CN107390326A - 密集波分阵列光波导通道对光方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了密集波分阵列光波导通道对光方法，包括以下步骤：对AWG对光合路端通道进行定位，筛选出正确的合路端光通道；筛选出正确的合路端光通道后，进行插入损耗调试。本发明利用ITU‑T对密集波分复用通道规范的中心波长等间距原则，无需依赖AWG原厂数据，无需在对光耦合过程中将AWG芯片加热到工作温度，可在常温下通过简单的通道中心波长测量和计算实现对正确的合路端和支路端光通道的定位；再进行AWG光器件插损的精细对光调整，同时，也无需考虑光源的波长功率分布平坦问题，直接进行极值调整即可实现最佳的对光耦合点定位，简单可靠地实现了AWG对光耦合工艺的两大工艺目标。
Description
技术领域
本发明涉及通信无源光器件领域，具体涉及密集波分阵列光波导通道对光方法。
背景技术
密集波分复用技术作为骨干光传输网与城域核心网的基本光通信技术，已经成为光通信网络的基础。而波长复用与解复用器件则是这一技术的基本器件，目前已完全被阵列光波导AWG器件所垄断。它具有非对称结构,并且可以对多波长信号进行同步处理,而且能够实现DWDM光通信网中多波长信道的互联路由、交换处理和上下话路，已成为DWDM系统中核心器件，应用极为广泛。由于国际电信联盟(ITU-T)对密集波分复用的光通道波长有严格定义，所以AWG的各通道波长必须符合标准规范要求，并且，对各通道的平坦度、谱宽、隔离度等技术指标也都有严格要求。
AWG制造商所提供的器件却并不是仅提供给用户唯一的符合标准规范要求的合路/支路通道端口，而是提供有一定的通道冗余。但这种冗余在不参考厂家对光通道建议的时候就会造成对光时难以选择正确的合路/支路端口。由于对光工艺通常都在常温下进行，此时的AWG通道波长与其工作波长之间存在较大的差异，无法简单地利用对通道波长的测量来获得正确的对光通道。而一旦出现对光通道抉择错误，就没法为用户提供满足规范要求的光模块通道性能，从而出现废品，造成浪费。
AWG器件在对光耦合之前存在有多次清洗，以及盖板粘贴、端面研磨等多道工序。在这些工序中，AWG原厂的条码标签都需要揭取下来，这样就容易造成器件编号的混乱，使得原厂提供的对光通道建议无法使用。这样如何在众多的合路/支路光通道中选取正确的端口进行对光就成为决定出厂光模块的性能参数是否符合规范要求的一个十分重要的决定因素。
此外，如何进行对光耦合最佳位置的调整，以获取最小的器件插入损耗值也是对光耦合工艺中十分重要的一个技术环节。由于AWG的波长带宽特性，以及光源功率谱分布不均匀的影响，采用平面光波导器件的对光方法进行AWG对光就会增加很多器件要求以及对光步骤，既提高了系统成本，也增加了对光耦合难度，还延长了对光时间，其效果无法达到理想状态。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种密集波分阵列光波导通道对光方法，本发明的方法中在众多的合路/支路光通道中选取正确的端口，对光耦合最佳位置进行调整，获取最小器件插入损耗值，实现最佳的对光耦合点定位。
为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本发明通过以下技术方案实现：
密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，包括以下步骤：
S 1对AWG对光合路端通道进行定位，筛选出正确的合路端光通道；
S 2S1中筛选出正确的合路端光通道后，进行插入损耗调试。
进一步包括，包括以下步骤：
S 10在与AWG芯片光波导支路端对光的光纤阵列FA上选取通道，以中心波长偏差一致性为依据进行合路端通道的对光选择，筛选出正确的合路端光通道；
S 20以最长波长附近支路通道和最短波长附近支路通道的插损极小或光功率极大为依据进行光插入损耗调试。
进一步包括，S 1中包括以下步骤：
S 101在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；
S 102测试选出的支路光通道的中心波长λic；
S 103在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic；
S 104获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性；
S 105更换一个合路端通道，重复S11到S14的步骤，直到完成对所有合路端通道中心波长偏差一致性测试；
S 106筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，即为正确的合路端光通道。
进一步包括，S 1中包括以下步骤：
S 111在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；
S 112测试选出的支路光通道的中心波长λic；
S 113在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic；
S 114获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性；
