CN107317133B - 测试电连接器及其操作方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种测试电连接器，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一收容槽与插槽连通，每一收容槽具有一通道向下贯穿绝缘本体，通道具有相对的一第一面和一第二面，第一面从上往下朝第二面倾斜设置，一收容空间，收容空间与收容槽连通；多个端子，分别收容于多个收容槽，每一端子具有一连接部，自连接部分别延伸一接触部和一接脚，接触部显露于插槽，接脚收容于所述通道，接脚具有相对的一第三面和一第四面，第三面从上往下朝第四面倾斜设置，第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于收容空间，弹性体抵接所述连接部。本发明通过接脚和通道倾斜设置，可于插卡插拔过程中定位端子。

Description

测试电连接器及其操作方法
技术领域
本发明涉及一种测试电连接器，尤指一种测试电连接器及其操作方法。
背景技术
目前，在集成电路的存储卡元件制造完毕后，为了将制造过程中产生了缺陷的存储卡元件筛选出来，需要进行预烧测试。预烧测试通常借助测试电连接器将存储卡元件组接于测试电路板上，接通电源并提高其周围环境的温度，使存在缺陷的存储卡元件尽快失效，以将其筛选出来，避免将存在隐患的存储卡元件投入使用。
现有的测试电连接器主要包括绝缘本体，所述绝缘本体固定于一电路板上，收容于绝缘本体内的多个端子和抵接所述多个端子的弹性体，多个所述端子与所述电路板上的接触区接触，所述绝缘本体凹设有一插槽，供所述存储卡插入测试，通过所述弹性体抵接所述端子对所述存储卡提供一个夹紧力，确保存储卡与所述测试电连接器的稳定连接，但是在存储卡的插拔过程中，所述端子由于弹性体的抵接在所述接触区上左右位移，对所述接触区造成磨损，使测试电连接器无法正常工作，如更换电路板则成本较高。
因此，有必要设计一种改良的测试电连接器，以克服上述问题。
发明内容
针对背景技术所面临的问题，本发明的目的在于提供一种测试电连接器及其操作方法，通过定位端子与电路板上接触区的接触位置，减少端子和接触区的磨损，确保测试电连接器与电路板的电性连接正常稳定。
为实现上述目的，本发明采用以下技术手段：
一种测试电连接器，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，所述第一面与所述第三面之间存在一间隙；一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部。
进一步，所述第二面从上往下朝第一面倾斜设置，所述第四面从上往下朝所述第三面倾斜设置。
进一步，所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。
进一步，所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。
进一步，所述第一面和所述第二面以所述通道的中心线左右对称，所述第三面和所述第四面以所述接脚的中心线左右对称设置。
进一步，所述间隙的宽度从上往下减小。
进一步，所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘。
进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
为了达到上述目的，本发明提供的另一方案为：一种测试电连接器，用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，包括：一绝缘本体，用以位于所述电路板上，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，所述插槽用以供所述插卡插接，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置，一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部；当所述插卡未进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，当所述插卡进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。
进一步，所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线上。
进一步，所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线的一侧。
进一步，所述第三面侧向抵接所述第一面。
进一步，所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。
进一步，所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。
进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
为了达到上述目的，本发明还提供了另一方案为：一种测试电连接器的操作方法，所述测试电连接器用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，包括：一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置；一弹性体，收容于所述收容空间，所述绝缘本体用以置于所述电路板上,所述接脚用以与所述接触区最终接触时,所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，将所述插卡插入所述插槽时，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,藉由所述接触部使得所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加远离所述插槽方向的一反作用力。
进一步，所述端子包括一初始状态、一锁紧状态和一工作状态，所述初始状态为所述绝缘本体未用以位于电路板上时，所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘，所述锁紧状态为所述绝缘本体用以位于所述电路板上时，所述端子沿所述通道向上位移，所述第三面侧向抵接所述第一面，所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，所述工作状态为所述插卡进入所述插槽时，所述第一面和所述第二面未与所述第三面和所述第四面抵接，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。
进一步，当所述端子处于所述初始状态时和工作状态时，所述第一面和所述第二面分别与所述第三面和所述第四面之间具有间隙，当所述端子处于所述锁紧状态时，所述第二面与第四面之间具有间隙。
进一步，当所述端子处于所述工作状态时，所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加，使所述弹性体受力发生弹性形变。
进一步，所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：
本发明测试电连接器的所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面朝所述第二面倾斜设置，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面朝所述第四面倾斜设置，当所述端子处于初始状态、锁紧状态或者工作状态时，所述接脚与所述接触区接触形成的接触位置始终保持不变，即所述接脚不会在所述接触区上左右位移，来减少所述端子和所述接触区的磨损，延长测试电连接器的使用寿命，确保所述测试电连接器与所述电路板稳定连接。
【附图说明】
图1为本发明测试电连接器的立体分解图；
图2为本发明测试电连接器的另一状态立体分解图；
图3为本发明测试电连接器立体局部组合图；
图4为本发明测试电连接器的立体组合图；
图5为本发明测试电连接器的局部剖视图；
图6为本发明测试电连接器的初始状态剖视图；
图7为本发明测试电连接器的锁紧状态剖视图；
图8为本发明测试电连接器的工作状态剖视图；
图9为图8中a部分的放大图；
图10为本发明第二实施例测试电连接器的端子结构示意图；
图11为本发明第二实施例测试电连接器的另一端子结构示意图。
具体实施方式的附图标号说明：
测试电连接器100 收容空间14 抵接部24
绝缘本体1 端子2 接触位置25
插槽11 连接部21 弹性体3
收容槽12 接触部22 电路板4
通道13 接脚23 接触区41
第一面131 第三面231 插卡5
第二面132 第四面232 螺栓6
间隙7
【具体实施方式】
为便于更好的理解本发明的目的、结构、特征以及功效等，现结合附图和具体实施方式对本发明作进一步说明。
如图1和图3所示，本发明测试电连接器100电性连接至一电路板4，用以测试一插卡5，包括一绝缘本体1，多个端子2和一弹性体3收容于所述绝缘本体1。
如图4和图5所示，所述绝缘本体1位于所述电路板4上，所述电路板4具有多个接触区41，所述绝缘本体1凹设一插槽11，所述插槽11用以供一插卡5插入，所述绝缘本体1凹设多个收容槽12位于所述插槽11两侧，每一所述收容槽12与所述插槽11连通，每一所述收容槽12具有一通道13向下贯穿所述绝缘本体1的底部，所述绝缘本体1具有一收容空间14，所述收容空间14的一侧与所述收容槽12连通。
所述通道13具有相对的一第一面131和一第二面132，所述第一面131与所述第二面132分别从上往下以相同的角度相向倾斜设置，并且以所述通道13的中心线左右对称，所述第一面131比所述第二面132靠近所述插槽11。
