固定于机架4上的第一导轨124和与第一导轨124滑动连接的第一导向块125，第一导轨124轴向与推动气缸123的输出方向平行，第一导向块125与第一输送带14固定连接。当推动气缸123工作时，推动两第一输送带14移动，因此与第一输送带14连接的第一导向块125沿着第一导轨124运动，第一导向块125在运动的过程中，避免了推动气缸123在推动第一输送带14时，造成第一输送带14运动时的结构偏差。可以设置一个或多个第一导向块125，以适应调整不同长度下的第一输送带14移动情况。
所述电机组件11为两个、分别设置于第二输送带15的轴向两端的下方，所述电机组件11包括固定于第一固定板112上的第一电机114和一端与第一电机114输出端连接的第一丝杠113，第一丝杠113另一端连接有第二固定板111，上料平台13设置于第二固定板111上，第二固定板111通过第一电机114带动第一丝杠113转动而移动、以实现上料平台13的移动；第一丝杠113上设置有上限位传感器和下限位传感器，第二输送带15的轴向两端分别设置有用于检测上料平台13运动到位的第三传感器，推动气缸123上设置有用于检测第一输送带14运动到位的第四传感器。
第一丝杠113的上下运动距离通过上限位传感器和下限位传感器检测，避免第一丝杠113伸长过量或者收缩过量，造成上料平台13不能稳定运行的缺陷。同时上料平台13在第一输送带14和第二输送带15上之间循环时，为了避免上料平台13运动过量，所造成上料平台13脱落的缺陷，在第二传送带15和第一传送带14的轴向两端均设置第五传感器，当第五传感器检测到上料平台13时，相应的传送带停止运动，电机组件11中的第一丝杠113推动上料平台13上升或降落，以实现上料平台13的稳定循环。在两推动气缸123伸缩使得第一输送带14运动时，当两推动气缸123上设置的第四传感器检测到第一输送带14运动到位时，两推动气缸123停止工作。
如图9所示，为避免电机组件11异常工作，造成上料平台13因发生突然下降造成结构损坏的缺陷，在第一固定板112上还设置有保护桩117，保护桩117可以设置一个或多个，保护桩117在靠近上料平台13的端部套设有橡胶套，当运行异常时，保护桩117上的橡胶套可以缓停上料平台13，避免了上料平台13的损坏。
如图5至7所示，所述取料装置2包括多个第一吸嘴212和带动第一吸嘴212相对于上料平台13移动的第一直线模组211，在第一吸嘴212一侧设置有用于检测第一吸嘴212运行位置的第一传感器。所述取料装置2还包括用于消除物料表面静电的离子风装置，所述离子风装置包括离子风嘴21和固定于机架4上的压缩气腔22，离子风嘴21与压缩气腔22通过离子风管连通；
在第一吸嘴212吸取物料时，由于物料尺寸偏大，一般需要设置多个第一吸嘴212，以实现对物料的稳定吸取，如果每个第一吸嘴212与第一直线模组211一一对应设置，将设置多个第一直线模组211，不仅增加结构的复杂性，而且由于多个第一直线模组211的运行误差，容易造成物料的掉落，因此本申请设置一个直线模组，第一直线模组211的输出端连接有第三固定板213，第三固定板213的轴线方向设置有用于固定第一吸嘴212的第四固定板214，第四固定板214与第三固定板213滑动连接。
如图7所示，所述第四固定板214为L形折弯件，第四固定板214的一折弯面与第三固定板213连接，第四固定板214的另一折弯面上开设有第一腰孔215，第一吸嘴212通过螺栓可移动的固定于第一腰孔215上，固定于第一腰孔215上的吸嘴212可以是一个、两个甚至于多个，因此吸嘴212通过以上固定，一方面可以实现吸嘴212间的距离调整，另一方面可以调整吸嘴212与物料之间的吸取角度，以适应不同物料的稳定吸取要求；
吸嘴212在吸取物料时，可能会出现叠片（吸取2个及以上数量的物料）的情况，因此，所述第四固定板214上设置有用于检测第一吸嘴212所吸取物料厚度的第二传感器，第二传感器设置于在与第三固定板213连接的第四固定板214一折弯面上，当第二传感器检测到的厚度大于单个物料的厚度时，说明吸嘴212所吸取的物料发生了叠片，因此需要对叠片的物料进行分离操作，本申请中，在第四固定板214在与第三固定板213连接的一折弯面上设置有用于对叠片的物料进行分离的揉搓机构25。所述揉搓机构25包括第五固定板252和固定于第三固定板213上的第一气缸251，第五固定板252的一端与第一气缸251的输出端连接、另一端与第四固定板214连接，第三固定板213上开设有第二腰孔，第四固定板214通过第一螺栓穿过第二腰孔固定于第三固定板213上，第一气缸251驱动第五固定板252带动第四固定板214绕第一螺栓转动。揉搓机构25分别可以设置于多个吸嘴212处，也可以设置于固定于第三固定板213两端的吸嘴212处，以能有效完成对叠片进行分离为较佳的安装数量。通过揉搓机构25调整第四固定板214绕第三固定板213转动，以实现吸嘴212在物料处的左右揉搓，在揉搓的过程中，叠片的物料由于抖动或者振动，使得空气进入叠片的物料之间，实现叠片物料的分离。
所述送料装置3包括第二直线模组和与第二直线模组输出端连接的第二吸嘴，所述第二直线模组与第一直线模组211相互垂直运动。
如图10至18所示，所述AOI检测装置固定于机架4上，所述检测装置包括对物料的矢印缺陷进行图像获取的第一检测组件30和用于对物料表面缺陷进行图像获取的第二检测组件40；
所述机架4上固定有检测框架9，检测框架9包括两支撑框架90和横梁93，横梁93的两端分别连接到两支撑框架90的一端，两支撑框架90分别相对固定于第四输送带20输送方向的两侧，两支撑框架90之间转动连接有组件固定板31，组件固定板31设置于横梁93的下方，第一检测组件30和第二检测组件40均滑动固定于组件固定板31上；第二检测组件40对应的第四输送带20的下方设置有用于对第四输送带20上的物料进行整平的吸附装置。
如图15、16所示，所述组件固定板31在与两支撑框架的连接处设置有转动机构10，所述转动机构包括第一转动轴101和固定于机架4上的第二固定块102，第二固定块102上开设有第一转动孔103，第一转动轴101一端固定连接到组件固定板31的轴向端部、另一端插入第一转动孔103中。
第一检测组件30包括第一相机32和第一光源33，第一相机32和第一光源33分别设置于第四输送带20的两侧，第一光源33设置于第一相机32的正下方，第一相机32对第一光源33照射下的物料进行抓拍；第一相机32、第一光源33分别固定于固定于组件固定板31上。
进一步地，第二检测组件40包括第二相机43和第二光源46，第二相机43和第二光源46设置于第四输送带20的同一侧，第二相机43对第二光源46照射下的物料进行抓拍；第二相机43、第二光源46分别固定于固定于组件固定板31上。
物料进入检测装置中，第一检测组件30和第二检测组件40的检测顺序没有限制，本申请以物依次进入第一检测组件30和第二检测组件40来说明物料的检测：首先将第一检测组件30和第二检测组件40安装于组件固定板31上，安装时，通过滑动不同的安装位置，以调整获取第四输送带20上图像的位置；通过组件固定板31调整第一检测组件30和第二检测组件40获取物料时的角度，以获取到清晰图像为较佳的安装位置和角度。第一检测组件30对物料表面的矢印进行检测，以去除存在矢印不全、有污损等的物料，提高了物料最终的合格率，然后进入第二检测组件40进行物料表面缺陷的检测，以剔除表面存在缺陷的不合格物料，进一步提高了物料的合格率。第一光源33设置于第一相机32的正下方，使得第一相机33在检测物料时，物料均是在通过第一光源33照射下进行的，使得第一相机33获取较佳的物料图像以利于后续对图像的处理，提高了矢印缺陷检测的准确性和合格率。在第二检测组件40中，合理设置中的第二相机43、第二光源46分别与物料的夹角，可以提高第二检测组件40对物料表面缺陷的检测质量，使得第二相机43获取的较为清晰的图像，如图17和18所示，一般在第二相机43视场方向与第二光源46照射方向的重合位置处，第二相机43与物料形成40-80度的夹角A1，优选夹角A1为60度，第二光源46与物料形成30-60度的夹角A2，优选夹角A2为45度。
如图10和11所示，可以通过将第一检测组件30和第二检测组件40的不同组合方式，实现不同精度要求的物料缺陷检测，在本申请中，设置第一检测组件30、第二检测组件40、第三检测组件50和第四检测组件60，第三检测组件50与第一检测组件30的安装方式和功能均一致，第四检测组件60和第二检测组件40的安装方式和功能均一致，以进一步检测物料的矢印缺陷和表面缺陷。第一检测组件30、第二检测组件40、第三检测组件50以及第四检测组件60是彼此独立的，没有检测顺序之分，本实施例中以第一检测组件30、第二检测组件40第三检测组件50和第四检测组件60依次对物料进行检测的顺序进行说明，但不仅限于该顺序。
第三检测组件50对物料进行表面缺陷进一步进行检测，第四检测组件60用于对物料表面缺陷进行增强检测；第三检测组件50包括第三相机51和第三光源53，第三相机51和第三光源53分别设置于物料的两侧，第三光源53设置于第三相机51的正下方，第三相机51对第三光源53照射下的物料进行抓拍；第四检测组件60包括第四光源62和第四相机66，第四光源62和第四相机66设置于物料的同一侧，第四相机66对第四光源62照射下的物料进行抓拍如图11所示，在第四相机66视场方向与第四光源62照射方向的重合位置处，第四相机66与物料形成40-80度的夹角B1，优选夹角B1为60度，第四光源62与物料形成30-60度的夹角B2，优选夹角B2为45度。
在本实施例中，第一相机32、第二相机43、第三相机51、第四相机66可以设置成一致的，也可以设置成不一致的，以能较佳获取缺陷图像为较佳的选择，在本申请中可以设置第一相机32、第二相机43以及第三相机51均为线阵相机，第四相机66为面阵相机，可以设置多个第四相机66依次在物料上方排列。
如图12至14所示，机架4上固定的吸附装置分别设置于第二检测组件40和第四检测组件60中，因为第二检测组件40和第四检测组件60为相机与光源同侧的反射工位，对物料的平整度要求较高，因此在这两个工位下设置吸附装置，以提高物料的平整度，提高物料的AOI检测质量。
