CN104808128B - Led自动寿命测试装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试技术领域；解决的技术问题是提供了LED自动寿命测试装置及方法，可实现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的调节与监控，确保了LED芯片寿命测试结果的准确性；采用的技术方案为：LED自动寿命测试装置及方法，LED自动寿命测试装置包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，电源供应器与测试台电连接，自动载入装置将待测芯片放入测试台，测试台还连接有温控器和探测器，探测器的输出端连接有数据处理模块，LED自动寿命测试方法包括温控器控制温度，校正片校正整个装置，达到精度后放入待测芯片进行测试。

Description

LED自动寿命测试装置及方法
技术领域
本发明LED自动寿命测试装置及方法，属于LED测试技术领域。
背景技术
LED 被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、体积小等特点，广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域，因此，其使用寿命成为LED生产商和使用者最为重视的要素之一。
传统LED芯片寿命测试方法为：将LED芯片简易封装后，对其进行加速老化，通过测试光电性推测其寿命。由于LED芯片对温度变化产生的材料热胀冷缩形变疲劳很敏感，加速老化过程需严格控制环境温度。红光LED芯片光强即时测试结果受温度影响较大，为避免老化前后测试结果有误差，通常在测试前利用校正片对测试机台进行光电性校正。该方法对校正片的稳定性与测试温度要求较高，寿命测试结果容易受各个因素的影响，且LED芯片老化与测试过程较繁琐。
发明内容
本发明克服了现有技术存在的不足，提供了LED自动寿命测试装置及方法，可实现老化环境温度与测试温度的可控性，设置一体化的温控器，实现环境温度与测试温度的调节与监控，确保了LED芯片寿命测试结果的准确性。
为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为： LED自动寿命测试装置，包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据进行处理和分析。
所述测试台外侧设有用于遮挡外界杂散光的遮光箱。
所述测试台连接有用于获取影像资料的图像控制器。
LED自动寿命测试方法，按照以下步骤进行：
a、将校正片放入自动载入装置；
b、提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2℃；
c、自动载入校正片，点亮校正片；
d、温控器和探测器将信号输入数据处理模块；
e、数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据；
f、根据输出的数据对装置进行矫正；
g、当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成；
h、将校正片取出，放入待测LED芯片；
i、对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。
本发明与现有技术相比具有的有益效果是：
本发明采用温控器，将测试的环境温度和测试温度控制在最佳值，减少了环境对测试结果的影响，减少了校正片的测试次数，提高了校正效率，避免了校正片使用频率过高而导致的校正片损坏；同时，采用自动载入装置和数据处理模块，实现全程自动测量和校正数据计算，在确保老化前后测试条件一致的前提下，使得校正操作过程更加快速、便捷。
附图说明
下面结合附图对本发明做进一步的说明。
图1为本发明的控制原理图。
具体实施方式
如图1所示，本发明LED自动寿命测试装置，包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，用以点亮芯片，进行光电性的量测，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，将待测校正片或芯片运送至收光头下。
所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块对接收到的测试电信号进行降噪、放大等预处理，对校正片的测试数据进行计算分析，得出校正值并修正测试结果。
所述测试台外侧设有用于遮挡外界杂散光的遮光箱，所述遮光箱能避免环境中的杂散光对测试数据的影响，为校正与LED芯片的测试提供了有效的环境。
所述测试台连接有用于获取影像资料的图像控制器，利用图像控制器测试人员可随时监控测试情况。
LED自动寿命测试方法，按照以下步骤进行：
a、将校正片放入自动载入装置；
b、提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2℃；
c、自动载入校正片，点亮校正片；
d、温控器和探测器将信号输入数据处理模块；
e、数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据；
f、根据输出的数据对装置进行矫正；
g、当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成；
h、将校正片取出，放入待测LED芯片；
i、对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。
具体校正结果，如下表所示：
数据中显示，当温度控制在20±2℃时，得到的测试结果波动小，被外界环境影响较小，与此同时，从数据中可以看出，校正值保持在±2%的范围波动，说明该装置已经校正完成，从而可以做进一步的芯片测试，使用温控器使得校正速度更快，测试芯片时误差更小，精度更高。
上面结合附图对本发明的实施例作了详细说明，但是本发明并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (3)

1.LED自动寿命测试装置，其特征在于：包括电源供应器、测试台、自动载入装置、探测器、温控器和数据处理模块，所述电源供应器与测试台电连接并为测试台提供恒定的电流，所述测试台上设置有自动载入装置，所述自动载入装置包括载入台与驱动装置，所述载入台通过驱动装置在测试台上移动，所述测试台还连接有温控器和探测器，所述温控器内设置有温度传感器，所述温控器通过温度传感器控制测试台内的温度，所述探测器内设置有光电转换器并将测试台产生的光信号转换为电信号，所述探测器的输出端连接有数据处理模块，所述数据处理模块将探测器输出的数据进行处理和分析；
按照以下步骤进行：
a、将校正片放入自动载入装置；
b、提供电流源，设定温控器的控制温度为20±2℃；
c、自动载入校正片，点亮校正片；
d、温控器和探测器将信号输入数据处理模块；
e、数据处理模块分析输入信号并输出曲线和数据；
f、根据输出的数据对装置进行矫正；
g、当输出的校正片的校正值在±2%的范围内波动时，装置校正完成；
h、将校正片取出，放入待测LED芯片；
i、对待测LED芯片进行测试并通过数据处理模块输出测试数据。
2.根据权利要求1 LED自动寿命测试装置，其特征在于：所述测试台外侧设有用于遮挡外界杂散光的遮光箱。
3.根据权利要求1 LED自动寿命测试装置，其特征在于：所述测试台连接有用于获取影像资料的图像控制器。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101799357A (zh) * 2009-11-19 2010-08-11 杭州远方光电信息有限公司 光源试验方法及其装置
CN202710178U (zh) * 2012-06-20 2013-01-30 广东天下行光电有限公司 一种led光源模块光电检测装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0688856A (ja) * 1992-09-08 1994-03-29 Matsushita Electron Corp 半導体デバイスの試験方法および試験装置
CN201017022Y (zh) * 2007-03-13 2008-02-06 杭州浙大三色仪器有限公司 半导体发光器件寿命加速试验装置
CN102324395B (zh) * 2011-08-09 2013-06-19 致茂电子(苏州)有限公司 Led晶粒扫描与点测的运作系统及运作方法
CN202255846U (zh) * 2011-10-28 2012-05-30 杭州浙大三色仪器有限公司 Led寿命实时检测装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101799357A (zh) * 2009-11-19 2010-08-11 杭州远方光电信息有限公司 光源试验方法及其装置
CN202710178U (zh) * 2012-06-20 2013-01-30 广东天下行光电有限公司 一种led光源模块光电检测装置

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