CN104568753A - 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置 - Google Patents

基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104568753A
CN104568753A CN201410819838.3A CN201410819838A CN104568753A CN 104568753 A CN104568753 A CN 104568753A CN 201410819838 A CN201410819838 A CN 201410819838A CN 104568753 A CN104568753 A CN 104568753A
Authority
CN
China
Prior art keywords
microballoon
sample
hologram
mobile platform
dimensional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201410819838.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104568753B (zh
Inventor
李奇峰
沙乾坤
王洋
雷海
胡晓东
陈达
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tianjin University
Original Assignee
Tianjin University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tianjin University filed Critical Tianjin University
Priority to CN201410819838.3A priority Critical patent/CN104568753B/zh
Publication of CN104568753A publication Critical patent/CN104568753A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104568753B publication Critical patent/CN104568753B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Holo Graphy (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明属于精密测量领域,为提供一种样品漂移主动补偿方法及装置,提高测量系统对样品漂移的补偿速度和精度,并实现三维尺度上的漂移补偿。为此,本发明采取的技术方案是,基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,包括:激光器,衰减器,特殊载玻片,三维纳米移动平台,物镜,二维高速光电检测器,处理系统,反馈系统,移动平台控制台,虚线处的平面为全息图平面;由激光器生成单色连续激光,用于系统的照明光源;衰减器用于调节激光器发出的照明激光的光强。本发明主要应用于精密测量。

Description

基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置
技术领域
本发明属于精密测量领域,尤其涉及一种基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置。
技术背景
对于高精密的测量设备而言,外界的轻微扰动会引起测量误差。尤其是精度要求很高的场所(nm量级),设备运行时内部的振动,地面的振动和测量样品自身的流动都会造成测量误差,使测量的结果失真。
例如对于超分辨显微系统而言,在其成像过程中,由于热漂移和应力漂移等因素的影响,样品会在轴向位置上发生位置漂移产生离焦,对显微系统的成像精度造成影响。特别是对于基于单分子定位的超分辨显微技术,如基于探针定位技术的光敏定位显微镜(PhotoActivated Localization Microscopy,PALM)和随机光学重建显微镜(Stochastic OpticalReconstruction Microscopy,STORM)等,需要对同一样品面进行多次重复的成像,这种漂移所带来的影响更为明显,因为轴向漂移将导致多次重复成像的并非为同一样品面。同时,由于外界和自身的扰动因素造成移动平台发生的轻微振动会使样品发生轴向位移和平面位移。样品的平面漂移将使显微系统所成的相失真。因此,一种可以实时对样品的空间漂移进行检测并进行三维补偿的方法在显微系统中具有十分重要的应用价值。
近年来,随着科学技术的发展,科研工作者们提出了多种测量样品漂移的方法,其中以光学非接触测量方法的应用最为广泛。目前,光学非接触测量方法多是基于共焦系统。这种系统虽然具有较好的测量精度,但是构造比较复杂,且只针对轴向漂移,无法实现三维漂移补偿。
发明内容
为克服现有技术的不足,本发明旨在提供一种样品漂移主动补偿方法及装置,提高测量系统对样品漂移的补偿速度和精度,并实现三维尺度上的漂移补偿。为此,本发明采取的技术方案是,基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,包括:激光器,衰减器,特殊载玻片,三维纳米移动平台,物镜,二维高速光电检测器,处理系统,反馈系统,移动平台控制台,虚线处的平面为全息图平面;
