CN110246469A - 统一格式的demura数据应用方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种统一格式的demura数据应用方法。该方法包括：步骤S11、系统芯片初始化；步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S13，若无则执行步骤S16；步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16；步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据；步骤S15、启动demura数据补偿；步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器，接下来执行步骤S15。本发明可以将当前混乱多样的demura数据格式统一，极大地降低面板厂商对产品的管控难度。

Description

统一格式的demura数据应用方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种统一格式的demura数据应用方法。
背景技术
在TFT-LCD面板的不同位置上容易因为制程的均一性不足，而在同一背光下出现亮度不一致的情况。这些亮度不一致的区域被称之为斑(mura)。为了提升TFT-LCD面板的画质，驱动TFT-LCD面板的时序控制器芯片(TCON IC)中一般会搭载demura(mura补偿)功能。
demura功能通过读取储存在闪存(flash)中的面板demura数据，获知当前面板不同位置上的mura情况，再对输入的图像数据根据其对应位置的mura程度进行适当的数据补偿，从而减轻面板显示出来的图像的mura程度。储存在闪存中的面板demura数据是在每一片面板的生产过程中针对性地测量计算得到的，一组数据仅适用于对应的一片面板。
参见图1，其为现有的TFT-LCD显示器架构示意图，TFT-LCD面板1会配套控制板(C-board)2和X板(X-Board)3两种电路板(PCBA)。其中控制板2搭载时序控制器芯片4、闪存5和电源模块等元件，同一面板机种的控制板2是可以混用的，出货时控制板2也与TFT-LCD面板1分开，整机组装时再接到X板3；而X板3则与TFT-LCD面板1绑定(bonding)在一起，是不可拆卸的，负责连接控制板2与TFT-LCD面板1。所以存储demura数据的闪存6一般放在X板上，以确保每一组demura数据都对应到正确的TFT-LCD面板1。
参见图2，其为现有demura系统架构示意图，现行的demura流程主要包括：
1)设有eMMC(内嵌式多媒体卡)的片上系统(SOC)系统板控制时序控制器芯片上电，时序控制器芯片上电时先读取控制板的闪存内的固件(firmware)；
2)时序控制器芯片启动工作后，读取TFT-LCD面板的X板的闪存内的供应商格式的(vendor)demura数据；
3)将供应商格式的demura数据保存到时序控制器芯片的寄存器(REG)里；
4)时序控制器芯片启动demura模块进行demura数据补偿。
已知技术的缺陷：
出于对供应链稳定性的考量，面板厂商会对同一机种采用两种以上的来自不同供应商的时序控制器芯片。而由于demura功能是由时序控制器芯片实现的，而不同供应商的不同时序控制器芯片能识别的demura数据格式都不相同。所以即使TFT-LCD面板和X板设计都一样，但X板上的demura数据还需要根据搭配的时序控制器芯片来定制储存，这就增加了管控的难度。但在控制板和面板配套出货时，现行方案的管控难度尚可接受。
但随着面板降价的压力增大，出现了无时序控制器(TCON less)的新架构。即直接由片上系统(SOC)承担时序控制器芯片的功能，而片上系统系统板由整机厂负责设计，面板厂只需要提供TFT-LCD面板和X板。所以此时的同一TFT-LCD面板机种可能会有无时序控制器和有时序控制器(with TCON)两种情况，其中无时序控制器会有多种不同的片上系统系统板驱动方案，有时序控制器也会有多种不同时序控制器芯片的驱动方案。所以此时X板上的demura数据就不能根据时序控制器芯片来决定储存格式，而是对于同一TFT-LCD面板机种需要有同样的demura数据格式。
发明内容
因此，本发明的目的在于提供一种统一格式的demura数据应用方法，对面板厂商所有的面板机种，都采用统一格式的demura数据。
为实现上述目的，本发明提供了一种统一格式的demura数据应用方法，包括：
步骤S11、系统芯片初始化；
步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S13，若无则执行步骤S16；
步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16；
步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据；
步骤S15、启动demura数据补偿；
步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
其中，步骤S13包括：
步骤S131、读取第一存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S132、读取第二存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S133、对步骤S131和S132所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16。
其中，步骤S16包括：
步骤S161、读取第二存储器内的第二格式demura数据；
步骤S162、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S163、将demura信息以第一格式的demura数据格式写入第一存储器，同时将demura信息装载到系统芯片的寄存器；
步骤S164、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
其中，所述系统芯片为时序控制器芯片。
其中，所述第一存储器为控制板的存储器，第二存储器为X板的存储器。
该应用方法具体包括：
步骤S101、时序控制器芯片读取控制板的存储器内的固件；
步骤S102、判断控制板的存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S103，若无则执行步骤S108；
步骤S103、读取控制板的存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S104、读取X板的存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S105、对步骤S103和S104所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S106，若校验结果为不一致则执行步骤S108；
步骤S106、读取控制板的存储器内的第一格式demura数据；
步骤S107、启动demura数据补偿；
步骤S108、读取X板的存储器内的第二格式demura数据；
步骤S109、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S110、将demura信息以第一格式的demura数据写入控制板的存储器，同时将demura信息装载到时序控制器芯片寄存器；
步骤S111、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入控制板的存储器，接下来执行步骤S107。
其中，所述控制板的存储器为闪存。
其中，所述X板的存储器为闪存。
其中，所述系统芯片为片上系统系统板。
其中，所述第一存储器为片上系统系统板的存储器，第二存储器为X板的存储器。
该应用方法具体包括：
步骤S201、片上系统系统板初始化；
步骤S202、判断片上系统系统板的存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S203，若无则执行步骤S208；
步骤S203、读取片上系统系统板的存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S204、读取X板的存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S205、对步骤S203和S204所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S206，若校验结果为不一致则执行步骤S208；
步骤S206、读取片上系统系统板的存储器内的第一格式demura数据；
步骤S207、启动demura数据补偿；
步骤S208、读取X板的存储器内的第二格式demura数据；
步骤S209、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S210、将demura信息以第一格式的demura数据写入片上系统系统板的存储器，同时将demura信息装载到片上系统系统板的寄存器；
步骤S211、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入片上系统系统板的存储器，接下来执行步骤S207。
其中，所述片上系统系统板的存储器的为内嵌式多媒体卡。
其中，所述X板的存储器为闪存。
本发明还提供了另一种统一格式的demura数据应用方法，包括：
步骤S301、时序控制器芯片读取控制板的存储器内的固件；
步骤S302、读取X板的存储器内的第二格式的demura数据；
步骤S303、启动demura数据补偿。
其中，所述控制板的存储器为闪存。
其中，所述X板的存储器为闪存。
本发明中，第一格式和第二格式分别指demura数据的供应商格式和面板厂商统一格式。
综上，通过采用本发明统一格式的demura数据应用方法，可以将当前混乱多样的demura数据格式统一起来，从而极大地降低面板厂商对产品的管控难度；同时极大地降低了整机厂客户在采购无时序控制器的面板厂商的面板产品时对demura功能的开发难度，只需要针对该面板厂商的统一格式的demura数据格式做一次流程导入，即可适配所有的该面板厂商的面板机种。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其他有益效果显而易见。
附图中，
图1为现有的TFT-LCD显示器架构示意图；
图2为现有demura系统架构示意图；
图3为本发明统一格式的demura数据应用方法一较佳实施例的流程图；
图4为应用图3所示实施例的demura系统架构示意图；
图5为图3所示实施例中demura数据格式转换示意图；
图6为应用图7所示实施例的demura系统架构示意图；
图7为本发明统一格式的demura数据应用方法又一较佳实施例的流程图；
图8为应用图9所示实施例的demura系统架构示意图；
图9为本发明统一格式的demura数据应用方法再一较佳实施例的流程图。
具体实施方式
本发明所提供的一种统一格式的demura数据应用方法主要包括：
步骤S11、系统芯片初始化；
步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S13，若无则执行步骤S16；
步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16；
步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据；
步骤S15、启动demura数据补偿；
步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
其中，步骤S13可以包括：
步骤S131、读取第一存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S132、读取第二存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S133、对步骤S131和S132所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16。
其中，步骤S16可以包括：
步骤S161、读取第二存储器内的第二格式demura数据；
步骤S162、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S163、将demura信息以第一格式的demura数据格式写入第一存储器，同时将demura信息装载到系统芯片的寄存器；
步骤S164、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
本发明中，第一格式和第二格式分别指demura数据的供应商格式和面板厂商统一格式。所述系统芯片为时序控制器芯片。一方面，系统芯片可以为时序控制器芯片；第一存储器可以为控制板的存储器，第二存储器为X板的存储器；控制板的存储器为闪存，所述X板的存储器为闪存。另一方面，系统芯片可以为片上系统系统板；第一存储器为片上系统系统板的存储器，第二存储器为X板的存储器；片上系统系统板的存储器的为内嵌式多媒体卡，所述X板的存储器为闪存。
下面以面板厂商华星光电为例对本发明统一格式的demura数据应用方法进行说明，在后续实施例中，针对华星光电的面板特性，结合多家时序控制器芯片和片上系统系统板的情况，有针对性的预先设计了一版统一的demura数据格式(下文称为CSOT demura数据格式)。对所有的华星面板机种，都将采用这版de-mura数据格式，不再根据搭配的时序控制器芯片或者片上系统系统板来定制。
参见图3和图4，图3为本发明统一格式的demura数据应用方法一较佳实施例的流程图，图4为应用图3所示实施例的demura系统架构示意图，该实施例和现有时序控制器芯片兼容，为针对现有已量产的时序控制器芯片驱动方案，该demura系统架构主要包括：设有eMMC的片上系统系统板，可以控制时序控制器芯片上电；时序控制器芯片主要包括用于存储的闪存(可设于控制板上)，用于mura数据补偿的demura模块，以及用于转换demura数据格式的映射(mapping)模块，可以将CSOT de-mura数据做解码及转换成能直接读取的供应商demura数据格式；TFT-LCD面板的X板上的闪存内存储有面板厂商统一demura数据格式的demura数据，在此具体例举为CSOT demura数据。
结合图3和图4可知，片上系统系统板控制时序控制器芯片上电启动后，时序控制器芯片执行如下步骤，其中，控制板以及X板的存储器具体为闪存。该应用方法具体可以包括：
步骤S101、时序控制器芯片读取控制板的存储器内的固件；
步骤S102、判断控制板的存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S103，若无则执行步骤S108；
步骤S103、读取控制板的存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S104、读取X板的存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S105、对步骤S103和S104所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S106，若校验结果为不一致则执行步骤S108；
步骤S106、读取控制板的存储器内的第一格式demura数据；
步骤S107、启动demura数据补偿；
步骤S108、读取X板的存储器内的第二格式demura数据；
步骤S109、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S110、将demura信息以第一格式的demura数据写入控制板的存储器，同时将demura信息装载到时序控制器芯片寄存器；
步骤S111、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入控制板的存储器，接下来执行步骤S107。
其中步骤S102增加了第一次开机需要的时间，但后续再次开机的速度将和直接使用供应商格式的demura数据相同。
参见图5，其为图3所示实施例中demura数据格式转换示意图，由于现有的时序控制器芯片不能直接识别CSOT demura格式，所以需要利用时序控制器芯片进行特殊流程操作以兼容CSOT demura格式。图5中左侧为X板的闪存中所存储内容，包括CSOT demura格式的demura数据，CSOT demura格式的demura数据包括循环冗余校验码(CRC)、参数以及查找表(LUT)；右侧为控制板的闪存中所存储的内容，包括固件，循环冗余校验码以及供应商格式的demura数据，供应商格式的demura数据包括参数以及查找表。
该较佳实施例方案的核心思想是利用时序控制器芯片内嵌的微控制单元(MCU)对CSOT de-mura数据做解码及转换成时序控制器芯片能直接读取的供应商格式demura数据。并在每次上电前检查X板闪存内的CSOT demura数据的循环冗余校验码和控制板的闪存储存的demura数据循环冗余校验码是否相同，如果相同则时序控制器芯片从控制板的闪存读取供应商格式的demura数据，如果不同则重新执行转换流程。
参见图6和图7，图7为本发明统一格式的demura数据应用方法又一较佳实施例的流程图，图6为应用图7所示实施例的demura系统架构示意图。该实施例为针对无时序控制器芯片的片上系统系统板驱动方案，该demura系统架构主要包括：片上系统系统板，可以实现用于控制时序的时序控制器模块、用于mura数据补偿的demura模块和用于转换demura数据格式的映射模块的功能，设有eMMC用于存储；TFT-LCD面板的X板上的闪存内存储有面板厂商统一demura数据格式的demura数据，在此具体例举为CSOT demura数据。
结合图6和图7可知，片上系统系统板上电启动后，片上系统系统板执行如下步骤，其中，片上系统系统板的存储器具体为eMMC，X板的存储器具体为闪存。该应用方法具体可以包括：
步骤S201、片上系统系统板初始化；
步骤S202、判断片上系统系统板的存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S203，若无则执行步骤S208；
步骤S203、读取片上系统系统板的存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S204、读取X板的存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S205、对步骤S203和S204所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S206，若校验结果为不一致则执行步骤S208；
步骤S206、读取片上系统系统板的存储器内的第一格式demura数据；