所述吸附装置均包括真空机构和固定于机架4上的吸盘7，吸盘和物料设置于第四输送带20的两侧，吸盘7上开设有与真空机构连通的多个出气孔72，第四输送带20上开设有多个通气孔201，第四输送带20传送时出气孔72与通风孔201交替连通。所述真空机构包括风管、真空腔8和真空泵，真空腔8的进气端与吸盘7上的出气孔72连通，真空腔8的出气端与真空泵连接；出气孔72的位置排布与第四输送带20上的通风孔201对应，每个出气孔72外周表面设置有向第四输送带20方向开口的第一腰槽71，多个第一腰槽71的轴线平行；出气孔72的径向截面积小于相应平行位置的第一腰槽71的截面积，通过出气孔72在第一腰槽71中形成一定的真空吸附量，在通风孔201与第一腰槽71连通的过程中，偏光片均能被有效吸附，提高了偏光片的吸附时间。
当物料在进行AOI检测时，物料通过输送装置2被输送到检测工位中，物料通过输送装置2移动，物料在移动的过程中，完成对物料的矢印缺陷、表面缺陷进行检测，吸盘7上的出气孔72通过真空机构产生真空吸附力，物料随着第四输送带20移动，当物料进入吸盘7区域时，第四输送带20上的通风孔201与出气孔72连通时，物料被吸附在第四输送带20上，此时被吸附的物料进行相应工位的AOI检测，由于设置多个通风孔201和出气孔72，因此在第四输送带20运动的过程中，通风孔201和出气孔72交替连通，使得物料被交替吸附，物料通过以上真空传输过程，使得物料在AOI检测过程中既能被有效整平固定，又能避免传统中物料与第四输送带20错位、摩擦的现象。提高了物料的加工效率和最终的成形质量。
如图12所示，机架4上设置有用于对进入吸附装置的物料进行翘曲纠偏的压辊6，压辊6的轴线与第四输送带20输送方向垂直，压辊6的两端固定于机架4上。压辊6的两端连接有移动固定于机架4上的第一固定块12，第一固定块12在与压辊6的连接处开设有第一腰孔，压辊6通过第一腰孔调节与第四输送带20之间的距离，压辊6两端穿入第一腰孔中，压辊6端部开设有固定孔，螺栓穿过第二腰孔和固定孔，将压辊6固定于第一固定块12中，通过调节螺栓在第二腰孔的位置，可以调节压辊6与第四输送带20之间的距离，以适应不用厚度的物料的翘曲纠偏。压辊6与第四输送带20之间的距离一般设置成物料平整时能通过的距离，翘曲的物料通过第四输送带20与压辊6之间时，压辊6随着物料的移动而转动，对物料的表面翘曲进行整平，同时压辊6外周包覆有橡胶，避免压辊6在转动的过程中对物料的损伤。
如图19至22所示，该装置还包括与AOI检测装置输出端连接的下料装置，下料装置包括升降旋转平台80、第一位置调节板81、第二位置调节板82以及用于放置片状物料的第一托盘91和第二托盘92；第一位置调节板81和第二位置调节板82设置在升降旋转平台80上，第一位置调节板81和第二位置调节板82上分别固定连接有第一托盘91和第二托盘92，第一托盘91和第二托盘92的俯仰角度可调节。
其中，升降旋转平台80用于带动整个机构上下移动以调整托盘与片状物料出口之间的距离，适用片状物料比如偏光片的收料，升降旋转平台80还可带动两位置调节板进行180度旋转，实现两个托盘位置的切换，在一托盘物料装满时，旋转工位，将另一空托盘旋转至物料出口，并通过人工或机器将满托盘上的物料取走，实现双工位的旋转循环出料。
进一步地，升降旋转平台80包括支撑平台73、升降平台74和旋转平台75，支撑平台73上布置有丝杠传动组件，丝杠传动组件包括竖直设置在支撑平台73上的第二丝杠，第二丝杠另一端与升降平台74底部接触以带动升降平台74上下移动。其中，该丝杠传动组件包括第二丝杠、皮带和第一转轮，第一转轮711固定布置在支撑平台73侧面，皮带设置在支撑平台73底部，第二丝杠设置在支撑平台73上，第一转轮711和第二丝杠一端经皮带连接，第二丝杠另一端与升降平台74底部固定连接，通过左右转动第一转轮711带动皮带转动，从而带动第二丝杠上下移动，将升降平台74顶起或下移，以调整托盘与片状物料出口之间的距离。
进一步地，升降平台74上设置有第三电机721和旋转轴722，第三电机721通过齿轮带动旋转轴722旋转，旋转轴722连接有第六传感器，旋转轴722竖直布置在升降平台74上且旋转轴722另一端与所述旋转平台75底部接触。其中，第三电机721转动通过齿轮带动旋转轴722转动，带动旋转平台75进行180度旋转，与旋转轴722连接的第六传感器用于检测第三电机721的转动圈数，以保证旋转平台75转动180度，实现两个托盘的位置切换。
进一步地，所述升降平台74上还设置有旋转支撑柱723，旋转支撑柱723上设置有滚轮724，滚轮724与所述旋转平台75底部接触。其中，旋转平台75在旋转过程中，支撑柱723支撑旋转平台75底部，且通过设置滚轮724，旋转平台75在旋转过程，滚轮724随旋转平台75转动，确保旋转平台75在转动状态时亦可得到支撑柱723的支撑，确保旋转平台75旋转过程的稳定性。
