CN108810929A - 双连接下测量间隙的配置方法及系统 - Google Patents

双连接下测量间隙的配置方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，所述方法包括：第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。本发明能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。

Description

双连接下测量间隙的配置方法及系统
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种双连接下测量间隙的配置方法及系统。
背景技术
在LTE系统的测量间隙配置中，UE按照如下公式配置测量间隙：
SFN mod T＝FLOOR(gapOffset/10)；
subframe＝gapOffset mod 10；
T＝MGRP/10；
其中，SFN是系统帧号，subframe是子帧号，在满足上述公式的SFN和subframe上UE被配置测量间隙。
基站通过为UE配置MGRP(Measurement Gap Repetition Period，测量间隙重复周期)来指示测量间隙周期，比如每40ms或者每80ms有一次测量间隙。基站通过为UE配置gapOffset来指示测量间隙位置，包括对应的系统帧号和子帧。基站通过为UE配置MGL(Measurement Gap Length，测量间隙长度)来指示一次测量间隙时长，比如6ms。
目前，在LTE-NR双连接的场景下，例如LTE基站为主基站、NR基站为辅基站。主基站可以为UE配置测量间隙，辅基站侧也可以为UE配置测量间隙。从而，一种可以预期的情况是：当主基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时，主基站可以为UE配置一种测量间隙，在该测量间隙期间UE会中断与主基站服务小区的通信；当辅基站需要为UE配置异频测量或者异系统测量时，辅基站也可以为UE配置一种测量间隙，在该测量间隙期间UE会中断与辅基站服务小区的通信。当主基站和辅基站为UE分别配置上述两种测量间隙时，可能会产生上述两种测量间隙在时间上重叠或者部分重叠的问题，导致出现UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
发明内容
本发明提供的双连接下测量间隙的配置方法及系统，能够避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
第一方面，本发明提供一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，所述方法包括：
第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；
第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
可选地，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。
可选地，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
可选地，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
可选地，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
第二方面，本发明提供一种双连接下测量间隙的配置系统，所述系统包括第一基站和第二基站，所述第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，UE与所述第一基站和第二基站进行双连接，其中，
所述第一基站，用于为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；
所述第二基站，用于为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
可选地，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。
可选地，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
可选地，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
可选地，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
本发明实施例提供的双连接下测量间隙的配置方法及系统，对于处于双连接场景下的UE，当第一基站已经为UE配置了测量间隙时，第二基站为UE配置的测量间隙与第一基站为UE配置的测量间隙在时间上不重叠，从而可以避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
附图说明
图1为本发明一实施例双连接下测量间隙的配置方法的流程图；
图2为本发明另一实施例双连接下测量间隙的配置方法的示意图；
图3为本发明又一实施例双连接下测量间隙的配置方法的示意图；
图4为本发明实施例双连接下测量间隙的配置系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，如图1所示，所述方法包括：
S11、第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长。
其中，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值gapOffset1为O1，所述第一时长为W1；T0为基本周期，例如可以为40ms；m1为正整数；O1为小于T1的非负整数，W1为小于T1的正整数。
S12、第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
其中，所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值gapOffset2为O2，所述第二时长为W2；T0为基本周期，例如可以为40ms；m2为正整数；O2为小于T2的非负整数，W2为小于T2的正整数。
本发明实施例提供的双连接下测量间隙的配置方法，对于处于双连接场景下的UE，当第一基站已经为UE配置了测量间隙时，第二基站为UE配置的测量间隙与第一基站为UE配置的测量间隙在时间上不重叠，从而可以避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
其中，所述第一基站为主基站，所述第二基站为辅基站；或者，所述第一基站为辅基站，所述第二基站为主基站。
具体地，根据T1和T2之间的关系，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠需要满足的条件也不相同。
当T1＝T2时，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