由激光器生成单色连续激光,用于系统的照明光源;
衰减器用于调节激光器发出的照明激光的光强;
特殊载玻片固着于三维纳米移动平台上,用于承载样品并且附着或刻蚀微球;
三维纳米移动平台通过调节位置用于主动补偿样品的漂移;
物镜用于成像,使二维高速光电检测器获取全息图;
二维高速光电检测器为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化;
处理系统根据二维高速光电检测器提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统提供信号确定其反馈量;
反馈系统根据样品的漂移量向移动平台控制台提供反馈信号;
移动平台控制台接收反馈信号,根据反馈信号输出电压驱动位置调节进行纳米级的补偿。
用于附着的微球是直径为0.5-10μm的微球;微球固定在三维纳米移动平台基底上,微球的固定分为物理方法和生物包被法两种。物理方法是将微球熔融在玻璃基底上达到固定的目的,生物包被法是在微球表面用链霉亲和素包被,用氨基或者羧基基团对玻璃基底进行修饰,通过化学键的作用将微球固定在玻璃基底上;
直接刻蚀出微球:刻蚀的方式分为干法刻蚀和湿法刻蚀,湿法刻蚀主要通过腐蚀液与三维纳米移动平台基底玻璃表面接触形成一个硅酸盐层,然后被研磨掉;干法刻蚀通过刻蚀气体或高速离子撞击等方式破坏三维纳米移动平台基底二氧化硅表面从而实现刻蚀效果。
基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,包括:激光器,半透半反分光镜,第一衰减器,物镜,三维纳米移动平台,第二衰减器,扩束装置,分光棱镜,光阑,二维高速光电检测器,处理系统,反馈系统,移动平台控制台;
由激光器生成单色连续激光,用于系统的照明光源;
半透半反分光镜透过部分连续激光作为物光波,反射部分连续激光作为参考光波;
第一衰减器用于调节透过半透半反分光镜的激光强度。
物镜用于将调节后的连续激光聚焦于样品并反向收集样品表面反射的物光波;
三维纳米移动平台上放置有待测样品,通过调节位置用于主动补偿样品的漂移;
第二衰减器用于调节半透半反分光镜反射的激光强度,作为参考光波;
扩束镜由两个透镜组成,用于调整参考光波的信宽与经物镜反向收集的物光波信宽相同;
分光棱镜用于将扩束后的参考光波与物光波合束;
光阑用于遮挡透过分光棱镜的参考光波;
二维高速光电检测器为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化;
处理系统根据二维高速光电检测器提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统提供信号确定其反馈量;
反馈系统根据样品的漂移量向移动平台控制台提供反馈信号;
移动平台控制台接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台进行纳米级的补偿。
基于数字全息的样品漂移主动补偿方法,利用前述装置实现,具体步骤为:使单色连续激光垂直入射粒子场,被微球衍射的光波作为物光波,未被微球衍射的光波作为参考光波;这两束光波在二维高速光电检测器平面上干涉形成粒子场的全息图,记录在二维高速光电检测器上,由于微球是规则的,且其全息图是规则的圆环,因此对微球的平面位移测量根据对一系列全息图中圆心进行跟踪测量得到;确定圆心的位置就得到每个微球在平面位置上的分布’根据每个微球位置的偏移量可确定样品的漂移量,样品的平面漂移量可由下式确定:
Δx = Σ 1 n Δx i / n
Δy = Σ 1 n Δy i / n
式中,Δx和Δy为系统的二维漂移量,Δxi和Δyi为单个微球的二维漂移量,n为微球的数量;
对于轴向位移的测量通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配方式来实现。
衍射图样相关性匹配的方式主要通过调整三维纳米移动平台进行轴向位移,在二维高速光电检测器中预存一系列全息图作为数据库,从而确定样品台的轴向位移量,在补偿轴向位移时,通过将获取的全息图和预存的全息图进行相关性计算,相关性最大的全息图所对应的轴向位移就是此时系统的轴向位移量。
数字全息对微球位置测量是对再现像的强度信息进行处理来实现的:通过对所记录的全息图进行不同距离的数字重构获得多幅重构强度图,从而得到微球在空间中的三维强度分布图,当重构距离与记录距离相等时,得到聚焦清晰的强度图像。此时微球位置的强度为最大值。根据微球纵向上强度曲线的峰值得到微球在纵向上的位置,从而实现对微球位置的测量。
两种实现方式的轴向漂移量均可由下式确定:
Δz = Σ 1 n Δz i / n
式中,Δz为系统的轴向漂移量,Δzi为单个微球的轴向漂移量,再通过移动平台控制台控制纳米三维移动平台进行主动补偿。
与已有技术相比,本发明的技术特点与效果:
本发明将数字全息技术应用于超分辨显微系统,因而实现了多微球纳米位移测量,其测量分辨率可达到纳米量级,补偿的响应时间可达到毫秒量级,并可对样品漂移进行三维补偿。
附图说明
图1是本系统的透射式光路示意图。
图中,(1)为激光器,(2)为衰减器,(3)为特殊载玻片,(4)为三维纳米移动平台,(5)为物镜,(6)为二维高速光电检测器,(7)为处理系统,(8)为反馈系统,(9)为移动平台控制台,虚线处的平面为全息图平面。
图2是本系统的反射式光路示意图。