步骤S207、启动demura数据补偿；
步骤S208、读取X板的存储器内的第二格式demura数据；
步骤S209、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S210、将demura信息以第一格式的demura数据写入片上系统系统板的存储器，同时将demura信息装载到片上系统系统板的寄存器；
步骤S211、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入片上系统系统板的存储器，接下来执行步骤S207。
其中步骤S202增加了第一次开机需要的时间，但后续再次开机的速度将和直接使用供应商格式的demura数据相同
片上系统系统板由整机厂设计，作为面板厂商的华星的所有机种都将采用CSOTdemura格式，整机厂片上系统系统板驱动方案与图3所示方案类似，均是利用芯片内嵌的MCU进行转换处理，demura数据格式转换也可以参考图5。但是因片上系统系统板集成的MCU性能比时序控制器芯片集成的MCU要强。所以片上系统系统板的转换速度会比时序控制器芯片快。
参见图8和图9，图9为本发明统一格式的demura数据应用方法又一较佳实施例的流程图，图8为应用图9所示实施例的demura系统架构示意图。该实施例为针对未来新开发时序控制器芯片的驱动方案，华星光电作为面板厂商和时序控制器芯片供应商合作新开发时序控制器芯片时，会要求时序控制器芯片直接读取CSOT demura数据格式，故在将来的新时序控制器芯片上，将不需要执行转换流程。该demura系统架构主要包括：设有eMMC的片上系统系统板，可以控制时序控制器芯片上电；时序控制器芯片主要包括用于存储的闪存(可设于控制板上)，用于mura数据补偿的demura模块；TFT-LCD面板的X板上的闪存内存储有面板厂商统一demura数据格式的demura数据，在此具体例举为CSOT demura数据。
结合图8和图9可知，片上系统系统板控制时序控制器芯片上电启动后，时序控制器芯片执行如下步骤，其中，控制板以及X板的存储器具体为闪存。该应用方法具体可以包括：
步骤S301、时序控制器芯片读取控制板的存储器内的固件；
步骤S302、读取X板的存储器内的第二格式的demura数据；
步骤S303、启动demura数据补偿。
综上，本发明采用统一格式的demura数据应用方法，通过上述三种方案的demura启动流程，可以将当前混乱多样的demura数据格式统一起来，从而极大地降低华星对产品的管控难度；同时极大地降低了整机厂客户在采购无时序控制器的华星面板产品时对d-mura功能的开发难度，只需要针对CSOT demura格式做一次流程导入，即可适配所有的华星面板机种。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，包括：
步骤S11、系统芯片初始化；
步骤S12、判断第一存储器内有无第一格式demura数据，若有则执行步骤S13，若无则执行步骤S16；
步骤S13、校验第一存储器内的第一格式demura数据与第二存储器内的第二格式demura数据的一致性，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16；
步骤S14、读取第一存储器内的第一格式demura数据；
步骤S15、启动demura数据补偿；
步骤S16、根据第二存储器内的第二格式demura数据生成第一格式demura数据并写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
2.如权利要求1所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，步骤S13包括：
步骤S131、读取第一存储器内的第一格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S132、读取第二存储器内的第二格式demura数据的循环冗余校验码；
步骤S133、对步骤S131和S132所读取到的数据循环冗余校验码进行循环冗余校验码校验，若校验结果为一致则执行步骤S14，若校验结果为不一致则执行步骤S16。
3.如权利要求1所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，步骤S16包括：
步骤S161、读取第二存储器内的第二格式demura数据；
步骤S162、从第二格式demura数据提取demura信息；
步骤S163、将demura信息以第一格式的demura数据格式写入第一存储器，同时将demura信息装载到系统芯片的寄存器；
步骤S164、将第二格式demura数据的循环冗余校验码写入第一存储器，接下来执行步骤S15。
4.如权利要求1至3任一所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述系统芯片为时序控制器芯片。
5.如权利要求4所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述第一存储器为控制板的存储器，第二存储器为X板的存储器。
6.如权利要求5所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述控制板的存储器为闪存，所述X板的存储器为闪存。
7.如权利要求1至3任一所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述系统芯片为片上系统系统板。
8.如权利要求7所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述第一存储器为片上系统系统板的存储器，第二存储器为X板的存储器。
9.如权利要求8所述的统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，所述片上系统系统板的存储器的为内嵌式多媒体卡，所述X板的存储器为闪存。
10.一种统一格式的demura数据应用方法，其特征在于，包括：
步骤S301、时序控制器芯片读取控制板的存储器内的固件；
步骤S302、读取X板的存储器内的第二格式的demura数据；
步骤S303、启动demura数据补偿。
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