如图5和图6所示，多个所述端子2分别收容于多个所述收容槽12内，每一个所述端子2具有一连接部21，所述连接部21具有一弧面，自所述连接部21分别延伸一接触部22和一接脚23，所述接触部22的中心线与所述接脚23的中心线相互垂直，所述接触部22显露于所述插槽11，所述接脚23收容于所述通道13，所述接脚23具有一抵接部24位于所述接脚23的中心线上，所述抵接部24用以与所述接触区41接触并形成一接触位置25，所述接脚23具有相对的一第三面231和一第四面232，所述第三面231与所述第四面232分别从上往下以相同的角度相向倾斜设置，所述第三面231与所述第四面232以所述接脚23的中心线左右对称，所述第三面231比所述第四面232靠近所述插槽11。
如图6所示，所述弹性体3收容于所述收容空间14，所述弹性体3为一圆柱体，所述弹性体3抵接所述连接部21的弧面。
为本测试电连接器100的操作方法，如图6所示，当所述绝缘本体1未固定于所述电路板4上时，此时所述端子2处于初始状态，所述第三面231和所述第四面232分别抵接所述第一面131的底缘和所述第二面132的底缘，能够使所述端子2在所述绝缘本体1与所述电路板4固定时，定位所述端子2使所述抵接部24不左右位移，初始状态下所述第一面131与所述第三面231之间具有间隙7，所述第二面132与所述第四面232之间具有间隙7。
如图2和图7所示，所述绝缘本体1和所述电路板4上具有对应设置的多个通孔，多个螺栓6分别穿过多个通孔将所述绝缘本体1和所述电路板4于竖直方向上锁固，所述抵接部24与所述接触区41接触形成一接触位置25，所述插卡5未插入所述插槽11，此时所述端子2处于所述锁紧状态，所述端子2沿着所述通道13向上位移且保持所述抵接部24与所述接触区41所形成的接触位置25不变，所述弹性体3抵接所述连接部21并朝所述连接部21施加一作用力，该作用力可分解为朝所述接触部22方向的一第一作用力和朝所述接脚23方向的一第二作用力，使所述端子2朝所述插槽11方向倾斜且所述第三面231侧向抵接所述第一面131。
如图8和图9所示，当所述插卡5进入所述插槽11，所述插卡5抵接所述接触部22使所述接触部22朝所述弹性体3方向移动，此时端子2处于所述工作状态，所述连接部21抵接所述弹性体3并对所述弹性体3朝远离所述插槽11方向施加一反作用力使所述弹性体3产生弹性形变，所述反作用力可分解为所述接触部22朝所述弹性体3方向施加一第三作用力，所述弹性体3朝所述接脚23方向向下施加一第四作用力，所述第一作用力与所述第三作用力为一对平衡力，使得所述接脚23保持竖直，所述第二作用力和所述第四作用力为一对平衡力，使得所述抵接部24不左右位移，即所述抵接部24与所述接触区41形成的接触位置25不变，所述第三面231和所述第四面232不与所述第一面131和所述第二面132抵接，所述第一面131与所述第三面231之间具有间隙7，所述第二面132与所述第四面232之间具有间隙7，且所述间隙7从上往下逐渐缩小。
本测试电连接器100的端子2处于所述锁紧状态或者所述工作状态时，所述抵接部24与所述接触区41接触形成的接触位置25都保持不变，避免所述抵接部24由于所述插卡5插拔在所述接触区41上左右位移，造成所述抵接部24和所述接触区41的磨损。
参见图10和图11为本发明的第二实施例，与第一实施例的不同之处在于：所述抵接部24位于所述接脚23的中心线的一侧，即所述抵接部24相对所述接脚23的中心线靠近所述插槽11方向（如图10），或所述抵接部24相对所述接脚23的中心线远离所述插槽11方向（如图11），当第一实施例中的所述接触区41上的接触位置25磨损时，可更换第二实施例中的端子2，使得第二实施例中的抵接部24与所述同一接触区41抵接形成另一接触位置25，不需更换所述电路板4，与在此并不做详细说明。
综上所述，本发明电连接器100有下列有益效果：
（1）本发明测试电连接器100的所述通道13具有相对的一第一面131和一第二面132，所述第一面131朝所述第二面132倾斜设置，所述接脚23具有相对的一第三面231和一第四面232，所述第三面231朝所述第四面232倾斜设置，当所述端子2处于初始状态、锁紧状态或者工作状态时，所述接脚23与所述接触区41接触形成的接触位置25始终保持不变，即所述接脚23不会在所述接触区41上左右位移，来减少所述端子2和所述接触区41的磨损，延长测试电连接器100的使用寿命，确保所述测试电连接器100与所述电路板4稳定连接；
（2）所述端子2处于初始状态，所述第三面231和所述第四面232分别抵接所述第一面131的底缘和所述第二面132的底缘，能够使所述端子2在所述绝缘本体1与所述电路板4固定时，定位所述端子2使所述抵接部24不左右位移，减少所述端子2和所述接触区41的磨损，延长测试电连接器100的使用寿命，确保所述测试电连接器100与所述电路板4稳定连接；
（3）所述绝缘本体1通过螺栓6固定于所述电路板4上，所述抵接部24与所述接触区41接触形成一接触位置25，所述插卡5未插入所述插槽11，此时所述端子2处于所述锁紧状态，所述端子2沿着所述通道13向上位移且保持所述抵接部24与所述接触区41所形成的接触位置25不变，所述弹性体3抵接所述连接部21并朝所述连接部21施加一作用力，使所述端子2朝所述插槽11方向倾斜且所述第三面231侧向抵接所述第一面131；定位所述端子2使所述抵接部24不左右位移，减少所述端子2和所述接触区41的磨损，延长测试电连接器100的使用寿命，确保所述测试电连接器100与所述电路板4稳定连接，所述作用力使所述插卡5插入时提供足够的夹紧力夹持所述插卡5；
