CN106707130B - 一种igbt模块测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。上述IGBT模块测试装置，提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。
Description
技术领域
本发明涉及测试装置领域，特别涉及一种IGBT模块测试装置。
背景技术
在IGBT模块工艺流程中，为评估模块的电参数特性，需要对完成封装的IGBT模块进行测试。通常来说，通过母排端子将IGBT模块内部互连电路引出，以提供和外部电路测试和连接的端口。
在现有技术中，对于带针状端子的IGBT模块，由于针状端子的尺寸较小，且间距较窄，无法使用接触面积较大的弹簧探针对模块进行测试，且探针在与针状端子接触过程中，由于IGBT模块的定位偏差及接触打滑等因素，容易导致接触不良，影响IGBT模块的测试。无法确保针状端子与弹簧探针对准，容易导致探针与模块针状端子接触不良，进而影响IGBT模块测试。在运动过程中，由于在接触时可能会发生打滑，在这种应力的作用下，模块针状端子可能会发生变形，甚至断裂，而导致模块无法使用。
发明内容
本发明的目的是提供一种IGBT模块测试装置，该IGBT模块测试装置可以实现弹簧探针与IGBT模块良好的接触，提高测试的稳定性，并消除测试过程中，对模块针状端子产生的机械损伤。
为实现上述目的，本发明提供一种IGBT模块测试装置，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端。
相对于上述背景技术，本发明提供的IGBT模块测试装置，利用导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针相接触，由于水平端具有一定的长度，因此水平端与探针相接触时，探针在水平方向上可以有一定的误差或位移，只要探针位于水平端的区域范围之内，均可以实现对IGBT模块进行测试，这样一来，避免了现有技术中，由于针状端子和探针直接接触所导致的容易发生变形等事故；换句话说，本发明的核心在于将针状端子和探针之间类似于轴孔接触的方式改变为面面接触，即，在针状端子与探针之间设置导电片，且导电片的倾斜端和水平端分别与针状端子和探针的接触面积增大，进而提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子产生的机械损伤，延长了使用寿命。
优选地，还包括用以固定所述导电片的适配板，所述适配板设置于所述IGBT模块上。
优选地，所述适配板包括相互连接的上板和下板，所述上板设置用以将所述导电片固定于所述上板的定位块。
优选地，所述上板的上表面设置用以固定所述水平端的导电片定位槽；所述上板的下表面设置用以固定定位块的定位块定位槽；所述导电片还包括与所述水平端连接的侧边，底边分别连接于所述侧边和所述倾斜端，且所述导电片具体为能够供所述定位块嵌入的凹槽状；所述导电片定位槽与所述定位块定位槽之间设置有能够供所述水平端由所述下表面伸入所述导电片定位槽的通槽；所述下板设置用以供所述针状端子伸入并与所述倾斜端接触的扁平槽。
优选地，所述定位块为凸台，所述凸台的顶部通过所述通槽设置于所述上表面，且所述凸台的两侧卡接于所述定位块定位槽的两侧。
优选地，所述下板设置用以容纳所述底边的容纳槽。
优选地，所述容纳槽与所述底边涂胶粘贴。
优选地，还包括用以带动所述热板在竖直方向上运动的活塞缸。
优选地，所述导电片集成于注塑一体成型的所述上板与所述定位块中。
优选地，所述上板与所述下板可拆卸连接。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为IGBT模块的结构示意图；
图2为本发明实施例所提供的适配板的结构示意图；
图3为图2的底面的示意图；
图4为图2的爆炸示意图；
图5为图2中上板的上表面示意图；
图6为图2中上板的下表面示意图；
图7为图2中下板的上表面示意图；
图8为本发明实施例所提供的适配板与IGBT模块连接的示意图；
图9为图8与测试工装在检测过程中示意图。
其中：
1-针状端子、2-主导电端、3-上板、4-下板、5-导电片、6-紧固孔、7-扁平槽、8-定位块、9-容纳槽、10-导电片定位槽、11-定位块定位槽、12-水平端、13-倾斜端、14-测试工装、15-探针、16-主母排探针。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了使本技术领域的技术人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。
请参考图1至图9，图1为IGBT模块的结构示意图；图2为本发明实施例所提供的适配板的结构示意图；图3为图2的底面的示意图；图4为图2的爆炸示意图；图5为图2中上板的上表面示意图；图6为图2中上板的下表面示意图；图7为图2中下板的上表面示意图；图8为本发明实施例所提供的适配板与IGBT模块连接的示意图；图9为图8与测试工装在检测过程中示意图。