进一步地，所述第一位置调节板81和第二位置调节板82上均设置有至少三个调节脚100，调节脚100的一端固定在第一位置调节板81或第二位置调节板82、另一端固定在所述第一托盘91或第二托盘92底部以调整所述第一托盘91和第二托盘92的俯仰角度。其中，本实施例在每个调节板上设置4个调节脚100，分别设置在调节板的4个角，调节脚100包括第二气缸104和转动板105，第二气缸104的活塞杆上固定连接有连接部，转动板105包括支撑部和两竖直部，两竖直部垂直固定在支撑部下表面，两竖直部转动连接在连接部上，第二气缸104固定在第一位置调节板81或第二位置调节板82上，支撑部上表面固定在第一托盘91或第二托盘92底部。其中，利用第二气缸104的活塞杆伸缩和转动42的转动实现托盘的俯仰角的调节，以确保物料利用其惯性和自重顺利滑落在托盘上。
进一步，第一托盘91或第二托盘92表面边缘位置布置有磁吸块131。其中，该磁吸块131为磁吸石，并在托盘表面三侧边缘位置设置有磁吸石，以确保物料不会滑落出托盘。
进一步地，第一托盘91或第二托盘92上均开设有顶升孔96，两顶升孔96呈中心对称，顶升孔96内套有顶升板，第一托盘91或第二托盘92底部固定设置有一U型第六固定板94，第六固定板94两臂部固定在托盘底部，第六固定板94底部连接有第三气缸95且第三气缸95位于顶升孔96下方，第三气缸95的活塞杆71与顶升板固定连接。其中，利用第三气缸95的活塞杆伸缩带动顶升板上升将位于托盘内的物料顶起以便于取料。
本实施例提供的出料机构包括三层结构，最底层布置的支撑平台利用第二丝杠传动结构实现整个机构上升和下降，升降平台上布置的第三电机带动旋转平台进行180度旋转实现两托盘位置的切换，调节板上布置的转轮实现调节板的左右位置调节，调节板上布置的调节脚实现托盘的俯仰角的调节，以此实现托盘上下左右以及俯仰角度的调整，实现准确取料。
工作过程：工作过程：首先将两个或多个载有偏光片的上料平台13放置于第二输送带15上，上料平台13通过第二输送带15输送到上料处的电机组件11上方，第一丝杠113带动第二固定板111向上升起并顶升在上料平台13下方，两推动气缸123的活塞杆收缩，使得两第一输送带14之间的距离增加，此时第一电机114正转，通过皮带带动顶升机构转动，将载有偏光片的上料平台13顶到取料装置2的第一吸嘴212处，以通过第一吸嘴212吸取偏光片，第二吸嘴吸取第一吸嘴212所吸取的偏光片，并通过第二直线模组带动第二吸嘴运动，以将偏光片输送到第三输送带5上，进入AIO检测装置，实现偏光片的检测。当第一吸嘴212吸取到第一个物料时，第一传感器检测到第一吸嘴212向下运动的位置，直线模组11向上运动，带动载有物料的第一吸嘴212向上运动，以实现物料的上料。
当第一吸嘴212再次吸取上料平台13上的物料时，直线模组11带动第一吸嘴212向下运动，此时第一吸嘴212运动到的位置即为第一传感器之前检测到的位置，如此循环一个周期，当进入下一周期时，第一吸嘴212向上料平台13的下行位置仍不变，第一电机114工作带动第一丝杠113伸长，使得上料平台13向上移动一定距离L1，该一定距离L1即为吸嘴12在一个循环周期中所吸取物料的总厚度，总厚度即为一个循环中多个物料的厚度之和。然后进行下一循环的上料。如此反复，实现物料的稳定上料。
当上料平台13上的偏光片全部输送完成后，两推动气缸123的活塞杆伸长，使得两第一输送带14之间的距离减小，第一电机114反转，通过皮带带动第一丝杠113转动，使得该上料平台13向下运动，随着第一丝杠113的转动，上料平台13落在两第一输送带14上，上料平台13随着第一输送带14的运动而向外运动，当第三传感器检测到上料平台13向外运动到位时，两第一电机26停止工作，此时上料平台13下方的另一电机组件11中的第一丝杠113伸长，带动上料平台13向下运动，并最终落在第二传输带15上，此时向上料平台13中装载偏光片，再次装载有偏光片的上料平台13，完成一次物料的循环上料。
当物料进入AOI检测装置中后，第一检测组件30中的第一相机32抓拍第一光源33下的物料图像，以进行物料矢印缺陷的检测，随着物料在第四输送带20上的运动，物料进入第二检测组件40，第二相机43抓拍第二光源46下的物料图像，以进行物料表面缺陷的检测，为了进一步提高物料的检测质量，物料随第四输送带20进入第三检测组件50，第三相机51抓拍第三光源53下的物料图像，以进一步进行物料表面缺陷的检测，使得存在表面缺陷的物料能较大程度的被检测到，以提高物料的合格率，物料随第四输送带20进入第三检测组件6，第四相机66抓拍第四光源下的物料图像，以进一步进行物料表面缺陷的进行增强检测，使得存在表面缺陷的物料能较大程度的被检测到，以提高物料的合格率。
以上第一检测组件30、第一检测组件4、第一检测组件5、第一检测组件6均为独立的检测工位，其检测顺序可以变换，以能合格率较高的物料为较佳的检测顺序。
在从AOI检测装置被输送出来的物料，完成矢印和表面缺陷的检测，对不合格的物料进行剔除，合格物料进入下料装置中，实现物料检测的自动上料和自动出料，提高了物料的检测效率。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种片状物料的上料检测装置，其特征在于，包括机架(4)、上料装置和AOI检测装置，上料装置、AOI检测装置依次均固定于机架(4)上；