S 115比较通道中心波长偏差一致性与通道中心波长偏差容限范围，若当前合路端通道的通道中心波长偏差一致性较偏差容限范围小，则该合路端通道即为正确的合路端光通道；若较大，则更换合路端通道端口，重复S11到S14的步骤，直至找到正确的合路端光通道。
进一步包括，S 2中包括以下步骤：
S 201在S1中筛选出正确的合路端光通道中注入稳定的宽谱光信号；
S 202在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近的一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测；
S 203调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的任意一个通道的光功率达到最大或插损达到最小；
S 204调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的光功率都达到最大或插损都达到最小；
S 205反复进行上述S 203与S 204,直至调节六维调节架的任何一个方向的微调使监测的两个通道的光功率同时达到最大或插损同时达到最小为止。
进一步包括，S 2中包括以下步骤：
S 211在筛选出的正确的合路端通道中注入稳定的宽谱光信号；
S 212在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测；
S 213调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断，继续进行调节使两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到极大或插损达到极小；
S 214调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断；
S 215循环调节合路端对光六维调节架与支路端对光六维调节架各微调轴的自由度调节，使两个监测通道的光功率达到极大或插损达到极小为止；
S 216重复S 213到S 215，直至各微调轴的调节均难以继续使两个监测通道的光功率增大或插损减小为止。
进一步包括，在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道，三个相距较远的通道大致分布均匀。
本发明的有益效果是:
本发明利用ITU-T对密集波分复用通道规范的中心波长等间距原则，无需依赖AWG原厂数据，无需在对光耦合过程中将AWG芯片加热到工作温度，可在常温下通过简单的通道中心波长测量和计算实现对正确的合路端和支路端光通道的定位；再进行AWG光器件插损的精细对光调整，同时，也无需考虑光源的波长功率分布平坦问题，直接进行极值调整即可实现最佳的对光耦合点定位，简单可靠地实现了AWG对光耦合工艺的两大工艺目标。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例技术中的技术方案，下面将对实施例技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明光波导对光方法流程图；
图2是偏差最小原则的合路端通道选择对光法；
图3是偏差容限原则的合路端通道选择对光法；
图4是通道插损或监测功率的极值对光调节法；
图5是通道插损或监测功率的监测置零极值对光调节法；
图6是本发明对光装置布局图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例1
参照图1所示，公开了一种密集波分阵列光波导通道对光方法，首先任选一个合路端光通道进行简单对光，并注入宽谱光信号，再对支路端最大波长附近支路通道和最小波长附近支路通道进行简单对光，以便在它们的通道上能够探测到光信号，以保证AWG芯片光波导各支路通道与光纤阵列FA的各通道一一对应，完成初步的对光过程，并使支路端各通道良好的通光；然后在AWG支路端的光纤阵列FA上大致均衡分布地选取至少三个相距较远的通道，以中心波长偏差一致性为依据进行合路、支路端通道的选择，以保证AWG芯片光波导各支路的中心波长偏差符合标准规范要求，或达到最小。完成合路、支路端通道位置的选择后，在选中的合路端通道中注入稳定的宽谱光源，以最长波长附近支路通道和最短波长附近支路通道的插损极小或光功率极大为依据进行对光插损精调，调节合路、支路端对光六维调节架的各微调轴，使监测的两支路输出光功率达到最大或插损达到最小，以此来保证AWG的各通道插损达到最优。
实施例1中的方法包括：
S 1对AWG对光合路端通道进行定位，筛选出正确的合路端光通道。
S 2S1中筛选出正确的合路端光通道后，进行插入损耗调试。
具体的，如图2所示，S 1中包括以下步骤：
S 101在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道，并且三个相距较远的通道大致分布均匀，在本实施例中，三个相距较远且大致均匀分布的通道为：以40个通道为例，第一个通道选择1号通道，第二个选择20号通道，第三个选择40号通道，以此确保选择至少三个通道来保证通道距离较远且大致均匀分布。
S 102测试选出的支路光通道的中心波长λic。
S 103在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic。