本发明提供的一种IGBT模块测试装置，主要包括热板，测试工装14以及导电片5。
IGBT模块的结构如说明书附图1所示。针状端子1位于IGBT模块本体的边缘，IGBT模块本体的两端设置主导电端2；IGBT模块固定于热板，热板的上表面设置限位槽等限位部件，且热板的底部设置气缸等活塞缸，带动热板与IGBT模块朝向竖直方向运动。
IGBT模块的上方设置有位置固定不动的测试工装14，测试工装14的结构如说明书附图9所示，测试工装14的底部设置探针15和主母排探针16，探针15用于与针状端子1导通，主母排探针16用于与主导电端2导通。
在测试过程中，热板与IGBT模块竖直向上运动，靠近测试工装14；本发明的核心在于，利用导电片5实现探针15与针状端子1的导通；具体来说，导电片5包括倾斜端13和水平端12，倾斜端13与针状端子1之间具有一定夹角，能够与针状端子1相接触，水平端12能够与探针15相接触，进而实现IGBT模块的电流依次通过针状端子1、导电片5和探针15进而实现测试工装14的测试工作。
探针15与针状端子1均竖直设置，而导电片5的倾斜端13相对于探针15与针状端子1具有一定的角度，进而可以增大倾斜端13与针状端子1之间的接触面积；导电片5的水平端12相对于探针15与针状端子1垂直，由于探针15的底部具有导电座，导电座的截面尺寸大于探针15的竖直本体的截面尺寸，因此探针15的导电座与水平端12之间的接触面积较大，且导电座可以在水平端12所处区域内移动，能够在一定程度上弥补热板和/或IGBT模块的运动误差。
探针15与针状端子1之间不直接接触，而是利用导电片5作为电能传输部件，有效降低探针15与针状端子1因直接接触而带来的损耗，有效延长IGBT模块测试装置的使用寿命。
由于导电片5的水平端12具有一定的长度，因此水平端12与探针15相接触时，探针15在水平方向上可以有一定的误差或位移，只要探针15位于水平端12的区域范围之内均可以实现对IGBT模块进行测试，这样一来，避免了现有技术中，由于针状端子和探针直接接触所导致的容易发生变形等事故。即，本发明的核心在于将针状端子1和探针15之间类似于轴孔接触的方式改变为面面接触，在针状端子1与探针15之间设置导电片5，且导电片5的倾斜端13和水平端12分别与针状端子1和探针15的接触面积增大，进而提高了测试的稳定性，并且消除了在测试过程中，对IGBT模块针状端子1产生的机械损伤，延长了使用寿命。
本发明可以将导电片5固定于适配板，并且适配板设置于IGBT模块的上方，如说明书附图9所示。导电片5通过适配板相对于IGBT模块的位置保持固定，在测试过程中，热板、IGBT模块、适配板以及导电片5同步竖直向上运动，靠近测试工装14，实现测试工作。
为了固定导电片5的适配板可以根据实际需要设置为不同形状，只要其能够固定导电片5且与IGBT模块保持相对位置固定即可。
本发明更为具体地，适配板包括相互连接的上板3和下板4，上板2设置用以将导电片5固定于上板3的定位块8。定位块8的形状构造可以根据实际需要而定。
本发明给出一种最优实施方式：上板3的上表面设置用以固定水平端12的导电片定位槽10；上板3的下表面设置用以固定定位块8的定位块定位槽11；如说明书附图4至附图6所示。
水平端12的长度较长，上板3的上表面设置导电片定位槽10，供水平端12位于其中，限制水平端12的位置移动。上板3的下表面设置定位块定位槽11，用于确保定位块8相对于上板3的位置固定。
导电片5设置为附图4所示的形状，导电片5包括水平端12、倾斜端12、侧边和底边；底边的一侧设置倾斜端12、另一侧设置侧边和水平端12，且水平端12位于侧边的顶部，使得导电片5呈凹槽状；导电片5可以通过金属板折弯而成。
呈凹槽状的导电片5可以供定位块8嵌入其凹槽内，并且定位块定位槽11与导电片定位槽10之间具有通槽，用于将定位块定位槽11与导电片定位槽10贯通。
当定位块8与导电片5从上板3的下表面由下自上嵌入定位块定位槽11时，导电片5的水平端12首先从通槽伸出，穿过上板3，而后在定位块8与定位块定位槽11的配合下，水平端12位于导电片定位槽10内，且定位块8与定位块定位槽11配合，完成导电片5相对于上板3的固定。
导电片5相对于上板3固定之后，导电片5的底边位于定位块8的下方；在定位块8的挤压力下，导电片5的侧边与通槽贴合，导电片5的倾斜端12与定位块定位槽11贴合，且导电片5的水平端12位于导电片定位槽10内；即，导电片5的三面均受力，进而确保导电片5与上板3的相对位置固定。
定位块8嵌入定位块定位槽11内，由于上板3与下板4相互连接，在下板4上表面的作用下，确保定位块8相对于上板3的位置固定；本发明优选将上板3与下板4紧密贴合设置。
下板4还设置用以供针状端子1伸入并与倾斜端13接触的扁平槽7。扁平槽7贯穿下板4的上下表面，用于供IGBT模块的针状端子1伸出，如说明书附图3所示；扁平槽7的位置应位于导电片5的倾斜端12所在位置；当针状端子1从扁平槽7穿出时，能够伸入定位块定位槽11内，且与导电片5的倾斜端12相接触，从而实现供IGBT模块的电能传递至导电片5，实现测试工作。
针对定位块8的形状构造，可以设置为如说明书附图4所示。定位块8为凸台，凸台的顶部通过通槽设置于上板1的上表面，且凸台的两侧卡接于定位块定位槽11的两侧。可以看出，为了配合定位块8的形状构造，定位块定位槽11也可设置相应的形状；当然，定位块8还可以有其他设置方式，相应地定位块定位槽11也应对应设置。
导电片5固定于上板3之后，导电片5的底边可以突出于上板3的下表面，即导电片5的底边低于上板3的下表面；当上板3与下板4紧密贴合时，可以在下板4的上表面设置容纳槽9，用于容纳底边，确保上板3与下板4之间的配合可靠，如说明书附图4与说明书附图7所示。容纳槽9与导电片5的底边可以涂胶粘贴，用于确保IGBT模块测试装置的结构可靠。
导电片5还可以集成于注塑一体成型的上板3与定位块8中，确保适配板的结构整体可靠。
上板3与下板4之间可以采用可拆卸连接的方式，如说明书附图2所示，上板3与下板4均设置紧固孔6，用于供螺栓穿过，拧紧上板3与下板4。
采用本发明所提供的IGBT模块测试装置，其测试步骤如下：
首先，将适配板与IGBT模块组装，以将IGBT模块的针状端子1引出到适配板的上表面，即上板3的上表面，如说明书附图8所示；
其次，将IGBT模块放置在测试工装14的热板上，通过热板的向上运动，使IGBT模块与测试工装14接触，测试工装14的探针5接触上板3的上表面的水平端12，在压力的作用下同时将IGBT模块与适配板进一步卡紧，形成良好的接触；
最后，测试设备启动，进行测试。
采用本发明的IGBT模块测试装置，可以有效解决针状端子模块测试过程中，探针与针状端子接触不稳定的问题，有效提高测试效率及测试的稳定性。
以上对本发明所提供的IGBT模块测试装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (7)
1.一种IGBT模块测试装置，其特征在于，包括具有探针且位置固定的测试工装，还包括用以固定IGBT模块的热板，所述热板能够带动所述IGBT模块向所述测试工装的方向运动，以实现所述IGBT模块的针状端子与所述探针接触，所述针状端子与所述探针之间设置导电片，且所述导电片包括用以与所述针状端子相接触的倾斜端和用以与所述探针相接触的水平端；
还包括用以固定所述导电片的适配板，所述适配板设置于所述IGBT模块上；
所述适配板包括相互连接的上板和下板，所述上板设置用以将所述导电片固定于所述上板的定位块；
所述上板的上表面设置用以固定所述水平端的导电片定位槽；所述上板的下表面设置用以固定定位块的定位块定位槽；所述导电片还包括与所述水平端连接的侧边，底边分别连接于所述侧边和所述倾斜端，且所述导电片具体为能够供所述定位块嵌入的凹槽状；所述导电片定位槽与所述定位块定位槽之间设置有能够供所述水平端由所述下表面伸入所述导电片定位槽的通槽；所述下板设置用以供所述针状端子伸入并与所述倾斜端接触的扁平槽。
2.根据权利要求1所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述定位块为凸台，所述凸台的顶部通过所述通槽设置于所述上表面，且所述凸台的两侧卡接于所述定位块定位槽的两侧。
3.根据权利要求2所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述下板设置用以容纳所述底边的容纳槽。
4.根据权利要求3所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述容纳槽与所述底边涂胶粘贴。
5.根据权利要求1～4任意一项所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，还包括用以带动所述热板在竖直方向上运动的活塞缸。
6.根据权利要求1～4任意一项所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述导电片集成于注塑一体成型的所述上板与所述定位块中。
7.根据权利要求1～4任意一项所述的IGBT模块测试装置，其特征在于，所述上板与所述下板可拆卸连接。
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Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111025109A (zh) * | 2019-11-21 | 2020-04-17 | 合肥科威尔电源系统股份有限公司 | 一种半导体器件测试自动化工装及测试箱体 |
| CN110954803A (zh) * | 2019-11-21 | 2020-04-03 | 合肥科威尔电源系统股份有限公司 | 一种半导体器件测试系统及其测试方法 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN2545713Y (zh) * | 2002-05-13 | 2003-04-16 | 范伟芳 | 模组化集成电路插座 |
| CN1447125A (zh) * | 2002-03-21 | 2003-10-08 | 安捷伦科技有限公司 | 用于使测试仪与被测器件面接的适配器方法和装置 |
| CN202975054U (zh) * | 2012-11-08 | 2013-06-05 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 用于承载待测试电子装置的治具 |
| CN103675622A (zh) * | 2013-12-04 | 2014-03-26 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 用于测试igbt模块的局部放电的装置和方法 |
| CN103703381A (zh) * | 2011-08-01 | 2014-04-02 | 东京毅力科创株式会社 | 功率器件用的探针卡 |
| CN204271173U (zh) * | 2014-12-16 | 2015-04-15 | 苏州易美新思新能源科技有限公司 | 一种支持电池包大功率应用的汇流排 |
| CN204760358U (zh) * | 2015-06-10 | 2015-11-11 | 哈尔滨佳度科技发展有限公司 | 一种用于ipm和igbt测试的适配器 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7045884B2 (en) * | 2002-10-04 | 2006-05-16 | International Rectifier Corporation | Semiconductor device package |
| JP6417758B2 (ja) * | 2014-07-07 | 2018-11-07 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
-
2017
- 2017-01-04 CN CN201710004029.0A patent/CN106707130B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1447125A (zh) * | 2002-03-21 | 2003-10-08 | 安捷伦科技有限公司 | 用于使测试仪与被测器件面接的适配器方法和装置 |
| CN2545713Y (zh) * | 2002-05-13 | 2003-04-16 | 范伟芳 | 模组化集成电路插座 |
| CN103703381A (zh) * | 2011-08-01 | 2014-04-02 | 东京毅力科创株式会社 | 功率器件用的探针卡 |
| CN202975054U (zh) * | 2012-11-08 | 2013-06-05 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 用于承载待测试电子装置的治具 |
| CN103675622A (zh) * | 2013-12-04 | 2014-03-26 | 株洲南车时代电气股份有限公司 | 用于测试igbt模块的局部放电的装置和方法 |
| CN204271173U (zh) * | 2014-12-16 | 2015-04-15 | 苏州易美新思新能源科技有限公司 | 一种支持电池包大功率应用的汇流排 |
| CN204760358U (zh) * | 2015-06-10 | 2015-11-11 | 哈尔滨佳度科技发展有限公司 | 一种用于ipm和igbt测试的适配器 |
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Address after: 412001 Room 309, floor 3, semiconductor third line office building, Tianxin hi tech park, Shifeng District, Zhuzhou City, Hunan Province Patentee after: Zhuzhou CRRC Times Semiconductor Co., Ltd. Country or region after: China Address before: 412005 Room 309, floor 3, semiconductor third line office building, Tianxin hi tech park, Shifeng District, Zhuzhou City, Hunan Province Patentee before: Zhuzhou CRRC times Semiconductor Co.,Ltd. Country or region before: China |