CN105954589A - 一种多芯片系统的相位测量方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供的一种多芯片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段(即计时值)，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，无需设置中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。

Description

一种多芯片系统的相位测量方法及装置

技术领域

本发明涉及电参量测量技术领域，更具体地说，涉及一种多芯片系统的相位测量方法及装置。

背景技术

在电参量测量应用中(例如智能插座、智能家电、智能电表等)，常常会采用计量模块与主控微控制器(MCU)模块分离的实现方案，尤其在三相计量系统设计中，由三颗计量芯片和一颗MCU组成的三相电能计量系统是主流应用解决方案之一，由于该系统电流传感器都采用锰铜传感器，因此，这种系统也被业内叫为三相三锰铜电能计量系统。

在三相三锰铜电能计量系统中，由于每一相的电流和电压都有单独的供电、传感和计量芯片，不同相电流或电压之间的相位测量需要通过间接的方式获得。以不同相电压之间的相位测量为例，通常在任一相输出的电压信号过零时，由对应计量芯片利用其中断管脚通过隔离电路向主控MCU的中断响应管脚输出中断，进而，通过不同计量芯片输出中断的时间的不同，计算不同计量芯片对应的电压之间的相位差。但是这种实现方式中每个计量芯片与主控MCU之间都需要通过计量芯片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔离电路实现，无论是隔离电路成本还是计量芯片和主控MCU的管脚开销都很大，因此，会造成实现成本较高。

综上所述，现有技术用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测量的技术方案存在成本较高的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种多芯片系统的相位测量方法及装置，以解决现有技术中用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测量的技术方案存在的成本较高的问题。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种多芯片系统的相位测量方法，包括：

以广播模式发起相位测量命令；

读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；

确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

优选的，还包括：

读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；

所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：

确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

优选的，利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值，包括：

如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

优选的，读取每个计量芯片对应的计时值，包括：

查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。

优选的，所述计量芯片包括对应于同一供电装置的两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；所述电压信号和所述电流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。

优选的，所述计量芯片包括一一对应于不同供电装置的多个计量芯片，其中，读取到的每个计量芯片的计时值均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；每个所述计量芯片对应的交流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。

一种多芯片系统的相位测量装置，包括：

广播模块，用于以广播模式发起相位测量命令；

第一读取模块，用于读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；

计算模块，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

优选的，还包括：

第二读取模块，用于读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

插值模块，用于利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；

所述计算模块，包括：

计算单元，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

优选的，插值模块包括：

第一插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

第二插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

优选的，第一读取模块包括：

读取单元，用于查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。

本发明提供的一种多芯片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段，即计时值，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，无需通过计量芯片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔离电路实现中断，因此，无需设置上述中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法的流程图；

图2为本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，其示出了本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法，可以包括以下步骤：

S11：以广播模式发起相位测量命令。

需要说明的是，本发明实施例中的一种多芯片系统可以是包括有多个计量芯片的电能计量系统，其主控MCU的数量可以为一个，具体来说，本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法的执行主体可以为主控MCU。且，计量芯片与主控MCU之间的通信协议支持广播模式通信，由此，主控MCU可以通过与计量芯片间的物理通信接口(比如SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)通信或UART(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter，通用异步收发传输器)通信)，采用广播模式发起相位测量命令；由此，不同的计量芯片几乎可以在同一时刻接收到相位测量命令，进而响应该命令实现对应的操作。

S12：读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段。

每个计量芯片由接收到相位测量命令之后开始计时，并观测其对应的交流信号是否发生过零，如果是，则停止计时，此时，计时过程中对应的时间段即为该计量芯片的计时值，计量芯片可以将计时值进行记录存储，以供获取。其中，对于交流信号的观测，通常是通过对交流信号进行采样实现的，即对交流信号进行采样，得到多个采样值，进而根据采样值的变化确定其对应的交流信号是否发生过零；具体来说，过零包括正向过零和负向过零，正向过零即为交流信号的采样值由负数变为正数，负向过零即为交流信号的采样值由正数变为负数。需要说明的是，通常情况下，步骤S12中涉及的过零可以为一种形式的过零，即全部交流信号均为正向过零或者均为负向过零，由此，能够以最简单的方式由不同计量芯片对应的计时值计算得到相位差；当然，也可以不为一种形式的过零，但是，需要预先获知每个计量芯片为哪种形式的过零，且计算较复杂。

另外，可以在经过一个交流信号的周期后，开始读取每个计量芯片对应的计时值。

S13：确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

需要说明的是，计时值的绝对差值即为计时值的差值的绝对值，其中，绝对差值与相位差的关系可以表示为：Δt＝(Δλ/360)×T。其中，Δt表示绝对差值，Δλ表示相位差，T表示交流信号的周期。对应的，预设系数可以为：360/T。

本申请公开的一种多芯片系统的相位测量方法中，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段，即计时值，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，由此，仅需利用计量芯片与主控MCU之间已经存在的物理通信接口实现相位测量命令的发起及计时值的读取即可，无需通过计量芯片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔离电路实现中断，因此，无需设置上述中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。

另外，采用背景技术中的方案实现对于不同相交流信号的相位测量还存在过零中断频繁的缺点(以50Hz交流信号为例，每个芯片每20毫秒就会中断一次)，因此，需要主控MCU具有很强的处理能力；且，受限于主控MCU对于中断的响应速度，会造成测量准确度较低的问题。通过本申请公开的上述技术方案，无需主控MCU响应中断，因此，大大降低了对于主控MCU的能力要求，进一步降低了成本；同时，无需受限于主控MCU对于中断的响应速度，大大提高了测量准确度。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法中，还可以包括：

读取每个计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，第一采样值及第二采样值分别为计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

利用每个计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个计量芯片对应的修正计时值。

在交流信号发生过零时，对应的计量芯片记录存储交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值(即第一采样值)和交流信号发生过零时之后第一个交流信号采样值(即第二采样值)。具体来说，可以将上述第一采样值和第二采样值存储至不同的寄存器中，以方便读取。

需要说明的是，读取第一采样值和第二采样值的步骤可以与读取计时值的步骤同时进行，可以在读取计时值的步骤之前，也可以在读取计时值的步骤之后，具体可以根据实际需要进行确定，均在本发明的保护范围之内。

对应的，确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，可以包括：

确定任两个计量芯片分别对应的修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

考虑到相位测量中测量准确度很大程度上取决于计量芯片对于每个周期的交流信号(简称周波)的采样点数，理论上，每个周波的采样点数越多，对应的测量准确度越高，但是计量芯片的成本也越高。因此，本申请中，对于每个周波的采样点数确定的芯片，可以根据每个芯片记录的第一采样值和第二采样值对计时值进行插值计算，进而利用差值计算后的计时值进行相位差的计算，由此，能够大大提升测量准确度。

具体来说，利用每个计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个计量芯片对应的修正计时值，可以包括：

如果计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

如果计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

其中，T/N即为测量分辨率，通过对计时值进行上述差值计算，能够使得计时值更接近于真正的计时值，进而能够大大提升相位测量的测量准确度。其中，真正的计时值即为开始计时至交流信号发生过零时刻点间的时间段，而本申请中其他计时值中交流信号发生过零是根据采样点的正负确定的，因此，需要通过上述步骤提高计时值的准确性。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法中，读取每个计量芯片对应的计时值，可以包括：

查询每个计量芯片中的中断标记信息，如果中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当计量芯片对应的交流信号发生过零时中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。

需要说明的是，当交流信号发生过零时，停止计时的同时可以产生中断，并在中断寄存器中置中断标志位，即将对应的中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息，由此，主控MCU可以先查询每个计量芯片的中断寄存器，并在中断寄存器中的中断标记信息为已产生中断的中断标记信息时，读取对应的计时值。

另外需要说明的是，通过本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法，能够适用于多相系统(如背景系统中的三相三锰铜电能计量系统)中不同相电压之间的相位差或者不同相电流之间的相位差，此时，计量芯片可以包括一一对应于不同供电装置的多个计量芯片，其中，读取到的每个计量芯片的计时值可以均为计量芯片由接收到相位测量命令至供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者可以均为计量芯片由接收到相位测量命令至供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；每个计量芯片对应的交流信号发生的过零可以均为正向过零或者均为负向过零。

也能够适用于一个单相系统中同一相的电流和电压之间的相位差，此时，计量芯片可以包括对应于同一供电装置的两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值可以为该计量芯片由接收到相位测量命令至供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片的计时值可以为该计量芯片由接收到相位测量命令至供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；电压信号和电流信号发生的过零可以均为正向过零或者均为负向过零。

当然，也可以根据实际需要进行其他应用，均在本发明的保护范围之内。

本发明实施例还提供了一种多芯片系统的相位测量装置，如图2所示，可以包括：

广播模块11，用于以广播模式发起相位测量命令；

第一读取模块12，用于读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；

计算模块13，用于确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量装置，还可以包括：

第二读取模块，用于读取每个计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，第一采样值及第二采样值分别为计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

插值模块，用于利用每个计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个计量芯片对应的修正计时值；

计算模块可以包括：

计算单元，用于确定任两个计量芯片分别对应的修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量装置，插值模块可以包括：

第一插值单元，用于如果计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

第二插值单元，用于如果计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量装置，第一读取模块可以包括：

读取单元，用于查询每个计量芯片中的中断标记信息，如果中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当计量芯片对应的交流信号发生过零时中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。

本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量装置中相关部分的说明请参见本发明实施例提供的一种多芯片系统的相位测量方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种多芯片系统的相位测量方法，其特征在于，包括：

以广播模式发起相位测量命令；

读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；

确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；

所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：

确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值，包括：

如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，读取每个计量芯片对应的计时值，包括：

查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计量芯片包括对应于同一供电装置的两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；所述电压信号和所述电流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计量芯片包括一一对应于不同供电装置的多个计量芯片，其中，读取到的每个计量芯片的计时值均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者均为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段；每个所述计量芯片对应的交流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。

7.一种多芯片系统的相位测量装置，其特征在于，包括：

广播模块，用于以广播模式发起相位测量命令；

第一读取模块，用于读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；

计算模块，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

第二读取模块，用于读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；

插值模块，用于利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值；

所述计算模块，包括：

计算单元，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，插值模块包括：

第一插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{11}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

第二插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值进行插值计算：

$T{1}^{\′}=T1-\frac{\left|R_{12}\right|}{\left|R_{11}\right|+\left|R_{12}\right|}+\frac{T}{N}$

其中，T1'表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时值，R₁₁表示该计量芯片对应的第一采样值，R₁₂表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点数。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，第一读取模块包括：

读取单元，用于查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值；其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。