CN107741546A - 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质 - Google Patents

基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN107741546A
CN107741546A CN201711047783.9A CN201711047783A CN107741546A CN 107741546 A CN107741546 A CN 107741546A CN 201711047783 A CN201711047783 A CN 201711047783A CN 107741546 A CN107741546 A CN 107741546A
Authority
CN
China
Prior art keywords
acc
module
interval
main frame
judge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201711047783.9A
Other languages
English (en)
Inventor
李书会
霍硕然
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHENZHEN ROADROVER TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
SHENZHEN ROADROVER TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHENZHEN ROADROVER TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical SHENZHEN ROADROVER TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201711047783.9A priority Critical patent/CN107741546A/zh
Publication of CN107741546A publication Critical patent/CN107741546A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/005Testing of electric installations on transport means
    • G01R31/006Testing of electric installations on transport means on road vehicles, e.g. automobiles or trucks

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本申请公开了一种基于ACC的主机测试系统,包括:开机模块,用于开ACC以使主机开机并计时;第一判断模块,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;若是则触发关机模块;若否则判定当前主机性能异常;关机模块,用于关ACC以使主机关机并计时;第二判断模块,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是则判定当前主机性能正常;如果否则判定当前主机性能异常。本发明通过实际采集主机数据,用于了解主机性能,由于确定了统一的判定标准,相比人为判定,本发明的自动主机测试效率更高,准确度更好。本申请相应公开了基于ACC的主机测试方法、装置及可读存储介质。

