CN107565193B - 一种介质移相器对称的介质块调试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种介质移相器对称的介质块调试装置，包括两块金属板、两块介质衬底、带状线以及两个接头，其中，该两块金属板通过多个紧固组件连接起来并确定出一个矩形腔体，该两块介质衬底相互层叠在一起设置在该矩形腔体，且该两块介质衬底分别与该两块金属板紧贴，该带状线设置在该两块介质衬底之间，该两个接头并排设置该两块金属板底面的中间位置处并与该带状线连接。本发明能实现对单独子移相器进行调试，解决了现有技术中在馈电网络调试中由于反复调试驻波比和相位导致调试过程耗时长的技术问题，并且此装置也可以作为批量生产时质量控制的工具为产品的生产品质提供保障。

Description

一种介质移相器对称的介质块调试装置
技术领域
本发明涉及一种介质移相器调试装置，更具体而言是指阵列天线的多移相器设计的高度集成馈电网络中，实现对单独子移相器进行调试的一种介质移相器对称的介质块调试装置。
背景技术
在移动通信网络覆盖中，电调基站天线是覆盖网络的关键设备之一，移相器是电调天线的核心部件。移动通信基站天线的发展，对移相器提出了更高的要求，比如要求更小的体积、更宽的工作频段、更佳的互调性能以及更容易实现的加工工艺等。
现有技术中，介质移相器是通过移动其腔体内的介质改变信号在移相器中的传播速率，使流经该移相器输出的信号形成连续的线性相位差，从而实现移相的目的。
高度集成的多移相器馈电网络是现在研究的一个热点之一，这种馈电网络使阵列天线的设计可以不使用任何电缆，从而可以大大提高天线的各项性能，但是对这种阵列天线馈电网络的相位和幅度的调试工作是十分繁琐耗时的，必须首先对单个子移相器调试。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种介质移相器对称的介质块调试装置，通过其独特的结构设计，本发明能调试各种复杂结构的介质块驻波与相位，解决现有技术中在馈电网络调试中由于反复调试驻波比和相位导致调试过程耗时长的技术问题。
本发明又一目的在于提供一种结构简单、制造方便的介质移相器介质块的调试装置。
本发明采用的技术方案：一种介质移相器对称的介质块调试装置，包括两块金属板、两块介质衬底、带状线以及两个接头，其中，该两块金属板通过多个紧固组件连接起来并确定出一个矩形腔体，该两块介质衬底相互层叠在一起设置在该矩形腔体，且该两块介质衬底分别与该两块金属板紧贴，该带状线设置在该两块介质衬底之间，该带状线设置在该两块介质衬底之间，该两个接头并排设置该两块金属板底面的中间位置处并与该带状线连接。
该紧固组件包括设置在该两块金属板之间的支撑柱以及用于将两块金属板与该支撑柱螺固的螺栓。
每一个接头设置有法兰，通过螺栓将其固定在该两块金属板的侧面，该两个接头的内导体焊接在带状线上，且该两个接头的法兰与带状线之间设置有PTFE介质垫片。
每一块介质衬底的头尾两端设置有用于固定带状线的凸块，带状线的两端被夹持在该两块介质衬底的头尾两端的凸块之间，带状线的中间部分位于该两块介质衬底上方。
每一块金属板的厚度大于或者等于5mm。
本发明的有益效果为：本发明在结构上包括两块金属板、两块介质衬底、带状线以及两个接头，其中，该两块金属板通过多个紧固组件连接起来并确定出一个矩形腔体，该两块介质衬底相互层叠在一起设置在该矩形腔体，且该两块介质衬底分别与该两块金属板紧贴，该带状线设置在该两块介质衬底之间，该两个接头并排设置该两块金属板底面的中间位置处并与该带状线连接。本发明根据矩形腔体预设的空间，当腔体中插入不同的介质块时，通过网络分析仪，使用者就能调试其驻波和相位。本发明能实现对单独子移相器进行调试，解决了现有技术中在馈电网络调试中由于反复调试驻波比和相位导致调试过程耗时长的技术问题，并且此装置也可以作为批量生产时质量控制的工具为产品的生产品质提供保障。
附图说明
图 1 是本发明的立体图。
图 2 为图 1 去掉一块金属板的立体图 。
具体实施方式
如图1至图2所示为本发明的第一种具体实施例子，一种介质移相器对称的介质块调试装置，包括两块金属板（1A、2A）、两块介质衬底（3A、4A）、带状线（5A）以及两个接头（6A、7A），其中，该两块金属板（1A、2A）通过多个紧固组件（8A）连接起来并确定出一个矩形腔体A，该两块介质衬底（3A、4A）相互层叠在一起设置在该矩形腔体A，且该两块介质衬底（3A、4A）分别与该两块金属板（1A、2A）紧贴，该带状线（5A）设置在该两块介质衬底（3A、4A）之间，该两个接头（6A、7A）并排设置该两块金属板（1A、2A）底面的中间位置处并与该带状线（5A）连接。
该紧固组件（8A）包括设置在该两块金属板（1A、2A）之间的支撑柱（81A）以及用于将两块金属板（1A、2A）与该支撑柱（81A）螺固的螺栓（82A），为了方便支撑柱（81A）与螺栓（82A）螺固，该支撑柱（81A）的头尾两端都开设有内螺纹。
进一步，每一块介质衬底（3A、4A）的头尾两端设置有用于固定带状线（5A）的凸块（31A、41A），带状线（5A）的两端被夹持在该两块介质衬底的头尾两端的凸块（31A、41A）之间，带状线（5A）的中间部分位于该两块介质衬底（3A、4A）上方，即该带状线（5A）不完全被该两块介质衬底所夹持，介质衬底不能完全覆盖带状线，带状线需露出一部分。
进一步，每一块介质衬底（3A、4A）上开设有供支撑柱（81A）穿接的孔位，该两块介质衬底（3A、4A）通过支撑柱(81A)穿过该两块介质衬底（3A、4A）上的孔位并放置在该两块金属板（1A、2A）之间（即放置该两块后金属板确定出的矩形腔体中）。
每一个接头（6A、7A）设置有法兰（61A、71A），通过螺栓将其固定在该两块金属板的侧面（矩形腔体的侧面），该两个接头（6A、7A）的内导体（62A、72A）焊接在带状线上，且该两个接头的法兰（61A、71A）与带状线（5A）之间设置有PTFE介质垫片（F）。
本发明根据矩形腔体预设的空间，当腔体中插入不同的介质块时，通过网络分析仪，使用者就能调试其驻波和相位。
进一步，每一块介质衬底（3A、4A）的一端设置有用于固定带状线（5A）的凸块（31A、41A），带状线（5A）的一端被夹持在该两块介质衬底的凸块（31A、41A）之间，带状线（5）的中间部分位于该两块介质衬底（3A、4A）上方，即该带状线（5A）不完全被该两块介质衬底所夹持，介质衬底不能完全覆盖带状线，带状线需露出一部分。
进一步，每一块金属板的厚度大于或者等于5mm。
两块后金属板形成的腔体高度大约是7mm。
本发明的实施例子可以测试结构复杂的介质块的驻波和相位，在制造和调试阶段可以大大降低调试时间。
本发明的实施例以及附图只是为了展示本发明的设计构思，本发明的保护范围不应当局限于这一实施例。
通过上面的叙述可以看出本发明的设计目的是可以有效实施的。实施例的部分展示了本发明的目的以及实施功能和结构主题，并且包括其他的等同替换。
因此，本发明的权利构成包括其他的等效实施，具体权利范围参考权利要求。