所述上料装置包括输送装置(1)、取料装置(2)和送料装置(3)，取料装置(2)吸取输送装置(1)供给的物料、并输送到送料装置(3)中，输送装置(1)固定于机架(4)的相对两侧面上，机架(4)上还设置有调整两输送装置(1)之间距离的推动气缸(123)，所述输送装置(1)包括上料平台(13)和用于推动上料平台(13)上下运动的电机组件(11)；
所述AOI检测装置包括对物料的矢印缺陷进行图像获取的第一检测组件(30)和用于对物料表面缺陷进行图像获取的第二检测组件(40)。
2.权利要求1所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，上料平台(13)下方设置有用于放置上料平台(13)的第二固定板(111)和固定于机架(4)上的第一固定板(112)，电机组件(11)固定于第一固定板(112)上，电机组件(11)的输出端连接到第二固定板(111)底面上；
第一固定板(112)上设置有至少一个第一导柱(116)，上料平台(13)下方固定设置有与第一导柱(116)嵌套连接的第二导柱(115)。
3.权利要求1所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，所述输送装置(1)还包括两相对设置的第一输送带(14)、设置于第一输送带(14)下方的第二输送带(15)；
两推动气缸(123)分别设置于两第一输送带(14)的相对外侧，在与两推动气缸(123)的同侧分别设置有至少一个导向机构，所述导向机构的运动方向与同侧推动气缸(123)的伸缩方向一致；
所述导向机构包括固定于机架(4)上的第一导轨(124)和与第一导轨(124)滑动连接的第一导向块(125)，第一导轨(124)轴向与推动气缸(123)的输出方向平行，第一导向块(125)与第一输送带(14)固定连接；
所述电机组件(11)为两个、分别设置于第二输送带(15)的轴向两端的下方，所述电机组件11包括固定于第一固定板(112)上的第一电机(114)和一端与第一电机(114)输出端连接的第一丝杠(113)，第一丝杠(113)另一端连接有第二固定板(111)，上料平台(13)设置于第二固定板(111)上，第二固定板(111)通过第一电机(114)带动第一丝杠(113)转动而移动、以实现上料平台(13)的移动。
4.权利要求1所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，所述取料装置(2)包括多个第一吸嘴(212)、带动第一吸嘴(212)相对于上料平台(13)移动的第一直线模组(211)、用于消除物料表面静电的离子风装置和固定于机架(4)上的压缩气腔(22)，离子风嘴(21)与压缩气腔(22)通过离子风管连通；
在第一吸嘴(212)一侧设置有用于检测第一吸嘴(212)运行位置的第一传感器。
5.权利要求4所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，第一直线模组(211)的输出端连接有第三固定板(213)，第三固定板(213)的轴线方向设置有用于固定第一吸嘴(212)的第四固定板(214)，第四固定板(214)与第三固定板(213)滑动连接；
所述第四固定板(214)为L形折弯件，第四固定板(214)的一折弯面与第三固定板(213)连接，第四固定板(214)的另一折弯面上开设有第一腰孔(215)，第一吸嘴(212)通过螺栓可移动的固定于第一腰孔(215)上；
所述第四固定板(214)上设置有用于检测第一吸嘴(212)所吸取物料厚度的第二传感器和用于对叠片的物料进行分离的揉搓机构(25)，第二传感器设置于在与第三固定板(213)连接的第四固定板(214)一折弯面上；
所述揉搓机构(25)包括第五固定板(252)和固定于第三固定板(213)上的第一气缸(251)，第五固定板(252)的一端与第一气缸(251)的输出端连接、另一端与第四固定板(214)连接，第三固定板(213)上开设有第二腰孔，第四固定板(214)通过第一螺栓穿过第二腰孔固定于第三固定板(213)上，第一气缸(251)驱动第五固定板(252)带动第四固定板(214)绕第一螺栓转动。
6.权利要求1所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，所述AOI检测装置还包括第四输送带(20)，第一检测组件(30)和第二检测组件(40)分别获取第四输送带(20)上的物料缺陷图像；
所述机架(4)上固定有检测框架(9)，检测框架(9)包括两支撑框架(90)，两支撑框架(90)分别相对固定于第四输送带(20)输送方向的两侧，两支撑框架(90)之间转动连接有组件固定板(31)，第一检测组件(30)和第二检测组件(40)均滑动固定于组件固定板(31)上，第二检测组件(40)对应的第四输送带(20)的下方设置有用于对第四输送带(20)上的物料进行整平的吸附装置；