Description

基于ACC的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质
技术领域
本发明涉及车载主机,特别涉及一种基于ACC的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质。
背景技术
一般的,车载主机通过ACC控制工作。通常分为硬件ACC和协议ACC两种。其中,硬件ACC通过硬件信号,控制主机开关机操作;协议ACC通过CAN通信向主机发送开关机消息,控制主机开关机操作。其中ACC ON表示主机开始工作,ACC OFF表示主机直接或延时停止工作。
目前,在主机启动或关闭过程中,没有具体的设备来测试其工作性能,只能人为判断,并不能准确地获取主机实际工作性能如何。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种基于ACC的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质,用于准确测试主机的工作性能。其具体方案如下:
一种基于ACC的主机测试系统,包括:
开机模块,用于开ACC以使主机开机并计时;
第一判断模块,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则触发关机模块;如果否,则判定当前主机性能异常;
关机模块,用于关ACC以使主机关机并计时;
第二判断模块,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。
优选的,所述主机测试系统还包括:
间隔模块,用于当重启条件满足,等待间隔时间段后触发所述开机模块;
其中,所述重启条件为:
所述关机模块计时达到所述ACC OFF时间段,且所述第二判断模块判定当前主机性能正常。
优选的,所述间隔模块具体用于:
判断所述重启条件是否为第一次满足;
如果是,等待预设间隔时间段后触发所述开机模块;
如果否,等待当前间隔时间段后触发所述开机模块;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
优选的,所述主机测试系统还包括:
计数模块,用于记录所述间隔模块触发所述开机模块的次数;当所述次数达到预设次数,停止所述间隔模块。
相应的,本发明还公开了一种基于ACC的主机测试系统,包括:
步骤一:开ACC以使主机开机并计时;
步骤二:判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则执行步骤三;如果否,则判定当前主机性能异常;
步骤三:关ACC以使主机关机并计时;
步骤四:判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。
优选的,所述主机测试方法还包括:
当重启条件满足,等待间隔时间段后执行所述步骤一;
其中,所述重启条件为:
所述步骤三中计时达到所述ACC OFF时间段,且判定当前主机性能正常。
优选的,所述当重启条件满足,等待间隔时间段后执行步骤一的过程,包括:
判断所述重启条件是否为第一次满足;
如果是,等待预设间隔时间段后执行所述步骤一;
如果否,等待当前间隔时间段后执行所述步骤一;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
优选的,所述主机测试方法还包括:
记录执行所述步骤一的次数;当所述次数达到预设次数,停止执行所述步骤一。
相应的,本发明还公开了一种基于ACC的主机测试装置,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上文任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
相应的,本发明还公开了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上文任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
本发明公开了一种基于ACC的主机测试系统,包括:开机模块,用于开ACC以使主机开机并计时;第一判断模块,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则触发关机模块;如果否,则判定当前主机性能异常;关机模块,用于关ACC以使主机关机并计时;第二判断模块,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACCOFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。本发明通过自动开关机,测试开关机过程中主机的电流是否正常,自动判定当前主机性能是否异常。本发明通过实际采集主机数据,用于了解主机性能,由于确定了统一的判定标准,相比人为判定,本发明的自动主机测试效率更高,准确度更好。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中一种基于ACC的主机测试系统的结构分布图;
图2为本发明实施例中一种具体的基于ACC的主机测试系统的电路结构图;
图3为本发明实施例中一种基于ACC的主机测试方法的步骤流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例公开了一种基于ACC的主机测试系统,参见图1所示,包括:
开机模块01,用于开ACC以使主机开机并计时;
第一判断模块02,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则触发关机模块;如果否,则判定当前主机性能异常;
关机模块03,用于关ACC以使主机关机并计时;
第二判断模块04,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。
其中,上述ACC为硬件ACC或协议ACC;
可以理解的是,这里提到的ACC ON时间段和ACC OFF时间段均为预先设定的数值,一般可以将ACC ON时间段设定为30s,将ACC OFF时间段设为25s。
另外,根据电流的稳定性,可以对主机的性能进一步了解。测试得到的主机电流可能出现抖动偏差问题。当抖动较小时,可以过滤排除或直接忽略,而一旦出现电流大幅度偏差的问题,则不能将其归因于测量误差,主要原因为主机性能不稳定。
进一步的,所述主机测试系统还可以包括:
间隔模块,用于当重启条件满足,等待间隔时间段后触发开机模块01;
其中,所述重启条件为:
所述关机模块计时达到所述ACC OFF时间段,且所述第二判断模块判定当前主机性能正常。
可以理解的是,间隔模块用于完成主机测试系统的自动循环测试过程,而且可以设定不同的等待时间段来测试主机在关机后再次开机时的性能。关于具体的等待间隔时间段设置,可以是始终不变的,也可以是递增的,在此处不做限制。
例如,所述间隔模块可以具体用于:
判断所述重启条件是否为第一次满足;
如果是,等待预设间隔时间段后触发开机模块01;
如果否,等待当前间隔时间段后触发开机模块01;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
例如,预设最小间隔时间段为6s,最大间隔时间段为30s,预设步长为50ms,预设间隔时间段为Ts,其中6≤T≤30;第一次满足重启条件,也即第一次测试结束后,等待Ts后触发开机模块;之后第n次满足重启条件时,等待的当前间隔时间段为(T+0.05×n)s,但如果当前间隔时间段超出30s,则重置当前间隔时间段为6s。一般可以设置T=6,直接从最小间隔时间段开始循环测试;还可以设置预设步长为0,也即间隔时间段始终不变,以此对主机进行循环测试。
进一步的,所述主机测试系统还可以包括:
计数模块,用于记录所述间隔模块触发所述开机模块的次数;当所述次数达到预设次数,停止所述间隔模块。
可以理解的是,计数模块可以通过停止间隔模块来终止对主机的自动循环测试。
具体的,当本实施例中的主机测试系统选用硬件组成时,一般采用STM32F105作为主控芯片,与供电电路模块、信号采集模块、LED数目显示模块、按键扫描模块、定时器等多个模块配合,完成主机测试,具体可以参见图2所示。进一步还可以将主机测试系统与主机进行通信连接,主机主动将其状态传递给主机测试系统,来获取更准确的结果,但这种方案需要主机添加相应的功能。
本发明公开了一种基于ACC的主机测试系统,包括:开机模块,用于开ACC以使主机开机并计时;第一判断模块,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则触发关机模块;如果否,则判定当前主机性能异常;关机模块,用于关ACC以使主机关机并计时;第二判断模块,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACCOFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。本发明通过自动开关机,测试开关机过程中主机的电流是否正常,自动判定当前主机性能是否异常。本发明通过实际采集主机数据,用于了解主机性能,由于确定了统一的判定标准,相比人为判定,本发明的自动主机测试效率更高,准确度更好。
相应的,本发明实施例还公开了一种基于ACC的主机测试系统,参见图3所示,包括:
S1:开ACC以使主机开机并计时;
S2:判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则执行S3;如果否,则判定当前主机性能异常;
S3:关ACC以使主机关机并计时;
S4:判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果否,则进入步骤S5;如果是,则进入步骤S6;
S5:判定当前主机性能异常;
S6;判定当前主机性能正常。
优选的,所述主机测试方法还包括:
S7:当重启条件满足,等待间隔时间段后执行S1;
其中,所述重启条件为:
所述步骤三中计时达到所述ACC OFF时间段,且判定当前主机性能正常。
可以理解的是,间隔模块用于完成主机测试系统的自动循环测试过程,而且可以设定不同的等待时间段来测试主机在关机后再次开机时的性能。关于具体的等待间隔时间段设置,可以是始终不变的,也可以是递增的,在此处不做限制。
例如,此处给出一种步骤S7的具体步骤:
S71:判断所述重启条件是否为第一次满足;
S72:如果是,等待预设间隔时间段后执行S1;
S73:如果否,等待当前间隔时间段后执行S1;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
具体的,例如预设最小间隔时间段为6s,最大间隔时间段为30s,预设步长为50ms,预设间隔时间段为Ts,其中6≤T≤30;第一次满足重启条件,也即第一次测试结束后,等待Ts后触发开机模块;之后第n此满足重启条件时,等待的当前间隔时间段为(T+0.05×n)s,但如果当前间隔时间段超出30s,则重置当前间隔时间段为6s。一般可以设置T=6,直接从最小间隔时间段开始循环测试;还可以设置预设步长为0,也即间隔时间段始终不变,以此对主机进行循环测试。
进一步的,所述主机测试方法还可以包括:
S8:记录执行S1的次数;当所述次数达到预设次数,停止执行S1,测试结束。
可以理解的是,步骤S8是用于终止本方法的自动循环检测的。
本实施例中主机测试方法的具体细节可以参照上述实施例中的主机测试系统,具有与上述实施例中主机测试系统相应的有益效果。
相应的,本发明实施例还公开了一种基于ACC的主机测试装置,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上文实施例任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
其中,有关主机测试装置的具体细节可以参照上述实施例中主机测试方法的描述,此处不再赘述。
相应的,本发明实施例还公开了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上文实施例任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
其中,有关可读存储介质的具体细节可以参照上述实施例中主机测试方法的描述,此处不再赘述。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种基于ACC的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种基于ACC的主机测试系统,其特征在于,包括:
开机模块,用于开ACC以使主机开机并计时;
第一判断模块,用于判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则触发关机模块;如果否,则判定当前主机性能异常;
关机模块,用于关ACC以使主机关机并计时;
第二判断模块,用于判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。
2.根据权利要求1所述主机测试系统,其特征在于,还包括:
间隔模块,用于当重启条件满足,等待间隔时间段后触发所述开机模块;
其中,所述重启条件为:
所述关机模块计时达到所述ACC OFF时间段,且所述第二判断模块判定当前主机性能正常。
3.根据权利要求2所述主机测试系统,其特征在于,所述间隔模块具体用于:
判断所述重启条件是否为第一次满足;
如果是,等待预设间隔时间段后触发所述开机模块;
如果否,等待当前间隔时间段后触发所述开机模块;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
4.根据权利要求3所述主机测试系统,其特征在于,还包括:
计数模块,用于记录所述间隔模块触发所述开机模块的次数;当所述次数达到预设次数,停止所述间隔模块。
5.一种基于ACC的主机测试系统,其特征在于,包括:
步骤一:开ACC以使主机开机并计时;
步骤二:判断在ACC ON时间段内主机电流是否达到预设ACC ON电流;如果是,则执行步骤三;如果否,则判定当前主机性能异常;
步骤三:关ACC以使主机关机并计时;
步骤四:判断在ACC OFF时间段内主机电流是否达到预设ACC OFF电流;如果是,则判定当前主机性能正常;如果否,则判定当前主机性能异常。
6.根据权利要求7所述主机测试方法,其特征在于,还包括:
当重启条件满足,等待间隔时间段后执行所述步骤一;
其中,所述重启条件为:
所述步骤三中计时达到所述ACC OFF时间段,且判定当前主机性能正常。
7.根据权利要求6所述主机测试方法,其特征在于,所述当重启条件满足,等待间隔时间段后执行步骤一的过程,包括:
判断所述重启条件是否为第一次满足;
如果是,等待预设间隔时间段后执行所述步骤一;
如果否,等待当前间隔时间段后执行所述步骤一;
其中,当前间隔时间段为上次的间隔时间段与预设步长的和;
当上次的间隔时间段与预设步长的和超出预设最大间隔时间段,则重置当前间隔时间段为预设最小间隔时间段。
8.根据权利要求7所述主机测试方法,其特征在于,还包括:
记录执行所述步骤一的次数;当所述次数达到预设次数,停止执行所述步骤一。
9.一种基于ACC的主机测试装置,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求5至8任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求5至8任一项所述基于ACC的主机测试方法的步骤。
CN201711047783.9A 2017-10-31 2017-10-31 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质 Pending CN107741546A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711047783.9A CN107741546A (zh) 2017-10-31 2017-10-31 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201711047783.9A CN107741546A (zh) 2017-10-31 2017-10-31 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN107741546A true CN107741546A (zh) 2018-02-27

Family

ID=61233727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201711047783.9A Pending CN107741546A (zh) 2017-10-31 2017-10-31 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN107741546A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101464496A (zh) * 2009-01-14 2009-06-24 河北工业大学 塑壳断路器过载可靠性试验装置和实现方法
CN101598770A (zh) * 2008-05-29 2009-12-09 联想(新加坡)私人有限公司 计算机的测试方法以及计算机系统
CN102749496A (zh) * 2012-07-11 2012-10-24 沈阳维深自动识别技术研究院有限公司 多功能数码电子雷管电流检测装置
KR20130051046A (ko) * 2011-11-09 2013-05-20 현대모비스 주식회사 차량의 디지털 앰프 시스템 및 그 동작 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101598770A (zh) * 2008-05-29 2009-12-09 联想(新加坡)私人有限公司 计算机的测试方法以及计算机系统
CN101464496A (zh) * 2009-01-14 2009-06-24 河北工业大学 塑壳断路器过载可靠性试验装置和实现方法
KR20130051046A (ko) * 2011-11-09 2013-05-20 현대모비스 주식회사 차량의 디지털 앰프 시스템 및 그 동작 방법
CN102749496A (zh) * 2012-07-11 2012-10-24 沈阳维深自动识别技术研究院有限公司 多功能数码电子雷管电流检测装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
何其高: "《空分装置自动化》", 30 April 1988, 机械工业出版社 *
朱定善 等: "《计算机组装与维护》", 31 August 2007, 中国铁道出版社 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110716126A (zh) 芯片老化测试系统、方法及装置
CN104007409B (zh) 一种自动检测智能电能表液晶轮显内容的装置及方法
CN101770404B (zh) 可保存状态的看门狗电路及其保存重启状态方法
CN101739319B (zh) 计算机装置
CN109491487A (zh) 多功能电源序列发生器和监控器芯片
WO2023184830A1 (zh) 一种备份电池单元的控制电路、方法、装置及存储系统
CN107843839A (zh) 基于电压的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质
CN107526664A (zh) 一种服务器异常掉电快速定位方法和装置
US20130221999A1 (en) Testing system and method
CN109117335A (zh) 一种硬盘模拟热插拔测试方法、装置、终端及存储介质
CN116580657A (zh) 故障检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN103344854A (zh) 一种逻辑功能装置的自动测试系统及方法
CN202886575U (zh) 一种快速检测电源模块性能的装置
CN103890713B (zh) 用于管理处理系统内的寄存器信息的装置及方法
CN108802627A (zh) Bbu独立供电的测试方法、装置、系统及可读存储介质
CN107741546A (zh) 基于acc的主机测试系统、方法、装置及可读存储介质
CN107678871A (zh) 一种电子设备开机方法及电子设备
CN103592538A (zh) 出口矩阵逻辑测试仪
CN111190407A (zh) 基于软件自检在halt试验中快速激发并定位故障的检测方法
CN102711312A (zh) 多电源模块上电控制方法和系统
CN102810840B (zh) 电压保护系统
CN105653002A (zh) 电池电量的显示方法、装置和电子设备
CN101923503A (zh) 调整内存内部参数的方法及使用其的电脑系统
CN107918069A (zh) 一种掉电测试系统和方法
CN109581174B (zh) 一种核电站动态仿真试验系统和试验方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20180227

RJ01 Rejection of invention patent application after publication