S 104获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性。
S 105更换一个合路端通道，重复S11到S14的步骤，直到完成对所有合路端通道中心波长偏差一致性测试。
S 106筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，即为正确的合路端光通道。
具体的，如图4和6所示，S 2中包括以下步骤：
S 201在S1中筛选出正确的合路端光通道中注入稳定的宽谱光信号。
S 202在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近的一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测。
S 203调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的任意一个通道的光功率达到最大或插损达到最小。
S 204调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的光功率都达到最大或插损都达到最小。
S 205反复进行上述S 203与S 204,直至调节六维调节架的任何一个方向的微调轴使监测的两个通道的光功率同时达到最大或插损同时达到最小为止。
实施例2
实施例2中具体步骤为：
如图2所示，S 1中包括以下步骤：
S 101在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道，并且三个相距较远的通道大致分布均匀，在本实施例中，三个相距较远且均匀分布的通道为：以40个通道为例，第一个通道选择1号通道，第二个选择20号通道，第三个选择40号通道，以此确保选择至少三个通道来保证通道距离较远且大致均匀分布。
S 102测试选出的支路光通道的中心波长λic。
S 103在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic。
S 104获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性。
S 105更换一个合路端通道，重复S11到S14的步骤，直到完成对所有合路端通道中心波长偏差一致性测试。
S 106筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，即为正确的合路端光通道。
如图5和6所示，S2中具体步骤包括：
S 211在筛选出的正确的合路端通道中注入稳定的宽谱光信号。
S 212在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测。
S 213调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断，继续进行调节使两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到极大或插损达到极小。
S 214调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断。
S 215循环调节合路端对光六维调节架与支路端对光六维调节架各微调轴的自由度调节，使两个监测通道的光功率达到极大或插损达到极小为止。
S 216重复S 213到S 215，直至各微调轴的调节均难以继续使两个监测通道的光功率增大或插损减小为止。
实施例3
实施例3中的具体步骤，如图3所示：
S 1中包括以下步骤：
S 111在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；在本实施例中，三个相距较远且大致均匀分布的通道为：以40个通道为例，第一个通道选择1号通道，第二个选择20号通道，第三个选择40号通道，以此确保选择至少三个通道来保证通道距离较远且大致均匀分布。
S 112测试选出的支路光通道的中心波长λic。
S 113在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic。
S 114获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性。
S 115比较通道中心波长偏差一致性与通道中心波长偏差容限范围，若当前合路端通道的通道中心波长偏差一致性较偏差容限范围小，则该合路端通道即为正确的合路端光通道；若较大，则更换合路端通道端口，重复S11到S14的步骤，直至找到正确的合路端光通道。
如图4和6所示，S 2中包括以下步骤：
S 201在S1中筛选出正确的合路端光通道中注入稳定的宽谱光信号。
S 202在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近的一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测。
S 203调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的任意一个通道的光功率达到最大或插损达到最小。
S 204调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的光功率都达到最大或插损都达到最小。
