CN107976582A - 一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置和实验方法 - Google Patents
一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置和实验方法 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供了一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置及实验方法。本发明提供的实验装置及实验方法适用于铜线、铝线及各种型号的绞线,其中实验装置包括可编程控制电源,待测导线,高精度电能质量分析仪、红外测温仪及RLC负载柜。本发明的实验方法可对待测导线表面温度、首末端有功功率及流经导线电流的大小进行准确测量,并据此得出导线谐波电阻,并和谐波次数进行比较进而得出导线谐波电阻与谐波次数的关系。
Description
技术领域
本发明提供了一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置及实验方法,属于实验设备技术领域。
背景技术
交流配电网中谐波电流的流动将带来显著的谐波损耗,目前计算谐波损耗的方法还停留在用基波电阻等效谐波电阻的阶段,这种计算方法忽略了因谐波带来的集肤效应损耗,使得计算结果不够精确。为准确描述谐波电阻和谐波次数的关系,需进行实验进行探究。现有的测量导线谐波电阻的方法多为测量导线两端电压及流过导线的电流,用两者的比值来表征导线谐波电阻,但这种测量方法易受导线电抗的影响,所测值一般比导线实际电阻要大,且测量过程中没有考虑导线温度,忽略了导线温度对电阻的影响,产生较大的实验误差。
发明内容
本发明的目的是,提供一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置及实验方法。其可对铜线、铝线及各种型号的绞线进行实验,探究导线谐波电阻与流过导线谐波次数的关系。实验效率高,结果可靠,实验成本低。
为达到此目的,本发明采用如下实验装置及实验方法,其特征包括:
(1)装置组成包括可编程控制电源,待测导线,高精度电能质量分析仪、红外测温仪及RLC负载柜。可编程控制电源可输出单相电流,输出电压大小可调,可发出指定次数的谐波。
(2)待测导线的半径大于集肤深度,n次谐波下导线的的集肤深度δn用下式进行计算:其中μ是导体磁导率,γ是导体电导率,n是谐波次数。
(3)RLC负载包括电阻,电感以及电容,三者并联,负载大小以流过待测导线的电流大小约等于10A为宜。
(4)可编程控制电源的输出端接待测导线始端,为避免邻近效应影响,待测导线单向架空铺设,绝缘支架提供支撑,待测导线末端接RLC负载柜进线口,电路为单相。
根据本实验平台,提供了一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验方法,其特征在于:对待测导线施加不同次数谐波电流,测量导线始末端有功功率,导线表面温度及流过导线的电流,根据测量结果计算导线谐波电阻并与谐波次数比较得出两者的关系。具体步骤为:
(1)高精度电能质量分析仪两路电压钳分别接导线始端和末端,且均以中性线为参考电压,电流钳测导线电流I,以此获取导线始端功率P1和导线末端功率P2。
(2)利用红外测温仪在实验过程中不断监视导线表面温度,以修正导线因温度变化带来电阻计算的误差,红外测温仪枪头正对待测导线表面,枪头距离导线表面控制在1cm以内。
(3)导线谐波电阻的计算利用公式然后根据金属导体温度变化公式R=R'·[1+α·(T1-20)]将导线电阻归算到20℃下,以修正因温度变化而导致的电阻变化,其中,R'为归算后电阻,α为温度系数,其可通过查表得到,T1为归算后导体的温度。
(4)比较不同谐波次数下归算后电阻的大小,得出导线谐波电阻与谐波次数的关系。
实施本发明实施例,具有如下有益效果:
在本发明实施例中,本实验是通过对待测导线施加不同次数谐波电流,通过测量导线始末端有功功率,导线表面温度及流过导线的电流,根据测量结果计算导线谐波电阻并与谐波次数比较得出两者的关系。相对于用基波电阻等效谐波电阻的阶段,本实验对谐波电阻的测量计算更加准确可靠;用测量流过导线功率和电流来计算电阻的方法,也降低测量量受导线电抗的影响;同时考虑导线电阻受温度影响,测量导线表面的温度,来修正导线因温度变化带来电阻计算的误差,使得计算结果更加精确,进一步减小实验误差。实验效率高,结果可靠,实验成本低。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例,下面将对实施例所需要使用的附图做简单地介绍。
图1为实验设备连接示意图;
图2为实施例中谐波次数与电阻大小的关系;
具体实施方式
为使本发明的目的、实验方法更加清楚,以下结合实例对本发明进行详细的说明。