所述组件固定板(31)在与两支撑框架的连接处设置有转动机构(10)，所述转动机构包括第一转动轴(101)和固定于机架(4)上的第二固定块(102)，第二固定块(102)上开设有第一转动孔(103)，第一转动轴(101)一端固定连接到组件固定板(31)的轴向端部、另一端插入第一转动孔(103)中。
7.权利要求6所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，第一检测组件(30)包括第一相机(32)和第一光源(33)，第一相机(32)和第一光源(33)分别设置于第四输送带(20)的两侧，第一光源(33)设置于第一相机(32) 的正下方，第一相机(32)对第一光源(33)照射下的物料进行抓拍；
第二检测组件(40)包括第二相机(43)和第二光源(46)，第二相机(43)和第二光源(46)设置于第四输送带(20)的同一侧，第二相机(43)对第二光源(46)照射下的物料进行抓拍；
第一相机(32)、第一光源(33)、第二相机(43)、第二光源(46)分别固定于固定于组件固定板(31)上；
所述吸附装置包括真空机构和固定于机架(4)上的吸盘(7)，吸盘(7)和物料设置于第四输送带(20)的两侧，吸盘(7)上开设有与真空机构连通的多个出气孔(72)，第四输送带(20)上开设有多个通气孔(201)，第四输送带(20)传送时出气孔(72)与通风孔(201)交替连通；
出气孔(72)的位置排布与第四输送带(20)上的通风孔(201)对应，每个出气孔(72)外周表面设置有向第四输送带(20)方向开口的第一腰槽(71)，多个第一腰槽(71)的轴线平行。
8.权利要求1所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，该装置还包括与AOI检测装置输出端连接的下料装置，下料装置包括升降旋转平台(80)、第一位置调节板(81)、第二位置调节板(82)以及用于放置片状物料的第一托盘(91)和第二托盘(92)；第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)设置在升降旋转平台(80)上，第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)上分别固定连接有第一托盘(91)和第二托盘(92)，第一托盘(91)和第二托盘(92)的俯仰角度可调节；
所述升降旋转平台(80)包括支撑平台(73)、升降平台74和旋转平台(75)，支撑平台(73)上布置有丝杠传动组件，所述丝杠传动组件包括竖直设置在支撑平台(73)上的第二丝杠，第二丝杠另一端与升降平台(74)底部接触以带动升降平台(74)上下移动。
9.权利要求8所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，所述升降平台(74)上设置有第三电机(721)和旋转轴(722)，第三电机(721)通过齿轮带动旋转轴(722)旋转，旋转轴(722)连接有第六传感器，旋转轴(722)竖直布置在升降平台(74)上且旋转轴(722)另一端与所述旋转平台(75)底部接触；
所述升降平台(74)上还设置有旋转支撑柱(723)，旋转支撑柱(723)上设置有滚轮(724)，滚轮(724)与所述旋转平台(75)底部接触；
所述第一托盘(91)或第二托盘(92)上均开设有顶升孔(96)，两顶升孔(96)呈中心对称，顶升孔(96)内套有顶升板，所述第一托盘(91)或第二托盘(92)底部固定设置有一第六固定板(94)，第六固定板(94)连接有第三气缸(95)且第三气缸(95)位于顶升孔(96)下方，第三气缸(95)的活塞杆与顶升板固定连接。
10.权利要求9所述的片状物料的上料检测装置，其特征在于，所述旋转平台(75)上表面固定设置有所述第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)，所述第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)均布置有丝杠传动组件以带动所述第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)左右移动，所述第一位置调节板(81)和第二位置调节板(82)上均设置有至少三个调节脚(100)，调节脚(100)的一端固定在第一位置调节板(81)或第二位置调节板(82)、另一端固定在所述第一托盘(91)或第二托盘(92)底部以调整所述第一托盘(91)和第二托盘(92)的俯仰角度；
所述调节脚(100)包括第二气缸(104)和转动板(105)，第二气缸(104)的活塞杆连接转动板(105)，第二气缸(104)固定在所述第一位置调节板(81) 或第二位置调节板(82)上，转动板(105)固定在所述第一托盘(91)或第二托盘(92)底部。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910703251.9A CN110320214A (zh) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | 一种片状物料的上料检测装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910703251.9A CN110320214A (zh) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | 一种片状物料的上料检测装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110320214A true CN110320214A (zh) | 2019-10-11 |
Family
ID=68125057
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910703251.9A Pending CN110320214A (zh) | 2019-07-31 | 2019-07-31 | 一种片状物料的上料检测装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110320214A (zh) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110817396A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-02-21 | 华南理工大学广州学院 | 一种海绵的送料装置 |
| CN112285129A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-01-29 | 宁波丞达精机股份有限公司 | 一种aoi光学测试机位置运动模组 |
| CN112378915A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-19 | 无锡商业职业技术学院 | 一种自动接送方管检测机架结构系统 |
| CN113295706A (zh) * | 2021-07-06 | 2021-08-24 | 苏州迅益科系统科技有限公司 | 一种手表包装盒印刷内容的检测装置 |
| CN113843174A (zh) * | 2021-08-31 | 2021-12-28 | 上海大学 | 一种函件整理分拣装置 |
| CN114130691A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-03-04 | 珠海格力智能装备有限公司 | 供料装置 |
| CN116060324A (zh) * | 2023-01-12 | 2023-05-05 | 苏州有道芯量智能科技有限公司 | 一种MiniLED背光显示屏的在线检查机 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018094680A1 (zh) * | 2016-11-25 | 2018-05-31 | 苏州富强科技有限公司 | 全自动上料流水线 |
| CN109127461A (zh) * | 2018-07-26 | 2019-01-04 | 桂林电子科技大学 | 一种手机点胶质量在线视觉检测装置 |
| DE212019000005U1 (de) * | 2019-01-28 | 2019-07-09 | Kunshan Hengda Precision Machinery Industry Co., Ltd. | Vollautomatische Schleifproduktionslinie |
| CN209117604U (zh) * | 2018-10-11 | 2019-07-16 | 宁波纽迪威光电科技有限公司 | 一种活塞销检测机 |
| CN210775250U (zh) * | 2019-07-31 | 2020-06-16 | 安徽利珀科技有限公司 | 一种片状物料的上料检测装置 |
-
2019
- 2019-07-31 CN CN201910703251.9A patent/CN110320214A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018094680A1 (zh) * | 2016-11-25 | 2018-05-31 | 苏州富强科技有限公司 | 全自动上料流水线 |
| CN109127461A (zh) * | 2018-07-26 | 2019-01-04 | 桂林电子科技大学 | 一种手机点胶质量在线视觉检测装置 |
| CN209117604U (zh) * | 2018-10-11 | 2019-07-16 | 宁波纽迪威光电科技有限公司 | 一种活塞销检测机 |
| DE212019000005U1 (de) * | 2019-01-28 | 2019-07-09 | Kunshan Hengda Precision Machinery Industry Co., Ltd. | Vollautomatische Schleifproduktionslinie |
| CN210775250U (zh) * | 2019-07-31 | 2020-06-16 | 安徽利珀科技有限公司 | 一种片状物料的上料检测装置 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 屈文韬;呼烨;朱英博;耿文杰;徐学正;: "一种毛巾包装自动上料装置的设计", 现代制造技术与装备, no. 04 * |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110817396A (zh) * | 2019-12-12 | 2020-02-21 | 华南理工大学广州学院 | 一种海绵的送料装置 |
| CN110817396B (zh) * | 2019-12-12 | 2024-03-15 | 华南理工大学广州学院 | 一种海绵的送料装置 |
| CN112378915A (zh) * | 2020-11-05 | 2021-02-19 | 无锡商业职业技术学院 | 一种自动接送方管检测机架结构系统 |
| CN112285129A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-01-29 | 宁波丞达精机股份有限公司 | 一种aoi光学测试机位置运动模组 |
| CN113295706A (zh) * | 2021-07-06 | 2021-08-24 | 苏州迅益科系统科技有限公司 | 一种手表包装盒印刷内容的检测装置 |
| CN113295706B (zh) * | 2021-07-06 | 2022-11-22 | 苏州迅益科系统科技有限公司 | 一种手表包装盒印刷内容的检测装置 |
| CN113843174A (zh) * | 2021-08-31 | 2021-12-28 | 上海大学 | 一种函件整理分拣装置 |
| CN114130691A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-03-04 | 珠海格力智能装备有限公司 | 供料装置 |
| CN116060324A (zh) * | 2023-01-12 | 2023-05-05 | 苏州有道芯量智能科技有限公司 | 一种MiniLED背光显示屏的在线检查机 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN110320214A (zh) | 一种片状物料的上料检测装置 | |
| CN210775250U (zh) | 一种片状物料的上料检测装置 | |
| CN104460060B (zh) | 液晶显示模组光学检测设备及方法 | |
| CN107350775A (zh) | 一种散热片装胶钉贴标机 | |
| CN205364826U (zh) | 一种全自动丝网印刷机 | |
| CN109030506B (zh) | 一种lcd自动检测设备 | |
| CN113567467A (zh) | 一种精密芯片检测设备 | |
| CN216213270U (zh) | 一种双通道芯片检测设备 | |
| CN109396052B (zh) | 电池片分选装置以及电池片掰片机 | |
| CN107952692A (zh) | 一种极片检测机 | |
| CN207389786U (zh) | 一种贴标设备及其流水线 | |
| CN106338847A (zh) | 显示模组自动点亮检测机 | |
| CN105984729B (zh) | 全自动玻璃水平堆垛机 | |
| CN111620093A (zh) | 一种高速摆盘机 | |
| CN110434019B (zh) | 一种用于平板电脑的自动点胶装置 | |
| CN219391854U (zh) | 一种pcb外观自动检测装置 | |
| CN208873746U (zh) | 全自动太阳能电池片划裂机 | |
| CN210392893U (zh) | 一种片状物料自动上料装置 | |
| CN209296608U (zh) | 手机外观检测系统 | |
| CN208420735U (zh) | 一种lcd自动检测设备 | |
| CN107323765A (zh) | 适用于羽毛球筒的模块化全自动包装生产线 | |
| CN208627879U (zh) | 一种自动ccd检测分选机 | |
| CN218629464U (zh) | 用于半导体模块封装的视觉检测设备 | |
| CN206945568U (zh) | 一种用于待检屏幕检测的多工位支承装置和检测设备 | |
| CN110649978A (zh) | 无线模块测试机构及其测试系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |