CN108614755A - NANDflash存储设备的测试系统 - Google Patents

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陈诚
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Beijing Zhaoyi Innovation Technology Co Ltd
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Beijing Jingcun Technology Co Ltd
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    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers

Abstract

本发明实施例公开了一种NAND flash存储设备的测试系统。所述NAND flash存储设备的测试系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接。本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。

Description

NAND flash存储设备的测试系统
技术领域
本发明实施例涉及存储器测试技术，尤其涉及一种NAND flash存储设备的测试系统。
背景技术
NAND Flash是Flash内存的一种，属于非易失性存储设备。
基于NAND flash的存储设备的性能需要通过测试得出，在设备研发过程中，为了定位问题，也需要通过测试测出问题并重现问题来定位错误。因此，存储设备的自动化测试和问题重现对于产品的调试具有重要的意义。
发明内容
本发明实施例提供一种NAND flash存储设备的测试系统，以对存储设备实现自动化测试和问题重现。
第一方面，本发明实施例提供了一种NAND flash存储设备的测试系统，包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，
所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；
所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；
所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；
待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。
本发明实施例通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。。
附图说明
图1是本发明实施例一中的一种NAND flash存储设备的测试系统的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种NAND flash存储设备的测试系统的结构示意图，该NAND flash存储设备的测试系统应用于存储设备产品的调试操作。
如图1所示，所述NAND flash存储设备的测试系统具体包括：上位机110、测试板120和待测存储设备130。
上位机110通过串口与测试板120连接，测试板120还通过特定接口与待测存储设备130连接；
所述上位机包括可以直接发出操控命令的计算机。所述测试板可以是印制电路板(PCB)，所述测试板集成了现场可编程逻辑门阵列(FPGA)。
所述串口即串行通信接口，是采用串行通信方式的扩展接口，在本实施例中用于上位机110和测试板120间的信息传送。待测存储设备130可以是Nand flash存储设备。
所述特定接口根据不同的待测存储设备130进行选择，可以是存储设备的用户端接口。
上位机110用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至测试板120，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；
所述测试命令由上位机110根据测试人员输入的命令格式自动生成，测试命令可以有多种命令格式，其命令格式与所述待存储设备的种类相匹配，不同的存储设备对应不同的命令格式。
测试文件用于保存测试命令，这样设置的好处在于，当对同样的问题进行重现时，可以直接调用测试文件中相应的测试命令。
测试板120用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备130执行。所述前端命令与测试命令相对应。
当测试板120接收到测试命令后，会对其解析并转换成符合待测存储设备的协议的前端命令，进而使待测存储设备130正常执行所述前端指令。
待测存储设备130用于执行所述前端命令，并将执行结果通过测试板120反馈至上位机110。
综上所述，本发明实施例的技术方案，通过将符合预设要求的测试命令保存到测试文件中，使待检测存储设备重现同样问题时，可以直接调用已有的测试命令快速实现。不仅实现了自动化测试，而且为问题重现提供了可能。。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (1)

1.一种NAND flash存储设备的测试系统，其特征在于，所述系统包括上位机、测试板和待测存储设备，其中，
所述上位机通过串口与所述测试板连接，所述测试板还通过特定接口与待测存储设备连接；
所述上位机用于根据输入的命令格式生成测试命令，将所述测试命令下发至所述测试板，以及将所述测试命令保存到测试文件中，其中，所述测试文件用于被调用并执行其中的测试命令，以便通过再次测试来复现问题；
所述测试板用于解析所述测试命令，将所述测试命令转换为符合待测存储设备协议的前端命令，将所述前端命令发送至待测存储设备执行；
待测存储设备用于执行所述前端命令，并将执行结果通过所述测试板反馈至所述上位机。
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