Claims (3)

1.一种介质移相器对称的介质块调试装置，其特征在于：包括两块金属板(1A、2A)、两块介质衬底(3A、4A)、带状线(5A)以及两个接头(6A、7A)，其中，该两块金属板(1A、2A)通过多个紧固组件(8A)连接起来并确定出一个矩形腔体A内，两块介质衬底(3A、4A)的其一与两块金属板(1A、2A)的其一紧贴，两块介质衬底(3A、4A)的另一与两块金属板(1A、2A)的另一紧贴，该带状线(5A)设置在该两块介质衬底(3A、4A)之间，该两个接头(6A、7A)并排设置在矩形腔体A底面的中间位置处并与该带状线(5A)连接；
该紧固组件(8A)包括设置在该两块金属板(1A、2A)之间的支撑柱(81A)以及用于将两块金属板(1A、2A)与该支撑柱(81A)螺固的螺栓(82A)，且每一块介质衬底(3A、4A)上开设有供支撑柱(81A)穿接的孔位；
每一块介质衬底(3A、4A)的头尾两端设置有用于固定带状线(5A)的凸块(31A、41A)，每一块所述凸块(31A、41A)平行于所述介质衬底(3A、4A)的其一，且每一块所述凸块(31A、41A)沿背离两所述接头(6A、7A)方向延伸设置，带状线(5A)的一端被夹持在该两块介质衬底(3A、4A)的其一端的凸块(31A、41A)之间，带状线(5A)另一端被夹持在该两块介质衬底(3A、4A)的另一端的凸块(31A、41A)之间，带状线(5A)的中间部分位于该两块介质衬底(3A、4A)上方。
2.如权利要求1所述的一种介质移相器对称的介质块调试装置，其特征在于，每一个接头(6A、7A)设置有法兰(61A、71A)，通过螺栓将其固定在该两块金属板的侧面，该两个接头(6A、7A)的内导体(62A、72A)焊接在带状线上，且该两个接头的法兰(61A、71A)与带状线(5A)之间设置有PTFE介质垫片(F)。
3.如权利要求1所述的一种介质移相器对称的介质块调试装置，其特征在于，每一块金属板的厚度大于或者等于5mm。
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