S 205反复进行上述S 203与S 204,直至调节六维调节架的任何一个方向的微调使监测的两个通道的光功率同时达到最大或插损同时达到最小为止。
实施例4
实施例4的步骤具体包括，如图3所示：
其中，S 1中包括以下步骤：
S 111在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；在本实施例中，三个相距较远且大致均匀分布的通道为：以40个通道为例，第一个通道选择1号通道，第二个选择20号通道，第三个选择40号通道，以此确保选择至少三个通道来保证通道距离较远且大致均匀分布。此处的大致分布均匀并不是绝对均匀，在一定数量的通道中大致均匀分布。
S 112测试选出的支路光通道的中心波长λic。
S 113在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic。
S 114获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性。
S 115比较通道中心波长偏差一致性与通道中心波长偏差容限范围，若当前合路端通道的通道中心波长偏差一致性较偏差容限范围小，则该合路端通道即为正确的合路端光通道；若较大，则更换合路端通道端口，重复S11到S14的步骤，直至找到正确的合路端光通道。
如图5和6所示，S2中具体步骤包括：
S 211在筛选出的正确的合路端通道中注入稳定的宽谱光信号。
S 212在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测。
S 213调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断，继续进行调节使两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到极大或插损达到极小。
S 214调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断。
S 215循环调节合路端对光六维调节架与支路端对光六维调节架各微调轴的自由度调节，使两个监测通道的光功率达到极大或插损达到极小为止。
S 216重复S 213到S 215，直至各微调轴的调节均难以继续使两个监测通道的光功率增大或插损减小为止。
实施例1中实现密集波分阵列光波导通道对光的方法，该方法第一步采用偏差最小性原则的合路端通道选择对光法，第二步采用光通道插损或监测功率的极值对光调节法，其中偏差最小性原则的合路端通道选择对光法的复杂程度较高，因为在选择合路端通道时要对所有的合路端通道中心波长偏差一致性测试，从中筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，为正确的合路端光通道。第二步采用光通道插损或监测功率的极值对光调节法，该方法需要计算，因此，相对较为复杂。
实施例2中实现密集波分阵列光波导通道对光的方法，该方法第一步采用偏差最小性原则的合路端通道选择对光法，第二步采用光通道插损或监测功率的监测置零极值对光调节法，其中偏差最小性原则的合路端通道选择对光法的复杂程度较高，因为在选择合路端通道时要对所有的合路端通道中心波长偏差一致性测试，从中筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，为正确的合路端光通道。第二步采用光通道插损或监测功率的监测置零极值对光调节法，借助检测仪更为直观的监测，简单方便。
实施例3中实现密集波分阵列光波导通道对光的方法，该方法第一步采用偏差容限原则的合路端通道选择对光法，第二步采用光通道插损或监测功率的极值对光调节法，其中，偏差容限原则的合路端通道选择对光法准确度较偏差最小性原则的合路端通道选择对光法小，因为该方法只需要找到符合通道中心波长偏差容限范围的通道即可，与实施例1和2中的相比，准确度小，但是方法简单。第二步采用光通道插损或监测功率的极值对光调节法，该方法需要计算，因此，相对较为复杂。
实施例4中实现密集波分阵列光波导通道对光的方法，该方法第一步采用偏差容限原则的合路端通道选择对光法，第二步采用光通道插损或监测功率的监测置零极值对光调节法，其中，偏差容限原则的合路端通道选择对光法准确度较偏差最小性原则的合路端通道选择对光法小，因为该方法只需要找到符合通道中心波长偏差容限范围的通道即可，与实施例1和2中的相比，准确度小，但是方法简单。第二步采用光通道插损或监测功率的监测置零极值对光调节法，借助检测仪更为直观的监测，简单方便。
上述实施例中利用ITU-T对密集波分复用通道规范的中心波长等间距原则，无需依赖AWG原厂数据，无需在对光耦合过程中将AWG芯片加热到工作温度，可在常温下通过简单的通道中心波长测量和计算实现对正确的合路端和支路端光通道的定位；再进行AWG光器件插损的精细对光调整，同时，也无需考虑光源的波长功率分布平坦问题，直接进行极值调整即可实现最佳的对光耦合点定位，简单可靠地实现了AWG对光耦合工艺的两大工艺目标。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (7)
1.密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，包括以下步骤：
S 1对AWG对光合路端通道进行定位，筛选出正确的合路端光通道；
S 2S1中筛选出正确的合路端光通道后，进行插入损耗调试。