图中,(10)为激光器,(11)为半透半反分光镜,(12)为衰减器,(13)为物镜,(14)为三维纳米移动平台,(15)为衰减器,(16)为扩束装置,(17)为分光棱镜,(18)为光阑,(19)为二维高速光电检测器,(20)为处理系统,(21)为反馈系统,(22)为移动平台控制台。
具体实施方式
数字全息技术是一种新型的三维成像技术,其基本原理是采用光敏电子成像器件代替传统的全息干板记录全息图,并模拟光学衍射过程,再现出原始物场的波前分布,从而实现物场的三维重建。数字全息显微技术具有高分辨率、非接触、抗震性好、实时、全视场微观测量等特点,已经广泛应用到微结构表面形貌测量、生物医学、粒子流速测量等领域。目前,数字全息技术应用在超高分辨显微领域,可以使用微球进行空间位置的检测,通过微球位相图的位置和位相的变化分别求取平面位移和轴向位移。数字全息技术得到的是微球的位相分布,照明的均匀性和波动、外界杂散光带来的影响能够被很大程度地抑制。目前数字全息技术测量微球轴向位移的分辨力已处于纳米量级,因此基于数字全息的样品补偿装置其精度可达纳米级别。
本发明的技术方案如下:
1.一种基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置,其中,采用透射式补偿方式,包括:激光器(1),衰减器(2),特殊载玻片(3),三维纳米移动平台(4),物镜(5),二维高速光电检测器(6),处理系统(7),反馈系统(8),移动平台控制台(9),虚线处的平面为全息图平面。
2.由激光器(1)生成单色连续激光,用于系统的照明光源。
3.衰减器(2)用于调节激光器(1)发出的照明激光的光强。
4.特殊载玻片(3)用于承载样品并且附着或刻蚀微球。
本发明实例中,用于附着的微球是直径为0.5-10μm的微球。首先需要将微球固定在基底上。微球的固定一般分为物理方法和生物包被法两种。物理方法是将微球熔融在玻璃基底上达到固定的目的,生物包被法是在微球表面用链霉亲和素包被,用氨基或者羧基基团对玻璃基底进行修饰,通过化学键的作用将微球固定在玻璃基底上。
本发明实例中,还可直接在玻璃片上直接刻蚀出微球。刻蚀的方式分为干法刻蚀和湿法刻蚀。湿法刻蚀主要通过腐蚀液与玻璃表面接触形成一个硅酸盐层,然后在与抛光板接触时被研磨掉。抛光板是刻蚀微球时所用的工具。干法刻蚀通过刻蚀气体或高速离子撞击等方式破坏二氧化硅表面从而实现刻蚀效果。
5.三维纳米移动平台(4)通过调节位置用于主动补偿样品的漂移。
6.物镜(5)用于成像,使二维高速光电检测器(6)获取全息图。图中虚线处的平面为全息图平面。
7.二维高速光电检测器(6)为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化。
8.处理系统(7)根据二维高速光电检测器(6)提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统(8)提供信号确定其反馈量。
9.反馈系统(8)根据样品的漂移量向移动平台控制台(9)提供反馈信号。
10.移动平台控制台(9)接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台(4)进行纳米级的补偿。
11.采用反射式补偿方式,包括:激光器(10),半透半反分光镜(11),衰减器(12),物镜(13),三维纳米移动平台(14),衰减器(15),扩束装置(16),分光棱镜(17),光阑(18),二维高速光电检测器(19),处理系统(20),反馈系统(21),移动平台控制台(22)。
12.由激光器(10)生成单色连续激光,用于系统的照明光源。
13.半透半反分光镜(11)透过部分连续激光作为物光波,反射部分连续激光作为参考光波。
14.衰减器(12)用于调节透过半透半反分光镜(12)的激光强度。
15.物镜(13)用于将调节后的连续激光聚焦于样品并反向收集样品表面反射的物光波。
16.三维纳米移动平台(14)通过调节位置用于主动补偿样品的漂移。
17.衰减器(15)用于调节半透半反分光镜(11)反射的激光强度,作为参考光波。
18.扩束镜(16)由两个透镜组成,用于调整参考光波的信宽与经物镜(13)反向收集的物光波信宽相同。
19.分光棱镜(17)用于将扩束后的参考光波与物光波合束。
20.光阑(18)用于遮挡透过分光棱镜(17)的参考光波。
21.二维高速光电检测器(19)为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化。
22.处理系统(20)根据二维高速光电检测器(19)提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统(21)提供信号确定其反馈量。
23.反馈系统(21)根据样品的漂移量向移动平台控制台(22)提供反馈信号。
24.移动平台控制台(22)接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台(14)进行纳米级的补偿。
数字全息技术可以直接得到物体的相位分布,即可测量物体的表面形貌、折射率、温度场等参数,通过比较物体变化前后的相位差就可实施运动、变形或物性的测量。目前对于微米尺度的微球,位移测量的分辨力为纳米量级。数字全息技术应用在超高分辨显微领域,可以使用微球进行空间位置的检测,通过微球位相图的位置和位相的变化分别求取平面位移和轴向位移。本发明基于数字全息技术,并提出相应的光学系统,结合附图,详细说明如下。此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
