CN105810148A - 有机发光显示设备 - Google Patents

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Abstract

一种有机发光显示设备包括:显示面板,包括多个像素;扫描驱动器,被配置为向像素提供扫描信号;数据驱动器,被配置为向像素提供数据信号;查找表(LUT),其中表明累积驱动时间和效率值之间的关系的效率曲线被存储在LUT中;使用寿命寄存器,其中用于从LUT导出像素中的每一个的效率值的效率改变区域被存储在使用寿命寄存器中,并且使用寿命寄存器被配置为累积存储像素的劣化数据;以及控制器,被配置为从使用寿命寄存器导出累积驱动时间,以基于累积驱动时间更新效率改变区域和LUT,使用效率改变区域和LUT将输入图像数据转换成输出图像数据。

Description

有机发光显示设备
技术领域
本发明的示例实施例涉及有机发光显示设备和驱动有机发光显示设备的方法。
背景技术
有机发光二极管(OLED)包括位于两个电极,即阳极和阴极,之间的有机层。来自阳极的带正电荷的空穴和来自阴极的电子在位于阳极和阴极之间的有机层中复合来发射光。OLED具有多种特性,诸如宽视角、快响应速度、相对薄的厚度和低功耗。
通常,具有OLED的像素可以根据驱动时间和驱动数据的量随时间劣化。当像素劣化时,像素的亮度可能降低。因此,显示设备的显示质量可能会由于像素之间的劣化程度的差异而随时间下降。
已经开发出各种补偿OLED显示设备中的像素的劣化的方法来防止亮度降低和显示质量下降。然而,补偿像素的劣化的方法受限于诸如寄存器的容量、查找表的存储容量等的资源。因此,补偿劣化数据的方法有一些问题,诸如在劣化初期补偿不正确、寿命保证时间有限等等。
发明内容
示例实施例提供了一种能够正确地补偿像素的劣化并延长显示设备的使用寿命的有机发光显示设备。
示例实施例提供了一种驱动有机发光显示设备的方法。
根据一些示例实施例,有机发光显示设备包括:显示面板,包括多个像素;扫描驱动器,被配置为向像素提供扫描信号;数据驱动器,被配置为向像素提供数据信号;查找表(LUT),其中表明累积驱动时间和效率值之间的关系的效率曲线被存储在LUT中;使用寿命寄存器,其中用于从LUT导出像素中的每一个的效率值的效率改变区域被存储在使用寿命寄存器中,并且使用寿命寄存器被配置为累积存储像素的劣化数据;以及控制器,被配置为从使用寿命寄存器导出累积驱动时间,以基于累积驱动时间更新效率改变区域和LUT,使用效率改变区域和LUT将输入图像数据转换成输出图像数据,并且将与输出图像数据对应的控制信号提供到扫描驱动器和数据驱动器。
控制器可以包括:劣化数据控制器,被配置为基于输入图像数据在使用寿命寄存器中累积存储劣化数据;更新信号生成器,被配置为基于累积驱动时间生成更新信号;补偿标准更新器,被配置为响应于更新信号更新效率改变区域和LUT,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加;效率值导出器,被配置为使用效率改变区域和LUT导出效率值;以及劣化补偿器,被配置为使用效率值将输入图像数据转换成输出图像数据。
更新信号生成器可以被配置为当被包括在使用寿命寄存器中的监视区域的值被改变时生成更新信号。
监视区域的大小可以是一个比特,并且当监视区域的值被改变时,监视区域可以被移位一个比特。
监视区域的大小可以大于一个比特。
补偿标准更新器可以响应于更新信号将效率改变区域移位一个比特。
补偿标准更新器可以被配置为响应于更新信号从非易失性存储器设备加载与效率改变区域对应的效率曲线到LUT。
控制器可以进一步包括:效率曲线调整器,被配置为与效率改变区域对应缩放效率曲线,并且补偿标准更新器可以被配置为响应于更新信号使用经缩放的效率曲线更新LUT。
效率曲线调整器可以被配置为响应于更新信号缩放效率曲线,以大致加倍效率改变周期。
补偿标准更新器可以被包括在微控制单元(MCU)中。
效率值导出器可以被配置为使用效率改变区域的值作为LUT的索引从LUT导出效率值。
劣化补偿器可以被配置为使用效率值导出针对像素中的每一个的补偿权重,并且通过将输入图像数据乘以补偿权重生成输出图像数据。
劣化数据控制器可以被配置为周期性地从使用寿命寄存器读取劣化数据,并且将劣化数据存储在非易失性存储器设备中。
劣化数据控制器可以被配置为在预定时间从使用寿命寄存器读取劣化数据,并且将劣化数据存储在非易失性存储器设备中。
像素中的每一个的劣化数据可以被存储在使用寿命寄存器中。
多个像素块中的每个像素块的劣化数据可以被存储在使用寿命寄存器中。
根据一些示例实施例,在一种驱动有机发光显示设备的方法中,该方法包括:基于输入图像数据在使用寿命寄存器中累积存储像素的劣化数据;从使用寿命寄存器导出像素的累积驱动时间;基于累积驱动时间生成更新信号;响应于更新信号更新使用寿命寄存器中的效率改变区域和查找表(LUT),使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加,在该LUT中存储有表明累积驱动时间和效率值之间的关系的效率曲线;使用效率改变区域的值作为LUT的索引从LUT导出像素中的每一个的效率值;使用效率值将输入图像数据转换成输出图像数据;以及使用输出图像数据显示图像。
当使用寿命寄存器中的监视区域的值被改变时可以生成更新信号。
效率改变区域可以响应于更新信号被移位一个比特。
对应于效率改变区域的效率曲线可以响应于更新信号从非易失性存储器设备加载到LUT中。
效率曲线可以响应于更新信号被缩放,以更新LUT。
效率曲线可以响应于更新信号被缩放,以大致加倍效率改变周期。
根据示例实施例的有机发光显示设备基于累积驱动时间更新效率改变区域和LUT。因此,有机发光显示设备补偿(例如正确地补偿)像素的劣化,特别是在劣化初期。有机发光显示设备使用持续更新的劣化数据确保表明能够补偿像素的劣化的时间的寿命保证时间。
此外,根据示例实施例的驱动有机发光显示设备的方法更新效率改变区域和LUT,使得效率改变周期随累积驱动时间的增加而增加。因此,驱动有机发光显示设备的方法防止或减少残像的出现,并相对长时间保持显示质量。
附图说明
下面将参考其中示出了各种实施例的附图更充分地描述示例实施例。
图1是示出了根据示例实施例的有机发光显示设备的框图。
图2是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的控制器的一个示例的框图。
图3是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的使用寿命寄存器的图。
图4是示出了被存储在图1的有机发光显示设备的LUT中的效率曲线的曲线图。
图5是示出了使用寿命寄存器的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。
图6是示出了与图5的使用寿命寄存器对应的效率曲线的曲线图。
图7是用于描述使用图5的使用寿命寄存器的监视区域生成更新信号的操作的图。
图8是示出了更新图5的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。
图9是示出了与图8的使用寿命寄存器对应的效率曲线的曲线图。
图10是用于描述使用图8的使用寿命寄存器的监视区域生成更新信号的操作的图。
图11是示出了更新图8的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。
图12是示出了对应于图11的使用寿命寄存器的效率曲线的曲线图。
图13是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的控制器的另一示例的框图。
图14是示出了根据示例实施例的驱动有机发光显示设备的方法的流程图。
具体实施方式
下面将参考其中示出了各种实施例的附图更充分地描述示例实施例。下面将参考附图更详细地描述示例实施例,其中贯穿全文相同的附图标记指代相同的元件。因此,对于本领域普通技术人员来说对于完整地理解本发明的方面和特征不是必需的过程、元件和技术可能不被描述。除非另有说明,贯穿附图和书面描述,相同的附图标记指代相同的元件,并且因此其描述将不再重复。在图中,元件、层和区域的相对尺寸可能为了清楚而被夸大。
将理解的是,虽然术语“第一”、“第二”、“第三”等可以在本文中用来描述各种元件、组件、区域、层和/或部分,但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应该受这些术语的限制。这些术语用来区分一个元件、组件、区域、层或部分与另一个元件、组件、区域、层或部分。因此,下面描述的第一元件、组件、区域、层或部分可以被称为第二元件、组件、区域、层或部分,而不脱离本发明的精神和范围。
出于易于说明的目的,在本文中可能使用诸如“之下”、“下方”、“下”、“下面”、“上方”、“上”等的空间相关术语来描述如图中所示的一个元件或特征相对于另一个元件或特征的关系。将理解的是,除了图中描述的方位之外,空间相关术语意在包含装置在使用或操作中的不同方位。例如,如果图中装置被翻转,则被描述为在其它元件或特征“下方”、“之下”或“下面”的元件将被定向为在其它元件或特征的“上方”。因此,示例术语“下方”和“下面”可以包含上方和下方两种方位。设备可以被另外定向(例如旋转90度或者在其它方位),本文使用的空间相关描述符应该进行相应的解释。
将理解的是,当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“被连接到”或“被联接到”另一元件或层时,该元件或层可以直接在另一元件或层上,被直接连接到或联接到另一元件或层,或者可以存在中间元件或中间层。另外,还将理解的是,当元件或层被称为在两个元件或层“之间”时,该元件或层可以是这两个元件或层之间的唯一元件或层,或者也可以存在一个或多个中间元件或中间层。
本文使用的术语仅用于描述特定的实施例,并不旨在限制本发明。如本文所用,单数形式的“一”旨在也包括复数形式,除非上下文另有明确说明。将进一步理解的是,当在本说明书中使用术语“包括”和“包含”时,其指明存在所陈述的特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但不排除存在或添加一个或多个其它特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。如本文所用,术语“和/或”包括相关联的所列项目的一个或多个的任意和所有组合。当诸如“至少一个”的表述被放在一列元件之前时,其修饰的是整列元件,而不是修饰该列中的个别元件。
如本文所用,术语“基本上”、“大约”和类似术语被用作近似的术语,而不是作为程度的术语,并且旨在解释本领域普通技术人员公认的在测量或计算的值中的固有偏差。此外,当描述本发明的实施例时,使用“可以”指的是“本发明的一个或多个实施例”。如本文所用,术语“使用”和“被使用”可以被认为分别与术语“利用”和“被利用”同义。并且,术语“示例性”意在指示例或例示。