2.根据权利要求1所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，包括以下步骤：
S 10在与AWG芯片光波导支路端对光的光纤阵列FA上选取通道，以中心波长偏差一致性为依据进行合路端通道的对光选择，筛选出正确的合路端光通道；
S 20以最长波长附近支路通道和最短波长附近支路通道的插损极小或光功率极大为依据进行光插入损耗调试。
3.根据权利要求1所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，S 1中包括以下步骤：
S 101在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；
S 102测试选出的支路光通道的中心波长λic；
S 103在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic；
S 104获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性；
S 105更换一个合路端通道，重复S11到S14的步骤，直到完成对所有合路端通道中心波长偏差一致性测试；
S 106筛选出通道中心波长偏差一致性最小的合路端通道，即为正确的合路端光通道。
4.根据权利要求1所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，S 1中包括以下步骤：
S 111在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道；
S 112测试选出的支路光通道的中心波长λic；
S 113在ITU-T规范的密集波分中心波长表中，选择与测试的各通道中心波长紧邻且波长较长的标准规范波长值λis，计算各通道中心波长与标准规范波长的偏差Δλ＝λis-λic；
S 114获取选取的各支路通道中心波长与标准规范波长偏差的极大值Δλmax与极小值Δλmin，计算此极大值与极小值的差δ＝Δλmax-Δλmin，δ为通道中心波长偏差一致性；
S 115比较通道中心波长偏差一致性与通道中心波长偏差容限范围，若当前合路端通道的通道中心波长偏差一致性较偏差容限范围小，则该合路端通道即为正确的合路端光通道；若较大，则更换合路端通道端口，重复S11到S14的步骤，直至找到正确的合路端光通道。
5.根据权利要求1所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，S 2中包括以下步骤：
S 201在S1中筛选出正确的合路端光通道中注入稳定的宽谱光信号；
S 202在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近的一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测；
S 203调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的任意一个通道的光功率达到最大或插损达到最小；
S 204调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，使两个监测通道中的光功率都达到最大或插损都达到最小；
S 205反复进行上述S 203与S 204,直至调节六维调节架的任何一个方向的微调轴使监测的两个通道的光功率同时达到最大或插损同时达到最小为止。
6.根据权利要求1所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，S 2中包括以下步骤：
S 211在筛选出的正确的合路端通道中注入稳定的宽谱光信号；
S 212在所有支路端通道中，选择工作谱宽范围内的最长波长附近一个支路光通道以及最短波长附近一个支路光通道，分别对这两个光通道进行对光功率或插损监测；
S 213调节AWG芯片光波导合路端与单纤FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证合路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断，继续进行调节使两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到极大或插损达到极小；
S 214调节AWG芯片光波导支路端与光纤阵列FA的对光六维调节架各微调轴的位置关系，保证支路端耦合位置最佳，当两个监测通道中的任何一个通道的光功率达到较大或插损达到较小时，则按下监测仪的归零键，使后续的调节只需观察插损监测仪显示值的正负变化即可，以方便进行简单的极限判断；
S 215循环调节合路端对光六维调节架与支路端对光六维调节架各微调轴的自由度调节，使两个监测通道的光功率达到极大或插损达到极小为止；
S 216重复S 213到S 215，直至各微调轴的调节均难以继续使两个监测通道的光功率增大或插损减小为止。
7.根据权利要求3或4所述的密集波分阵列光波导通道对光方法，其特征在于，在AWG芯片光波导支路端对应的光纤阵列FA上选取至少三个相距较远的通道，三个相距较远的通道大致分布均匀。
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