图1示出了本发明实施例提供的基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置的透射式光路示意图,详述如下。
激光器(1)生成单色连续激光,用于系统的照明光源。
衰减器(2)用于调节激光器(1)发出的单色连续激光的强度。
特殊载玻片(3)用于承载样品并附着或刻蚀微球。以附着方法为例,在载玻片中心位置注射微量的微球溶液,用平底加热器加热使微球熔融在玻片基底上,同时使液体蒸发。沿着载玻片长边,在微球周围两端贴上封口膜,将盖玻片覆盖在封口膜上,放在加热器上加热。封口膜在加热的过程中融化,轻轻平压盖玻片将其粘贴在载玻片上形成样品槽。用移液器吸取纯水从盖玻片边缘注射入样品槽。由于液体的毛细现象,纯水将会充满整个样品槽从而排去空气,最后用环氧树脂将样品槽两端密封。
三维纳米移动平台(4)通过调节位置用于主动补偿样品的漂移。
物镜(5)用于成像,使二维高速光电检测器(6)获取全息图。
二维高速光电检测器(6)为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化。
单色连续激光垂直入射粒子场,被微球衍射的光波作为物光波,未被微球衍射的光波作为参考光波。这两束光波在二维高速光电检测器平面上干涉形成粒子场的全息图,记录在二维高速光电检测器上。由于微球是规则的,且其全息图是规则的圆环,因此对微球的平面位移测量可以根据对一系列全息图中圆心进行跟踪测量得到。确定圆心的位置就可以得到每个微球在平面位置上的分布。根据每个微球位置的偏移量可确定样品的漂移量。故样品的平面漂移量可由下式确定:
Δx = Σ 1 n Δx i / n
Δy = Σ 1 n Δy i / n
式中,Δx和Δy为系统的二维漂移量,Δxi和Δyi为单个微球的二维漂移量,n为微球的数量。
对于轴向位移的测量主要通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式来实现。
衍射图样相关性匹配的方式主要通过调整三维纳米移动平台进行轴向位移,在二维高速光电检测器中预存一系列全息图作为数据库,从而确定样品台的轴向位移量。在补偿轴向位移时,通过将获取的全息图和预存的全息图进行相关性计算,相关性最大的全息图所对应的轴向位移就是此时系统的轴向位移量。
数字全息对微球位置测量是对再现像的强度信息进行处理来实现的。通过对所记录的全息图进行不同距离的数字重构获得多幅重构强度图,从而得到微球在空间中的三维强度分布图。当重构距离与记录距离相等时,得到聚焦清晰的强度图像。此时微球位置的强度为最大值。根据微球纵向上强度曲线的峰值得到微球在纵向上的位置,从而实现对微球位置的测量。
两种实现方式的轴向漂移量均可由下式确定:
Δz = Σ 1 n Δz i / n
式中,Δz为系统的轴向漂移量,Δzi为单个微球的轴向漂移量。再通过移动平台控制台控制纳米三维移动平台进行主动补偿。
处理系统(7)根据二维高速光电检测器(6)提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统(8)提供信号确定其反馈量。
反馈系统(8)根据样品的漂移量向移动平台控制台(9)提供反馈信号。电压反馈电路,根据样品的漂移量向移动平台控制台(9)提供电压信号,控制纳米三维移动平台(4)进行纳米级的补偿。
移动平台控制台(9)接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台(4)进行纳米级的补偿。
图2示出了本发明实施例提供的基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置的反射式光路示意图,详述如下。
激光器(10)生成单色连续激光,用于系统的照明光源。
半透半反分光镜(11)透过部分连续激光作为物光波,反射部分连续激光作为参考光波。
衰减器(12)用于调节透过半透半反分光镜(11)的连续激光的强度。
物镜(13)用于将调节后的连续激光聚焦于样品并反向收集样品表面反射的物光波。
三维纳米移动平台(14)通过调节位置用于主动补偿样品的漂移。
衰减器(15)用于调节半透半反分光镜(11)反射的连续激光的强度,作为参考光波。
扩束装置(16)由两个透镜组成,用于调整参考光波的信宽与经物镜(13)反向收集的物光波信宽相同。
分光棱镜(17)用于将扩束后的参考光波与物光波合束。
光阑(18)用于遮挡透过分光棱镜(17)的参考光波。
二维高速光电检测器(19)为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化。
处理系统(20)根据二维高速光电检测器(19)提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统(21)提供信号确定其反馈量。
反馈系统(21)根据样品的漂移量向移动平台控制台(22)提供反馈信号。
移动平台控制台(22)接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台(14)进行纳米级的补偿。

Claims (8)

1.一种基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,其特征是,包括:激光器,衰减器,特殊载玻片,三维纳米移动平台,物镜,二维高速光电检测器,处理系统,反馈系统,移动平台控制台,虚线处的平面为全息图平面;
由激光器生成单色连续激光,用于系统的照明光源;
衰减器用于调节激光器发出的照明激光的光强;
特殊载玻片固着于三维纳米移动平台上,用于承载样品并且附着或刻蚀微球;