根据在本文中描述的本发明实施例的电子或电设备和/或任何其它相关设备或组件可以利用任何合适的硬件、固件(例如专用集成电路)、软件、或软件、固件和硬件的组合来实现。例如,这些设备的各种组件可以被形成在一个集成电路(IC)芯片上或分离的IC芯片上。此外,这些设备的各种组件可以在柔性印刷电路膜、带载封装(TCP)、印刷电路板(PCB)上实现,或者被形成在一个基板上。此外,这些设备的各种组件可以是在一个或多个计算设备中一个或多个处理器上运行的、执行计算机程序指令并与其它系统组件交互以执行本文所述各功能的进程或线程。计算机程序指令被存储在可用标准存储设备在计算设备中实现的存储器中,诸如例如随机存取存储器(RAM)。计算机程序指令还可以被存储在其它的非临时性计算机可读介质中,诸如例如CD-ROM、闪存驱动器等。此外,本领域技术人员应认识到各种计算设备的功能可以被结合或集成到单个计算设备,或特定计算设备的功能可以在一个或多个其它计算设备上分布,而不脱离本发明的示例性实施例的精神和范围。
除非另有定义,本文使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域的普通技术人员所通常理解的相同含义。将进一步理解,例如那些在常用字典中定义的术语应该被解释为具有与它们在相关领域和/或本说明书的上下文的含义一致的含义,并且不应以理想化或过于形式的意义来解释,除非在本文中明确地如此定义。
图1是示出了根据示例实施例的有机发光显示设备的框图。
参考图1,有机发光显示设备1000可以包括显示面板100、扫描驱动器200、数据驱动器300、控制器400、使用寿命寄存器480、查找表(LUT)490和非易失性存储器设备500。
显示面板100可以包括多个像素PX。显示面板100可以经由扫描线SL1至SLn被联接到扫描驱动器200。显示面板100可以经由数据线DL1至DLm被联接到数据驱动器300。由于像素PX被布置在与扫描线SL1至SLn和数据线DL1至DLm的交叉点对应的位置,显示面板100可以包括n×m个像素PX。
扫描驱动器200可以经由扫描线SL1至SLn向像素PX提供扫描信号。
数据驱动器300可以经由数据线DL1至DLm向像素PX提供数据信号。
像素PX的劣化数据可以在显示面板100被驱动时被累积存储在使用寿命寄存器480中。因此,劣化数据可以通过将存储在使用寿命寄存器480中的劣化数据和包括在输入图像数据DATA中的帧数据相加而累积存储在使用寿命寄存器480中。
在一个示例实施例中,每个像素PX的劣化数据可以被存储在使用寿命寄存器480中。为了正确地补偿像素PX的劣化,劣化数据可以以像素为单位存储在使用寿命寄存器480中。在另一示例实施例中,每个像素块的劣化数据可以被存储在使用寿命寄存器480中。由于制造成本和功耗可能随着劣化数据的容量增加而增加,劣化数据可以以像素块为单位存储在使用寿命寄存器480中,以减少制造成本和功耗。例如,每个像素块可以包括被布置成4×4方阵的16个像素。与每个像素块对应的输入图像数据DATA的平均值可以作为劣化数据被存储在使用寿命寄存器480中。使用寿命寄存器480的大小可以考虑寿命保证时间和存储器访问带宽来确定。
此外,使用寿命寄存器480可以包括用于从LUT490导出像素PX的效率值的效率改变区域。在下文中将参考图3更详细地描述使用寿命寄存器480的结构。
表明像素PX的累积驱动时间和效率值之间的关系的效率曲线可以被存储在LUT490中。因此,效率曲线显示像素PX根据累积驱动时间的亮度劣化。由于LUT490的容量可能有限,效率曲线可以包括根据具有预定间隔(例如效率改变周期)的累积驱动时间的效率值。因此,效率值可以从LUT490通过插值技术导出。
LUT490可以是易失性存储器设备。易失性存储器设备在没有电力供给时不能维持数据。然而,易失性存储器设备可相对快速地读取或写入数据。例如,LUT490可以包括动态随机存取存储器(DRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、移动DRAM等。
LUT490可以由控制器400更新,以正确地补偿像素PX的劣化,特别是在劣化初期,并且充分地确保寿命保证时间。在下文中将参考图4更详细地描述被存储在LUT490中的效率曲线。
控制器400可以基于累积驱动时间更新效率改变区域和LUT490。累积劣化数据可以被转换成作为时间概念的累积驱动时间。例如,累积驱动时间可以通过将累积劣化数据除以与最大亮度对应的最大帧数据来计算。因此,当控制器400在累积驱动时间期间连续接收最大帧数据时,累积劣化数据可以作为累积驱动时间被存储在使用寿命寄存器480中。控制器400可以通过监视使用寿命寄存器480确定是否需要更新效率改变区域和LUT490。
在一个示例实施例中,当被包括在使用寿命寄存器480中的监视区域的值改变时,控制器400可以更新效率改变区域和LUT490。控制器400可以更新效率改变区域和LUT490,以使效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。
在累积驱动时间相对小的第一区域中,由于像素PX的效率下降可能相对大,从LUT490利用插值技术导出的效率值可能有错误。因此,在累积驱动时间相对小的第一区域中,为了使用插值技术正确地补偿像素PX的劣化,效率改变区域和LUT490可以被更新使得效率改变周期相对短。
可替代地,在累积驱动时间相对大的第二区域中,像素PX的效率下降可能相对小。因此,为了充分地确保寿命保证时间,效率改变区域和LUT490可以被更新使得效率改变周期相对长。
控制器400可以使用效率改变区域和LUT490将输入图像数据DATA转换成输出图像数据DATA'。例如,控制器400可以使用效率改变区域的值作为LUT490的索引从LUT490导出效率值。控制器400可以使用效率值导出针对像素PX中的每一个的补偿权重。控制器400可以通过将输入图像数据DATA乘以补偿权重来生成输出图像数据DATA'。
此外,控制器400可以将与输出图像数据DATA'对应的控制信号CTL1、CTL2提供到扫描驱动器200和数据驱动器300,由此控制扫描驱动器200和数据驱动器300。
在下文中将参考图2和图13更详细地描述控制器400。
非易失性存储器设备500可以在没有电力供给时存储劣化数据和效率曲线。非易失性存储器设备500可以位于控制器400的外部。非易失性存储器设备500可以具有多种特性,例如存储大量数据的能力、低成本等等。例如,非易失性存储器设备500可以包括闪速存储器、可擦除可编程只读存储器(EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、相变随机存取存储器(PRAM)、电阻随机存取存储器(RRAM)、纳米浮栅存储器(NFGM)、聚合物随机存取存储器(PoRAM)、磁性随机存取存储器(MRAM)、铁电随机存取存储器(FRAM)等。
由于非易失性存储器设备500能够在没有电力供给时保持数据,非易失性存储器设备500可以稳定地存储劣化数据。在一个示例实施例中,劣化数据可以随时间流逝被累积存储在非易失性存储器设备500中。累积的劣化数据可以用于恢复受损的劣化数据或增强显示面板100的性能。在一个示例实施例中,劣化数据可以从使用寿命寄存器480被周期性地读取,并且读取的劣化数据可以被存储在非易失性存储器设备500中。在另一示例实施例中,存储的劣化数据可以在预定的时间从使用寿命寄存器480读取,并且读取的劣化数据可以被存储在非易失性存储器设备500中。
此外,由于非易失性存储器设备500可以存储大量数据,非易失性存储器设备500可以存储多条效率曲线,并向LUT490提供与使用寿命寄存器480对应的效率曲线。
此外,有机发光显示设备1000可以进一步包括向显示面板100提供高电源电压和低电源电压的电源、向像素PX提供发射信号的发射驱动器等。
尽管图1的示例实施例描述了使用寿命寄存器480和LUT490位于控制器400的外部,使用寿命寄存器480和LUT490可以位于控制器400的内部。
有机发光显示设备1000可以更新效率改变区域和LUT490,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。因此,有机发光显示设备1000正确地补偿像素PX的劣化,特别是在劣化初期。有机发光显示设备1000充分地确保表明能够使用更新的劣化数据补偿像素PX的劣化的时间的寿命保证时间。
图2是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的控制器的一个示例的框图。
参考图2,控制器400A可以包括劣化数据控制部(或劣化数据控制器)410、更新信号生成部(或更新信号生成器)420、补偿标准更新部(或补偿标准更新器)430、效率值导出部(或效率值导出器)440以及劣化补偿部(或劣化补偿器)450。
劣化数据控制部410可以基于输入图像数据DATA在使用寿命寄存器480中累积存储劣化数据。因此,劣化数据控制部410可以通过将存储在使用寿命寄存器480中的劣化数据和包括在输入图像数据DATA中的帧数据相加而累积存储劣化数据。劣化数据控制部410可以以像素为单位或像素块为单位在使用寿命寄存器480中存储劣化数据。
此外,劣化数据控制部410可以从使用寿命寄存器480读取劣化数据,并将劣化数据存储在非易失性存储器设备500A的劣化数据贮存器510中,以在没有电力供给时保持劣化数据并且随着时间流逝存储劣化数据。在一个示例实施例中,劣化数据控制部410周期性地从使用寿命寄存器480读取劣化数据,并将劣化数据存储在非易失性存储器设备500A中。在另一示例实施例中,劣化数据控制部410可以在预定时间从使用寿命寄存器480读取劣化数据,并将劣化数据存储在非易失性存储器设备500A中。例如,劣化数据控制部410可以在显示面板被关闭时从使用寿命寄存器480读取劣化数据,并将劣化数据存储在非易失性存储器设备500A中。
而且,当显示面板被初始化时,劣化数据控制部410可以使用被存储在非易失性存储器设备500A中的劣化数据来配置使用寿命寄存器480。当显示面板被初始化时,劣化数据控制部410可以使用被存储在非易失性存储器设备500A的效率曲线贮存器520A中的效率曲线来配置LUT490。
更新信号生成部420可以基于累积驱动时间生成更新信号。更新信号生成部420可以通过监视使用寿命寄存器480确定是否更新效率改变区域和LUT490。在一个示例实施例中,更新信号生成部420可以当被包括在使用寿命寄存器480中的监视区域的值改变时生成更新信号。例如,当监视区域的大小为一个比特并且监视区域的值从0改变为1时,更新信号生成部420可以确认累积驱动时间超过当前阈值。因此,当监视区域的值改变时,更新信号生成部420可以生成更新信号,并且将监视区域移位一个比特,以比较累积驱动时间与下一阈值。
补偿标准更新部430可以响应于更新信号更新使用寿命寄存器480中的效率改变区域和LUT490,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。在累积驱动时间相对小的第一区域中,与累积驱动时间相对大的第二区域相比,像素的效率下降相对大。因此,在累积驱动时间相对小的第一区域中,补偿标准更新部430可以更新效率改变区域和LUT490,使得效率改变周期相对短,以使用插值技术正确地补偿像素PX的劣化。另一方面,在累积驱动时间相对大的第二区域中,补偿标准更新部430可以更新效率改变区域和LUT490,使得效率改变周期相对长,以充分地确保寿命保证时间。
在一个示例实施例中,补偿标准更新部430可以响应于更新信号将效率改变区域移位一个比特。因此,补偿标准更新部430可以响应于更新信号更新效率改变区域和LUT490,以大致加倍效率改变周期。
在一个示例实施例中,补偿标准更新部430可以响应于更新信号将与效率改变区域对应的效率曲线从非易失性存储器设备500A加载到LUT490中。可以预先生成与效率改变区域对应的多条效率曲线,并且效率曲线可以被存储在效率曲线贮存器520A中。补偿标准更新部430可以响应于更新信号将与效率改变区域对应的效率曲线从效率曲线贮存器520A加载到LUT490中。例如,补偿标准更新部430可以加载其效率改变周期被增加一倍的效率曲线到LUT490中。
在一个示例实施例中,补偿标准更新部430可以被包括在微控制单元(MCU)中。效率改变区域和LUT490可以使用MCU更新,而无需额外的处理器,从而降低制造成本。
效率值导出部440可以利用使用寿命寄存器480中的效率改变区域和LUT490导出像素的效率值。像素的效率值被定义为像素的亮度和未劣化的初始像素的初始亮度的比值。在一个示例实施例中,效率值导出部440可以使用效率改变区域的值作为LUT490的索引从LUT490导出像素中的每一个的效率值。例如,效率值导出部440可以使用效率改变区域的与第一像素对应的值作为LUT490的索引从LUT490导出第一像素的效率值。
劣化补偿部450可以使用效率值将输入图像数据DATA转换为输出图像数据DATA'。劣化补偿部450可以针对像素计算与效率值成反比的补偿权重。劣化补偿部450可以通过将输入图像数据DATA乘以补偿权重生成输出图像数据DATA'。因此,劣化补偿部450可以通过补偿像素的效率下降来生成输出图像数据DATA',并输出输出图像数据DATA'。
另外,控制器400A可以进一步包括生成与输出图像数据DATA'对应的时序控制信号的时序控制部。
图3是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的使用寿命寄存器的图。
参考图3,使用寿命寄存器可以包括帧数据累积区域FR和补偿时间区域AR。被包括在输入图像数据中的帧数据可以作为劣化数据被累积存储在使用寿命寄存器中。
每个像素或像素块的输入图像数据中的帧数据可以被存储在帧数据累积区域FR中。因此,帧数据在帧数据累积区域FR中被累积求和。帧数据累积区域FR的大小可以与帧数据的最大值对应。例如,当帧数据的最大值为255,帧数据累积区域FR的大小可以是8比特。
补偿时间区域AR的大小被定义为当帧数据保持最大值时能够累积存储劣化数据的时间。因此,补偿时间区域AR的大小被定义为寿命保证时间。寿命保证时间是可以使用劣化数据补偿像素的劣化的期间。因此,劣化数据可以被累积存储,直到累积驱动时间达到寿命保证时间。
补偿时间区域AR可以包括效率改变区域TR。像素的效率值可以使用效率改变区域TR从LUT导出。例如,效率值可以使用效率改变区域TR的值作为LUT的索引从LUT导出。效率改变区域TR可以被移位,以改变效率改变周期。效率改变区域TR可以被移位,以随着累积驱动时间的增加而增加效率改变周期。此外,补偿时间区域AR可以被调整,以增加效率改变周期。
图4是示出了被存储在图1的有机发光显示设备的LUT中的效率曲线的曲线图。
参考图4,在被存储在LUT中的效率曲线中,像素的效率下降可能随着累积驱动时间的增加而减少。因而,像素的亮度可能不是对于累积驱动时间线性成比例地下降,相反,像素的亮度可能在劣化初期减少得更迅速。
例如,效率曲线的斜率的绝对值可能随着累积驱动时间的增加而减小。例如,随着累积驱动时间从0小时增加至1250小时,像素的效率可能从L0减少到L1。随着累积驱动时间从1250小时增加至2500小时,像素的效率可能从L1减少到L2,其中L0和L1之间的亮度差大于L1和L2之间的亮度差。随着累积驱动时间从2500小时增加至5000小时,像素的效率可能从L2减少到L3,其中L2和L3之间的亮度差小于L1和L2之间的亮度差。这里,L0和L1之间的第一差值(即,L0-L1)大于L1和L2之间的第二差值(即L1-L2)。此外,L1和L2之间的第二差值(即L1-L2)大于L2和L3之间的第三差值(即L2-L3)。
如果被包括在LUT中的效率曲线不改变,由于初始劣化可能出现残像,或寿命保证时间可能被缩短。例如,当LUT包括效率改变周期相对短的第一效率曲线时,由于LUT的存储容量有限,可以充分地确保寿命保证时间。另一方面,当LUT包括效率改变周期相对长的第三效率曲线时,由于插值技术可能无法充分补偿初始劣化,可能出现残像。因此,LUT中的效率曲线可以被更新,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。例如,在累积驱动时间在0至1250小时之间的第一区域P1期间,LUT可以包括效率改变周期相对短的第一效率曲线。在累积驱动时间在2500小时至5000小时之间的第三区域P3期间,LUT可以包括效率改变周期相对长的第三效率曲线。
图5是示出了使用寿命寄存器的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。图6是示出了与图5的使用寿命寄存器对应的效率曲线的曲线图。
参考图5和图6,效率改变周期相对短的第一效率曲线可以被用在累积驱动时间相对小(例如像图4的P1所示累积驱动时间在0至1250小时之间)的第一区域中,由此正确地补偿初始劣化。
使用寿命寄存器的第一效率改变区域TR1可以被设置为缩短效率改变周期。LUT可以包括效率改变周期相对短的第一效率曲线。例如,使用寿命寄存器可以包括用于将效率改变周期设置为1.25小时的第一效率改变区域TR1、以及用于将寿命保证时间设置为1250小时的第一补偿时间区域AR1。LUT可以包括效率改变周期为1.25小时并且寿命保证时间为1250小时的第一效率曲线。由于像素的效率值可以从其效率改变周期相对短的第一效率曲线导出,像素的劣化可以使用插值技术被正确地补偿。
图7是用于描述使用图5的使用寿命寄存器的监视区域生成更新信号的操作的图。
参考图7,更新信号生成部可以通过监视使用寿命寄存器确定是否需要更新效率改变区域和LUT。在一个示例实施例中,当监视区域MB的值改变时,更新信号生成部可以生成更新信号。在一个示例实施例中,监视区域MB的大小可以是一个比特。当监视区域MB的值改变时,监视区域MB可以移位一个比特。例如,监视区域MB可以被设置为确定累积驱动时间是否超过1250小时。当监视区域MB的值从0改变为1时,更新信号生成部可以确定累积驱动时间超过第一阈值(例如1250小时),并且可以生成更新信号。另外,监视区域MB可以被移位,以比较累积驱动时间和第二阈值(例如2500小时)。
图8是示出了更新图5的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。图9是示出了与图8的使用寿命寄存器对应的效率曲线的曲线图。图10是用于描述使用图8的使用寿命寄存器的监视区域生成更新信号的操作的图。
参考图8至图10,随着累积驱动时间增加,图5的使用寿命寄存器和图6的LUT可以被更新。
如图8和图9所示,效率改变区域和补偿时间区域可以随着累积驱动时间增加而被更新,以增加效率改变周期。例如,当累积驱动时间从第一区域增加到第二区域,从而当累积驱动时间超过了1250小时时,使用第二效率曲线更新LUT。与第二区域对应的第二效率曲线的第二效率改变周期可以大于与第一区域对应的第一效率曲线的第一效率改变周期。
使用寿命寄存器的效率改变区域可以被更新,以增加效率改变周期。此外,LUT包括效率改变周期与效率改变区域对应增长的第二效率曲线。例如,使用寿命寄存器可以包括用于将效率改变周期设置为2.5小时的第二效率改变区域TR2、以及用于将寿命保证时间设置为2500小时的第二补偿时间区域AR2。LUT可以包括其效率改变周期为2.5小时并且寿命保证时间为2500小时的第二效率曲线。
如图10所示,更新信号生成部可以通过监视监视区域MB'确定是否需要更新效率改变区域和LUT。例如,监视区域MB'可以被设置为确定累积驱动时间是否超过2500小时。当监视区域MB'的值从0改变为1时,更新信号生成部可以确定累积驱动时间超过第二阈值(例如2500小时),并且可以生成更新信号。另外,监视区域MB'可以移位一个比特,以比较累积驱动时间和第三阈值(例如5000小时)。
图11是示出了更新图8的效率改变区域和补偿时间区域的示例的图。图12是示出了与图11的使用寿命寄存器对应的效率曲线的曲线图。
参考图11和图12,效率改变区域和补偿时间区域可以随着累积驱动时间的增加而被更新,以增加效率改变周期。例如,当累积驱动时间从第二区域增加到第三区域,从而当累积驱动时间超过2500小时时,使用第三效率曲线更新LUT。与第三区域对应的第三效率曲线的第三效率改变周期可以大于与第二区域对应的第二效率曲线的第二效率改变周期。因此,效率改变周期相对长的第三效率曲线可以被用在累积驱动时间相对长的第三区域中,从而充分确保寿命保证时间。
使用寿命寄存器的效率改变区域可以被更新,以增加效率改变周期。此外,LUT包括效率改变周期与效率改变区域对应增长的第三效率曲线。例如,使用寿命寄存器可以包括用于将效率改变周期设置为5小时的第三效率改变区域TR3、以及用于将寿命保证时间设置为5000小时的第三补偿时间区域AR3。LUT可以包括与第三效率改变区域TR3对应的效率改变周期为5小时并且寿命保证时间为5000小时的第三效率曲线。由于像素的效率值可以使用效率改变周期相对长的第三效率曲线导出,可以在有限的资源下利用插值技术充分确保寿命保证时间。
虽然图5至图12的示例实施例描述了使用寿命寄存器的效率改变区域和LUT随着累积驱动时间的增加被更新,以加倍效率改变周期,但效率改变区域和LUT是以各种方法来更新,以增加效率改变周期。另外,虽然图7至图10的示例实施例描述了监视区域的大小为一个比特,但是监视区域的大小可以大于一个比特,并且使用寿命寄存器和LUT可以基于各种阈值被更新。
图13是示出了被包括在图1的有机发光显示设备中的控制器的另一示例的框图。
参考图13,控制器400B可以包括劣化数据控制部(或劣化数据控制器)410、更新信号生成部(或更新信号生成器)420、补偿标准更新部(或补偿标准更新器)430、效率值导出部(或效率值导出器)440、劣化补偿部(或劣化补偿器)450以及效率曲线调整部(或效率曲线调整器)460。除了增加了效率曲线调整部460之外,根据本示例实施例的控制器400B和图2中描述的示例实施例的控制器基本相同。因此,相同的附图标记将用于指代与图2的在前示例实施例中描述的部分相同或类似的部分,并且关于上述元件的任何重复解释将被省略。
劣化数据控制部410可以基于输入图像数据DATA在使用寿命寄存器480中累积存储劣化数据。此外,劣化数据控制部410可以从使用寿命寄存器480读取劣化数据,并将劣化数据存储在非易失性存储器设备500B的劣化数据贮存器510中,以在没有电力供给时保持劣化数据或者随着时间流逝存储劣化数据。
更新信号生成部420可以基于累积驱动时间生成更新信号。更新信号生成部420可以通过监视使用寿命寄存器480确定是否需要更新效率改变区域和LUT。在一个示例实施例中,更新信号生成部420可以当被包括在使用寿命寄存器480中的监视区域的值改变时生成更新信号。
效率曲线调整部460可以在效率改变区域被改变时缩放与效率改变区域对应的效率曲线。在一个示例实施例中,效率曲线调整部460可以响应于更新信号缩放效率曲线,以大致加倍效率改变周期。例如,效率曲线调整部460可以缩放被包括在LUT或非易失性存储器设备500B的效率曲线贮存器520B中的效率曲线,以大致加倍效率改变周期。
补偿标准更新部430可以响应于更新信号更新使用寿命寄存器480中的效率改变区域和LUT490,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。补偿标准更新部430可以响应于更新信号使用由效率曲线调整部460缩放的经缩放的效率曲线更新LUT490。当多个预生成的效率曲线被存储在像图2的非易失性存储器设备中时,非易失性存储器设备的大容量可能是必要的。因此,补偿标准更新部430可以使用由效率曲线调整部460缩放的经缩放的效率曲线更新LUT490,从而降低非易失性存储器设备500B的容量。
效率值导出部440可以利用使用寿命寄存器480中的效率改变区域和LUT490导出效率值。
劣化补偿部450可以使用效率值将输入图像数据DATA转换为输出图像数据DATA'。
而且,控制器400B可以进一步包括生成与输出图像数据DATA'对应的时序控制信号的时序控制部。
图14是示出了根据示例实施例的驱动有机发光显示设备的方法的流程图。
参考图14,驱动有机发光显示设备的方法可以更新使用寿命寄存器中的效率改变区域和LUT,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加。因此,驱动有机发光显示设备的方法可以防止在劣化初期出现残像(或减少这种情况),可以充分地确保寿命保证时间,并且可以长时间保持显示质量。
像素的劣化数据可以基于输入图像数据被累积存储在使用寿命寄存器中(步骤S110)。被包括在输入图像数据中的帧数据可以以像素为单位或以像素块为单位作为劣化数据被累积存储在使用寿命寄存器中。
像素的累积驱动时间可以从使用寿命寄存器被导出,并且更新信号可以基于累积驱动时间被生成(步骤S120)。更新信号可以通过监视使用寿命寄存器并确定是否需要更新效率改变区域和LUT来生成。在一个示例实施例中,当使用寿命寄存器中的监视区域的值被改变时,可以生成更新信号。例如,当监视区域的大小为一个比特并且监视区域的值从0改变为1时,确认累积驱动时间超过预定的当前阈值。因此,当监视区域的值被改变时,更新信号被生成,并且监视区域被移位一个比特,以比较累积驱动时间与下一阈值。
使用寿命寄存器中的效率改变区域和LUT可以响应于更新信号更新,使得效率改变周期随着累积驱动时间的增加而增加(步骤S130)。在累积驱动时间相对小的第一区域中,相比累积驱动时间相对长的第二区域,像素的效率下降相对大。因此,在其累积驱动时间相对小的第一区域中,效率改变区域和LUT可以被更新,使得效率改变周期被设置得相对短,以正确地补偿像素PX的劣化。另一方面,在累积驱动时间相对长的第二区域中,效率改变区域和LUT可以被更新,使得效率改变周期被设置得相对长,以充分地确保寿命保证时间。
在一个示例实施例中,效率改变区域可以响应于更新信号移位一个比特。因此,效率改变区域和LUT可以响应于表明累积驱动时间被增加阈值(例如预定阈值)以上的更新信号而被更新,以大致加倍效率改变周期。
在一个示例实施例中,与效率改变区域对应的效率曲线可以响应于更新信号从非易失性存储器设备加载到LUT。与效率改变区域对应的多个效率曲线可以被预先生成,并且效率曲线可以被存储在效率曲线贮存器中。与效率改变区域对应的效率曲线可以响应于更新信号从效率曲线贮存器加载到LUT。例如,效率改变周期被加倍增加的效率曲线可以从非易失性存储器设备加载到LUT。
在另一示例实施例中,LUT可以响应于更新信号通过缩放效率曲线而被更新。例如,效率曲线可以响应于更新信号被缩放,以大致加倍效率改变周期。因此,LUT可以使用经缩放的效率曲线被更新,从而降低非易失性存储器设备的容量。
可以使用效率改变区域的值作为LUT的索引从LUT导出效率值(步骤S140)。例如,使用效率改变区域的与第一像素对应的值作为LUT的索引来从LUT导出第一像素的效率值。
可以使用效率值将输入图像数据转换为输出图像数据(步骤S150)。可以使用效率值导出针对像素中的每一个的补偿权重。可以通过将输入图像数据乘以补偿权重来生成输出图像数据。因此,可以通过补偿由像素的劣化导致的效率下降而将输入图像数据转换成输出图像数据。
可以使用输出图像数据显示图像(步骤S160)。由于有机发光显示设备使用补偿了像素的劣化的输出图像数据来显示图像,有机发光显示设备防止出现残像,并长时间保持显示质量。
虽然示例实施例描述了非易失性存储器设备位于有机发光显示设备的内部,但是非易失性存储器设备可以位于有机发光显示设备的外部。
本发明的实施例可以被应用于具有显示设备的电子设备。例如,本发明的实施例可以被应用到蜂窝电话、智能电话、智能垫、个人数字助理(PDA)等。
以上是示例实施例的说明,而不应被解释为其限制。尽管已经描述了一些示例实施例,本领域技术人员将容易理解可以对示例实施例进行许多修改,而不实质上脱离本发明的新颖的教导和方面。因此,所有这些修改都意在被包括在权利要求及其等同方案所限定的本发明的范围内。因此,要理解的是,以上是各种示例实施例的说明,而不应被解释为限于公开的具体示例实施例,并且对所公开的示例实施例的修改以及其它示例实施例都意在被包括在所附权利要求及其等同方案的范围内。

Claims (15)

1.一种有机发光显示设备,包括:
显示面板,包括多个像素;
扫描驱动器,被配置为向所述像素提供扫描信号;
数据驱动器,被配置为向所述像素提供数据信号;
查找表,其中表明累积驱动时间和效率值之间的关系的效率曲线被存储在所述查找表中;
使用寿命寄存器,其中用于从所述查找表导出所述像素中的每一个的效率值的效率改变区域被存储在所述使用寿命寄存器中,并且所述使用寿命寄存器被配置为累积存储所述像素的劣化数据;和
控制器,被配置为从所述使用寿命寄存器导出所述累积驱动时间,以基于所述累积驱动时间更新所述效率改变区域和所述查找表,使用所述效率改变区域和所述查找表将输入图像数据转换成输出图像数据,并且将与所述输出图像数据对应的控制信号提供到所述扫描驱动器和所述数据驱动器。
2.根据权利要求1所述的有机发光显示设备,其中所述控制器包括:
劣化数据控制器,被配置为基于所述输入图像数据在所述使用寿命寄存器中累积存储所述劣化数据;
更新信号生成器,被配置为基于所述累积驱动时间生成更新信号;
补偿标准更新器,被配置为响应于所述更新信号更新所述效率改变区域和所述查找表,使得效率改变周期随着所述累积驱动时间的增加而增加;
效率值导出器,被配置为使用所述效率改变区域和所述查找表导出所述效率值;和
劣化补偿器,被配置为使用所述效率值将所述输入图像数据转换成所述输出图像数据。
3.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述更新信号生成器被配置为当被包括在所述使用寿命寄存器中的监视区域的值被改变时生成所述更新信号。
4.根据权利要求3所述的有机发光显示设备,其中所述监视区域的大小为一个比特,并且
其中当所述监视区域的值被改变时,所述监视区域被移位一个比特。
5.根据权利要求3所述的有机发光显示设备,其中所述监视区域的大小大于一个比特。
6.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述补偿标准更新器响应于所述更新信号将所述效率改变区域移位一个比特。
7.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述补偿标准更新器被配置为响应于所述更新信号从非易失性存储器设备加载与所述效率改变区域对应的效率曲线到所述查找表。
8.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述控制器进一步包括:
效率曲线调整器,被配置为与所述效率改变区域对应缩放所述效率曲线,并且
其中所述补偿标准更新器被配置为响应于所述更新信号使用经缩放的效率曲线更新所述查找表。
9.根据权利要求8所述的有机发光显示设备,其中所述效率曲线调整器被配置为响应于所述更新信号缩放所述效率曲线,以大致加倍所述效率改变周期。
10.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述补偿标准更新器被包括在微控制单元中。
11.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述效率值导出器被配置为使用所述效率改变区域的值作为所述查找表的索引从所述查找表导出所述效率值。
12.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述劣化补偿器被配置为使用所述效率值导出针对所述像素中的每一个的补偿权重,并且通过将所述输入图像数据乘以所述补偿权重生成所述输出图像数据。
13.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述劣化数据控制器被配置为周期性地从所述使用寿命寄存器读取所述劣化数据,并且将所述劣化数据存储在非易失性存储器设备中。
14.根据权利要求2所述的有机发光显示设备,其中所述劣化数据控制器被配置为在预定时间从所述使用寿命寄存器读取所述劣化数据,并且将所述劣化数据存储在非易失性存储器设备中。
15.根据权利要求1所述的有机发光显示设备,其中多个像素块中的每个像素块的所述劣化数据被存储在所述使用寿命寄存器中。
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