CN109581030A - 一种导线工作电流检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种导线工作电流检测装置,导线工作电流检测装置,包括金属套筒,设置于金属套筒外围的N型半导体层,金属套筒的内壁设置有第一电极层,N型半导体层的外围设置有第二电极,第一电极层的内壁设置有绝缘层;该导线工作电流检测装置,解决现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据进行电流计算的问题,通过待测电流产生磁场,来改变肖特基结内部的载流子,从而使得肖特基结的伏安特性发生变化,通过检测肖特基的肖特基势垒的变化,来检测电流,该基于肖特基结的电流测量装置不仅结构简单,而且容易进行直流电流的检测。

Description

一种导线工作电流检测装置
技术领域
本发明涉及电流测量技术领域,具体涉及一种导线工作电流检测装置。
背景技术
目前市面上常见的电流测量产品,可以根据产品的设计和技术进行分类,也可以根据电流测量的指导原理进行分类。
根据电流测量的指导原理目前常见的电流测量设备分为以下四类:以欧姆定律为指导的测量技术,包括分流电感测量、导体Trce电阻和电感寄生电阻感测;法拉第电磁感应定律为指导的测量技术,包括罗氏线圈和电流变压器测量;通过测量磁场进而测量电流,包括霍尔效应、磁通门、各向异性磁电阻和巨磁阻效应;以及法拉第效应(磁致光旋效应)为指导的测量技术,包括旋光仪电流测量方法和干涉仪电流测量方法。
现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据才可以进行电流计算。
发明内容
针对上述问题,本发明的目的是解决现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据进行电流计算的问题。
为此,本发明提供了一种导线工作电流检测装置,包括金属套筒,设置于金属套筒外围的N型半导体层,所述金属套筒的内壁设置有第一电极层,所述N型半导体层的外围设置有第二电极,所述第一电极层的内壁设置有绝缘层。
所述绝缘层的内壁还设置有磁性介质层。
所述N型半导体层可以是导电有机物层。
所述金属套筒是由金或银或铜制成。
所述磁性介质层为铁屑制成。
本发明的有益效果:本发明提供的这种导线工作电流检测装置,解决现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据进行电流计算的问题,通过待测电流产生磁场,来改变肖特基结内部的载流子,从而使得肖特基结的伏安特性发生变化,通过检测肖特基的肖特基势垒的变化,来检测电流,该基于肖特基结的电流测量装置不仅结构简单,而且容易进行直流电流的检测。
以下将结合附图对本发明做进一步详细说明。
附图说明
图1是导线工作电流检测装置的结构示意图一。
图2是导线工作电流检测装置的结构示意图二。
图中:1、金属套筒;2、N型半导体层;3、第一电极层;4、第二电极;5、绝缘层;6、磁性介质层;7、开口;8、转轴。
具体实施方式
为进一步阐述本发明达成预定目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及实施例对本发明的具体实施方式、结构特征及其功效,详细说明如下。
实施例1
为了解决现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据进行电流计算的问题。本发明提供了一种如图1所示的导线工作电流检测装置,包括金属套筒1,设置于金属套筒1外围的N型半导体层2,属套筒1与N型半导体层2构成一个圆筒形的肖特基结,所述金属套筒1的内壁设置有第一电极层3,所述N型半导体层2的外围设置有第二电极4,第一电极层3、第二电极4用于与外接的电源线进行连接,所述第一电极层3的内壁设置有绝缘层5,这样可以避免检测导线的检测电压受到影响,进行导线电流检测的时候,将待测的导线至于绝缘层5的内部,这样待测导线通电后,会在周围形成环形磁场,磁场会作用在肖特基结内的载流子上,受到磁场力的作用,原先沿着径向移动的载流子会沿着轴向移动,从而改变了肖特基结的伏安特性,外接电源线连接外接电路检测肖特基结的肖特基势垒的变化,从而进行待测导线的电流检测。
进一步的,为了提高环形磁场对载流子的作用,在所述绝缘层5的内壁还设置有磁性介质层6,该磁性介质层6可以加强磁场的传递,从而使得磁场作用在载流子上具有更强的作用,使得肖特基结的伏安特性变化更加明显;所述磁性介质层6为铁屑制成。
所述N型半导体层2还可以是导电有机物层,导电有机物层也可以和金属套筒1形成圆筒形的肖特基结,同样可以用来检测待测导线的电流。
实际应用的时候,可以在该电流检测装置上开设开口7,如图2所示;也就是说,该电流检测装置可以有两个半圆形的部分组成,一边通过转轴8进行相连,另一边设置开口7,这样就不需要待测导线在测试的时候切断电源,以便穿过该电流检测装置进行检测,可以直接将该电流检测装置的开口7打开,从而使得待测导线至于空腔内,再将开口7闭合,并且要确保金属套筒1、N型半导体层2、第一电极3、第二电极4、磁性介质层6彼此之间没有漏电,就可以直接进行待测导线的电流检测,其优点在于不需要切断待测导线的电流,可以随时进行或者终止电流的检测,具有更加的灵活性。
最后,需要说明的是,上述N型半导体2,金属套筒1均为制备肖特基结的常用材料制成,N型半导体2可以是V2O5,CrO3,ZnO,TiO2等,金属套筒1可以是Au、Ag、Cu等,本实施例不再详细描述。
综上所述,该导线工作电流检测装置,解决现有的电流检测装置,特别是在检测直流方面,所使用的检测装置结构复杂,需要大量的电子器件,检测过程复杂,需要多次测量不同的数据进行电流计算的问题,通过待测电流产生磁场,来改变肖特基结内部的载流子,从而使得肖特基结的伏安特性发生变化,通过检测肖特基的肖特基势垒的变化,来检测电流,该基于肖特基结的电流测量装置不仅结构简单,而且容易进行直流电流的检测。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种导线工作电流检测装置,其特征在于:包括金属套筒(1),设置于金属套筒(1)外围的N型半导体层(2),所述金属套筒(1)的内壁设置有第一电极层(3),所述N型半导体层(2)的外围设置有第二电极(4),所述第一电极层(3)的内壁设置有绝缘层(5)。
2.如权利要求1所述的一种导线工作电流检测装置,其特征在于:所述绝缘层(5)的内壁还设置有磁性介质层(6)。
3.如权利要求1所述的一种导线工作电流检测装置,其特征在于:所述N型半导体层(2)还可以是导电有机物层。
4.如权利要求1所述的一种导线工作电流检测装置,其特征在于:所述金属套筒(1)是由金或银或铜制成。
5.如权利要求1所述的一种导线工作电流检测装置,其特征在于:所述磁性介质层(6)为铁屑制成。
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US5847569A (en) * 1996-08-08 1998-12-08 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Electrical contact probe for sampling high frequency electrical signals
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