（4）当所述插卡5进入所述插槽11，所述插卡5抵接所述接触部22使所述接触部22朝所述弹性体3方向移动，此时端子2处于所述工作状态，所述连接部21抵接所述弹性体3并对所述弹性体3朝远离所述插槽11方向施加一反作用力使所述弹性体3产生弹性形变，所述作用力与所述反作用力为一对平衡力，使得所述抵接部24不左右位移，即所述抵接部24与所述接触区41形成的接触位置25不变，减少所述端子2和所述接触区41的磨损，延长测试电连接器100的使用寿命，确保所述测试电连接器100与所述电路板4稳定连接；
（5）所述抵接部24位于所述接脚23的中心线的一侧，即所述抵接部24相对所述接脚23的中心线靠近所述插槽11方向，或所述抵接部24相对所述接脚23的中心线远离所述插槽11方向，当第一实施例中的所述接触区41上的接触位置25磨损时，可更换第二实施例中的端子2，使得第二实施例中的抵接部24与所述同一接触区41抵接形成另一接触位置25，不需更换所述电路板4，降低成本。
以上详细说明仅为本发明之较佳实施例的说明，非因此局限本发明的专利范围，所以，凡运用本创作说明书及图示内容所为的等效技术变化，均包含于本发明的专利范围内。

Claims (20)

1.一种测试电连接器，其特征在于，包括：
一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置；一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；
多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，所述第一面与所述第三面之间存在一间隙；
一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部。
2.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第二面从上往下朝第一面倾斜设置，所述第四面从上往下朝所述第三面倾斜设置。
3.如权利要求2所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。
4.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。
5.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面和所述第二面以所述通道的中心线左右对称，所述第三面和所述第四面以所述接脚的中心线左右对称设置。
6.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述间隙的宽度从上往下减小。
7.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘。
8.如权利要求1所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
9.一种测试电连接器，用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，其特征在于，包括：
一绝缘本体，用以位于所述电路板上，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，所述插槽用以供所述插卡插接，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；
多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置，一弹性体，收容于所述收容空间，所述弹性体抵接所述连接部；当所述插卡未进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，当所述插卡进入所述插槽时，所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。
10.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线上。
11.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述接脚具有一抵接部,所述抵接部与所述接触区相接触形成所述接触位置,所述抵接部位于所述接脚的中心线的一侧。
12.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述第三面侧向抵接所述第一面。
13.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述接触部的中心线与所述接脚的中心线互相垂直。
14.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面与所述第二面的倾斜角度相同，所述第三面与所述第四面的倾斜角度相同。
