CN103439622A - Ito线路图案及其测试方法 - Google Patents

Ito线路图案及其测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103439622A
CN103439622A CN2013103698580A CN201310369858A CN103439622A CN 103439622 A CN103439622 A CN 103439622A CN 2013103698580 A CN2013103698580 A CN 2013103698580A CN 201310369858 A CN201310369858 A CN 201310369858A CN 103439622 A CN103439622 A CN 103439622A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit pattern
ito circuit
line pattern
leading
elargol
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2013103698580A
Other languages
English (en)
Inventor
王刚
文开福
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangxi Holitech Technology Co Ltd
Original Assignee
Jiangxi Holitech Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiangxi Holitech Technology Co Ltd filed Critical Jiangxi Holitech Technology Co Ltd
Priority to CN2013103698580A priority Critical patent/CN103439622A/zh
Publication of CN103439622A publication Critical patent/CN103439622A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

本发明属于触摸屏领域,提供了一种ITO线路图案,所述ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印有一银胶点。本发明还提供了一种ITO线路图案的测试方法,首先在ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印银胶,形成多个银胶点,当需要对ITO线路图案进行测试时,使测试设备的两探针分别与ITO线路图案两端的多个银胶点接触,以对ITO线路图案进行测试。本发明通过在ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印银胶点,从而可以清楚地识别出每条线路的具体位置,检测时,以便于测试设备的探针与银胶点接触来检测,避免了用探针来对ITO线路图案的出线端进行压测,从而提高了ITO线路图案测试的准确性和测试效率。

Description

ITO线路图案及其测试方法
技术领域
本发明属于触摸屏技术领域,尤其涉及一种ITO线路图案及其测试方法。
背景技术
目前,业界对ITO线路图案进行测试时,是用探针来对ITO线路图案的出线端进行压测,由于探针很难找到出线端的测试点,导致测试不准确,测试效率也低。
发明内容
本发明的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种测试准确和测试效率高的ITO线路图案及其测试方法。
本发明是这样实现的,一种ITO线路图案,所述ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印有一银胶点。
本发明还提供了一种ITO线路图案的测试方法,首先在ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印银胶,形成多个银胶点,当需要对ITO线路图案进行测试时,使测试设备的两探针分别与ITO线路图案两端的多个银胶点接触,以对ITO线路图案进行测试。
本发明通过在ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印银胶点,从而可以清楚地识别出每条线路的具体位置,检测时,以便于测试设备的探针与银胶点接触来检测,避免了用探针来对ITO线路图案的出线端进行压测,从而提高了ITO线路图案测试的准确性和测试效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的ITO线路图案的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1所示,本发明实施例提供的一种ITO线路图案1,该ITO线路图案1两端的每个出线端分别丝印有一银胶点11。
本发明实施例还提供了一种ITO线路图案1的测试方法,首先在ITO线路图案1两端的每个出线端分别丝印银胶,形成多个银胶点11,当需要对ITO线路图案1进行测试时,使测试设备(未示出)的两探针(未示出)分别与ITO线路图案1两端的多个银胶点11接触,以对ITO线路图案1进行测试,来测试ITO线路图案1是否存在断路或短路等现象。
本发明通过在ITO线路图案1两端的每个出线端分别丝印银胶点11,从而可以清楚地识别出每条线路的具体位置,检测时,以便于测试设备的探针与银胶点11接触来检测,避免了用探针来对ITO线路图案1的出线端进行压测,从而提高了ITO线路图案1测试的准确性和测试效率。
以上所述是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (2)

1.一种ITO线路图案,其特征在于,所述ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印有一银胶点。
2.一种ITO线路图案的测试方法,其特征在于,首先在ITO线路图案两端的每个出线端分别丝印银胶,形成多个银胶点,当需要对ITO线路图案进行测试时,使测试设备的两探针分别与ITO线路图案两端的多个银胶点接触,以对ITO线路图案进行测试。
CN2013103698580A 2013-08-14 2013-08-14 Ito线路图案及其测试方法 Pending CN103439622A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2013103698580A CN103439622A (zh) 2013-08-14 2013-08-14 Ito线路图案及其测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2013103698580A CN103439622A (zh) 2013-08-14 2013-08-14 Ito线路图案及其测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103439622A true CN103439622A (zh) 2013-12-11

Family

ID=49693328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2013103698580A Pending CN103439622A (zh) 2013-08-14 2013-08-14 Ito线路图案及其测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103439622A (zh)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5933019A (en) * 1997-03-05 1999-08-03 Depue; Clayton S. Circuit board testing switch
CN101071150A (zh) * 2006-05-12 2007-11-14 上海华仕德电路技术有限公司 柔性电路板的线路通断检测方法
CN101989135A (zh) * 2009-08-07 2011-03-23 希姆通信息技术(上海)有限公司 一种触摸屏线路的配置方法
CN203414557U (zh) * 2013-08-12 2014-01-29 江西合力泰科技股份有限公司 Ito线路图案

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5933019A (en) * 1997-03-05 1999-08-03 Depue; Clayton S. Circuit board testing switch
CN101071150A (zh) * 2006-05-12 2007-11-14 上海华仕德电路技术有限公司 柔性电路板的线路通断检测方法
CN101989135A (zh) * 2009-08-07 2011-03-23 希姆通信息技术(上海)有限公司 一种触摸屏线路的配置方法
CN203414557U (zh) * 2013-08-12 2014-01-29 江西合力泰科技股份有限公司 Ito线路图案

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103529354B (zh) 一种电路测试方法及电路测试系统
CN109444650B (zh) 超大尺寸电容屏单膜的开短路测试方法及装置
CN204536491U (zh) 一种用于pcb检测通孔低阻测试装置
CN204129151U (zh) 触摸屏测试机
CN105445557A (zh) 一种高通量电阻率测试装置
CN103760388A (zh) 四线测试治具及其测试方法
CN201654067U (zh) 一种对具有金手指器件测试的连接板
CN203688599U (zh) 四线测试治具
CN105527468A (zh) 一种高压开关柜综合试验转换装置
CN203414557U (zh) Ito线路图案
CN103439622A (zh) Ito线路图案及其测试方法
CN105203708A (zh) 一种bga焊接检测仪及检测的方法
CN204347068U (zh) 电路板快速测试工装
CN203894334U (zh) 一种自动电容电感测试仪
CN203787061U (zh) Lcd的通用电测板
CN202929115U (zh) 一种快速测量pcb阻抗测试装置
CN202758021U (zh) 电性测试装置及系统
CN205507018U (zh) 测试机治具模块
CN203587727U (zh) 一种功能玻璃假压测试治具
CN204154817U (zh) 一种基于腐蚀传感器电阻挂片的多电阻同时检测装置
CN103869211A (zh) 一种以手套测试孔内开路的方法
CN103700392A (zh) 一种自动化测试解码板及其测试方法
CN106324410B (zh) 触摸屏测试装置
CN204116508U (zh) 一种测试手套
CN204422686U (zh) Tv二次回路多点接地检测装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: 343700 Taihe County, Jiangxi Province Industrial Park

Applicant after: JIANGXI HELITAI TECHNOLOGY CO., LTD.

Address before: 343700 Taihe County, Jiangxi Province Industrial Park

Applicant before: Jiangxi Holitech Technology Co., Ltd.

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: APPLICANT; FROM: JIANGXI HOLITECH TECHNOLOGY CO., LTD. TO: JIANGXI HELITAI TECHNOLOGY CO., LTD.

RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20131211