当T1<T2时，即T2＝N1*T1，N1＝2k，k为正整数，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
当T1>T2时，即T1＝N2*T2，N2＝2k，k为正整数，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
下面以具体实施例对本发明双连接下测量间隙的配置方法进行详细说明。
如图2所示，当辅基站已经为UE配置了GAP(测量间隙)时，比如配置了GAP B，具体为：GAP周期MGRP等于80ms，GAP的位置信息gapOffset＝1，GAP的时长为20ms时，主基站为UE配置的GAP避免与上述辅基站为UE配置的GAP在时间上重叠或者部分重叠。例如：主基站可以为UE配置GAP A，具体为：GAP周期MGRP等于80ms，GAP的位置信息gapOffset＝30，GAP的时长为6ms，继而避免了主基站为UE配置的GAP与辅基站为UE配置的GAP在时间上重叠或者部分重叠，避免了UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
如图3所示，当主基站已经为UE配置了GAP时，比如配置了GAP A，具体为：GAP周期MGRP等于80ms，GAP的位置信息gapOffset＝2，GAP的时长为6ms时，辅基站为UE配置的GAP避免与上述主基站为UE配置的GAP在时间上重叠或者部分重叠。例如：辅基站可以为UE配置GAP B，具体包括：GAP周期MGRP等于80ms，GAP的位置信息gapOffset＝15，GAP的时长为10ms，继而避免了主基站为UE配置的GAP与辅基站为UE配置的GAP在时间上重叠或者部分重叠，避免了UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
本发明实施例还提供一种双连接下测量间隙的配置系统，如图4所示，所述系统包括第一基站11和第二基站12，所述第一基站11和第二基站12中的一个为主基站，另一个为辅基站，UE与所述第一基站11和第二基站12进行双连接，其中，
所述第一基站11，用于为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；
所述第二基站12，用于为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
本发明实施例提供的双连接下测量间隙的配置系统，对于处于双连接场景下的UE，当第一基站已经为UE配置了测量间隙时，第二基站为UE配置的测量间隙与第一基站为UE配置的测量间隙在时间上不重叠，从而可以避免UE在同一时刻与主基站和辅基站同时中断上下行数据传输。
其中，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值gapOffset1为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值gapOffset2为O2，所述第二时长为W2；T0为基本周期，例如可以为40ms；m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。
具体地，根据T1和T2之间的关系，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠需要满足的条件也不相同。
当T1＝T2时，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
当T1<T2时，即T2＝N1*T1，N1＝2k，k为正整数，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
当T1>T2时，即T1＝N2*T2，N2＝2k，k为正整数，所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
本实施例的系统，可以用于执行上述方法实施例的技术方案，其实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。
在本发明各实施例中，主基站可以是LTE系统的基站，也可以是5G系统的基站。辅基站可以是LTE系统的基站，也可以是5G系统的基站。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种双连接下测量间隙的配置方法，UE与第一基站和第二基站进行双连接，第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，其特征在于，所述方法包括：
第一基站为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；
第二基站为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
6.一种双连接下测量间隙的配置系统，其特征在于：所述系统包括第一基站和第二基站，所述第一基站和第二基站中的一个为主基站，另一个为辅基站，UE与所述第一基站和第二基站进行双连接，其中，
所述第一基站，用于为UE配置第一测量间隙，所述第一测量间隙包括第一周期、第一偏移值和第一时长；
所述第二基站，用于为UE配置第二测量间隙，其中，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠，所述第二测量间隙包括第二周期、第二偏移值和第二时长。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述第一周期T1＝2(m1-1)T0，所述第一偏移值为O1，所述第一时长为W1；所述第二周期T2＝2(m2-1)T0，所述第二偏移值为O2，所述第二时长为W2；其中，T0为基本周期，m1和m2为正整数，O1为小于T1的非负整数，O2为小于T2的非负整数，W1为小于T1的正整数，W2为小于T2的正整数。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当T1＝T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1且O2<＝O1+T1-W2。
9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当T1<T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2，或者O2>＝O1+W1+(n-1)*T1且O2<＝O1+n*T1-W2，n为不大于N1的正整数，N1＝T2/T1。
10.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当T1>T2时，所述第二测量间隙与所述第一测量间隙在时间上不重叠包括：所述第二测量间隙满足O2<＝O1-W2-(n-1)*T2，或者O2>＝O1+W1-(n-1)*T2且O2<＝O1+T1-W2-(n-1)*T2，n为不大于N2的正整数，N2＝T1/T2。
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