15.如权利要求9所述的测试电连接器，其特征在于：所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
16.一种测试电连接器的操作方法，所述测试电连接器用以电性连接至一电路板，并测试一插卡，所述电路板具有多个接触区，其特征在于，包括：
一绝缘本体，其凹设一插槽和多个收容槽位于所述插槽两侧，每一所述收容槽与所述插槽连通，每一所述收容槽具有一通道向下贯穿所述绝缘本体，所述通道具有相对的一第一面和一第二面，所述第一面从上往下朝所述第二面倾斜设置，一收容空间，所述收容空间与所述收容槽连通；
多个端子，分别收容于多个所述收容槽，每一所述端子具有一连接部，自所述连接部分别延伸一接触部和一接脚，所述接触部显露于所述插槽，所述接脚收容于所述通道，所述接脚具有相对的一第三面和一第四面，所述第三面从上往下朝所述第四面倾斜设置；
一弹性体，收容于所述收容空间，所述绝缘本体用以置于所述电路板上,所述接脚用以与所述接触区最终接触时,所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，将所述插卡插入所述插槽时，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,藉由所述接触部使得所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加远离所述插槽方向的一反作用力。
17.如权利要求16所述的测试电连接器的操作方法，其特征在于：所述端子包括一初始状态、一锁紧状态和一工作状态，所述初始状态为所述绝缘本体未用以位于电路板上时，所述第三面和第四面分别侧向抵接所述第一面的底缘和所述第二面的底缘，所述锁紧状态为所述绝缘本体用以位于所述电路板上时，所述端子沿所述通道向上位移，所述第三面侧向抵接所述第一面，所述弹性体抵接所述连接部并对所述连接部施加朝所述插槽方向的一作用力，所述接脚用以与所述接触区接触形成一接触位置，所述工作状态为所述插卡进入所述插槽时，所述第一面和所述第二面未与所述第三面和所述第四面抵接，所述插卡抵接所述接触部并对所述接触部施加朝所述弹性体方向的一作用力,所述接脚用以与所述接触区抵接于同一所述接触位置。
18.如权利要求17所述的测试电连接器的操作方法，其特征在于：当所述端子处于所述初始状态时和工作状态时，所述第一面和所述第二面分别与所述第三面和所述第四面之间具有间隙，当所述端子处于所述锁紧状态时，所述第二面与第四面之间具有间隙。
19.如权利要求17所述的测试电连接器的操作方法，其特征在于：当所述端子处于所述工作状态时，所述连接部抵接所述弹性体并对所述弹性体施加，使所述弹性体受力发生弹性形变。
20.如权利要求16所述的测试电连接器的操作方法，其特征在于：所述第一面比所述第二面靠近所述插槽，所述第三面比所述第四面靠近所述插槽。
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2872633Y (zh) * 2006-01-04 2007-02-21 番禺得意精密电子工业有限公司 连接器组合
CN201142411Y (zh) * 2007-12-13 2008-10-29 番禺得意精密电子工业有限公司 连接器
CN201210535Y (zh) * 2008-06-17 2009-03-18 番禺得意精密电子工业有限公司 插槽测试连接器
CN201278386Y (zh) * 2008-03-13 2009-07-22 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
CN201994470U (zh) * 2010-12-08 2011-09-28 番禺得意精密电子工业有限公司 测试连接器
CN202103188U (zh) * 2011-05-20 2012-01-04 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2872633Y (zh) * 2006-01-04 2007-02-21 番禺得意精密电子工业有限公司 连接器组合
CN201142411Y (zh) * 2007-12-13 2008-10-29 番禺得意精密电子工业有限公司 连接器
CN201278386Y (zh) * 2008-03-13 2009-07-22 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器
CN201210535Y (zh) * 2008-06-17 2009-03-18 番禺得意精密电子工业有限公司 插槽测试连接器
CN201994470U (zh) * 2010-12-08 2011-09-28 番禺得意精密电子工业有限公司 测试连接器
CN202103188U (zh) * 2011-05-20 2012-01-04 番禺得意精密电子工业有限公司 电连接器

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