三维纳米移动平台通过调节位置用于主动补偿样品的漂移;
物镜用于成像,使二维高速光电检测器获取全息图;
二维高速光电检测器为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化;
处理系统根据二维高速光电检测器提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统提供信号确定其反馈量;
反馈系统根据样品的漂移量向移动平台控制台提供反馈信号;
移动平台控制台接收反馈信号,根据反馈信号输出电压驱动位置调节进行纳米级的补偿。
2.如权利要求1所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,其特征是,用于附着的微球是直径为0.5-10μm的微球;微球固定在三维纳米移动平台基底上,微球的固定分为物理方法和生物包被法两种:物理方法是将微球熔融在玻璃基底上达到固定的目的,生物包被法是在微球表面用链霉亲和素包被,用氨基或者羧基基团对玻璃基底进行修饰,通过化学键的作用将微球固定在玻璃基底上。
3.如权利要求1所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,其特征是,直接刻蚀出微球:刻蚀的方式分为干法刻蚀和湿法刻蚀,湿法刻蚀主要通过腐蚀液与三维纳米移动平台基底玻璃表面接触形成一个硅酸盐层,然后在与抛光板接触时被研磨掉;干法刻蚀通过刻蚀气体或高速离子撞击等方式破坏三维纳米移动平台基底二氧化硅表面从而实现刻蚀效果。
4.如权利要求1所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿装置,其特征是,包括:激光器,半透半反分光镜,第一衰减器,物镜,三维纳米移动平台,第二衰减器,扩束装置,分光棱镜,光阑,二维高速光电检测器,处理系统,反馈系统,移动平台控制台;
由激光器生成单色连续激光,用于系统的照明光源;
半透半反分光镜透过部分连续激光作为物光波,反射部分连续激光作为参考光波;
第一衰减器用于调节透过半透半反分光镜的激光强度。
物镜用于将调节后的连续激光聚焦于样品并反向收集样品表面反射的物光波;
三维纳米移动平台上放置有待测样品,通过调节位置用于主动补偿样品的漂移;
第二衰减器用于调节半透半反分光镜反射的激光强度,作为参考光波;
扩束镜由两个透镜组成,用于调整参考光波的信宽与经物镜反向收集的物光波信宽相同;
分光棱镜用于将扩束后的参考光波与物光波合束;
光阑用于遮挡透过分光棱镜的参考光波;
二维高速光电检测器为CMOS或高速CCD,用于快速获取微球位相图的位置和位相的变化;
处理系统根据二维高速光电检测器提供的微球位相图,通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配等方式确定微球的位移量,从而得到样品的漂移量,向反馈系统提供信号确定其反馈量;
反馈系统根据样品的漂移量向移动平台控制台提供反馈信号;
移动平台控制台接收反馈信号,根据反馈信号输出电压控制纳米三维移动平台进行纳米级的补偿。
5.一种基于数字全息的样品漂移主动补偿方法,其特征是,利用权1或2装置实现,具体步骤为:使单色连续激光垂直入射粒子场,被微球衍射的光波作为物光波,未被微球衍射的光波作为参考光波;这两束光波在二维高速光电检测器平面上干涉形成粒子场的全息图,记录在二维高速光电检测器上,由于微球是规则的,且其全息图是规则的圆环,因此对微球的平面位移测量根据对一系列全息图中圆心进行跟踪测量得到;确定圆心的位置就得到每个微球在平面位置上的分布’根据每个微球位置的偏移量可确定样品的漂移量,样品的平面漂移量可由下式确定:
Δx = Σ 1 n Δx i / n
Δy = Σ 1 n Δy i / n
式中,Δx和Δy为系统的二维漂移量,Δxi和Δyi为单个微球的二维漂移量,n为微球的数量;
对于轴向位移的测量通过全息图的数值重构或利用衍射图样相关性匹配方式来实现。
6.如权利要求5所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿方法,其特征是,衍射图样相关性匹配的方式通过调整三维纳米移动平台进行轴向位移,在二维高速光电检测器中预存一系列全息图作为数据库,从而确定样品台的轴向位移量,在补偿轴向位移时,通过将获取的全息图和预存的全息图进行相关性计算,相关性最大的全息图所对应的轴向位移就是此时系统的轴向位移量。
7.如权利要求5所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿方法,其特征是,数字全息对微球位置测量是对再现像的强度信息进行处理来实现的:通过对所记录的全息图进行不同距离的数字重构获得多幅重构强度图,从而得到微球在空间中的三维强度分布图,当重构距离与记录距离相等时,得到聚焦清晰的强度图像。此时微球位置的强度为最大值。根据微球纵向上强度曲线的峰值得到微球在纵向上的位置,从而实现对微球位置的测量。
8.如权利要求5所述的基于数字全息的样品漂移主动补偿方法,其特征是,轴向漂移量均可由下式确定:
Δz = Σ 1 n Δz i / n
式中,Δz为系统的轴向漂移量,Δzi为单个微球的轴向漂移量,再通过移动平台控制台控制纳米三维移动平台进行主动补偿。
CN201410819838.3A 2014-12-24 2014-12-24 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置 Expired - Fee Related CN104568753B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410819838.3A CN104568753B (zh) 2014-12-24 2014-12-24 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410819838.3A CN104568753B (zh) 2014-12-24 2014-12-24 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104568753A true CN104568753A (zh) 2015-04-29
CN104568753B CN104568753B (zh) 2017-08-22

Family

ID=53085331

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410819838.3A Expired - Fee Related CN104568753B (zh) 2014-12-24 2014-12-24 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104568753B (zh)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106931877A (zh) * 2015-12-30 2017-07-07 上海微电子装备有限公司 一种光栅测量系统
TWI645269B (zh) * 2017-05-02 2018-12-21 國立臺灣師範大學 共光程螺旋相位數位全像系統及其方法
CN109269530A (zh) * 2018-09-06 2019-01-25 三英精控(天津)科技有限公司 一种纳米定位台高频增益补偿的方法
CN109690240A (zh) * 2016-06-20 2019-04-26 康耐视公司 用于将在时间上可变的光学图样投射到三维待测物体上的设备
CN109782428A (zh) * 2018-11-30 2019-05-21 中国科学院上海药物研究所 生物单元成像系统
CN109884101A (zh) * 2019-03-06 2019-06-14 上海科技大学 样品成像系统、样品成像方法、计算机存储介质及计算机装置
CN111308682A (zh) * 2019-11-18 2020-06-19 天津大学 基于结构光照明的超分辨重构方法
CN112596252A (zh) * 2020-12-30 2021-04-02 南开大学 一种无机械结构的光束漂移补偿装置及其实现方法
CN113358569A (zh) * 2021-05-31 2021-09-07 中国科学院微电子研究所 样品表面位置在线定位测量装置及其漂移监测方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050205779A1 (en) * 2004-03-18 2005-09-22 Optometrix, Inc. Scanning systems and methods with time delay sensing
JP2006010334A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Lasertec Corp 検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法
CN1841172A (zh) * 2005-03-10 2006-10-04 日立比亚机械股份有限公司 用于射束漂移补偿的设备和方法
CN101122774A (zh) * 2007-09-14 2008-02-13 西北工业大学 高分辨率数字全息像的获取装置
CN102122063A (zh) * 2011-03-09 2011-07-13 北京工业大学 倒置式数字全息显微镜
CN102566048A (zh) * 2012-01-17 2012-07-11 浙江大学 一种基于象散的样品轴向漂移补偿方法和装置
CN102589428A (zh) * 2012-01-17 2012-07-18 浙江大学 基于非对称入射的样品轴向位置跟踪校正的方法和装置
CN102866133A (zh) * 2012-09-11 2013-01-09 中国科学院上海光学精密机械研究所 透射型样品振幅和相位成像装置和方法
CN103399413A (zh) * 2013-07-30 2013-11-20 浙江大学 基于双螺旋光束的样品轴向漂移检测及补偿方法和装置
CN103823353A (zh) * 2014-03-10 2014-05-28 北京工业大学 基于微球体的亚波长超分辨率数字全息成像系统
CN103884704A (zh) * 2014-03-10 2014-06-25 北京理工大学 分光瞳激光共焦布里渊-拉曼光谱测量方法及装置

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050205779A1 (en) * 2004-03-18 2005-09-22 Optometrix, Inc. Scanning systems and methods with time delay sensing
JP2006010334A (ja) * 2004-06-22 2006-01-12 Lasertec Corp 検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法
CN1841172A (zh) * 2005-03-10 2006-10-04 日立比亚机械股份有限公司 用于射束漂移补偿的设备和方法
CN101122774A (zh) * 2007-09-14 2008-02-13 西北工业大学 高分辨率数字全息像的获取装置
CN102122063A (zh) * 2011-03-09 2011-07-13 北京工业大学 倒置式数字全息显微镜
CN102566048A (zh) * 2012-01-17 2012-07-11 浙江大学 一种基于象散的样品轴向漂移补偿方法和装置
CN102589428A (zh) * 2012-01-17 2012-07-18 浙江大学 基于非对称入射的样品轴向位置跟踪校正的方法和装置
CN102866133A (zh) * 2012-09-11 2013-01-09 中国科学院上海光学精密机械研究所 透射型样品振幅和相位成像装置和方法
CN103399413A (zh) * 2013-07-30 2013-11-20 浙江大学 基于双螺旋光束的样品轴向漂移检测及补偿方法和装置
CN103823353A (zh) * 2014-03-10 2014-05-28 北京工业大学 基于微球体的亚波长超分辨率数字全息成像系统
CN103884704A (zh) * 2014-03-10 2014-06-25 北京理工大学 分光瞳激光共焦布里渊-拉曼光谱测量方法及装置

Non-Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
(美)盖德: "《微机电系统设计与加工》", 28 February 2010, 机械工业出版社 *
(美)赛尔文等: "《单分子技术实验指南》", 31 January 2010, 科学出版社 *
ANDREY REVYAKIN ET.AL: "Transcription initiation by human RNA polymerase II visualized at single-molecule resolution", 《GENES & DEVELOPMENT》 *
ASHLEY R. CARTER ET.AL: "Stabilization of an optical microscope to 0.1 nm in three dimensions", 《APPLIED OPTICS》 *
HUAKUN CUI ET.AL: "Phase aberration compensation by spectrum centering in digital holographic microscopy", 《OPTICS COMMUNICATIONS》 *
M. CAPITANIO ET.AL: "Position control and optical manipulation for nanotechnology applications", 《THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL B》 *
TRISTAN COLOMB ET.AL: "Automatic procedure for aberrations compensation in digital holographic microscopy", 《PROC. OF SPIE》 *
WALTER STEFFEN ET.AL: "Mapping the actin filament with myosin", 《PANS》 *
Y. TANG ET.AL: "Sub-nanometer drift correction for super-resolution imaging", 《OPTICS LETTERS》 *
方肇伦等: "《微流控分析芯片》", 28 February 2003, 科学出版社 *
汪尔康等: "《生命分析化学》", 31 July 2006, 科学出版社 *
焦炳华等: "《现代生物工程》", 31 March 2007, 科学出版社 *
王阳元: "《集成电路工艺基础》", 31 May 1991, 高等教育出版社 *
钱旻: "《免疫学原理与技术》", 31 May 2011, 高等教育出版社 *

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106931877A (zh) * 2015-12-30 2017-07-07 上海微电子装备有限公司 一种光栅测量系统
CN109690240A (zh) * 2016-06-20 2019-04-26 康耐视公司 用于将在时间上可变的光学图样投射到三维待测物体上的设备
TWI645269B (zh) * 2017-05-02 2018-12-21 國立臺灣師範大學 共光程螺旋相位數位全像系統及其方法
CN109269530A (zh) * 2018-09-06 2019-01-25 三英精控(天津)科技有限公司 一种纳米定位台高频增益补偿的方法
CN109269530B (zh) * 2018-09-06 2021-05-11 三英精控(天津)科技有限公司 一种纳米定位台高频增益补偿的方法
CN109782428A (zh) * 2018-11-30 2019-05-21 中国科学院上海药物研究所 生物单元成像系统
