CN106996746A - 可调节测试支架及测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例提供一种可调节测试支架及测量系统。可调节测试支架包括：相对设置的用于进行高度调节的两个高度调节杆；分别与两个高度调节杆的底部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第一水平调节杆，第一水平调节杆与两个高度调节杆的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置；分别与两个高度调节杆的顶部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第二水平调节杆，第二水平调节杆上设置有用于连接测试装置的测试连接杆，测试连接杆可在第二水平调节杆的延伸方向以及与第二水平调节杆的延伸方向相垂直的方向上滑动。基于上述设计，本发明提供的测试支架能够进行高度和宽度的调节，以适应多变的测试环境，并能够达到很好的稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及支架技术领域，具体而言，涉及一种可调节测试支架及测量系统。
背景技术
目前，在对待测物体进行位移测试时，需要将测试装置安装在测试支架进行测量。然而测试的空间环境多变，而现有的测试支架调节不便，不能适应多变的测试环境，此外结构的稳定性差，不能确保测量过程中的可靠性。
发明内容
为了克服现有技术中的上述不足，本发明的目的在于提供一种可调节测试支架及测量系统，能够进行高度和宽度的调节，以适应多变的测试环境，并能够达到很好的稳定性。
为了实现上述目的，本发明较佳实施例提供的技术方案如下：
本发明较佳实施例提供一种可调节测试支架，所述可调节测试支架包括：
相对设置的用于进行高度调节的两个高度调节杆；
分别与所述两个高度调节杆的底部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第一水平调节杆，所述第一水平调节杆与所述两个高度调节杆的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置；
分别与所述两个高度调节杆的顶部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第二水平调节杆，所述第二水平调节杆上设置有用于连接测试装置的测试连接杆，所述测试连接杆可在所述第二水平调节杆的延伸方向以及与所述第二水平调节杆的延伸方向相垂直的方向上滑动。
在本发明较佳实施例中，所述可调节测试支架还包括第一连接件，所述第一连接件包括用于套设所述第一水平调节杆的第一通孔、用于套设所述高度调节杆的第二通孔以及用于套设所述调平装置的第三通孔。
其中，所述第一水平调节杆的延伸方向、所述高度调节杆的延伸方向以及所述调平装置的延伸方向相互垂直。
在本发明较佳实施例中，所述可调节测试支架还包括第二连接件，所述第二连接件包括用于套设所述第二水平调节杆的第四通孔以及用于套设所述高度调节杆的第五通孔。
其中，所述第二水平调节杆的延伸方向与高度调节杆的延伸方向相互垂直。
在本发明较佳实施例中，所述高度调节杆包括第一伸缩杆和第一刻度管，所述第一伸缩杆套设于所述第一刻度管。
在本发明较佳实施例中，所述第一水平调节杆包括第二伸缩杆和第二刻度管，所述第二伸缩杆套设于所述第二刻度管。
在本发明较佳实施例中，所述第二水平调节杆包括第三刻度管和两个第三伸缩杆，所述第三刻度管位于两个第三伸缩杆之间，所述两个第三伸缩杆分别套设于所述第三刻度管的两端。
在本发明较佳实施例中，所述调平装置包括底杆以及与底杆两端分别连接的用于支架调平的脚螺旋，所述底杆上设置有水平气泡。
在本发明较佳实施例中，所述测试连接杆包括滑动伸缩杆、第四刻度管以及调平仪器盒子；
所述滑动伸缩杆套设于所述第二水平调节杆，所述第四刻度管与所述滑动伸缩杆连接，所述调平仪器盒子与所述第四刻度管连接；
所述调平仪器盒子上设置有水平气泡，并包括有一用于连接至少一个用于测量待测物体的测试装置的云台。
在本发明较佳实施例中，所述测试装置为激光位移测试装置。
本发明较佳实施例还提供一种测量系统，所述测量系统包括测试装置以及上述的可调节测试支架，所述测试装置设置在所述可调节测试支架上用于对待测物体进行测量。
相对于现有技术而言，本发明具有以下有益效果：
本发明实施例提供的可调节测试支架及测量系统。所述可调节测试支架包括：相对设置的用于进行高度调节的两个高度调节杆；分别与所述两个高度调节杆的底部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第一水平调节杆，所述第一水平调节杆与所述两个高度调节杆的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置；分别与所述两个高度调节杆的顶部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第二水平调节杆，所述第二水平调节杆上设置有用于连接测试装置的测试连接杆，所述测试连接杆可在第二水平调节杆的延伸方向以及与第二水平调节杆的延伸方向相垂直的方向上滑动。基于上述设计，本发明提供的测试支架能够进行高度和宽度的调节，以适应多变的测试环境，并能够达到很好的稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本发明较佳实施例提供的可调节测试支架的一种结构示意图；
图2为图1中所示的一实施方式中的高度调节杆的结构示意图；
图3为图1中所示的一实施方式中的第一水平调节杆的结构示意图；
图4为图1中所示的一实施方式中的调平装置的结构示意图；
图5为图1中所示的一实施方式中的第二水平调节杆的结构示意图；
图6为图1中所示的一实施方式中的测试连接杆的结构示意图；
图7为本发明较佳实施例提供的第一连接件的一种结构示意图；
图8为本发明较佳实施例提供的第二连接件的一种结构示意图。
图标：10-可调节测试支架；100-高度调节杆；110-第一伸缩杆；120-第一刻度管；200-第一水平调节杆；210-第二伸缩杆；220-第二刻度管；300-调平装置；310-底杆；320-脚螺旋；400-第二水平调节杆；410-第三伸缩杆；420-第三刻度管；430-双端连接件；500-测试连接杆；510-滑动伸缩杆；520-第四刻度管；530-调平仪器盒子；600-第一连接件；610-第一通孔；620-第二通孔；630-第三通孔；700-第二连接件；710-第四通孔；720-第五通孔。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。还需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
请参阅图1，为本发明较佳实施例提供的可调节测试支架10的一种结构框图。在本实施例中，所述可调节测试支架10可以用于安装用于进行待测物体的测量的测试装置，其中，所述测试装置可以根据实际的测量需求进行设置，本实施例对此不作具体限制。示例性地，所述测试装置可以是激光位移测试装置(例如，激光位移传感器)，所述激光位移测试装置设置在所述可调节测试支架10上用于对待测物体的位移数据进行实时测量。
如图1所示，所述可调节测试支架10可以包括两个高度调节杆100、第一水平调节杆200、调平装置300、第二水平调节杆400以及测试连接杆500。
详细地，所述两个高度调节杆100相对设置，用于进行所述可调节测试支架10在水平方向上的高度调节。所述第一水平调节杆200分别与所述两个高度调节杆100的底部可拆卸连接，用于进行所述可调节测试支架10在水平方向上的宽度调节。所述第一水平调节杆200与所述两个高度调节杆100的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置300。所述第二水平调节杆400分别与所述两个高度调节杆100的顶部可拆卸连接，用于进行所述可调节测试支架10在水平方向上的宽度调节。所述第二水平调节杆400上设置有用于连接测试装置的测试连接杆500，所述测试连接杆500可在所述第二水平调节杆400的延伸方向以及与所述第二水平调节杆400的延伸方向相垂直的方向上滑动。
本实施例中，所述两个高度调节杆100可以采用相同的结构，也可以采用不同的结构，可以视具体的情况而定，只要能够保证两个高度调节杆100均可以进行高度调节即可。
优选的是，所述两个高度调节杆100采用相同的结构时，作为一种实施方式，请参阅图2，所述高度调节杆100可以包括第一伸缩杆110和第一刻度管120。所述第一伸缩杆110套设于所述第一刻度管120，具体地，所述第一伸缩杆110可以相对于所述第一刻度管120的长度延伸方向进行伸缩，从而实现所述高度调节杆100的高度的调节。所述第一刻度管120上设置有刻度，用于为所述第一伸缩杆110的伸缩高度提供参考。
本实施例中，可以对所述第一伸缩杆110的调节幅度进行设计，例如，针对大多数测试环境，在保证低成本的情况下，所述第一伸缩杆110的调节幅度可以设计成1-1.5m。此外，所述第一伸缩杆110和所述第一刻度管120的制造材料不作具体限制，优选的是，所述第一伸缩杆110和所述第一刻度管120可以采用高强度、低成本的金属材料，以在低成本的调节下保证其稳定性。
请参阅图3，本实施例中，所述第一水平调节杆200可以包括第二伸缩杆210和第二刻度管220，所述第二伸缩杆210套设于所述第二刻度管220，具体地，所述第二伸缩杆210可以相对于所述第二刻度管220的长度延伸方向进行伸缩，从而实现所述第一水平调节杆200的水平宽度的调节。所述第二刻度管220上设置有刻度，用于为所述第二伸缩杆210的伸缩长度提供参考。
本实施例中，可以对所述第二伸缩杆210的调节幅度进行设计，例如，针对大部分测试环境，在保证低成本的情况下，所述第二伸缩杆210的调节幅度也可以设计成1-1.5m。此外，所述第二伸缩杆210和所述第二刻度管220的制造材料不作具体限制，优选的是，所述第二伸缩杆210和所述第二刻度管220可以采用高强度、低成本的金属材料，以在低成本的调节下保证其稳定性。
本实施例中，所述调平装置300用于对所述可调节测试支架10进行调平。作为一种实施方式，请参阅图4，所述调平装置300可以包括底杆310以及与底杆310相对的两端分别连接的脚螺旋320，所述底杆310上设置有水平气泡。
可选地，所述底杆310的长度不作具体限制，可以根据实际的设计需求进行设置。此外，所述脚螺旋320的数量也不作具体限制，作为优选，在所述底杆310的两端可以分别设置一个脚螺旋320。所述脚螺旋320可以用于所述可调节测试支架10的调平，也可以用于所述可调节测试支架10的“刹车”，也就是可以使所述可调节测试支架10停止移动。
可选地，所述水平气泡在所述底杆310表面上的设置位置不作具体限制，作为一种优选的实施方式，所述水平气泡可以设置在所述底杆310的中部位置处。
进一步地，请参阅图5，所述第二水平调节杆400可以包括第三刻度管420和两个第三伸缩杆410，所述第三刻度管420位于两个第三伸缩杆410之间，所述两个第三伸缩杆410分别套设于所述第三刻度管420的两端。
具体地，所述两个第三伸缩杆410可以相对于所述第三刻度管420的长度延伸方向进行伸缩，从而实现所述第二水平调节杆400的水平宽度的调节。所述第三刻度管420上设置有刻度，用于为所述第三伸缩杆410的伸缩长度提供参考。
本实施例中，可以对所述第三伸缩杆410的调节幅度进行设计，例如，针对大多数测试环境，在保证低成本的情况下，所述第三伸缩杆410的调节幅度可以设计成1-1.5m。此外，所述第三伸缩杆410和所述第三刻度管420的制造材料不作具体限制，优选的是，所述第三伸缩杆410和所述第三刻度管420可以采用高强度、低成本的金属材料，以在低成本的调节下保证其稳定性。
进一步地，请结合参阅图6，作为一种实施方式，所述测试连接杆500可以包括滑动伸缩杆510、第四刻度管520以及调平仪器盒子530。具体地，所述滑动伸缩杆510套设于所述第二水平调节杆400，所述第四刻度管520与所述滑动伸缩杆510连接，所述调平仪器盒子530与所述第四刻度管520连接。其中，所述调平仪器盒子530上设置有水平气泡，并包括有一云台，所述云台与所述测试连接杆500活动连接。所述云台可以用于连接至少一个用于测量待测物体的测试装置，并在相关控制设备的控制下进行多个方向角度的旋转，以使所述测试装置可以进行多个方向的测量。
可选地，所述云台与所述测试连接杆500的具体连接方式不作具体限制，只要能保证所述云台可以相对于所述测试连接杆500进行转动即可。作为一种优选的实施方式，所述云台和所述测试连接杆500可以通过铰链进行铰接。
可选地，以对所述滑动伸缩杆510的伸缩幅度进行设计，作为一种实施方式，所述滑动伸缩杆510的伸缩幅度可以设计成0.1m-0.2m。
进一步地，请参阅图7，为了实现所述第一水平调节杆200与所述两个高度调节杆100之间的可拆卸连接，作为一种实施方式，所述可调节测试支架10还可以包括第一连接件600。在本具体实施例中，所述第一连接件600可以包括用于套设所述第一水平调节杆200的第一通孔610、用于套设所述高度调节杆100的第二通孔620以及用于套设所述调平装置300的第三通孔630。基于以上设计，所述第一连接件600通过所述第一通孔610、第二通孔620以及第三通孔630可以实现所述第一水平调节杆200与所述两个高度调节杆100之间的可拆卸连接。其中，所述第一连接件600可以使得所述第一水平调节杆200的延伸方向、所述高度调节杆100的延伸方向以及所述调平装置300的延伸方向相互垂直。
进一步地，请参阅图8，为了实现所述第二水平调节杆400和所述两个高度调节杆100之间的可拆卸连接，作为一种实施方式，所述可调节测试支架10还可以包括第二连接件700。在本具体实施例中，所述第二连接件700可以包括用于套设所述第二水平调节杆400的第四通孔710以及用于套设所述高度调节杆100的第五通孔720。基于以上设计，所述第二连接件700通过所述第四通孔710以及第五通孔720可以实现所述第二水平调节杆400与所述两个高度调节杆100之间的可拆卸连接。其中，所述第一连接件600可以使得所述第二水平调节杆400的延伸方向与高度调节杆100的延伸方向相互垂直。
本发明较佳实施例还提供一种测量系统，所述测量系统包括测试装置以及上述的可调节测试支架10，所述测试装置设置在所述可调节测试支架10上用于对待测物体进行测量。
在本发明提供的技术方案中，需要统一说明的是，所述第一伸缩杆110与所述第一刻度管120之间、所述第二伸缩杆210与所述第二刻度管220之间、所述第三伸缩杆410与所述第三刻度管420之间或者所述滑动伸缩杆510与所述第四刻度管520之间的连接方式不作具体限制，只要保证所述第一伸缩杆110与所述第一刻度管120之间、所述第二伸缩杆210与所述第二刻度管220之间、所述第三伸缩杆410与所述第三刻度管420之间或者所述滑动伸缩杆510与所述第四刻度管520之间可以伸缩调节即可。作为一种优选的方式，所述第一伸缩杆110与所述第一刻度管120之间、所述第二伸缩杆210与所述第二刻度管220之间、所述第三伸缩杆410与所述第三刻度管420之间或者所述滑动伸缩杆510与所述第四刻度管520之间可以采用螺纹连接，采用螺纹连接的方式可以更加方便地进行伸缩调节，从而保证了所述可调节测试支架10调节的便利性。
综上所述，本发明实施例提供的可调节测试支架10及测量系统。所述可调节测试支架10包括：相对设置的用于进行高度调节的两个高度调节杆100；分别与所述两个高度调节杆100的底部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第一水平调节杆200，所述第一水平调节杆200与所述两个高度调节杆100的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置300；分别与所述两个高度调节杆100的顶部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第二水平调节杆400，所述第二水平调节杆400上设置有用于连接测试装置的测试连接杆500，所述测试连接杆500可在所述第二水平调节杆400的延伸方向以及与第二水平调节杆400的延伸方向相垂直的方向上滑动。基于上述设计，本发明提供的测试支架能够进行高度和宽度的调节，以适应多变的测试环境，并能够达到很好的稳定性。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (10)
1.一种可调节测试支架，其特征在于，所述可调节测试支架包括：
相对设置的用于进行高度调节的两个高度调节杆；
分别与所述两个高度调节杆的底部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第一水平调节杆，所述第一水平调节杆与所述两个高度调节杆的底部的连接位置处分别设置有用于进行支架调平的调平装置；
分别与所述两个高度调节杆的顶部可拆卸连接的用于进行水平宽度调节的第二水平调节杆，所述第二水平调节杆上设置有用于连接测试装置的测试连接杆，所述测试连接杆可在所述第二水平调节杆的延伸方向以及与所述第二水平调节杆的延伸方向相垂直的方向上滑动。
2.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述可调节测试支架还包括第一连接件，所述第一连接件包括用于套设所述第一水平调节杆的第一通孔、用于套设所述高度调节杆的第二通孔以及用于套设所述调平装置的第三通孔；
其中，所述第一水平调节杆的延伸方向、所述高度调节杆的延伸方向以及所述调平装置的延伸方向相互垂直。
3.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述可调节测试支架还包括第二连接件，所述第二连接件包括用于套设所述第二水平调节杆的第四通孔以及用于套设所述高度调节杆的第五通孔；
其中，所述第二水平调节杆的延伸方向与高度调节杆的延伸方向相互垂直。
4.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述高度调节杆包括第一伸缩杆和第一刻度管，所述第一伸缩杆套设于所述第一刻度管。
5.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述第一水平调节杆包括第二伸缩杆和第二刻度管，所述第二伸缩杆套设于所述第二刻度管。
6.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述第二水平调节杆包括第三刻度管和两个第三伸缩杆，所述第三刻度管位于两个第三伸缩杆之间，所述两个第三伸缩杆分别套设于所述第三刻度管的两端。
7.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述调平装置包括底杆以及与底杆两端分别连接的用于支架调平的脚螺旋，所述底杆上设置有水平气泡。
8.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述测试连接杆包括滑动伸缩杆、第四刻度管以及调平仪器盒子；
所述滑动伸缩杆套设于所述第二水平调节杆，所述第四刻度管与所述滑动伸缩杆连接，所述调平仪器盒子与所述第四刻度管连接；
所述调平仪器盒子上设置有水平气泡，并包括有一用于连接至少一个用于测量待测物体的测试装置的云台，所述云台与所述测试连接杆活动连接。
9.根据权利要求1所述的可调节测试支架，其特征在于，所述测试装置为激光位移测试装置。
10.一种测量系统，其特征在于，所述测量系统包括测试装置以及权利要求1-9中任意一项所述的可调节测试支架，所述测试装置设置在所述可调节测试支架上用于对待测物体进行测量。
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