本发明提供的探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验方法包括如下步骤:
步骤1)确定待测导线材料采用纯铁,铁导线通过频率为50Hz电流时集肤深度δ1=1.285mm,故待测铁导线直径设定为2mm,导线架空铺设,首端接可编程电源输出端,末端接RLC负载。
步骤2)高精度电能质量分析仪两路电压钳分别接导线始端和末端,且均以中性线为参考电压,电流钳测导线电流。
步骤3)红外测温仪在实验过程中不断监视导线表面温度,以修正导线因温度变化带来电阻计算的误差,红外测温仪枪头正对待测导线表面,枪头距离导线表面控制在1cm以内。
步骤4)设定可编程电源输出频率从50Hz递增到1100Hz,输出电压为220V,接通电路,读出导线电流I,导线始端功率P1和导线末端功率P2,并将数据记录在表1中。
步骤5)导线谐波电阻的计算利用公式然后根据金属导体温度变化公式R=R'·[1+α·(T1-20)]将导线电阻归算到20℃下,归算后数据见表1。
步骤6)绘制导线归算后的电阻R'与频率的关系曲线,利用数值分析法得出导线谐波电阻与谐波次数的关系如图2所示。
表1实验数据
Claims (7)
1.一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置,其特征在于:装置组成包括可编程控制电源,待测导线,高精度电能质量分析仪、红外测温仪及RLC负载柜。
2.根据权利要求1所述的一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验装置,其特征在于:可编程控制电源可发出指定次数的谐波,待测导线的半径大于流过频率为50Hz电流时的集肤深度,可编程控制电源通过待测导线与RLC负载相连,待测导线架空铺设,电路为单相。
3.根据权利要求2所述的条件,其特征在于:n次谐波下导线的的集肤深度δn用下式进行计算:其中μ是导体磁导率,γ是导体电导率,n是谐波次数。
4.一种探究导线谐波电阻与谐波次数关系的实验方法,其特征在于:对待测导线施加不同次数谐波电流,测量导线始末端有功功率,导线表面温度及流过导线的电流,根据测量结果计算导线谐波电阻并与谐波次数比较得出两者的关系。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于:高精度电能质量分析仪两路电压钳分别接导线始端和末端,且均以中性线为参考电压,电流钳测导线电流I,以此获取导线始端功率P1和导线末端功率P2。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于:利用红外测温仪在实验过程中不断监视导线表面温度,以修正导线因温度变化带来电阻计算的误差,红外测温仪枪头正对待测导线表面,枪头距离导线表面控制在1cm以内。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于:导线谐波电阻的计算利用公式然后根据金属导体温度变化公式R=R'·[1+α·(T1-20)]将导线电阻归算到20℃下,以修正因温度变化而导致的电阻变化,其中,R'为归算后电阻,α为温度系数,其可通过查表得到,T1为归算后导体的温度。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111413543A (zh) * | 2020-03-25 | 2020-07-14 | 国网河南省电力公司电力科学研究院 | 一种低压配电线路谐波电阻参数辨识的实验装置和方法 |
| CN118962255A (zh) * | 2024-07-09 | 2024-11-15 | 广东电网有限责任公司汕头供电局 | 一种求解谐波环境下电缆导体交流电阻计算方法 |
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2016
- 2016-10-25 CN CN201610942367.4A patent/CN107976582A/zh active Pending
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| Date | Code | Title | Description |
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| PB01 | Publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20180501 |
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| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |