CN105675221A - 一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统和方法 - Google Patents

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    • G01M3/08Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point by observing bubbles in a liquid pool for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds
    • G01M3/086Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point by observing bubbles in a liquid pool for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds for valves

Abstract

本发明公开了一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统和方法,低温密封比压测试系统由密封比压测试装置、液氮槽、安装支架、控制模块、管路以及供气和检漏装置等构成。通过控制气源和检漏气压力的方法,结合活塞、阀杆、密封件、密封垫等部件的结构参数,可以计算密封垫材料在低温工况下的最小压紧应力或比压力y和垫片系数m,并通过试验时更换不同规格的密封垫来确定不同规格的密封垫在低温状态下的密封比压性能参数。本发明以液氮温度(-196℃)作为密封材料低温密封比压性能参数测试的环境,真实再现低温介质管路中密封垫密封的实际工况,能够为低温介质管路密封件参数的选择提供参考,具有较强的针对性和客观性。

Description

一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统和方法
技术领域
[0001] 本发明涉及一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统和方法,该技术可应 用在低温加注管路法兰密封垫规格的选取,从而进一步确定法兰螺栓的拧紧力矩,确保低 温加注管路的安全性和可靠性,也可推广至其他低温介质输送管路系统。
背景技术
[0002] 法兰螺栓连接是低温加注系统中低温设备或元件的重要连接方式,由于液氢、液 氧、液氮等介质低温的特点,必需保证在低温介质加注过程中低温介质无泄漏。为了保证法 兰在常温和低温下的可靠密封,必需通过给螺栓施加一定的预紧力,保证垫片在各种工况 下满足密封比压的要求。
[0003] 目前在有关密封计算的手册等相关资料中给出的都是密封材料在常温下的密封 比压性能参数,可以由此计算保证常温密封所需要的螺栓拧紧力矩。然而,由于低温法兰在 低温下相关零部件会收缩,且因各零件温度变化值不同、尺寸不同、材料不同,都导致各零 件收缩程度不一致,同时密封材料在低温下的密封比压力将增加、对于F4材料来说还存在 冷流问题,因此低温下法兰拧紧力矩值如何确定是一个难题和需要解决的基础性问题。
[0004] 对于低温截止阀等低温设备来说,在设计时必须确定阀瓣密封材料在常温和低温 下的密封比压性能参数值。通常,为了保证密封,低温下所需要的密封比压性能参数要优于 常温值,从而带来密封垫压紧力的变化,也将导致手动机构或气动机构需求的不同。
发明内容
[0005] 本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供一种用于测定密封材料低 温(-196 °C)密封比压性能参数的系统和方法,本发明能够确定不同密封材料在低温工况下 的密封性能参数,包括最小压紧应力或比压力y和垫片系数m。
[0006] 本发明的技术解决方案是:
[0007] -种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统包括:密封比压测试装置、液氮 槽、安装支架、控制模块和检漏装置;
[0008] 检漏装置又包括气瓶、气瓶阀、减压器、压力表P1、检漏气管路、检漏管路、检漏阀 和检漏容器;控制模块又包括气源、控制气阀、压力表P2和控制气管路;密封比压测试装置 包括低温截止阀组件、检漏接管嘴和充压接管嘴,其中低温截止阀组件又包括汽缸、活塞、 阀杆、阀体、波纹管、密封件、〇形圈、关闭接管嘴和打开接管嘴;
[0009] 安装支架中间开孔,用于安装密封比压测试装置;安装支架和密封比压测试装置 组装好后放置于液氮槽中;
[0010] 检漏气管路的一端与气瓶的输出端相连,另一端依次通过气瓶阀、减压器相连、压 力表P1和密封比压测试装置的充压接管嘴相连;检漏管路的一端连接到密封比压测试装置 的检漏接管嘴,检漏管路的另外一端通过检漏阀,放置到检漏容器液位以下;
[0011]控制气管路的一端与气源的输出端相连,控制气管路的另外一端依次通过控制气 阀、压力表P2与密封比压测试装置的关闭接管嘴和打开接管嘴供气相连。
[0012] -种基于测试系统的测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,计算密封材料 低温密封比压性能参数,包括比压力y和垫片系数m,具体步骤如下:
[0013] (1)测量和计算密封比压测试装置的活塞、阀杆和波纹管的总重力G,汽缸内活塞 受力面积A1,密封垫受压力面积A2,并测试在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封 波纹管产生的推力F以及0形圈与密封比压测试装置所有部件接触部分的综合摩擦力f;
[0014] (la)向液氮槽中注入液氮,液氮高度为Η;
[0015] (lb)关闭气瓶阀和检漏阀;
[0016] (lc)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中;
[0017] (Id)维持液氮槽中液氮液面高度为H,待液面波动停止时,关闭控制气阀,调整气 源压力SP a,并供气至控制气阀;
[0018] (le)连接控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,并缓慢打开控制气阀给密封比压测 试装置的关闭接管嘴供气,同时观察压力表P2的指示值,当密封比压测试装置中的活塞带 动阀杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pgl,继续供气,直至密封比压测试 装置的阀杆不再运动,密封件完全关闭,记录密封件处于完全关闭状态时压力表P2显示的 压力值,第一次记录为Pnl,依次类推;
[0019] (If)关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,将控制气管路与气 缸打开接管嘴连接;
[0020] (lg)缓慢打开控制气阀给气缸打开接管嘴供气,观察压力表P2指示值,当密封比 压测试装置中的活塞带动阀杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pkl;
[0021] (lh)关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸打开接管嘴连接,将控制气管路与气 缸关闭接管嘴连接;
[0022] (li)重复上述(la)-(lh)记载的方法步骤,进行10次测试,分别得到10组密封比压 测试装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开始运动时压力表P2显示的压力值,分别记为 Pgl,Pg2...Pg9,PglO;Ρη1,Ρη2.··Ρη9,PnlO;Pkl,Pk2...Pk9,PklO;
[0023] (lj)分别计算步骤(li)中密封比压测试装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开 始运动时,10组压力值的平均值,分别计为Pg和Pk;计算密封比压测试装置完全关闭时10组 压力值的平均值,计为Pn;
[0024] (Ik)计算在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封波纹管产生的推力F以 及〇形圈与部件接触部分的综合摩擦力f;
[0025] (lm)计算得到密封垫在低温工况下的比压力y:
[0026] (2)进行密封垫低温密封比压测试,通过测试得到密封垫性能参数垫片系数m:
[0027] (2a)将密封垫安装在密封比压测试装置密封件上的下部凹槽中,检查确保密封比 压测试装置的阀体与气缸连接正常、控制气管路连接正常、检漏气管路连接正常、检漏管路 连接正常;
[0028] (2b)向液氮槽中注入液氮,液氮高度Η;
[0029] (2c)关闭检漏阀,通过气瓶阀、减压器向充压接管嘴内充入0.4MPa氦气,然后关闭 气瓶阀,检漏管路从检漏容器中取出;
[0030] (2d)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中;
[0031 ] (2e)维持液氮槽中液氮液面高度H,待液面波动停止后,调整气源为Pvl,打开控制 气阀,通过控制气管路给密封比压测试装置的关闭接管嘴供压力为Pvl的控制气,密封件处 于完全关闭状态;
[0032] (2f)打开检漏阀,待检漏管内无气流时将检漏管路放入检漏容器中;
[0033] (2g)打开并调整气瓶阀和减压器,通过检漏气管路向充压接管嘴通入初始压力为 Po的检测气体,并维持气体压力,通过检漏管路进行泄漏检测;
[0034] (2h)按照每次O.IMPa的增量在Po的基础上通过检漏气管路增加检测气体压力,在 每个压力下检测泄漏量,直至泄漏量不满足要求,记录此时通过检漏气管路的压力值,即压 力表P1的显示值Pel,也就是在气源压力Pvl对应的泄漏量不满足要求时的检测气体压力 Pel;
[0035] (2i)关闭气瓶阀或减压器,将检漏气管路中的气体放掉;
[0036] (2j)以0.5MPa为增量调整气源压力,打开控制气阀,通过控制气供气管路给关闭 接管嘴供气,并重复步骤(2g)-(2i)记载的方法,直到压力表P1显示的检漏气压力达到Pm 时,停止检漏实验,记录检漏气压力达到Pm之前每次试验压力表P1的显示值Pel、Pc2"_Pcn、 Pc(n+l),n为气源压力调整次数;
[0037] (2k)根据公式(4)分别计算n+1次不同气源压力下的垫片系数ml,m2......mn,m(n+ 1),并通过求取n+1次垫片系数的平均值,来确定此密封垫片在低温工况下的垫片系数m:
[0038]
Figure CN105675221AD00071
[0039] (3)更换其他规格密封垫,按照上述顺序进行低温密封比压测试,并得到不同规格 的密封垫的性能参数y和m。
[0040] 本发明与现有技术相比有益效果为:
[0041] (1)本发明密封比压测试装置通过低温真空截止阀衍生而来,在结构和功能上有 针对性的优化了汽缸和密封件底座设计,汽缸、活塞以及打开(关闭)接管嘴的功能是靠气 源压力驱动阀杆,进而使密封件与密封底座通过密封垫接触并实现密封,同时本发明密封 底座增加了充压和检漏功能设计,配合检漏装置和控制模块,能够完成泄漏量的准确测定, 进而准确测定密封垫材料的密封比压性能参数,本发明装置测试精度高,密封性良好,操作 简单易于实现,本系统在国内外属于首创。
[0042] (2)本发明能够确定密封垫材料在低温(-196°C )工况下的密封比压。本发明以液 氮温度(-196Γ)作为密封材料低温密封比压性能参数的测试环境,真实再现低温介质管路 中密封垫密封的实际工况,具有较强的针对性和客观性。液氮槽保证密封比压测试装置的 密封件和密封件底座均处于-196°C工况下,能够真实模拟低温加注管路中密封垫的实际工 作环境,本发明通用性和工程实践性大大增强。
[0043] (3)本发明可以通过密封件来实现不同规格密封垫的更换,并根据试验结果确定 其在低温状态下的密封比压性能参数,测试范围广,能够开展有针对性的材料的密封比压 性能参数测试工作,工程应用强。
附图说明
[0044] 图1是本发明密封比压性能参数测试装置的结构示意图;
[0045] 图2是本发明密封比压性能参数测试系统的结构示意图。
具体实施方式
[0046] 下面结合附图对本发明的具体实施方式进行进一步的详细描述。
[0047] 如图1、2所示,本发明一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统,包括:密 封比压测试装置、液氮槽、安装支架、控制模块和检漏装置;
[0048] 检漏装置又包括气瓶、气瓶阀、减压器、压力表P1、检漏气管路、检漏管路、检漏阀 和检漏容器;控制模块又包括气源、控制气阀、压力表P2和控制气管路;密封比压测试装置 包括低温截止阀组件、检漏接管嘴和充压接管嘴,其中低温截止阀组件又包括汽缸、活塞、 阀杆、阀体、波纹管、密封件、〇形圈、关闭接管嘴和打开接管嘴;
[0049] 安装支架中间开孔,用于安装密封比压测试装置;安装支架和密封比压测试装置 组装好后放置于液氮槽中;液氮槽中的液氮温度为-196Γ。
[0050] 检漏气管路的一端与气瓶的输出端相连,另一端依次通过气瓶阀、减压器相连、压 力表P1和密封比压测试装置的充压接管嘴相连;检漏管路的一端连接到密封比压测试装置 的检漏接管嘴,检漏管路的另外一端通过检漏阀,放置到检漏容器液位以下;
[0051] 控制气管路的一端与气源的输出端相连,控制气管路的另外一端依次通过控制气 阀、压力表P2与密封比压测试装置的关闭接管嘴和打开接管嘴供气相连。
[0052] 气瓶阀中的气体为氦气。检漏阀、控制气阀均采用截止阀。
[0053]如图1、2所示,本发明测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特征在于包 括:计算密封材料低温密封比压性能参数,包括比压力y和垫片系数m,具体步骤如下:
[0054] (1)测量和计算密封比压测试装置的活塞、阀杆和波纹管的总重力G,汽缸内活塞 受力面积A1,密封垫受压力面积A2,并测试在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封 波纹管产生的推力F以及0形圈与密封比压测试装置所有部件接触部分的综合摩擦力f;
[0055] (la)向液氮槽中注入液氮,液氮高度为Η;
[0056] (lb)关闭气瓶阀和检漏阀;
[0057] (lc)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中;
[0058] (Id)维持液氮槽中液氮液面高度为H,待液面波动停止时,关闭控制气阀,调整气 源压力SPa,并供气至控制气阀;
[0059] (le)连接控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,并缓慢打开控制气阀给密封比压测 试装置的关闭接管嘴供气,同时观察压力表P2的指示值,当密封比压测试装置中的活塞带 动阀杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pgl,继续供气,直至密封比压测试 装置的阀杆不再运动,密封件完全关闭,记录密封件处于完全关闭状态时压力表P2显示的 压力值,第一次记录为Pnl,依次类推;
[0060] (If)关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,将控制气管路与气 缸打开接管嘴连接;
[0061] (lg)缓慢打开控制气阀给气缸打开接管嘴供气,观察压力表P2指示值,当密封比 压测试装置中的活塞带动阀杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pkl;
[0062] (lh)关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸打开接管嘴连接,将控制气管路与气 缸关闭接管嘴连接;
[0063] (li)重复上述(la)-(lh)记载的方法步骤,进行10次测试,分别得到10组密封比压 测试装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开始运动时压力表P2显示的压力值,分别记为 Pgl,Pg2...Pg9,PglO;Ρη1,Ρη2.··Ρη9,PnlO;Pkl,Pk2...Pk9,PklO;
[0064] (lj)分别计算步骤(li)中密封比压测试装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开 始运动时,10组压力值的平均值,分别计为Pg和Pk;计算密封比压测试装置完全关闭时10组 压力值的平均值,计为Pn;
[0065] (Ik)计算在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封波纹管产生的推力F以 及〇形圈与部件接触部分的综合摩擦力f;
[0066] 计算方法如下:
[0067] f = l〇6XPgXAl+G (1)
[0068] F+106XPkXA2 = G+f (2)
[0069] (lm)计算得到密封垫在低温工况下的比压力y:
[0070] 计算方法为:
[0071] 106XPnXA2+G = y+f+F (3)
[0072] (2)进行密封垫低温密封比压测试,通过测试得到密封垫性能参数垫片系数m:
[0073] (2a)将密封垫安装在密封比压测试装置密封件上的下部凹槽中,检查确保密封比 压测试装置的阀体与气缸连接正常、控制气管路连接正常、检漏气管路连接正常、检漏管路 连接正常;
[0074] (2b)向液氮槽中注入液氮,液氮高度H;
[0075] (2c)关闭检漏阀,通过气瓶阀、减压器向充压接管嘴内充入0.4MPa氦气,然后关闭 气瓶阀,检漏管路从检漏容器中取出;
[0076] (2d)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中;
[0077] (2e)维持液氮槽中液氮液面高度H,待液面波动停止后,调整气源为Pvl,打开控制 气阀,通过控制气管路给密封比压测试装置的关闭接管嘴供压力为Pvl的控制气,密封件处 于完全关闭状态;
[0078] (2f)打开检漏阀,待检漏管内无气流时将检漏管路放入检漏容器中;
[0079] (2g)打开并调整气瓶阀和减压器,通过检漏气管路向充压接管嘴通入初始压力为 Po的检测气体,并维持气体压力,通过检漏管路进行泄漏检测;
[0080] (2h)按照每次O.IMPa的增量在Po的基础上通过检漏气管路增加检测气体压力,在 每个压力下检测泄漏量,直至泄漏量不满足要求,记录此时通过检漏气管路的压力值,即压 力表P1的显示值Pel,也就是在气源压力Pvl对应的泄漏量不满足要求时的检测气体压力 Pel;
[0081 ] (2i)关闭气瓶阀或减压器,将检漏气管路中的气体放掉;
[0082] (2j)以0.5MPa为增量调整气源压力,打开控制气阀,通过控制气供气管路给关闭 接管嘴供气,并重复步骤(2g)-(2i)记载的方法,直到压力表P1显示的检漏气压力达到Pm 时,停止检漏实验,记录检漏气压力达到Pm之前每次试验压力表P1的显示值Pel、Pc2"_Pcn、 Pc(n+l),n为气源压力调整次数;
[0083] (2k)根据公式(4)分别计算n+1次不同气源压力下的垫片系数ml,m2......mn,m(n+ 1),并通过求取n+1次垫片系数的平均值,来确定此密封垫片在低温工况下的垫片系数m:
[0084]
Figure CN105675221AD00101
[0085] (3)更换其他规格密封垫,按照上述顺序进行低温密封比压测试,并得到不同规格 的密封垫的性能参数y和m。
[0086] 本发明试验时,通过更换密封件上的密封垫并按照测试步骤进行测试从而准确、 快速确定不同规格的密封圈在低温状态下的密封比压性能参数。试验用设备均采用通用、 成熟的产品,并设计形成了通用化的测试流程和方法,测试装置操作和方法简单易实现。本 发明已经应用在多个型号上,使用方面,测试精度准确,效果良好。
[0087] 本发明说明书中未作详细描述的内容属于本领域技术人员的公知技术。

Claims (7)

1. 一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统,其特征在于包括:密封比压测试 装置、液氮槽、安装支架、控制模块和检漏装置; 检漏装置又包括气瓶、气瓶阀、减压器、压力表P1、检漏气管路、检漏管路、检漏阀和检 漏容器;控制模块又包括气源、控制气阀、压力表P2和控制气管路;密封比压测试装置包括 低温截止阀组件、检漏接管嘴和充压接管嘴,其中低温截止阀组件又包括汽缸、活塞、阀杆、 阀体、波纹管、密封件、〇形圈、关闭接管嘴和打开接管嘴; 安装支架中间开孔,用于安装密封比压测试装置;安装支架和密封比压测试装置组装 好后放置于液氮槽中; 检漏气管路的一端与气瓶的输出端相连,另一端依次通过气瓶阀、减压器相连、压力表 P1和密封比压测试装置的充压接管嘴相连;检漏管路的一端连接到密封比压测试装置的检 漏接管嘴,检漏管路的另外一端通过检漏阀,放置到检漏容器液位以下; 控制气管路的一端与气源的输出端相连,控制气管路的另外一端依次通过控制气阀、 压力表P2与密封比压测试装置的关闭接管嘴和打开接管嘴供气相连。
2. 根据权利要求1所述的一种测定密封材料低温密封比压性能参数的系统,其特征在 于:所述液氮槽中的液氮温度为-196Γ。
3. 根据权利要求1所述的一种测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特征在 于:所述气瓶阀中的气体为氦气。
4. 根据权利要求1所述的一种测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特征在 于:所述检漏阀、控制气阀均采用截止阀。
5. -种基于权利要求1所述系统的测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特 征在于包括:计算密封材料低温密封比压性能参数,包括比压力y和垫片系数m,具体步骤如 下: (1)测量和计算密封比压测试装置的活塞、阀杆和波纹管的总重力G,汽缸内活塞受力 面积A1,密封垫受压力面积A2,并测试在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封波纹 管产生的推力F以及0形圈与密封比压测试装置所有部件接触部分的综合摩擦力f; (la) 向液氮槽中注入液氮,液氮高度为Η; (lb) 关闭气瓶阀和检漏阀; (1C)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中; (ld) 维持液氮槽中液氮液面高度为H,待液面波动停止时,关闭控制气阀,调整气源压 力为Pa,并供气至控制气阀; (le) 连接控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,并缓慢打开控制气阀给密封比压测试装 置的关闭接管嘴供气,同时观察压力表P2的指示值,当密封比压测试装置中的活塞带动阀 杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pgl,继续供气,直至密封比压测试装置 的阀杆不再运动,密封件完全关闭,记录密封件处于完全关闭状态时压力表P2显示的压力 值,第一次记录为Pnl,依次类推; (lf) 关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸关闭接管嘴连接,将控制气管路与气缸打 开接管嘴连接; (lg) 缓慢打开控制气阀给气缸打开接管嘴供气,观察压力表P2指示值,当密封比压测 试装置中的活塞带动阀杆开始运动时记录压力表P2指示值,第一次记录为Pkl; (lh) 关闭控制气阀,断开控制气管路与气缸打开接管嘴连接,将控制气管路与气缸关 闭接管嘴连接; (li) 重复上述(la)-(lh)记载的方法步骤,进行10次测试,分别得到10组密封比压测试 装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开始运动时压力表P2显示的压力值,分别记为Pgl, Pg2...Pg9,PglO;Pnl,Ρη2.··Ρη9,PnlO;Pkl,Pk2...Pk9,PklO; (lj) 分别计算步骤(li)中密封比压测试装置打开和关闭状态下,活塞带动阀杆开始运 动时,10组压力值的平均值,分别计为Pg和Pk;计算密封比压测试装置完全关闭时10组压力 值的平均值,计为Pn; (lk) 计算在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封波纹管产生的推力F以及0形 圈与部件接触部分的综合摩擦力f; (lm)计算得到密封垫在低温工况下的比压力y: (2)进行密封垫低温密封比压测试,通过测试得到密封垫性能参数垫片系数m: (2a)将密封垫安装在密封比压测试装置密封件上的下部凹槽中,检查确保密封比压测 试装置的阀体与气缸连接正常、控制气管路连接正常、检漏气管路连接正常、检漏管路连接 正常; (2b)向液氮槽中注入液氮,液氮高度H; (2c)关闭检漏阀,通过气瓶阀、减压器向充压接管嘴内充入0.4MPa氦气,然后关闭气瓶 阀,检漏管路从检漏容器中取出; (2d)将密封比压测试装置连同安装支架放入液氮槽中; (2e)维持液氮槽中液氮液面高度Η,待液面波动停止后,调整气源为Pvl,打开控制气 阀,通过控制气管路给密封比压测试装置的关闭接管嘴供压力为Pvl的控制气,密封件处于 完全关闭状态; (2f)打开检漏阀,待检漏管内无气流时将检漏管路放入检漏容器中; (2g)打开并调整气瓶阀和减压器,通过检漏气管路向充压接管嘴通入初始压力为Po的 检测气体,并维持气体压力,通过检漏管路进行泄漏检测; (2h)按照每次O.IMPa的增量在Po的基础上通过检漏气管路增加检测气体压力,在每个 压力下检测泄漏量,直至泄漏量不满足要求,记录此时通过检漏气管路的压力值,即压力表 P1的显示值Pci,也就是在气源压力Pvl对应的泄漏量不满足要求时的检测气体压力Pci; (2i)关闭气瓶阀或减压器,将检漏气管路中的气体放掉; (2 j)以0.5MPa为增量调整气源压力,打开控制气阀,通过控制气供气管路给关闭接管 嘴供气,并重复步骤(2g)_(2i)记载的方法,直到压力表P1显示的检漏气压力达到Pm时,停 止检漏实验,记录检漏气压力达到Pm之前每次试验压力表P1的显示值Pcl、Pc2'"Pcn、Pc(n+ l),n为气源压力调整次数; (2k)根据公式(4)分别计算n+1次不同气源压力下的垫片系数ml,m2......mn,m(n+l),并 通过求取n+1次垫片系数的平均值,来确定此密封垫片在低温工况下的垫片系数m:
Figure CN105675221AC00031
(3)更换其他规格密封垫,按照上述顺序进行低温密封比压测试,并得到不同规格的密 封垫的性能参数y和m。
6. 根据权利要求5所述的一种测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特征在 于:步骤(lk)计算在低温状态下密封比压测试装置中的阀杆、密封波纹管产生的推力F以及 〇形圈以及部件接触部分的综合摩擦力f的计算方法如下: f=106XPgXAl+G (1) F+106XPkXA2 = G+f (2)。
7. 根据权利要求5所述的一种测定密封材料低温密封比压性能参数的方法,其特征在 于:步骤(lm)中计算得到密封垫在低温工况下的比压力y的计算方法为: 106XPnXA2+G = y+f+F (3)。
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