CN109884101A (zh) * 2019-03-06 2019-06-14 上海科技大学 样品成像系统、样品成像方法、计算机存储介质及计算机装置
CN109884101B (zh) * 2019-03-06 2022-08-02 上海科技大学 样品成像系统、样品成像方法、计算机存储介质及计算机装置
CN111308682A (zh) * 2019-11-18 2020-06-19 天津大学 基于结构光照明的超分辨重构方法
CN112596252A (zh) * 2020-12-30 2021-04-02 南开大学 一种无机械结构的光束漂移补偿装置及其实现方法
CN112596252B (zh) * 2020-12-30 2023-02-24 南开大学 一种无机械结构的光束漂移补偿装置及其实现方法
CN113358569A (zh) * 2021-05-31 2021-09-07 中国科学院微电子研究所 样品表面位置在线定位测量装置及其漂移监测方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104568753B (zh) 2017-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104568753A (zh) 基于数字全息的样品漂移主动补偿方法及装置
CN100504287C (zh) 表面等离子共振测量装置和方法
CN101825590A (zh) 一种高精度测量金属线膨胀系数的装置与方法
Yu et al. Two-channel six degrees of freedom grating-encoder for precision-positioning of sub-components in synthetic-aperture optics
CN103616127A (zh) 微悬臂梁弹性常数的溯源标定装置及溯源方法
CN104034281A (zh) 用于自由曲面形貌测量的光学自聚焦探头
CN106441816A (zh) 计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法
Chugui et al. Optical measuring and laser technologies for scientific and industrial applications
CN204064260U (zh) 一种用于自由曲面形貌测量的光学自聚焦探头
Mallik et al. Measurement of a 2-meter flat using a pentaprism scanning system
CN110686853A (zh) 聚焦激光差分干涉仪及非介入式测量风洞流场密度脉动的方法
CN105806493B (zh) 基于空间相位调制的紧凑非等光程光纤点衍射干涉仪
Coyle et al. Design and analysis of an alignment procedure using computer-generated holograms
Li et al. Development of a high-sensitivity dual-axis optoelectronic level using double-layer liquid refraction
CN112067532A (zh) 测量微粒三维位移光轴向位置的复合式数字全息显微方法
Michihata et al. Scanning dimensional measurement using laser-trapped microsphere with optical standing-wave scale
CN1322325C (zh) 具有相移功能的三维电子散斑干涉仪
Higurashi et al. Nanometer-displacement detection of optically trapped metallic particles based on critical angle method for small force detection
Tang et al. Micro-nano Scale Longitudinal Displacement Measurement of Microspheres Based on Digital Holography
CN113405474B (zh) 挠性摆片位移测试装置及测试方法
CN110132993B (zh) 一种快速检测光学膜层节瘤缺陷的装置及方法
CN115598091B (zh) 一种基于波前测量的晶体折射率非均匀性测量方法
CN216013144U (zh) 基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置
WO2012172524A1 (en) Method and photothermal apparatus for contactless determination of thermal and optical properties of material
Kong et al. AOPC 2020: Optics Ultra Precision Manufacturing and Testing

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20170822

Termination date: 20201224